一种针对不同带宽DDR芯片的测试系统的制作方法

一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统
技术领域
1.本实用新型属于芯片测试的技术领域，尤其涉及一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统。


背景技术：

2.随着半导体集成电路的发展，ddr系统的速率原来越高，ddr设计难度越来越大，顺应市场要求，我司开发设计了各种不同容量不同带宽的ddr颗粒，帮助客户实现pcb板级更小的ddr颗粒面积。虽然所有的ddr芯片都会在机台上进行测试，但由于客户应用环境的不同，以及机台的测试指标于pcb板级应用不同，我们仍需对芯片进行pcb板级测试。对于出货量大的厂商，可以对每款产品设计独立的测试板，但是对于小型多样的企业这种测试方式成本太高。
3.由于我司的ddr产品品类繁多，针对每一款产品开发一个pcb测试环境的话成本高昂，且耗费的开发时间太多，我们需要一套更灵活更通用的测试装置。


技术实现要素：

4.本实用新型要解决的技术问题是现有技术中缺少可以测试不同容量不同带宽的ddr芯片测试系统，为了改善其不足之处，本实用新型提供了一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统。
5.为达到上述目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的：
6.一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，包括有控制模块、芯片载板模块、电源模块、调试模块、时钟模块以及散热模块；
7.所述控制模块，包括有用于驱动同类ddr芯片的ddr控制器主板，所述控制器主板内设置有若干第一接线端口；
8.所述芯片载板模块，包括有用于安装芯片载板的芯片安装夹具，用于安装 ddr芯片的芯片载板上设置有若干第二接线端口；
9.所述电源模块，用于向控制模块，芯片载板模块，调试模块、时钟模块以及散热模块进行供电操作，与控制模块，芯片载板模块，调试模块、时钟模块以及散热模块之间电连接；
10.所述调试模块，包含软硬件调试接口及复位电路，与控制模块相连；
11.所述时钟模块，提供控制器所需的电源，与控制模块相连，
12.所述散热模块，用于控制模块的散热操作，与电源模块电连接。
13.作为优选方案，所述控制器主板为驱动ddr1或ddr2或ddr3或ddr4或ddr5 中的任意一种，所述ddr1兼容lpddr1设置，所述ddr2兼容lpddr2设置，所述ddr2兼容lpddr3设置，所述ddr4兼容lpddr4设置。
14.作为优选方案，所述芯片载板中的第二接线端口数量根据8位、16位、32 位、64位和72位带宽的ddr芯片进行设置。
15.作为优选方案，所述芯片载板模块内设置有用于观测信号质量的测试点。
16.作为优选方案，所述第一接线端口与第二接线端口之间采用直接插拔式连接，控制器主板和芯片载板之间的第一接线端口与第二接线端口为高速信号接线端口，满足不同类型ddr信号的速率要求。
17.作为优选方案，所述芯片载板上的第二接线端口与控制器主板上的第一接线端口位置对应设置，芯片载板上的第二接线端口数量等于或小于控制器主板的第一接线端口数量。
18.作为优选方案，所述第一接线端口与第二接线端口均做冗余设计。
19.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该系统对于一类ddr芯片我们只需要开发一种ddr控制器主板，对于同一位宽的不同类ddr芯片，我们只需要开发一种ddr芯片载板，只需要设计总数不超过10中的测试版，经过不同的排列组合，可以覆盖所有类型的ddr芯片测试，大大节约了测试装置的加工成本和调试周期，适用于工业生产中，具有很强的实用性。
附图说明
20.图1为本实用新型的模块流程示意图。
具体实施方式
21.下面结合附图及实施例对本申请的技术方案作进一步地描述说明。
22.如图1所示，为一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，包括有控制模块、芯片载板模块、电源模块、调试模块、时钟模块以及散热模块；
23.所述控制模块，包括有用于驱动同类ddr芯片的ddr控制器主板，所述控制器主板内设置有若干第一接线端口；
24.所述芯片载板模块，包括有用于安装芯片载板的芯片安装夹具，用于安装 ddr芯片的芯片载板上设置有若干第二接线端口；
25.所述电源模块，用于向控制模块，芯片载板模块，调试模块、时钟模块以及散热模块进行供电操作，与控制模块，芯片载板模块，调试模块、时钟模块以及散热模块之间电连接；
26.所述调试模块，包含软硬件调试接口及复位电路，与控制模块相连；
27.所述时钟模块，提供控制器所需的各种电源，与控制模块相连，
28.所述散热模块，用于控制模块的散热操作，与电源模块电连接。
29.所述控制器主板为驱动ddr1或ddr2或ddr3或ddr4或ddr5中的任意一种，所述ddr1兼容lpddr1设置，所述ddr2兼容lpddr2设置，所述ddr2兼容lpddr3 设置，所述ddr4兼容lpddr4设置。所述芯片载板中的第二接线端口数量根据8 位、16位、32位、64位和72位带宽的ddr芯片进行设置。所述芯片载板模块内设置有用于观测信号质量的测试点。所述第一接线端口与第二接线端口之间采用直接插拔式连接，控制器主板和芯片载板之间的第一接线端口与第二接线端口为高速信号接线端口，满足不同类型ddr信号的速率要求。所述芯片载板上的第二接线端口与控制器主板上的第一接线端口位置对应设置，芯片载板上的第二接线端口数量等于或小于控制器主板的第一接线端口数量。所述第一接线端口与第二接线端
口均做冗余设计。
30.本实用新型并不局限于上述实施例，在本实用新型公开的技术方案的基础上，本领域的技术人员根据所公开的技术内容，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本实用新型的保护范围内。


