存储颗粒开卡工具调试方法、设备和可读存储介质与流程

本申请涉及存储设备领域，尤其涉及一种存储颗粒开卡工具调试方法、存储颗粒开卡工具调试设备和计算机可读存储介质。

背景技术：

1、存储器包括mcu(microcontroller unit，微控制单元)和nand颗粒。mcu中保存有控制程序，用于控制存储器完成相应的存储动作。nand广泛应用在各种存储卡，u盘，ssd，emmc等大容量设备中。

2、在相关技术中，存储器生产厂商从闪存颗粒生产厂商处购买nand颗粒，再进一步生产出存储器。生产出成品后再针对存储器的nand颗粒，调试出对应的开卡工具，利用开卡工具将ftl(flash translation layer，闪存转换层)烧录至nand颗粒中。

3、但是存储器生产厂商在开卡工具的调试过程中获取到的nand颗粒数量有限，导致抓取到的故障日志数量不足，影响开卡工具的调试效果。

技术实现思路

1、本申请实施例通过提供一种存储颗粒开卡工具调试方法、存储颗粒开卡工具调试设备和计算机可读存储介质，解决了相关技术中存储器生产厂商在开卡工具的调试过程中获取到的nand颗粒数量有限，导致抓取到的bug日志数量不足，影响开卡工具的调试效果的技术问题，实现了覆盖尽可能多的业务场景用于调试量产的逻辑流程及异常处理的技术效果。

2、本申请实施例提供了一种存储颗粒开卡工具调试方法，所述存储颗粒开卡工具调试方法包括：

3、在虚拟主机接收到开卡工具的调试指令时，确定所述调试指令对应的nand参数；

4、基于所述nand参数生成虚拟存储设备，并确定错误存储点位以及对应的错误类型；

5、根据所述错误类型设置所述错误存储点位的待设置参数，并按照所述待设置参数更新所述虚拟存储设备；

6、控制更新后的所述虚拟存储设备执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果。

7、可选的，所述在虚拟主机接收到开卡工具的调试指令时，确定所述调试指令对应的nand参数的步骤包括：

8、在所述虚拟主机接收到所述调试指令时，确定所述调试指令对应的存储颗粒性能文件；

9、确定所述存储颗粒性能文件对应的磨损函数、性能参数以及基本属性参数；

10、根据所述磨损函数、所述性能参数以及所述基本属性参数确定所述nand参数。

11、可选的，所述基于所述nand参数生成虚拟存储设备，并确定错误存储点位以及对应的错误类型的步骤包括：

12、运行预设的生成算法，基于所述nand参数生成所述虚拟存储设备；

13、基于所述磨损函数确定目标存储块；

14、确定所述目标存储块对应的位置坐标作为所述错误存储点位；

15、获取故障日志中的所述错误类型，随机对所述错误存储点位分配所述错误类型。

16、可选的，所述根据所述错误类型设置所述错误存储点位的待设置参数，并按照所述待设置参数更新所述虚拟存储设备的步骤包括：

17、确定所述错误类型对应的目标参数值；

18、根据所述目标参数值设置所述错误存储点位对应的所述待设置参数；

19、确定所述错误存储点位对应的目标存储颗粒，根据所述待设置参数控制所述目标存储颗粒进入对应的错误状态。

20、可选的，所述控制更新后的所述虚拟存储设备执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果的步骤包括：

21、基于所述开卡工具确定所述虚拟存储设备对应的控制文件；

22、根据所述控制文件更新虚拟微控制单元；

23、控制所述虚拟微控制单元执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果。

24、可选的，所述基于所述开卡工具确定所述存储颗粒模型对应的控制文件的步骤包括：

25、运行所述开卡工具，获取所述虚拟存储设备中虚拟存储颗粒的地图表；

26、基于所述nand参数以及所述错误存储点位，根据所述地图表生成所述控制文件。

27、可选的，所述控制所述虚拟微控制单元执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果的步骤包括：

