反电子中微子的分布状态确定方法、装置、设备及介质与流程

本申请涉及物理检测，尤其涉及一种反电子中微子的分布状态确定方法、装置、设备及介质。

背景技术：

1、在实际应用中，通常通过反贝塔(β)衰变(inverse beta deacy，ibd)反应来探测反电子中微子。在实际的探测过程中，通常使用掺杂有钆的有机闪烁体作为探测器灵敏体、比如在塑料闪烁体周围包裹含钆的物质而形成的塑料闪烁体阵列、或者掺入钆的液体闪烁体，来俘获ibd过程中产生的中子，以探测反电子中微子。然而，上述探测器灵敏体对反电子中微子的探测效率较低。

技术实现思路

1、基于以上问题，本申请实施例提供了一种反电子中微子的分布状态确定方法、装置、设备及介质。

2、本申请实施例提供的技术方案是这样的：

3、本申请实施例首先提供了一种反电子中微子的分布状态确定方法，所述方法包括：

4、获取掺杂有硼-10的探测器灵敏体阵列传输的粒子信号集合；

5、对所述粒子信号集合中的粒子信号进行处理，得到处理结果；

6、基于所述处理结果，确定所述探测器灵敏体阵列所处环境中所述反电子中微子的分布状态。

7、本申请实施例还提供了一种反电子中微子的分布状态确定装置，所述装置包括：

8、获取模块，用于获取掺杂有硼-10的探测器灵敏体阵列传输的粒子信号集合；

9、处理模块，用于对粒子信号集合中的粒子信号进行处理，得到处理结果；

10、确定模块，用于基于处理结果，确定探测器灵敏体阵列所处环境中反电子中微子的分布状态。

11、本申请实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器；所处存储器中存储有计算机程序，该计算机程序被所述处理器执行时，能够实现如前任一实施例提供的反电子中微子的分布状态确定方法。

12、本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序；所述计算机程序被电子设备的处理器执行时，能够实现如前任一实施例所述的反电子中微子的分布状态确定方法。

13、本申请实施例提供的反电子中微子的分布状态确定方法，由于硼-10的热中子俘获截面较大，因此通过掺杂有硼-10的探测器灵敏体阵列获取的粒子信号集合中粒子信号的数量、相对于相关技术中掺杂钆的探测器灵敏体俘获的粒子信号的数量能够有所改善；并且，由于硼-10的热中子俘获截面较大，因此，通过在探测器灵敏体阵列中掺杂较低浓度的硼-10即可提高粒子信号的俘获效率，从而能够削弱由于掺杂硼-10对探测器灵敏体的发光效率的消极影响；与此同时，由于硼-10与中子反应的产物为氦-4和/或锂-7，对这些粒子信号的探测效率要高于钆俘获中子后释放的伽马γ射线的探测效率，从而能够降低粒子信号集合中粒子信号的探测难度，同时提高粒子信号的探测效率。

14、另一方面，由于本申请实施例中上述探测器灵敏体阵列的上述优势，就能够直接提高对粒子信号集合中粒子信号进行处理得到的处理结果、以及基于处理结果确定的探测器灵敏体阵列所处环境中反电子中微子的分布状态的精确度。

技术特征：

1.一种反电子中微子的分布状态确定方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述探测器灵敏体包括掺杂有所述硼-10的塑料闪烁体、分别与所述塑料闪烁体两个端口密封连接的两个光导、以及分别与所述两个光导密封连接的两个光电倍增管；所述塑料闪烁体为六棱柱形；所述获取掺杂有硼-10的探测器灵敏体阵列传输的粒子信号集合，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述处理结果，确定所述探测器灵敏体阵列所处环境中所述反电子中微子的分布状态，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述粒子信号集合中的粒子信号进行处理，得到处理结果，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述粒子信号集合中的粒子信号进行统计，得到统计结果，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对所述第一信号集合中与所述探测器灵敏体阵列中的探测器灵敏体关联的粒子信号进行统计，包括：

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述统计结果对所述粒子信号进行采样量化处理，包括：

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述基于所述触发信号触发对所述第二信号集合中的粒子信号进行采样量化处理，包括：

9.一种反电子中微子的分布状态确定装置，其特征在于，所述装置包括：

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器和存储器；所处存储器中存储有计算机程序，该计算机程序被所述处理器执行时，能够实现如权利要求1至8任一所述的反电子中微子的分布状态确定方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序；所述计算机程序被电子设备的处理器执行时，能够实现如权利要求1至8任一所述的反电子中微子的分布状态确定方法。

技术总结
本申请公开了一种反电子中微子的分布状态确定方法、装置、设备及介质；其中，所述方法包括：获取掺杂有硼‑10的探测器灵敏体阵列传输的粒子信号集合；对所述粒子信号集合中的粒子信号进行处理，得到处理结果；基于所述处理结果，确定所述探测器灵敏体阵列所处环境中所述反电子中微子的分布状态。

技术研发人员：王超,何高魁,宛玉晴,田华阳,邵云东,阙子昂,赵江滨,刘洋,张思颖
受保护的技术使用者：中国原子能科学研究院
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13