一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质与流程

本申请实施例涉及芯片领域，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术：

1、测试用例回归是一种在数字芯片验证中使用到的方法，通常用大量不同的测试用例来检验芯片的质量。

2、现在的测试用例回归方法是顺序的，即一个芯片测试完成才能开始下一个芯片的测试。

3、但是当测试用例数量超过特定阈值且每个测试用例的平均耗时较大时，无法快速高效的完成测试用例回归，将极大的增加芯片面世的时间，降低了产品竞争力。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质，用于实现快速高效的完成芯片的测试用例回归。

2、本申请实施例提供的芯片验证方法，包括：

3、获取用于验证芯片的资源数量；

4、判断所述资源数量是否不为零；

5、若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或所述测试用例列表为空；

6、获取所述测试用例的测试结果。

7、可选的，所述测试结果为测试日志文件，所述方法还包括：

8、基于预设的错误关键词对所述测试日志文件进行搜索，得到所述测试日志文件的失败信息；

9、删除所述失败信息中的假错信息，得到测试日志结果文件。

10、可选的，所述删除所述失败信息中的假错信息包括：

11、获取全局过滤文件；

12、根据所述全局过滤文件删除所述失败信息中的假错信息。

13、可选的，所述测试日志文件为多个，所述删除所述失败信息中的假错信息包括：

14、获取局部过滤文件，所述局部过滤文件用于针对特定的测试日志文件的假错信息；

15、根据所述局部过滤文件删除所述失败信息中的假错信息。

16、可选的，所述方法还包括：

17、判断所述测试日志结果文件是否为空；

18、若所述测试日志结果文件为空，将测试通过信息写入所述测试日志结果文件，并删除所述测试日志结果文件中的仿真日志和仿真波形得到回归结果报告，所述测试通过信息用于表示所述测试用例的测试通过。

19、可选的，所述判断所述测试日志结果文件是否为空之后，所述方法还包括：

20、若所述测试日志结果文件不为空，将测试失败信息写入所述测试日志结果文件，并保存所述测试日志结果文件中的仿真日志、仿真波形和种子信息得到回归结果报告，所述测试通过信息用于表示所述测试用例的测试失败。

21、可选的，所述若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行包括：

22、若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并获取测试次数；

23、根据所述测试次数运行所述测试用例。

24、本申请实施例提供的芯片验证装置，包括：

25、获取单元，用于获取用于验证芯片的资源数量；

26、判断单元，用于判断所述资源数量是否不为零；

27、运行单元，用于若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或所述测试用例列表为空；

28、验证单元，用于获取所述测试用例的测试结果。

29、本申请实施例提供的计算机设备，包括：

30、中央处理器，存储器以及输入输出接口；

31、所述存储器为短暂存储存储器或持久存储存储器；

32、所述中央处理器配置为与所述存储器通信，并执行所述存储器中的指令操作以执行前述方法。

33、本申请实施例提供的计算机可读存储介质，存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行前述方法。

34、从以上技术方案可以看出，本申请实施例具有以下优点：

35、本申请实施例通过获取用于验证芯片的资源数量；判断所述资源数量是否不为零；若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或测试所述用例列表为空；获取所述测试用例的测试结果，可以在资源数满足的情况下并发的运行测试用例，从而实现快速高效的完成芯片的测试用例回归。

技术特征：

1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试结果为测试日志文件，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述删除所述失败信息中的假错信息包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试日志文件为多个，所述删除所述失败信息中的假错信息包括：

5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述判断所述测试日志结果文件是否为空之后，所述方法还包括：

7.根据权利要求1-4或6中任一项所述的方法，其特征在于，所述若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行包括：

8.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：

9.一种计算机设备，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1至7中任意一项所述的方法。

技术总结
本申请实施例公开了一种芯片验证方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法具体包括：获取用于验证芯片的资源数量；判断所述资源数量是否不为零；若所述资源数量不为零，从测试用例列表中获取测试用例并运行，直至所述资源数量为零或所述测试用例列表为空；获取所述测试用例的测试结果。本申请实施例实现了快速高效的完成芯片的测试用例回归。

技术研发人员：王辉,赵正,王萍,焦宽祥
受保护的技术使用者：紫光同芯微电子有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13