28、所述虚拟微控制单元根据所述控制文件，对所述虚拟闪存颗粒进行读写测试；

29、在所述读写测试出现错误时，输出所述读写测试对应的错误报告。

30、此外，本申请还提出一种存储颗粒开卡工具调试设备，所述存储颗粒开卡工具调试设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的存储颗粒开卡工具调试程序，所述处理器执行所述存储颗粒开卡工具调试程序时实现如上所述的存储颗粒开卡工具调试方法的步骤。

31、此外，本申请还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有存储颗粒开卡工具调试程序，所述存储颗粒开卡工具调试程序被处理器执行时实现如上所述的存储颗粒开卡工具调试方法的步骤。

32、本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

33、1、由于采用了在虚拟主机接收到开卡工具的调试指令时，确定所述调试指令对应的nand参数；基于所述nand参数生成虚拟存储设备，并确定错误存储点位以及对应的错误类型；根据所述错误类型设置所述错误存储点位的待设置参数，并按照所述待设置参数更新所述虚拟存储设备；控制更新后的所述虚拟存储设备执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果。所以，有效解决了相关技术中存储器生产厂商在开卡工具的调试过程中获取到的nand颗粒数量有限，导致抓取到的bug日志数量不足，影响开卡工具的调试效果的技术问题，实现了覆盖尽可能多的业务场景用于调试量产的逻辑流程及异常处理的技术效果。

技术特征：

1.一种存储颗粒开卡工具调试方法，其特征在于，所述存储颗粒开卡工具调试方法包括：

2.如权利要求1所述的存储颗粒开卡工具调试方法，其特征在于，所述在虚拟主机接收到开卡工具的调试指令时，确定所述调试指令对应的nand参数的步骤包括：

3.如权利要求2所述的存储颗粒开卡工具调试方法，其特征在于，所述基于所述nand参数生成虚拟存储设备，并确定错误存储点位以及对应的错误类型的步骤包括：

4.如权利要求1所述的存储颗粒开卡工具调试方法，其特征在于，所述根据所述错误类型设置所述错误存储点位的待设置参数，并按照所述待设置参数更新所述虚拟存储设备的步骤包括：

5.如权利要求1所述的存储颗粒开卡工具调试方法，其特征在于，所述控制更新后的所述虚拟存储设备执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果的步骤包括：

6.如权利要求5所述的存储颗粒开卡工具调试方法，其特征在于，所述基于所述开卡工具确定所述存储颗粒模型对应的控制文件的步骤包括：

7.如权利要求5所述的存储颗粒开卡工具调试方法，其特征在于，所述根据所述控制文件更新虚拟微控制单元的步骤包括：

8.如权利要求5所述的存储颗粒开卡工具调试方法，其特征在于，所述控制所述虚拟微控制单元执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果的步骤包括：

9.一种存储颗粒开卡工具调试设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的存储颗粒开卡工具调试程序，所述处理器执行所述存储颗粒开卡工具调试程序时实现如权利要求1至8任一项所述的存储颗粒开卡工具调试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有存储颗粒开卡工具调试程序，所述存储颗粒开卡工具调试程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述的存储颗粒开卡工具调试方法的步骤。

技术总结
本申请公开了一种存储颗粒开卡工具调试方法、存储颗粒开卡工具调试设备和计算机可读存储介质，该方法包括：在虚拟主机接收到开卡工具的调试指令时，确定所述调试指令对应的NAND参数；基于所述NAND参数生成虚拟存储设备，并确定错误存储点位以及对应的错误类型；根据所述错误类型设置所述错误存储点位的待设置参数，并按照所述待设置参数更新所述虚拟存储设备；控制更新后的所述虚拟存储设备执行所述调试指令，并输出所述调试指令的执行结果。解决了相关技术中抓取到的故障日志数量不足，影响开卡工具的调试效果的技术问题，实现了覆盖尽可能多的业务场景用于调试量产的逻辑流程及异常处理的技术效果。

技术研发人员：林寅,吴大畏,李晓强
受保护的技术使用者：深圳市硅格半导体有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12