一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备与流程

本申请涉及半导体检测，尤其是涉及一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备。

背景技术：

1、随着社会的发展和科技的进步，越来越多的企业和生产厂家开始使用半导体材料进行芯片的制作，而在半导体材料进行芯片的制作的过程中，由于在对半导体材料的芯片进行测试和验证的时候，通常会通过独立的文档或独立的服务器来对验证测试环节所涉及到各个环节的数据信息进行存储和显示，但是现有的传统的对于芯片的测试检测数据是无法进行追踪和签核的，会存在数据不连贯导致工作流断裂的情况。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的目的在于提供一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备，实现了将各个目标测试数据与各个目标测试计划相关联，进而实现了对目标测试数据的追溯，保证了数据工作流的正常运行。

2、本申请实施例提供了一种半导体测试的数据追溯方法，所述半导体测试的数据追溯方法包括：

3、基于对目标半导体的测试类型和每个所述测试类型对应的预设测试标准，确定所述目标半导体硅后的目标测试计划；

4、基于所述目标测试计划，确定与所述目标测试计划对应的目标测试用例库以及所述目标测试用例库中每个目标测试用例对应的目标测试代码；

5、根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对所述目标测试计划、每个目标测试用例以及每个所述目标测试代码进行关联，以便在按照所述目标测试计划完成对所述目标半导体的硅后的所述目标测试后，实现对目标测试结果和目标测试数据的追溯。

6、进一步的，在根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对所述目标测试计划、每个目标测试用例以及每个所述目标测试代码进行关联之后，所述半导体硅后测试的数据管理方法还包括：

7、根据各个目标测试代码对各个目标测试用例进行硅后的目标测试，生成各个目标测试结果；

8、基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改。

9、进一步的，在所述基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改之后，所述半导体测试的数据追溯方法还包括：

10、若各个所述目标测试结果与预设测试标准相匹配，则确定不对各个目标测试用例和各个目标测试代码进行更改。

11、进一步的，在所述基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改之后，所述半导体测试的数据追溯方法还包括：

12、若各个所述目标测试结果与预设测试标准不匹配，则确定对各个目标测试用例和各个目标测试代码进行更改。

13、进一步的，通过以下方式确定预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表：

14、根据预设测试计划，确定所述预设测试计划对应的测试用例以及所述测试用例对应的测试代码；

15、将所述预设测试计划、所述测试用例以及所述测试代码进行对其匹配，建立所述预设测试计划、所述测试用例以及所述测试代码之间的关系表。

16、本申请实施例还提供了一种半导体硅后测试的数据管理装置，所述半导体测试的数据追溯装置包括：

17、第一确定模块，用于基于对目标半导体的测试类型和每个所述测试类型对应的预设测试标准，确定所述目标半导体硅后的目标测试计划；

18、第二确定模块，用于基于所述目标测试计划，确定与所述目标测试计划对应的目标测试用例库以及所述目标测试用例库中每个目标测试用例对应的目标测试代码；

19、关联模块，用于根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对所述目标测试计划、每个目标测试用例以及每个所述目标测试代码进行关联，以便在按照所述目标测试计划完成对所述目标半导体的硅后的所述目标测试后，实现对目标测试结果和目标测试数据的追溯。

20、进一步的，所述半导体测试的数据追溯装置还包括：

21、生成模块，用于根据各个目标测试代码对各个目标测试用例进行硅后的目标测试，生成各个目标测试结果；

22、第三确定模块，用于基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改。

23、进一步的，所述半导体测试的数据追溯装置还包括：

24、第四确定模块，用于若各个所述目标测试结果与预设测试标准相匹配，则确定不对各个目标测试用例和各个目标测试代码进行更改。

25、本申请实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如上述的半导体测试的数据追溯方法的步骤。

26、本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如上述的半导体测试的数据追溯方法的步骤。

27、本申请实施例提供的半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备，与现有技术相比，本申请提供的实施例通过目标半导体的测试类型和每个测试类型对应的预设测试标准，确定目标半导体硅后的目标测试计划；基于目标测试计划，确定与目标测试计划对应的目标测试用例库以及目标测试用例库中每个目标测试用例对应的目标测试代码；根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对目标测试计划、每个目标测试用例以及每个目标测试代码进行关联，以便在按照目标测试计划完成对目标半导体的硅后的目标测试后，实现对目标测试结果和目标测试数据的追溯，实现了将各个目标测试数据与各个目标测试计划相关联，进而实现了对目标测试数据的追溯，保证了数据工作流的正常运行。

28、为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

技术特征：

1.一种半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，所述半导体测试的数据追溯方法包括：

2.根据权利要求1所述的半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，在根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对所述目标测试计划、每个目标测试用例以及每个所述目标测试代码进行关联之后，所述半导体硅后测试的数据管理方法还包括：

3.根据权利要求2所述的半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，在所述基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改之后，所述半导体测试的数据追溯方法还包括：

4.根据权利要求2所述的半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，在所述基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改之后，所述半导体测试的数据追溯方法还包括：

5.根据权利要求1所述的半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，通过以下方式确定预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表：

6.一种半导体测试的数据追溯装置，其特征在于，所述半导体测试的数据追溯装置包括：

7.根据权利要求6所述的半导体测试的数据追溯装置，其特征在于，所述半导体硅后测试的数据管理装置还包括：

8.根据权利要求7所述的半导体测试的数据追溯装置，其特征在于，所述半导体硅后测试的数据管理装置还包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器运行时执行如上述权利要求1至5中任一所述的半导体测试的数据追溯方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如上述权利要求1至5中任一所述的半导体测试的数据追溯方法的步骤。

技术总结
本申请提供了一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备，半导体测试的数据追溯方法包括；基于对目标半导体的测试类型和每个测试类型对应的预设测试标准，确定目标半导体硅后的目标测试计划；基于目标测试计划，确定与目标测试计划对应的目标测试用例库以及目标测试用例库中每个目标测试用例对应的目标测试代码；根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对目标测试计划、每个目标测试用例以及每个目标测试代码进行关联，实现对目标测试结果和目标测试数据的追溯。本申请实现了将各个目标测试数据与各个目标测试计划相关联，进而实现了对目标测试数据的追溯，保证了数据工作流的正常运行。

技术研发人员：骆劼行,周浩
受保护的技术使用者：上海孤波科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14