一种指纹模组的检测方法、设备、存储介质和产品与流程

本发明涉及数据分析，特别是一种指纹模组的检测方法、设备、存储介质和产品。

背景技术：

1、目前，随着指纹识别技术的广泛应用，手机、平板等电子设备上大多设置有指纹模组用于执行指纹识别功能。在具体的指纹模组结构中，屏下的各种元件会发出一定的光线或产生反射或折射光线，并被指纹模组的镜头捕捉。这些额外的光线会对采集的指纹图像信息产生干扰，增加指纹识别和活体检测的难度。为了尽量降低这些干扰，指纹模组在设计与安装时需要确保镜头对焦在电子设备的指纹识别区域屏幕之上，从而使屏下各种元件处于不合焦的区域中，对指纹图像的影响降到最低。

2、然而，在实际生产过程中，由于工艺中的技术限制，难以避免会产生镜头公差、模组生产公差以及手机组装公差等问题，导致模组的实际对焦位置可能与理想位置存在差距，屏下元件的反射、折射光线等仍会影响到指纹模组采集指纹图像的性能。如何检测生产出的电子设备的指纹模组受到屏下元件干扰的干扰度，进而确定指纹模组的图像采集性能是否合格，是需要解决的技术问题。

技术实现思路

1、鉴于上述问题，本发明实施例提供了一种指纹模组的检测方法、设备、存储介质和产品，以便克服上述问题或者至少部分地解决上述问题。

2、本发明实施例的第一方面，提供了一种指纹模组的检测方法，包括：

3、获取指纹模组在屏幕下方时针对屏幕上的测试部件所采集的测试图像；

4、对所述测试图像进行变换，得到所述测试图像的频谱图；

5、对所述测试图像的频谱图进行分析，得到所述指纹模组受到位于屏幕中的元件干扰的干扰度；

6、根据所述干扰度，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能是否合格。

7、可选地，对所述测试图像的频谱图进行分析，得到所述指纹模组受到位于屏幕中的元件干扰的干扰度，包括：

8、根据所述测试图像的频谱图中各个像素点对应的频率，对在同一频率参数的频谱振幅参数值进行累加，得到多个频率参数各自对应的累加值，所述频率参数为频率点值或频率区间值；

9、对所述多个频率参数各自对应的累加值进行曲线拟合，得到所述测试图像的频谱密度曲线，所述测试图像的频谱密度曲线的横坐标表征频率参数的大小，所述测试图像的频谱密度曲线的纵坐标表征频率参数对应的累加值；

10、根据所述测试图像的频谱密度曲线和目标频率参数，得到所述干扰度。

11、可选地，根据所述测试图像的频谱密度曲线和目标频率参数，得到所述干扰度，包括：

12、确定所述测试图像的频谱密度曲线，频率参数高于所述目标频率参数的频谱密度曲线下方的第一面积；

13、确定所述测试图像的频谱密度曲线下方的第二面积；

14、将所述第一面积与所述第二面积的比值，确定为所述干扰度。

15、可选地，所述目标频率参数是按照以下步骤确定的：

16、获取合格指纹模组在屏幕下方时针对屏幕上的手指所采集的指纹图像；

17、对所述指纹图像中的指纹谷和/或指纹脊子图像进行变换，得到指纹谷和/或指纹脊子图像的频谱图；

18、根据所述指纹谷和/或指纹脊子图像的频谱图中各个像素点对应的频率，确定指纹谷和/或指纹脊对应的频率范围；

19、根据指纹谷和/或指纹脊对应的频率范围，确定所述目标频率参数。

20、可选地，所述目标频率参数是按照以下步骤确定的：

21、获得多个合格指纹模组各自对应的合格测试图像的频谱密度曲线，以及，所述合格测试图像的频谱密度曲线是根据所述合格测试图像的频谱图中每个像素点对应的频率的频谱振幅参数值生成的；

22、获得多个不合格指纹模组各自对应的不合格测试图像的频谱密度曲线，所述不合格测试图像的频谱密度曲线是根据所述不合格测试图像的频谱图中每个像素点对应的频率的频谱振幅参数值生成的；

23、根据所述多个合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线，与所述多个不合5格指纹模组各自对应的频谱密度曲线的差异，确定干扰信号频率参数；