技术特征：
1.一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，其特征在于：包括有控制模块、芯片载板模块、电源模块、调试模块、时钟模块以及散热模块；所述控制模块，包括有用于驱动同类ddr芯片的ddr控制器主板，所述控制器主板内设置有若干第一接线端口；所述芯片载板模块，包括有用于安装芯片载板的芯片安装夹具，用于安装ddr芯片的芯片载板上设置有若干第二接线端口；所述电源模块，用于向控制模块，芯片载板模块，调试模块、时钟模块以及散热模块进行供电操作，与控制模块，芯片载板模块，调试模块、时钟模块以及散热模块之间电连接；所述调试模块，包含软硬件调试接口及复位电路，与控制模块相连；所述时钟模块，提供控制器所需的电源，与控制模块相连，所述散热模块，用于控制模块的散热操作，与电源模块电连接。2.根据权利要求1所述的一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，其特征在于：所述控制器主板为驱动ddr1或ddr2或ddr3或ddr4或ddr5中的任意一种，所述ddr1兼容lpddr1设置，所述ddr2兼容lpddr2设置，所述ddr2兼容lpddr3设置，所述ddr4兼容lpddr4设置。3.根据权利要求2所述的一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，其特征在于：所述芯片载板中的第二接线端口数量根据8位、16位、32位、64位和72位带宽的ddr芯片进行设置。4.根据权利要求3所述的一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，其特征在于：所述芯片载板模块内设置有用于观测信号质量的测试点。5.根据权利要求4所述的一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，其特征在于：所述第一接线端口与第二接线端口之间采用直接插拔式连接，控制器主板和芯片载板之间的第一接线端口与第二接线端口为高速信号接线端口，满足不同类型ddr信号的速率要求。6.根据权利要求1-5任一权利要求所述的一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，其特征在于：所述芯片载板上的第二接线端口与控制器主板上的第一接线端口位置对应设置，芯片载板上的第二接线端口数量等于或小于控制器主板的第一接线端口数量。7.根据权利要求6所述的一种针对不同带宽ddr芯片的测试系统，其特征在于：所述第一接线端口与第二接线端口均做冗余设计。

技术总结
本实用新型涉及一种针对不同带宽DDR芯片的测试系统。该系统包括有控制模块、芯片载板模块、电源模块、调试模块、时钟模块以及散热模块；该系统对于一类DDR芯片我们只需要开发一种DDR控制器主板，对于同一位宽的不同类DDR芯片，我们只需要开发一种DDR芯片载板，只需要设计总数不超过10中的测试版，经过不同的排列组合，可以覆盖所有类型的DDR芯片测试，大大节约了测试装置的加工成本和调试周期，适用于工业生产中，具有很强的实用性。具有很强的实用性。具有很强的实用性。


技术研发人员：张春红 赵婉
受保护的技术使用者：西安哲威电子科技有限公司
技术研发日：2022.04.06
技术公布日：2022/8/30