设备测试方法和装置、存储介质及电子装置与流程

本申请涉及智慧家庭，具体而言，涉及一种设备测试方法和装置、存储介质及电子装置。

背景技术：

1、随着业务的迅速发展，我们已经可以构建一个完整的物联网生态，物联网设备可达到几十、甚至几百个。而大部分物联网设备要跟其他设备、网络系统进行交互，因此测试功能与其他子系统、设备关系较为紧密，导致在开发测试过程中环境调试成本非常高。

2、针对现有技术中，测试功能与其他子系统、设备关系比较紧密，导致测试成本较高等问题，尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种设备测试方法和装置、存储介质及电子装置，以至少解决现有技术中，测试功能与其他子系统、设备关系比较紧密，导致测试成本较高的问题。

2、根据本发明实施例的一个实施例，提供了一种设备测试方法，包括：通过多个第一测试指令对第一设备进行测试，得到所述第一设备的多个第一测试结果；根据所述多个第一测试指令和所述多个第一测试结果构建出所述第一设备的指令集模型，以得到所述第一设备的虚拟设备，其中，所述指令集模型用于描述所述虚拟设备；通过第二测试指令对所述虚拟设备进行测试，得到所述第一设备的第二测试结果。

3、在一个示例性实施例中，通过第二测试指令对所述虚拟设备进行测试之前，所述方法还包括：对所述多个第一测试指令的指令值进行统计，确定所述第一设备的有效指令值；根据所述有效指令值生成所述第二测试指令。

4、在一个示例性实施例中，对所述多个第一测试指令的指令值进行统计，确定所述第一设备的有效指令值，包括：确定所述多个第一测试结果中类别为第一类别的多个第三测试结果；确定所述多个第三测试结果对应的多个第三测试指令；分别统计所述多个第三测试指令中每一个第三测试子指令的指令值，以确定所述每一个第三测试子指令的指令值的第一取值范围，并将每一个所述第一取值范围确定为所述有效指令值的第二取值范围。

5、在一个示例性实施例中，根据所述有效指令值生成所述第二测试指令，包括：根据所述第二取值范围生成第四测试指令，其中，所述第四测试指令的第三取值范围大于所述第二取值范围、且所述第三取值范围与所述第二取值范围的第一差值和第二差值均小于预设阈值，其中，所述第一差值用于指示所述第三取值范围的最大值与所述第二取值范围的最大值之差，所述第二差值用于指示所述第二取值范围的最小值与所述第三取值范围的最小值之差；确定所述有效指令值的数据类型；根据所述数据类型对所述第四测试指令中包含的异常指令值进行修正，以得到所述第二测试指令，其中，所述异常指令值为不符合所述数据类型的指令值。

6、在一个示例性实施例中，根据所述多个第一测试指令和所述多个第一测试结果构建出所述第一设备的指令集模型之后，所述方法还包括：将第五测试指令输入到所述指令集模型中，得到第四测试结果；通过第五测试结果对所述第四测试结果进行验证，以验证所述指令集模型是否训练完成，其中，所述第五测试结果为所述第五测试指令对应的预期测试结果。

7、在一个示例性实施例中，根据所述多个第一测试指令和所述多个第一测试结果构建出所述第一设备的指令集模型，包括：确定所述第一设备包含的多个设备属性的第一属性名称，其中，所述第一测试指令包含的多个第一子测试指令与所述多个设备属性一一对应；分别确定所述多个设备属性的多个标准化属性名称；通过所述多个标准化属性名称分别对多个第二设备包含的多个第一属性名称进行标准化，其中，所述第一设备包括所述多个第二设备；根据所述多个标准化属性名称构建出所述指令集模型。

8、在一个示例性实施例中，通过所述多个标准化属性名称分别对多个第二设备包含的多个第一属性名称进行标准化之后，所述方法还包括：保存所述标准化属性名称、所述第二设备的设备标识以及所述第一属性名称之间的对应关系，以通过所述标准化属性名称和所述设备标识确定所述第二设备的所述第一属性名称。

9、根据本发明实施例的另一个实施例，还提供了一种设备测试装置，包括：第一测试模块，用于通过多个第一测试指令对第一设备进行测试，得到所述第一设备的多个第一测试结果；构建模块，用于根据所述多个第一测试指令和所述多个第一测试结果构建出所述第一设备的指令集模型，以得到所述第一设备的虚拟设备，其中，所述指令集模型用于描述所述虚拟设备；第二测试模块，用于通过第二测试指令对所述虚拟设备进行测试，得到所述第一设备的第二测试结果。

10、根据本发明实施例的又一方面，还提供了一种计算机可读的存储介质，该计算机可读的存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述设备测试方法。

11、根据本发明实施例的又一方面，还提供了一种电子装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，上述处理器通过计算机程序执行上述的设备测试方法。

12、在本申请实施例中，预先使用多个第一测试指令对第一设备进行测试，得到多个第一测试结果；然后根据该多个第一测试指令和多个第一测试结果构建出该第一设备的指令集模型，从而得到该第一设备的虚拟设备，其中，该指令集模型用于描述该虚拟设备；使用第二测试指令对该虚拟设备进行测试，得到该第一设备的第二测试结果；采用上述方案，通过历史积累的测试指令及其结果构建出设备的虚拟设备，从而可以通过虚拟设备独立完成设备测试过程，解除了测试过程中对真实设备(第一设备)的依赖；解决了相关技术中测试功能与其他子系统、设备关系比较紧密，导致测试成本较高的问题。

技术特征：

1.一种设备测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的设备测试方法，其特征在于，通过第二测试指令对所述虚拟设备进行测试之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的设备测试方法，其特征在于，对所述多个第一测试指令的指令值进行统计，确定所述第一设备的有效指令值，包括：

4.根据权利要求3所述的设备测试方法，其特征在于，根据所述有效指令值生成所述第二测试指令，包括：

5.根据权利要求1所述的设备测试方法，其特征在于，根据所述多个第一测试指令和所述多个第一测试结果构建出所述第一设备的指令集模型之后，所述方法还包括：

6.根据权利要求1所述的设备测试方法，其特征在于，根据所述多个第一测试指令和所述多个第一测试结果构建出所述第一设备的指令集模型，包括：

7.根据权利要求6所述的设备测试方法，其特征在于，通过所述多个标准化属性名称分别对多个第二设备包含的多个第一属性名称进行标准化之后，所述方法还包括：

8.一种设备测试装置，其特征在于，包括：

9.一种计算机可读的存储介质，其特征在于，所述计算机可读的存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行所述权利要求1至7任一项中所述的方法。

10.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行所述权利要求1至7任一项中所述的方法。

技术总结
本申请公开了一种设备测试方法和装置、存储介质及电子装置，涉及智慧家庭技术领域，该设备测试方法包括：通过多个第一测试指令对第一设备进行测试，得到所述第一设备的多个第一测试结果；根据所述多个第一测试指令和所述多个第一测试结果构建出所述第一设备的指令集模型，以得到所述第一设备的虚拟设备，其中，所述指令集模型用于描述所述虚拟设备；通过第二测试指令对所述虚拟设备进行测试，得到所述第一设备的第二测试结果；采用上述方案，解决了相关技术中测试功能与其他子系统、设备关系比较紧密，导致测试成本较高的问题。

技术研发人员：鲜文华,陈长运,尹德帅
受保护的技术使用者：青岛海尔科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/21