元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质与流程

本公开涉及元器件质量评估领域，尤其涉及一种元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、态势感知早期提出主要是为了提升空战能力,分析空战环境信息、快速判断当前及未来形势。后来经过不断的融合与创新，到目前态势感知已经广泛的应用于多个领域如网络安全、军事智能、交通、电力系统和工业生产等方面。元器件作为整机产品的重要组成部分，其质量的好坏直接影响整机产品的性能和功能，最终影响产品研制任务的成败。

2、随着整机产品性能与可靠性的不断提升，应用环境的不断拓展，对装机元器件的质量要求也越来越高。但目前基于数据驱动的元器件的质量评估还缺乏成熟可靠的方法，无法满足产品研制的最高可靠性要求。因此，如何准确把握元器件质量风险和可靠性，对于客观评测元器件的质量态势是至关重要的。

3、有鉴于此，如何准确确定元器件的质量态势，成为了一个亟需解决的重要问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开的目的在于提出一种元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质，用以解决或部分解决上述问题。

2、基于上述目的，本公开的第一方面提供了一种元器件质量态势等级确定方法，所述方法包括：

3、获取元器件的型号规格信息，根据所述型号规格信息查找与所述型号规格信息对应的试验结果信息，其中所述试验结果信息为表征元器件进行质量检测试验时得到的结果信息；

4、确定试验结果信息的数量为多个，根据所述试验结果信息计算得到所述元器件对应每个质量检测试验的标准差信息，分别对每个标准差信息是否为零进行判断，得到每个质量检测试验对应的判断结果；针对每个质量检测试验，将所述每个质量检测试验分别均作为目标质量检测试验，将目标质量检测试验对应的试验结果信息与目标质量检测试验对应的标准差信息进行比值计算，根据所述目标质量检测试验对应的判断结果确定目标比值信息，将所述目标比值信息作为目标试验信息；或者，确定试验结果信息的数量为一个，将所述试验结果信息作为目标试验信息；

5、根据所述试验结果信息查找与所述试验结果信息对应的试验时间系数，将所述试验时间系数及所述目标试验信息进行相乘处理，得到目标质量检测试验对应的评估数据；

6、对多个质量检测试验对应的评估数据进行均值处理，得到所述元器件的质量态势评估结果；

7、根据所述质量态势评估结果确定所述元器件对应的质量态势等级。

8、基于同一发明构思，本公开的第二方面提出了一种元器件质量态势等级确定装置，包括：

9、试验信息查找模块，被配置为获取元器件的型号规格信息，根据所述型号规格信息查找与所述型号规格信息对应的试验结果信息，其中所述试验结果信息为表征元器件进行质量检测试验时得到的结果信息；

10、目标试验信息确定模块，被配置为确定试验结果信息的数量为多个，根据所述试验结果信息计算得到所述元器件对应每个质量检测试验的标准差信息，分别对每个标准差信息是否为零进行判断，得到每个质量检测试验对应的判断结果；针对每个质量检测试验，将所述每个质量检测试验分别均作为目标质量检测试验，将目标质量检测试验对应的试验结果信息与目标质量检测试验对应的标准差信息进行比值计算，根据所述目标质量检测试验对应的判断结果确定目标比值信息，将所述目标比值信息作为目标试验信息；或者，确定试验结果信息的数量为一个，将所述试验结果信息作为目标试验信息；

11、评估数据确定模块，被配置为根据所述试验结果信息查找与所述试验结果信息对应的试验时间系数，将所述试验时间系数及所述目标试验信息进行相乘处理，得到目标质量检测试验对应的评估数据；

12、均值计算模块，被配置为对多个质量检测试验对应的评估数据进行均值处理，得到所述元器件的质量态势评估结果；

13、质量态势等级确定模块，被配置为根据所述质量态势评估结果确定所述元器件对应的质量态势等级。

14、基于同一发明构思，本公开的第三方面提出了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器在执行所述计算机程序时实现如上所述的元器件质量态势等级确定方法。

15、基于同一发明构思，本公开的第四方面提出了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如上所述的元器件质量态势等级确定方法。

16、从上述可以看出，本公开提出一种元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质，预先对元器件进行质量检测试验，得到试验结果信息，根据获取到的型号规格信息查找与型号规格信息对应的试验结果信息，以供后续计算元器件对应的质量检测试验的标准差信息。确定试验结果信息的数量为多个，根据所述试验结果信息计算得到所述元器件对应每个质量检测试验的标准差信息，分别对每个标准差信息是否为零进行判断，得到每个质量检测试验对应的判断结果，以供后续根据所述判断结果确定比值计算的比值结果。针对每个质量检测试验，将所述每个质量检测试验分别均作为目标质量检测试验，将目标质量检测试验对应的试验结果信息与目标质量检测试验对应的标准差信息进行比值计算，并根据所述目标质量检测试验对应的判断结果确定目标比值信息，将所述目标比值信息作为目标试验信息。或者，确定试验结果信息的数量为一个，将所述试验结果信息作为目标试验信息。查找试验时间系数，将所述试验时间系数及所述目标试验信息进行相乘处理，得到目标质量检测试验对应的评估数据，对多个质量检测试验对应的评估数据进行均值处理，得到所述元器件的质量态势评估结果。通过分别计算得到每个质量检测试验对应的评估数据，再进行均值计算，将均值计算结果作为元器件的质量态势评估结果，所述质量态势评估结果综合了多个质量检测试验，提高了质量态势评估结果的准确性。最终，根据所述质量态势评估结果确定所述元器件对应的质量态势等级，实现了对于元器件质量态势的准确评估。

技术特征：

1.一种元器件质量态势等级确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述试验结果信息包括试验不合格率信息、试验结论对应的结论数据信息及批退数据信息，

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将目标质量检测试验对应的试验结果信息与目标质量检测试验对应的标准差信息进行比值计算，根据所述目标质量检测试验对应的判断结果确定目标比值信息，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述质量检测试验包括破坏性物理分析及物理特征分析试验、复验筛选试验及批退统计试验，确定所述判断结果为标准差信息均不为零，所述试验结果信息的数量为多个，

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述质量检测试验包括破坏性物理分析及物理特征分析试验、复验筛选试验及批退统计试验，确定所述判断结果为标准差信息均为零，所述试验结果信息的数量为多个，

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述根据批退统计试验的试验结果信息计算得到所述元器件的批退统计量信息，包括：

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述质量检测试验包括破坏性物理分析及物理特征分析试验、复验筛选试验及批退统计试验；所述试验结果信息的数量为多个，

8.一种元器件质量态势等级确定装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任意一项所述的方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求1至7任一所述的方法。

技术总结
本公开提供了一种元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质，根据元器件型号规格信息查找对应的质量检验试验结果信息；试验结果信息为多个，计算对应每个试验的标准差信息；对每个标准差信息是否为零进行判断，得到每个质量检测试验对应的判断结果；将目标质量检测试验对应试验结果信息及标准差信息进行比值计算，根据对应的判断结果确定目标比值信息，作为目标试验信息；若质量检验试验结果信息为一个，即为目标试验信息；将试验时间系数及目标试验信息进行相乘得到目标质量检测试验对应的评估数据；对多个评估数据进行均值处理，得到元器件的质量态势评估结果并确定元器件的质量态势等级。本公开实现元器件的质量态势等级的准确确定。

技术研发人员：汪洋,吴传文,鲍小丽,许雯嘉,张晨
受保护的技术使用者：航天科工防御技术研究试验中心
技术研发日：
技术公布日：2024/3/11