诊断装置以及诊断方法与流程

文档序号:35658126发布日期:2023-10-06 14:43阅读:32来源:国知局
诊断装置以及诊断方法与流程

本发明涉及诊断静电电容式的触摸面板的诊断装置以及诊断方法。


背景技术:

1、例如,如日本专利特开2016-004337号公报所公开的那样,以往就有具备触摸面板的机床。


技术实现思路

1、在机床工作的工厂等中,从加工中的机床产生的切屑等污垢容易附着在触摸面板的触摸面上。由于该污垢,触摸面板的静电电容发生变化。但是,机床不能识别静电电容的变化是否是由于附着在触摸面上的污垢引起的。因此,机床不能获取触摸面板的状态。

2、因此,本发明的目的在于提供一种能够细致地捕捉触摸面板的状态的诊断装置以及诊断方法。

3、本发明的第1方式是一种诊断装置,其诊断能够分别根据自电容式和互电容式来检测信号的静电电容式触摸面板,该诊断装置的特征在于,具备:

4、控制部,其以执行所述自电容式信号的检测和所述互电容式信号的检测的方式控制所述触摸面板;

5、信号强度获取部,其获取根据所述自电容式而在设置于所述触摸面板的多个坐标各自中检测的第1信号强度、和根据所述互电容式而在所述多个坐标各自中检测的第2信号强度;以及

6、状态判定部,其根据所获取的各所述第1信号强度和各所述第2信号强度,判定所述触摸面板的状态。

7、本发明的第2方式是一种诊断方法,其诊断能够分别根据自电容式和互电容式来检测信号的静电电容式触摸面板,该诊断方法的特征在于,包含:

8、控制步骤,以执行所述自电容式信号的检测和所述互电容式信号的检测的方式控制所述触摸面板;

9、信号强度获取步骤,获取根据所述自电容式而在设置于所述触摸面板的多个坐标各自中检测的第1信号强度、和根据所述互电容式而在所述多个坐标各自中检测的第2信号强度;以及

10、状态判定步骤,根据所获取的各所述第1信号强度和各所述第2信号强度,判定所述触摸面板的状态。

11、根据本发明的方式,与仅获取第1信号强度或第2信号强度的情况相比,能够细致地捕捉触摸面板的状态。



技术特征:

1.一种诊断装置(18),其诊断能够分别根据自电容式和互电容式来检测信号的静电电容式的触摸面板(14),

2.根据权利要求1所述的诊断装置,其特征在于,

3.根据权利要求1或2所述的诊断装置,其特征在于,

4.根据权利要求2或3所述的诊断装置,其特征在于,

5.根据权利要求1~4中任一项所述的诊断装置,其特征在于,

6.根据权利要求5所述的诊断装置,其特征在于,

7.根据权利要求1~6中任一项所述的诊断装置,其特征在于,

8.根据权利要求1~7中任一项所述的诊断装置,其特征在于,

9.根据权利要求8所述的诊断装置,其特征在于,

10.根据权利要求8或9所述的诊断装置,其特征在于,

11.根据权利要求2所述的诊断装置,其特征在于,

12.一种诊断方法,其诊断能够分别根据自电容式和互电容式来检测信号的静电电容式触摸面板,所述诊断方法的特征在于,包含:


技术总结
一实施方式的诊断装置(18)基于根据自电容式而在设置于触摸面板(14)的多个坐标各自中检测的第1信号强度、和根据互电容式而在多个坐标各自中检测的第2信号强度,判定触摸面板(14)的状态。

技术研发人员:形屋宽行,佐古田恭庸
受保护的技术使用者:发那科株式会社
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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