24、根据所述干扰信号频率参数，确定所述目标频率参数。

25、可选地，根据所述多个合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线，与所述多个不合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线的差异，确定干扰信号频率参数，包括：

26、0确定所述多个合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线，与所述多个不合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线之间的多个交点；

27、根据所述多个交点对应的频率，确定干扰信号频率参数。

28、可选地，根据所述干扰度，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能是否合格，包括：

29、5在所述干扰度大于干扰度阈值的情况下，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能不合格；

30、在所述干扰度不大于所述干扰度阈值的情况下，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能合格。

31、可选地，所述干扰度阈值是按照以下步骤确定的：0获得一个或多个合格指纹模组各自对应的干扰度，所述合格指纹模组是指该指纹模组的指纹图像采集性能合格；

32、根据一个或多个合格指纹模组各自对应的干扰度，确定所述干扰度阈值。

33、可选地，每张所述测试图像是在黑暗环境中采集的。

34、5本发明实施例第二方面还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序以实现本发明实施例第一方面所述的指纹模组的检测方法中的步骤。

35、本发明实施例第三方面还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序/指令，该计算机程序/指令被处理器执行时实现本发明实施例第一方面所述的指纹模组的检测方法中的步骤。

36、本发明实施例第四方面还提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在电子设备上运行时，使处理器执行时实现本发明实施例第一方面所述的指纹模组的检测方法中的步骤。

37、本发明实施例提供的一种指纹模组的检测方法，包括：获取指纹模组在屏幕下方时针对屏幕上的测试部件所采集的测试图像；对测试图像进行变换，得到测试图像的频谱图；对测试图像的频谱图进行分析，得到指纹模组受到位于屏幕中的元件干扰的干扰度；根据干扰度，确定指纹模组的指纹图像采集性能是否合格。本发明通过对指纹模组采集的测试图像进行分析，将其转换为频谱图，根据频谱图中数据计算得到指纹模组受屏幕中的元件干扰的干扰度，从而检测确定该模组是否合格，本发明提供的检测方法可以快速测定指纹模组受干扰程度，且方法简单准确，广泛适用于各产线对指纹模组的生产检测。

技术特征：

1.一种指纹模组的检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，对所述测试图像的频谱图进行分析，得到所述指纹模组受到位于屏幕中的元件干扰的干扰度，包括：

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据所述测试图像的频谱密度曲线和目标频率参数，得到所述干扰度，包括：

4.根据权利要求2或3所述的检测方法，其特征在于，所述目标频率参数是按照以下步骤确定的：

5.根据权利要求2或3所述的检测方法，其特征在于，所述目标频率参数是按照以下步骤确定的：

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，根据所述多个合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线，与所述多个不合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线的差异，确定干扰信号频率参数，包括：

7.根据权利要求1-6任一项所述的检测方法，其特征在于，根据所述指纹模组受元件干扰的干扰度，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能是否合格，包括：

8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述干扰度阈值是按照以下步骤确定的：

9.根据权利要求1-8中任一项所述的检测方法，其特征在于，每张所述测试图像是在黑暗环境中采集的。

10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序以实现权利要求1至9中任一项所述的指纹模组的检测方法中的步骤。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序/指令，其特征在于，该计算机程序/指令被处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的指纹模组的检测方法中的步骤。

12.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品在电子设备上运行时，使处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的指纹模组的检测方法中的步骤。

技术总结
本发明提供了一种指纹模组的检测方法、设备、存储介质和产品，该方法包括：获取指纹模组在屏幕下方时针对屏幕上的测试部件所采集的测试图像；对测试图像进行变换，得到测试图像的频谱图；对测试图像的频谱图进行分析，得到指纹模组受到位于屏幕中的元件干扰的干扰度；根据干扰度，确定指纹模组的指纹图像采集性能是否合格。本发明提供的检测方法通过对指纹模组采集的测试图像进行分析，将其转换为频谱图，根据频谱图中数据计算得到指纹模组受元件干扰的干扰度，从而检测确定该模组是否合格，可以快速测定指纹模组受干扰的程度，且该方法简单准确，广泛适用于各产线对指纹模组的生产检测。

技术研发人员：邹佳辰
受保护的技术使用者：北京极豪科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12