一种芯片验证装置的制作方法

本申请各实施例属于芯片验证，具体而言，涉及一种芯片验证装置。

背景技术：

1、随着集成电路的发展，芯片设计对验证的要求越来越高。

2、在芯片行业，芯片功能验证是芯片设计的重要一环。现有市面上的芯片验证装置功能单一，仅包括故障注入功能，无法在故障注入后对系统总线通信情况进行验证；相关故障注入需要通过手动开关进行操作，无法利用程序进行控制；。

3、现有的芯片验证装置仍存在诸多不足，影响芯片验证工作的顺利进行。因此，为满足现阶段的芯片验证需求，现提供一种新的芯片验证装置。

技术实现思路

1、为了解决或缓解现有技术中的问题，本申请实施例提供了一种芯片验证装置，包括主控制器、时钟模块、隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器；

2、所述时钟模块、隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器一端分别与主控制器连接；所述隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器另一端分别与待测芯片连接，通过主控制器发送控制信号对故障注入模块进行设置，通过第一总线连接器在故障注入后对系统总线通信情况进行验证。

3、作为本申请一优选实施例，所述第一总线连接器与所述主控制器之间依次设置有静电保护器、共模电感和第一收发器，通过所述静电保护器对第一总线的静电防护，通过所述共模电感对第一总线进行共模噪声抑制；

4、所述第二总线连接器与所述主控制器之间设置有第二收发器；

5、其中，所述第一总线连接器和第二总线连接器分别与第一总线和第二总线连接。

6、作为本申请一优选实施例，所述第一总线连接器和静电保护器之间设置有总线端接电阻开关，通过所述总线端接电阻开关选择第一总线端接的电阻。

7、作为本申请一优选实施例，所述装置还包括系统复位器；

8、所述系统复位器与所述主控制器连接，通过所述系统复位器实现系统的复位。

9、作为本申请一优选实施例，所述装置还包括信号转换电路、降压器和电源指示灯；

10、所述信号转换电路与所述主控制器连接用于将uart信号转换为usb信号，所述信号转换电路与所述usb type-c连接器连接，所述usb type-c连接器与降压器连接以便将为待测芯片供电；

11、所述电源指示灯与所述信号转换电路，用于指示usb接口是否与与所述信号转换电路连接。

12、作为本申请一优选实施例，所述隔离缓冲模块包括输出信号隔离缓冲模块、双向信号隔离缓冲模块和输入信号隔离缓冲模块；

13、所述输出信号隔离缓冲模块、双向信号隔离缓冲模块和输入信号隔离缓冲模块均与第一接口连接，所述第一接口与待测芯片连接。

14、作为本申请一优选实施例，所述装置还包括分压电阻阵列模块；

15、所述分压电阻阵列模块分别与所述主控制器和第一接口连接，通过所述分压电阻阵列模块用于对待测芯片电源输出功能的检测。

16、作为本申请一优选实施例，所述第一接口包括软件升级接口、数字信号接口和系统状态及控制接口。

17、作为本申请一优选实施例，所述故障注入模块包括多个光耦继电器；

18、多个所述光耦继电器分别与主控制器连接，通过多个所述光耦继电器接收所述主控制器的控制信号对第一总线进行故障注入。

19、作为本申请一优选实施例，多个所述继电器分别与第二接口连接，所述第二接口与第一总线连接，以便通过第二接口将对第一总线的控制信号传输至第一总线。

20、与现有技术相比，本申请实施例提供了一种芯片验证装置，所述装置包括主控制器、时钟模块、隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器；所述时钟模块、隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器一端分别与主控制器连接；所述隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器另一端分别与待测芯片连接，本申请实施例通过主控制器发送控制信号对故障注入模块进行设置，通过第一总线连接器在故障注入后对系统总线通信情况进行验证。

技术特征：

1.一种芯片验证装置，其特征在于，包括主控制器、时钟模块、隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器；

2.如权利要求1所述的一种芯片验证装置，其特征在于，所述第一总线连接器与所述主控制器之间依次设置有静电保护器、共模电感和第一收发器，通过所述静电保护器对第一总线的静电防护，通过所述共模电感对第一总线进行共模噪声抑制；

3.如权利要求2所述的一种芯片验证装置，其特征在于，所述第一总线连接器和静电保护器之间设置有总线端接电阻开关，通过所述总线端接电阻开关选择第一总线端接的电阻。

4.如权利要求1所述的一种芯片验证装置，其特征在于，所述装置还包括系统复位器；所述系统复位器与所述主控制器连接，通过所述系统复位器实现系统的复位。

5.如权利要求1所述的一种芯片验证装置，其特征在于，所述装置还包括信号转换电路、降压器和电源指示灯；所述信号转换电路与所述主控制器连接用于将主控制器的uart信号转换为usb信号，所述信号转换电路与所述usb type-c连接器连接，所述usb type-c连接器与降压器连接以便为验证装置供电；所述电源指示灯与所述信号转换电路，用于指示usb接口是否与与所述信号转换电路连接。

6.如权利要求1所述的一种芯片验证装置，其特征在于，所述隔离缓冲模块包括输出信号隔离缓冲模块、双向信号隔离缓冲模块和输入信号隔离缓冲模块；

7.如权利要求6所述的一种芯片验证装置，其特征在于，所述装置还包括分压电阻阵列模块；

8.如权利要求6所述的一种芯片验证装置，其特征在于，所述第一接口包括软件升级接口、数字信号接口和系统状态及控制接口。

9.如权利要求1所述的一种芯片验证装置，其特征在于，所述故障注入模块包括多个光耦继电器；

10.如权利要求9所述的一种芯片验证装置，其特征在于，多个所述继电器分别与第二接口连接，所述第二接口与第一总线连接，以便通过第二接口将对第一总线的注入故障和通信信号传输至第一总线。

技术总结
本申请实施例提供了一种芯片验证装置，所述装置包括主控制器、时钟模块、隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器；所述时钟模块、隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器一端分别与主控制器连接；所述隔离缓冲模块、故障注入模块，第一总线连接器和第二总线连接器另一端分别与待测芯片连接，本申请实施例通过主控制器发送控制信号对故障注入模块进行设置，通过第一总线连接器在故障注入后对系统总线通信情况进行验证。

技术研发人员：陈晓鹏
受保护的技术使用者：上海韦尔半导体股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/1