一种芯片读写性能测试方法、系统、设备及存储介质与流程

本申请涉及芯片测试，尤其涉及一种芯片读写性能测试方法、系统、设备及存储介质。

背景技术：

1、在芯片设计中，除了功能要求，另外最重要的一点就是芯片数据传输的性能要求，这也是芯片的一个非常重要的参数。目前芯片验证中对接口的读写性能测试，一般是在重要的芯片设计节点去进行，主要过程是基于仿真环境，通过测试用例发送特定数量的数据，然后下载波形，人为去计算这些数据的用时，从而估算出对应接口的带宽。

2、随着芯片规模的快速增长，芯片功能模块越来越复杂，模块之间的接口协议也越来越多，例如apb协议、pcie协议、ddr协议等，传统的读写性能测试方法会耗费工程师大量的时间、精力，而且当模块设计有改动时，无法及时给出直观的性能数据。因此，亟需一种能自动化检测芯片读写性能的策略。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种芯片读写性能测试方法、系统、设备及存储介质，用以解决现有的芯片读写性能测试方法效率低的技术问题。

2、本申请的目的是提供一种科学合理的、效率高的基于芯片属性的芯片读写性能测试方法，可以实现通过获取待检测芯片的芯片属性信息，根据待检测芯片的属性信息中一个或多个参数判断待检测芯片的芯片质量，可以简单快捷地对芯片质量的自动检测，以对芯片质量为不良的芯片进行拦截和筛选，从而能够从根本上解决传统的读写性能测试方法会耗费工程师大量的时间、精力且测试效率低的技术问题，并大大提高芯片读写性能测试的效率，以及提升用户的使用体验。下面具体阐述本申请实施例提供的一种芯片读写性能测试方法、系统、设备及存储介质具体内容。

3、本申请实施例提供了一种芯片读写性能测试方法，所述方法包括：获取待检测芯片的芯片属性信息；基于soc构架处理所述芯片属性信息，生成芯片检测文件；基于所述芯片检测文件检测所述待检测芯片，生成测试数据；基于异常的测试数据，判断所述待检测芯片的存储单元的读写性能异常类型；其中，所述读写性能异常类型包括：单比特失效、局部失效。

4、在本申请的一种实现方式中，如前述的一种芯片读写性能测试方法，所述基于soc构架处理所述芯片属性信息的过程，具体为：将各ip核相关的寄存器信息按链表形式整合起来，保存成各ip属性文件；根据soc构架，添加所述soc构架所需的ip核对应的ip属性文件，获取各ip核在soc构架中的对应基地址值，并将对应的各ip属性文件中的ip核基地址根据获取的基地址值进行修改；将修改后的各ip属性文件通过链表形式组织整合起来保存形成芯片属性文件。

5、在本申请的一种实现方式中，如前述的一种芯片读写性能测试方法，所述方法还包括：通过芯片属性文件，按soc构架设计过程的集成验证阶段所需要的各ip核相关的寄存器信息，将所需要的各ip核相关的寄存器信息形成对应的寄存器文件，一个ip核对应一个寄存器文件。

6、在本申请的一种实现方式中，如前述的一种芯片读写性能测试方法，确定读写性能异常类型为单比特失效的过程，具体为：判断所述异常的测试数据对应的存储单元的行数值以及列数值是否唯一；若所述行数值以及列数值唯一，则确定读写性能异常类型为单比特失效。

7、在本申请的一种实现方式中，如前述的一种芯片读写性能测试方法，确定读写性能异常类型为局部失效的过程，具体为：判断所述异常的测试数据对应的存储单元的行数值以及列数值不唯一，则确定读写性能异常类型为局部失效；其中，所述局部失效包括：缺角裂痕异常、块状异常、非块状异常。

8、在本申请的一种实现方式中，如前述的一种芯片读写性能测试方法，确定局部失效为缺角裂痕异常的过程，具体为：基于所述异常的测试数据，确定所述待检测芯片的读写功能异常，并得到读写功能异常的存储单元在异常芯片上的位置信息；根据所述位置信息得到读写功能异常的存储单元在芯片上的分布，若所述读写功能异常的存储单元为从异常芯片边缘向异常芯片中心的多行或多列存储单元，则判定读写性能异常类型为缺角裂痕异常；确定读写功能异常的存储单元为异常芯片的多行或多列存储单元，则判定读写性能异常类型为块状异常，否则为非块状异常。

