半导体装置及电子设备的制作方法

本发明的一个方式涉及一种半导体装置、显示装置、显示模块及电子设备。本发明的一个方式涉及一种显示装置的制造方法。注意，本发明的一个方式不局限于上述。作为本发明的一个方式的的例子，可以举出半导体装置、显示装置、发光装置、蓄电装置、存储装置、电子设备、照明装置、输入装置(例如，触摸传感器等)、输入输出装置(例如，触摸面板等)、这些装置的驱动方法或这些装置的制造方法。

背景技术：

1、近年来，智能手机等移动电话机、平板信息终端、笔记本型pc(个人计算机)等信息终端设备广泛普及。这种信息终端设备在很多情况下包括个人信息等，已开发了用来防止不正当利用的各种识别技术。信息终端设备被要求具有各种功能，诸如图像显示功能、触摸传感器功能及为了识别拍摄指纹的功能等。

2、例如，专利文献1公开了在按钮开关部中具备指纹传感器的电子设备。

3、作为显示装置，例如对包括发光器件的发光装置已在进行研发。利用电致发光(electroluminescence，以下称为el)现象的发光器件(也称为el器件、el元件)具有容易实现薄型轻量化；能够高速地响应输入信号；以及能够使用直流恒压电源而驱动等的特征，并已将其应用于显示装置。

4、[先行技术文献]

5、[专利文献]

6、[专利文献1]美国专利申请公开第2014/0056493号说明书

技术实现思路

1、发明所要解决的技术问题

2、本发明的一个方式的目的之一是提供一种具有光检测功能的包括高清晰显示部的半导体装置。本发明的一个方式的目的之一是提供一种具有光检测功能的包括高分辨率显示部的半导体装置。本发明的一个方式的目的之一是提供一种具有光检测功能的包括大型显示部的半导体装置。本发明的一个方式的目的之一是提供一种具有光检测功能的高可靠性的半导体装置。

3、本发明的一个方式的目的之一是提供一种具有光检测功能的包括高清晰显示部的半导体装置的制造方法。本发明的一个方式的目的之一是提供一种具有光检测功能的包括高分辨率显示部的半导体装置的制造方法。本发明的一个方式的目的之一是提供一种具有光检测功能的包括大型显示部的半导体装置的制造方法。本发明的一个方式的目的之一是提供一种具有光检测功能的高可靠性的半导体装置的制造方法。本发明的一个方式的目的之一是提供一种高成品率的具有光检测功能的半导体装置的制造方法。

4、注意，这些目的的记载并不妨碍其他目的的存在。本发明的一个方式并不需要实现所有上述目的。可以从说明书、附图、权利要求书的记载中抽取上述目的以外的目的。

5、解决技术问题的手段

6、本发明的一个方式是包括多个像素的半导体装置。像素包括第一像素电路。第一像素电路包括第一受光器件、第二受光器件、第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第五晶体管、电容器及第一布线。第一受光器件的一个电极与第一布线电连接，第一受光器件的另一个电极与第一晶体管的源极和漏极中的一个电连接。第二受光器件的一个电极与第一布线电连接，第二受光器件的另一个电极与第二晶体管的源极和漏极中的一个电连接。第二晶体管的源极和漏极中的另一个与第一晶体管的源极和漏极中的另一个电连接。第一晶体管的源极和漏极中的另一个与电容器的一个电极电连接。第一晶体管的源极和漏极中的另一个与第三晶体管的源极和漏极中的一个电连接。第一晶体管的源极和漏极中的另一个与第四晶体管的栅极电连接。第四晶体管的源极和漏极中的一个与第五晶体管的源极和漏极中的一个电连接。

7、在上述半导体装置中，优选的是，第一受光器件具有检测可见光的功能，第二受光器件具有检测红外光的功能。

8、在上述半导体装置中，优选还包括第二布线。第二布线与第三晶体管的源极和漏极中的另一个电连接。第二布线的电位优选低于第一布线的电位。

9、在上述半导体装置中，优选还包括第二布线。第二布线与第三晶体管的源极和漏极中的另一个电连接。第二布线的电位优选高于第一布线的电位。

10、在上述半导体装置中，像素优选包括第二像素电路。第二像素电路包括第一发光器件。第一发光器件具有发射可见光的功能，第一发光器件的一个电极与第一布线电连接。

11、在上述半导体装置中，像素优选包括第三像素电路。第三像素电路包括第二发光器件。第二发光器件具有发射红外光的功能。第二发光器件的一个电极与第一布线电连接。

12、本发明的一个方式是一种电子设备，包括上述半导体装置、第二发光器件以及框体。第二发光器件具有发射红外光的功能，第二发光器件具有穿过半导体装置将光发射到外部的功能。

13、发明效果

14、根据本发明的一个方式可以提供一种具有光检测功能的包括高清晰显示部的半导体装置。根据本发明的一个方式可以提供一种具有光检测功能的包括高分辨率显示部的半导体装置。根据本发明的一个方式可以提供一种具有光检测功能的包括大型显示部的半导体装置。根据本发明的一个方式可以提供一种具有光检测功能的高可靠性的半导体装置。

15、根据本发明的一个方式可以提供一种具有光检测功能的包括高清晰显示部的半导体装置的制造方法。根据本发明的一个方式可以提供一种具有光检测功能的包括高分辨率显示部的半导体装置的制造方法。根据本发明的一个方式可以提供一种具有光检测功能的包括大型显示部的半导体装置的制造方法。根据本发明的一个方式可以提供一种具有光检测功能的高可靠性的半导体装置的制造方法。根据本发明的一个方式可以提供一种高成品率的具有光检测功能的半导体装置的制造方法。

16、注意，这些效果的记载并不妨碍其他效果的存在。本发明的一个方式并不需要具有所有上述效果。可以从说明书、附图、权利要求书的记载中抽取上述效果以外的效果。

技术特征：

1.一种半导体装置，包括：

2.根据权利要求1所述的半导体装置，

3.根据权利要求1或2所述的半导体装置，还包括：

4.根据权利要求1或2所述的半导体装置，还包括：

5.根据权利要求1至4中任一项所述的半导体装置，

6.根据权利要求1至4中任一项所述的半导体装置，

7.一种电子设备，包括：

技术总结
提供一种具有光检测功能的包括高清晰显示部的半导体装置。半导体装置包括多个像素，像素包括第一及第二受光器件、第一至第五晶体管、电容器及第一布线。第一受光器件的一个电极与第一布线电连接，第一受光器件的另一个电极与第一晶体管的源极和漏极中的一个电连接。第二受光器件的一个电极与第一布线电连接，第二受光器件的另一个电极与第二晶体管的源极和漏极中的一个电连接。第二晶体管的源极和漏极中的另一个与第一晶体管的源极和漏极中的另一个电连接。第一晶体管的源极和漏极中的另一个与电容器的一个电极、第三晶体管的源极和漏极中的一个及第四晶体管的栅极电连接。

技术研发人员：楠纮慈,渡边一德,热海知昭,吉本智史
受保护的技术使用者：株式会社半导体能源研究所
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15