本发明涉及触摸屏,特别涉及一种按键触摸屏及测试方法。
背景技术:
1、随着触摸屏应用的普及,各类按键触摸屏的应用也逐渐普遍开来,按键触摸屏相对于传统的机械按键有着:更灵敏、更可靠、寿命更长、更美观等优点,按键触摸屏替代机械按键的应用越来越多。按键触摸屏与一般电容式触摸屏相比不同地方在于,按键式触摸屏在实现类似开关的功能,每个按键都是单独控制,按键与按键之间的间隔也不一定是相等的,而且按键的数量可能从几个到几十个不等。对于按键数量较大的按键触摸屏来说,减少控制芯片使用数量从成本上来看有很大的意义。并且按键触摸都是自电容的识别方式,用现有的测试方法,需要模拟手指触摸。按键越多,测试时间越长,容易漏测且测试时间较长。
技术实现思路
1、本发明提供了一种按键触摸屏,其优点是在按键数量较多时,减少控制芯片的使用数量从而减小对芯片管脚的需求,或,在同样控制芯片的基础上,能够在触摸屏上设置更多按键。本发明还提供一种按键触摸屏及测试方法,用来提高按键触摸屏的此时效率。
2、本发明采用的技术方案如下:
3、一种按键触摸屏,其特征在于,包括:
4、屏幕基板;
5、多组电极,位于所述屏幕基板上并且彼此绝缘隔开,每组电极均被作为一个按键使用;
6、多个引出线,从所述电极引出并连接至另设的控制芯片的管脚;
7、其中,每组电极中均包括两个彼此绝缘隔开的子电极,每个子电极均连接有一个引出线,同一组内两个子电极的引出线连接至控制芯片的两个不同管脚,任意两组电极中,至少有一个子电极连接至控制芯片的不同管脚。
8、本发明进一步设置为,同组电极内的两个子电极在相对的一侧分别设有相互配合的锯齿形结构,该锯齿形结构包括三角形锯齿形状、矩形锯齿形状、梯形锯齿形状以及波浪形锯齿形状。
9、本发明进一步设置为,所述锯齿形结构不少于三个齿。
10、本发明进一步设置为,同组电极内的两个子电极之间具有缝隙,所述缝隙的形状由所述锯齿形结构决定,所述缝隙在两个子电极之间的宽度相同。
11、本发明进一步设置为,同组电极内的两个子电极沿着所述屏幕基板的长度方向布置或沿着所述屏幕基板的宽度方向布置。
12、本发明进一步设置为,同组电极内的两个子电极之间具有互电容。
13、一种按键触摸屏的测试方法,其特征在于,用于对如上所述的按键触摸屏进行测试,包括步骤:
14、检测同组电极内的两个子电极之间的互电容容值;
15、将检测到互电容容值与另设阈值进行比较,若超出该阈值范围,判断该组电极不合格。
16、本发明进一步设置为,检测互电容容值时,通过控制芯片检测同组电极内的两个子电极之间的互电容容值。
17、综上所述,本发明的有益效果有:
18、1.本发明中的按键触摸屏,每组电极中包括两个子电极,并连接至控制芯片的不同管脚,从而使得在按键数量较多时,减少控制芯片的使用数量从而减小对芯片管脚的需求,或,在同样控制芯片的基础上,能够在触摸屏上设置更多按键;
19、2.本发明中,通过两个子电极之间设置的锯齿形结构,增加两个子电极之间的互电容,提高触摸灵敏度;
20、3.本发明中,通过检测子电极之间互电容容值来对触摸屏进行合格测试,测试结果更加准确,测试时间更短。
1.一种按键触摸屏,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的按键触摸屏,其特征在于,同组电极内的两个子电极在相对的一侧分别设有相互配合的锯齿形结构,该锯齿形结构包括三角形锯齿形状、矩形锯齿形状、梯形锯齿形状以及波浪形锯齿形状。
3.根据权利要求2所述的按键触摸屏,其特征在于,所述锯齿形结构不少于三个齿。
4.根据权利要求3所述的按键触摸屏,其特征在于,同组电极内的两个子电极之间具有缝隙,所述缝隙的形状由所述锯齿形结构决定,所述缝隙在两个子电极之间的宽度相同。
5.根据权利要求1所述的按键触摸屏,其特征在于,同组电极内的两个子电极沿着所述屏幕基板的长度方向布置或沿着所述屏幕基板的宽度方向布置。
6.根据权利要求1所述的按键触摸屏,其特征在于,同组电极内的两个子电极之间具有互电容。
7.一种按键触摸屏的测试方法,其特征在于,用于对如权利要求1-6任意一项所述的按键触摸屏进行测试,包括步骤:
8.根据权利要求7所述的按键触摸屏,其特征在于,检测互电容容值时,通过控制芯片检测同组电极内的两个子电极之间的互电容容值。