具有调试功能的芯片与芯片调试方法与流程

本案是关于具有调试功能的芯片，尤其是具有可选择性地输出不同电路系统中的调试信号的芯片与其芯片调试方法。

背景技术：

1、为了确保芯片符合设计要求，可经由芯片中的输出端口将芯片中的一些重要信号输出为一组调试(debug)信号，并可经由至少一个外部仪器读取该组调试信号。如此一来，可根据该组调试信号判断芯片是否出现错误，以决定是否调整芯片的设计。随着技术发展，芯片中的电路个数越来越多。若要读取更多电路的调试信号，需要增加输出端口的个数。然而，在实际应用中，输出端口的个数通常不足以输出大量电路的调试信号，导致芯片测试的难度提升。

技术实现思路

1、在一些实施方式中，本案的目的之一为(但不限于)提供可选择性地输出不同电路系统中的调试信号的芯片与芯片调试方法。

2、在一些实施方式中，具有调试功能的芯片包含多个功能性电路系统、选择电路系统、数据重构电路系统以及切换电路系统。多个功能性电路系统用以分别产生多组调试信号。该些功能性电路系统中每一者包含解码电路，该解码电路用以储存该些组调试信号中的对应组调试信号，并根据多个地址信号中的对应地址信号输出该对应组调试信号中的对应调试信号为多个第一信号中的对应信号。选择电路系统用以根据该些地址信号自该些第一信号中选出多个第二信号。数据重构电路系统用以根据多个拆分信号自该些第二信号中选出多个第一数据，并输出该些第一数据为第一调试数据。该些第一数据中每一者为该些第二信号中的对应信号的部分数据。切换电路系统用以根据多个切换信号决定是否经由多个输出端口输出该第一调试数据或是关联于该些功能性电路系统的至少一个输出信号。

3、在一些实施方式中，芯片调试方法包含下列操作：根据多个地址信号输出多组调试信号中的多个第一信号，其中该些组调试信号分别由芯片的多个功能性电路系统产生；根据该些地址信号自该些第一信号中选出多个第二信号；根据多个拆分信号自该些第二信号中选出多个第一数据，并输出该些第一数据为第一调试数据，其中该些第一数据中每一者为该些第二信号中的对应信号的部分数据；以及根据多个切换信号决定是否经由该芯片的多个输出端口输出该第一调试数据或是关联于该些功能性电路系统的至少一个输出信号。

4、有关本案的特征、实作与功效，兹配合图式作较佳实施例详细说明如下。

技术特征：

1.一种具有调试功能的芯片，包含：

2.如权利要求1所述的具有调试功能的芯片，其中该些组调试信号中的所有调试信号具有相同位数。

3.如权利要求1所述的具有调试功能的芯片，其中该些组调试信号分别对应于依序递增的多个地址范围，且该解码电路更用以依序确认该些地址信号是否匹配该些地址范围中的对应地址范围以选出该对应地址信号。

4.如权利要求1所述的具有调试功能的芯片，其中该解码电路更用以储存预设旗标值，且当该对应地址信号为预设地址时，该解码电路用以输出该预设旗标值为该些第一信号中的该对应信号，以验证该解码电路是否有正确输出该些第一信号中的该对应信号。

5.如权利要求1所述的具有调试功能的芯片，其中该些组调试信号分别对应于依序递增的多个地址范围，该些选择电路系统包含多个选择电路，且该些选择电路每一者用以比对该些地址信号中的对应者与该些地址范围，以自该些第一信号中选出该些第二信号中的对应者。

6.如权利要求1所述的具有调试功能的芯片，其中该数据重构电路系统包含多个数据选择电路，且该些数据选择电路中每一者用以拆分该些第二信号中的对应者为多个第二数据，并根据该些拆分信号中的对应者自该些第二数据选出对应数据以作为该些第一数据中的对应者。

7.如权利要求1所述的具有调试功能的芯片，其中该切换电路系统用以根据该些切换信号中的对应者决定是否经由该些输出端口中的对应者输出该第一调试数据中的对应数据或是该至少一个输出信号中的对应位。

8.如权利要求1所述的具有调试功能的芯片，更包含：

9.如权利要求8所述的具有调试功能的芯片，其中该移位信号用以指示该第一调试数据要被移位的位个数。

10.一种芯片调试方法，包含：

技术总结
本公开涉及具有调试功能的芯片与芯片调试方法。芯片包含多个功能性电路系统、选择电路系统、数据重构电路系统与切换电路系统。每一功能性电路系统包含解码电路，其储存一组调试信号，并根据多个地址信号中的一者输出该组调试信号中的信号为多个第一信号中的对应者。选择电路系统根据该些地址信号自该些第一信号中选出多个第二信号。数据重构电路系统根据多个拆分信号自该些第二信号中选出多个第一数据，并将之输出为调试数据。每一个第一数据为该些第二信号中的一者的部分数据。切换电路系统根据多个切换信号决定是否经由多个输出端口输出调试数据或是该些功能性电路系统的输出信号。

技术研发人员：蒋潘婷,李赞
受保护的技术使用者：瑞昱半导体股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13