一种芯片、模式切换方法和电子设备与流程

本申请涉及半导体，尤其涉及一种芯片、模式切换方法和电子设备。

背景技术：

1、目前，芯片测试时通常需要将切换至测试模式，在测试模式下，芯片内部寄存器的数据可以通过移位读取。为了芯片数据的安全性，在芯片量产后，通常需要永久关闭测试模式，减少芯片数据泄露。然而，永久关闭测试模式后芯片将无法再次进行测试，导致芯片测试的灵活性差。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种芯片、芯片测试方法和电子设备，能够提高芯片测试的灵活性。

2、本申请的技术方案是这样实现的：

3、本申请实施例提供了一种芯片，包括：

4、功能模块，用于在复位信号有效的情况下，进入复位状态，以及，在所述复位信号有效的情况下，响应于模式切换信号，将工作模式从第一工作模式切换至第二工作模式，所述第二工作模式下能够通过测试接口获取芯片内部数据。

5、本申请实施例提供了一种电子设备，包括上述芯片。

6、本申请实施例提供了一种模式切换方法，包括：

7、在芯片复位状态下，响应于模式切换信号，将工作模式从第一工作模式切换至第二工作模式，所述第二工作模式下，能够通过测试接口获取芯片内部数据。

8、本申请实施例所提供的一种芯片、电子设备和模式切换方法，由于功能模块只有在复位信号有效的情况下，才能响应模式切换信号，将工作模式切换至第二工作模式，且复位信号有效的情况下，功能模块会进入复位状态；如此，即在第二工作模式下，已经复位的功能模块中的数据已经被初始化，能够提高芯片内数据的安全性。因此，芯片可以在不同的工作模式之间切换，从而提高芯片测试的灵活性。

技术特征：

1.一种芯片，包括：

2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述芯片还包括模式切换模块；

3.根据权利要求2所述的芯片，所述功能模块包括目标存储单元，所述复位状态下，所述目标存储单元数据被复位至初始状态。

4.根据权利要求2所述的芯片，所述模式切换模块包括：切换使能单元和切换控制单元；

5.根据权利要求2所述的芯片，

6.根据权利要求4所述的芯片，

7.根据权利要求1-6任一项所述的芯片，所述功能模块还包括可测性单元；在所述工作模式为所述第二工作模式的情况下，所述可测性单元被使能，以能够通过测试接口，经由所述可测性单元获取芯片内部数据。

8.一种电子设备，包括权利要求1-7任一项所述的芯片。

9.一种模式切换方法，包括：

10.根据权利要求9所述的方法，包括：

技术总结
本申请实施例公开了一种芯片、电子设备和模式切换方法，该芯片包括：功能模块，用于在复位信号有效的情况下，进入复位状态，以及，在所述复位信号有效的情况下，响应于模式切换信号，将工作模式从第一工作模式切换至第二工作模式，所述第二工作模式下能够通过测试接口获取芯片内部数据。

技术研发人员：黄远广
受保护的技术使用者：鼎道智芯（上海）半导体有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15