一种基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法与装置与流程

本发明涉及图像处理技术，尤其涉及一种基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法与装置。

背景技术：

1、近些年来随着国内生产的飞速发展，假货问题越来越猖獗，开始危及企业和消费者的合法权益，严重影响国家的经济发展。随着智能设备的使用普及，图像防伪技术使用越来越普及。一种新型微图码被设计提出，微图码是由二维码+微图防伪码结合而成的具有售前防伪、产品溯源、防止窜货与智慧营销等功能，其中微图防伪码是设计的密集点阵图案，在印刷中更利于油墨的随机扩散。微图防伪技术，通过手机拍出清晰稳定的图像和服务器模板图像对比，在细微处比较油墨的扩散效果。

2、在实际应用过程中，由于智能手机拍摄角度问题，光洁的油墨会出现反光现象，这种反光会对图像的细节进行干扰，影响微图防伪的最终结果，可能导致正品变成赝品，这是市场所不能容忍的。基于这种背景，提出一种基于灰度直方图的防伪码图像反光检测方法，在检测到图像为反光图像时，判定此次结果不可靠，让用户重新去拍照验证。

技术实现思路

1、本发明要解决的技术问题在于针对现有技术中的缺陷，提供一种基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法与装置。

2、本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法，包括以下步骤：

3、步骤1）拍照获取微图码样本图片；微图码包括二维码区和防伪区；所述防伪区包括微图防伪码，其中微图防伪码为密集点阵组成的图案；

4、步骤2）定位扣取微图防伪码的区域图像，将微图防伪码区域图像以中心点均分未n份，其中，n大于等于4；分区域计算微图防伪码区域图像的灰度直方图；

5、步骤3）计算各区域灰度直方图双峰位置特征，根据直方图双峰特征，判断图像是否存在反光；

6、3.1)计算n区域灰度直方图两个波峰的位置，记为；表示区域i的灰度直方图第j个波峰的位置；

7、求出双波峰位置相对差值最大值:

8、

9、

10、根据预设的低亮度波峰相对位置差异阈值, 高亮度波峰相对位置差异；

11、3.2）当 时，判断图像存在反光；

12、3.3)当 时，在灰度直方图四个区域中，以两个波峰为中心点，计算波峰位置区间的灰度集中度；

13、 ,当  < , 判断图像为发光，其中，为灰度集中值；,,图像四区域的两波峰位置的区间像素,图像总像素个数为。

14、按上述方案，所述步骤1）中通过移动智能终端拍照获取微图码样本图片。

15、按上述方案，所述步骤2）中，具体如下：

16、步骤2.1）进行目标图像区域定位扣取，并对扣取的图像进行校正，归一化；

17、步骤2.2）对校正后的目标图像分区域计算灰度直方图分布；

18、步骤2.3）对直方图进行平滑处理。

19、按上述方案，所述步骤2.1）中定位扣取微图防伪码的区域图像，具体如下：

20、通过对微图码样本图片的防伪区图案进行平滑滤波和二值化处理后，寻找轮廓，筛选轮廓中符合正方形的矩形作为目标轮廓，提取轮廓，利用图像仿射变换，提取出目标图像。

21、按上述方案，所述步骤2.3）中，利用中值滤波对直方图进行平滑处理。

22、本发明产生的有益效果是：

23、使用本发明方法当图像整体反光或局部反光时，通过该方法判断出是否反光，为后续防伪码验证方法提供准确的信息，减少因图像反光导致的正品判断为赝品现象，提升防伪鉴别的稳定性，大大提升鉴别的鲁棒性。

技术特征：

1.一种基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法，其特征在于，所述步骤1）中通过移动智能终端拍照获取微图码样本图片。

3.根据权利要求1所述的基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法，其特征在于，

5.根据权利要求3所述的基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法，其特征在于，

6.一种基于灰度直方图离散性的微图码反光检测装置，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法，其特征在于，所述步骤1）中通过移动智能终端拍照获取微图码样本图片。

8.根据权利要求6所述的基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法，其特征在于，

技术总结
本发明公开了一种基于灰度直方图离散性的微图码反光检测方法与装置，该方法包括以下步骤：步骤1）拍照获取微图码样本图片；微图码包括二维码区和防伪区；所述防伪区包括微图防伪码，其中微图防伪码为密集点阵组成的图案；步骤2）定位扣取微图防伪码的区域图像，将微图防伪码区域图像以中心点均分未N份，其中，N大于等于4；分区域计算微图防伪码区域图像的灰度直方图；步骤3）计算各区域灰度直方图双峰位置特征，根据直方图双峰特征，判断图像是否存在反光。使用本发明方法可以快速准确判断图像是否存在反光。

技术研发人员：张耀,马风新,宋育锋
受保护的技术使用者：武汉保诚信科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12