测试设计的方法、电子设备及存储介质与流程

本申请涉及计算机软件，尤其涉及一种测试设计的方法、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、在进行逻辑系统设计(例如，芯片设计)的测试时，通常随着时间的推移对逻辑系统设计施加不同的激励信号，并且观察逻辑系统设计的输出信号在时间上的变化(例如，波形)。通过输出信号的变化可以发现设计的问题，并对设计进行修改。

2、为了更好地实现设计的调试，工程师通常需要反复地将测试还原到特定的时间点，来观察该时间点的输入信号以及输出信号，从而进行设计的调试。这就意味着，设计的测试需要能够快速地在工程师指定的时间点还原测试，包括在该时间点的输入信号、输出信号以及设计内部的多个信号的值。

3、为了快速复原测试，传统做法是在不同的时间点大量保存设计的测试的信息作为测试还原信息(在本申请中也称为标记信息)。这样，根据工程师选择的时间点载入对应的测试还原信息并且根据测试还原信息来运行设计的测试可以快速还原指定时间点的测试。

4、但是，随着芯片设计规模的增大，测试过程中产生的数据也越发庞大。因此，传统做法会大量侵占计算系统的存储资源和计算资源。

5、如何在保持还原测试的速度的前提下，尽可能降低对计算系统的各种资源的占用是一个亟待解决的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的目的在于提出一种测试设计的方法、电子设备及存储介质用以解决或部分解决上述技术问题。

2、本申请的第一方面，提供了一种测试设计的方法，包括：执行所述设计的测试，所述测试包括多个测试段，所述多个测试段包括一个目标测试段和多个非目标测试段；在所述测试过程中获取多个标记信息；根据给定保存密度保存所述多个标记信息用于回溯所述测试；以及基于所述多个标记信息回溯所述测试，其中，根据给定保存密度保存多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试进行至目标测试段，按照第一保存密度将所述目标测试段内的多个标记信息保存；以及按照所述第二保存密度将所述多个非目标测试段内的多个标记信息保存，所述第一保存密度高于所述第二保存密度。

3、本申请的第二方面，提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存储一组指令；以及至少一个处理器，配置为执行该组指令以进行第一方面所述的方法。

4、本申请的第三方面，提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储电子装置的一组指令，该组指令用于使所述电子装置执行第一方面所述的方法。

5、本申请实施例提供的测试设计的方法、电子设备及存储介质，在设计执行测试过程中，会将用户关注的目标测试段内的多个标记信息按照存储密度较高的第一保存密度进行保存，将不是用户关注的多个非目标测试段内的多个标记信息按照密度较低的第二保存密度进行保存，这样由于用户关注的目标测试段保存的标记信息数量较多，使得用户能够基于这些标记信息更加精确的进行回溯测试，进而准确快速地找出故障位置进行修改，提高测试效率。

技术特征：

1.一种测试设计的方法，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述目标测试段包括一个兴趣点，所述兴趣点包括用户设置的观察点或测试报错点。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，保存所述多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其中，保存所述多个标记信息用于回溯所述测试还包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述标记信息包括：在与所述标记信息对应的时刻执行所述测试的进程在内存中的数据的副本。

6.根据权利要求1所述的方法，还包括：

7.根据权利要求6所述的方法，还包括：

8.根据权利要求7所述的方法，还包括：

9.一种电子设备，包括：

10.一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机的一组指令，该组指令用于在被执行时使所述计算机执行权利要求1至8任意一项所述的方法。

技术总结
本申请提供一种测试设计的方法、电子设备及存储介质。该方法包括：执行所述设计的测试，所述测试包括多个测试段，所述多个测试段包括一个目标测试段和多个非目标测试段；在所述测试过程中获取多个标记信息；根据给定保存密度保存所述多个标记信息用于回溯所述测试；以及基于所述多个标记信息回溯所述测试，其中，根据给定保存密度保存多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试进行至目标测试段，按照第一保存密度将所述目标测试段内的多个标记信息保存；以及按照所述第二保存密度将所述多个非目标测试段内的多个标记信息保存，所述第一保存密度高于所述第二保存密度。

技术研发人员：黄世杰,黄武
受保护的技术使用者：芯华章科技（厦门）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12