一种光纤特征点的提取方法与流程

文档序号:17608928发布日期:2019-05-07 20:56阅读:329来源:国知局
一种光纤特征点的提取方法与流程

本发明属于光纤特征提取技术领域,具体涉及一种光纤特征点的提取方法。



背景技术:

目前,在光纤图像显示领域的图像信号分为三个部分:纤芯、包层和背景(即光纤以外的图像部分)。在光纤图像显示领域,通常采用对图像信号不加任何处理的直接显示方式,该显示方式会存在光纤包层图像质量不均匀、包层和背景过渡处有尖峰、背景显示中有水纹、杂散光汇聚成光斑等问题。图像质量不均匀、尖峰、水纹、光斑等问题,影响图像判断和图像识别的准确率。



技术实现要素:

针对上述现有技术中由于未对光纤图像进程处理而导致光纤包层图像质量问题的情况,本发明于提出一种光纤特征点的提取方法,具体技术方案如下:

一种光纤特征点的提取方法,所述方法包括:

s1、利用图像采集设备采集光纤图像,并对所述光纤图像采用二值化处理,提取局部光纤特征;

s2、基于所述局部光纤特征搜索与所述光纤图像对应光纤纤芯的初始位置,根据所述初始位置对光纤进行纤芯和端面的边缘追踪;

s3、根据所述边缘追踪结果提取纤芯的边缘,并采用空间矩算法计算得到所述边缘的亚像素位置,实现对光纤特征点的提取。

进一步的,所述图像采集设备为摄像机或者rgb-d相机等电子摄像或图像采集设备。

本发明的光纤特征点的提取方法,首先对获取得到的光纤图像通过二值化处理提取得到光纤图像的局部光纤特征,然后基于局部光纤特征实现对光纤纤芯的初始位置搜索操作,进而对纤芯和光纤端面的边缘追踪,实现对纤芯的边缘提取;最后基于空间矩算法得到纤芯边缘的亚像素位置,实现光纤特征点的操作;与现有技术相比,本发明能够提升对光纤图像的处理速度,提升特征点的提取精度;且在光纤对接过程中,通过对光纤特征点的提取,能够使得对接更加快速和平稳。

附图说明

图1是本发明实施例中所述光纤特征点的提取方法的流程图示意;

图2是本发明实施例中采用二值化处理后获取得到的光纤图像局部特征图像示意;

图3是采用本发明所述光纤特征点提取方法获得的光纤特征点图像示意。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

参阅图1,在本发明实施例中,提供了一种光纤特征点的提取方法,从中可知,本发明方法具体包括如下步骤:

步骤一、利用图像采集设备采集光纤图像,并对获取得到的光纤图像采用二值化处理,提取局部光纤特征;本发明方法通过对光纤图像二值化处理后,以便于提升对光纤图像的处理速度,有利于后续特征提取精度的提升。

其中,本发明采用的图像采集设备可以是任何具有摄像和图像采集功能的电子设备,例如摄像机、rgb-d相机、工业相机等,具体可根据实际情况进行选择,本发明方法对此并不进行限制和固定。

步骤二、基于局部光纤特征搜索与光纤图像对应光纤纤芯的初始位置,根据初始位置对光纤进行纤芯和端面的边缘追踪。

步骤三、根据边缘追踪结果提取纤芯的边缘,并采用空间矩算法计算得到边缘的亚像素位置,实现对光纤特征点的提取。

参阅图2和图3,对比两图可知,通过对光纤图像进行二值化处理后,能够初步对光纤特征点进行提取,一方面可以提升对光纤图像的处理速度;另一方面,由于通过二值化处理后以初步确定特征点所在位置,因此有利于光纤特征点提取精度的提升。

本发明的光纤特征点的提取方法,首先对获取得到的光纤图像通过二值化处理提取得到光纤图像的局部光纤特征,然后基于局部光纤特征实现对光纤纤芯的初始位置搜索操作,进而对纤芯和光纤端面的边缘追踪,实现对纤芯的边缘提取;最后基于空间矩算法得到纤芯边缘的亚像素位置,实现光纤特征点的操作;与现有技术相比,本发明能够提升对光纤图像的处理速度,提升特征点的提取精度;且在光纤对接过程中,通过对光纤特征点的提取,能够使得对接更加快速和平稳。

以上仅为本发明的较佳实施例,但并不限制本发明的专利范围,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员而言,其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本发明说明书及附图内容所做的等效结构,直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理在本发明专利保护范围之内。



技术特征:

技术总结
本发明公开了一种光纤特征点的提取方法,所述方法包括:S1、利用图像采集设备采集光纤图像,并对所述光纤图像采用二值化处理,提取光纤特征点;S2、基于所述光纤特征点搜索与所述光纤图像对应光纤纤芯的初始位置,根据所述初始位置对光纤进行纤芯和端面的边缘追踪;S3、根据所述边缘追踪结果提取纤芯的边缘,并采用空间矩算法计算得到所述边缘的亚像素位置,实现对光纤特征点的提取;本发明可以对光纤图像进行快速处理,提升光纤特征点的提取精度。

技术研发人员:刘帅奇;黄嫒;徐锦兵;邹辉
受保护的技术使用者:江苏通泽辉光电科技有限公司
技术研发日:2019.02.26
技术公布日:2019.05.07
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