9、在本申请的一种实现方式中，如前述的一种芯片读写性能测试方法，所述待检测芯片的芯片属性信息包括：ip核名称、ip核基地址、ip核摘要、ip核用途描述寄存器名称、寄存器摘要、寄存器用途描述、寄存器所占用空间大小、寄存器偏移地址、寄存器各位段名、寄存器各位段的起止范围、寄存器各位段读写属性、寄存器各位段复位值、寄存器各位段摘要以及寄存器各位段用途描述。

10、本申请实施例还提供了一种芯片读写性能测试系统，所述系统包括：属性获取单元，用于获取待检测芯片的芯片属性信息；检测文件生成单元，用于基于soc构架处理所述芯片属性信息，生成芯片检测文件；检测单元，用于基于所述芯片检测文件检测所述待检测芯片，生成测试数据；异常类型判定单元，用于基于异常的测试数据，判断所述待检测芯片的存储单元的读写性能异常类型；其中，所述读写性能异常类型包括：单比特失效、局部失效。

11、本申请实施例还提供了一种芯片读写性能测试设备，所述设备包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够：获取待检测芯片的芯片属性信息；基于soc构架处理所述芯片属性信息，生成芯片检测文件；基于所述芯片检测文件检测所述待检测芯片，生成测试数据；基于异常的测试数据，判断所述待检测芯片的存储单元的读写性能异常类型；其中，所述读写性能异常类型包括：单比特失效、局部失效。

12、本申请实施例还提供了一种芯片读写性能测试的非易失性计算机存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令设置为：获取待检测芯片的芯片属性信息；基于soc构架处理所述芯片属性信息，生成芯片检测文件；基于所述芯片检测文件检测所述待检测芯片，生成测试数据；基于异常的测试数据，判断所述待检测芯片的存储单元的读写性能异常类型；其中，所述读写性能异常类型包括：单比特失效、局部失效。

13、本申请实施例提供的一种芯片读写性能测试方法、系统、设备及存储介质，通过获取待检测芯片的芯片属性信息，然后根据soc构架处理属性信息，然后生成测试文件对芯片的读写性能进行测试，并基于测试数据的异常情况判别芯片读写性能异常的类型。实现了简单快捷地对芯片质量的自动检测，以对芯片质量为不良的芯片进行拦截和筛选，解决了传统的读写性能测试方法会耗费工程师大量的时间、精力且测试效率低的技术问题，大大提高了芯片读写性能测试的效率，并提升了用户的使用体验。

技术特征：

1.一种芯片读写性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的一种芯片读写性能测试方法，其特征在于，所述基于soc构架处理所述芯片属性信息的过程，具体为：

3.根据权利要求2所述的一种芯片读写性能测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

4.根据权利要求1所述的一种芯片读写性能测试方法，其特征在于，确定读写性能异常类型为单比特失效的过程，具体为：

5.根据权利要求1所述的一种芯片读写性能测试方法，其特征在于，确定读写性能异常类型为局部失效的过程，具体为：

6.根据权利要求5所述的一种芯片读写性能测试方法，其特征在于，确定局部失效为缺角裂痕异常的过程，具体为：

7.根据权利要求1所述的一种芯片读写性能测试方法，其特征在于，所述待检测芯片的芯片属性信息包括：ip核名称、ip核基地址、ip核摘要、ip核用途描述寄存器名称、寄存器摘要、寄存器用途描述、寄存器所占用空间大小、寄存器偏移地址、寄存器各位段名、寄存器各位段的起止范围、寄存器各位段读写属性、寄存器各位段复位值、寄存器各位段摘要以及寄存器各位段用途描述。

8.一种芯片读写性能测试系统，其特征在于，所述系统包括：

9.一种芯片读写性能测试设备，其特征在于，所述设备包括：

10.一种芯片读写性能测试的非易失性计算机存储介质，存储有计算机可执行指令，其特征在于，所述计算机可执行指令设置为：获取待检测芯片的芯片属性信息；

技术总结
本申请实施例提供了一种芯片读写性能测试方法、系统、设备及存储介质，属于芯片测试技术领域，用以解决现有的芯片读写性能测试方法效率低的技术问题。包括：获取待检测芯片的芯片属性信息；基于SOC构架处理所述芯片属性信息，生成芯片检测文件；基于所述芯片检测文件检测所述待检测芯片，生成测试数据；基于异常的测试数据，判断所述待检测芯片的存储单元的读写性能异常类型；其中，所述读写性能异常类型包括：单比特失效、局部失效。实现了芯片质量的自动检测，以对芯片质量为不良的芯片进行拦截和筛选，解决了传统的读写性能测试方法会耗费工程师大量的时间、精力且测试效率低的难点，并提升了用户的使用体验。

技术研发人员：刘世伟,姚香君,张世凯,覃耀,孟阳,董志豪
受保护的技术使用者：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15