本申请涉及时序分析,尤其涉及一种动态时序的检查方法及装置、存储介质和电子设备。
背景技术:
1、动态时序分析(dynamic timing analysis, dta)是通过给设计灌入仿真激励并设置一段仿真时间,继而仿真结果进行时序和功能分析。仿真电路是晶体管级spice格式或者是门级verilog等格式的网表,需要在不同的工作条件、不同的电压和温度下被充分地验证,dta动态时序分析是一种非常重要的芯片验证方法。晶体管级的时序检查方法常见的有:写入测量(measure)功能的 veriloga检查方法、spice仿真器自带的电路检查(circuitcheck)方法等。
技术实现思路
1、本申请要解决的技术问题是:现有动态时序检查结果的准确性和完备性较低。
2、为解决上述技术问题,本申请提供了一种动态时序的检查方法,包括:建立时序元件列表以及对应每个时序元件的时序检查清单,所述时序元件列表包括:时序元件名称,所述时序检查清单包括:时序元件在动态时序检查中所需检查的项目;获取待检查电路的电路原理图或电路网表;基于所述时序元件列表,从所述电路原理图或电路网表中自动抓取时序元件;根据所述时序检查清单以及抓取的时序元件,自动获取与所述待检查电路对应的电路检查清单,其中,所述电路检查清单包括:所述抓取的时序元件的名称、所述抓取的时序元件在所述电路原理图或电路网表中的层级,以及所述抓取的时序元件在动态时序检查中所需检查的项目;将所述电路检查清单带入动态时序分析的仿真器完成验证。
3、可选的,所述建立时序元件列表包括:基于工艺元件库建立时序元件列表。
4、可选的,所述工艺元件库包括:foundry发布的标准设计包文件。
5、可选的,所述电路检查清单支持产生不同仿真器的检查语法。
6、可选的,所述动态时序分析的仿真器包括:高速电路设计中的晶体管级仿真器。
7、可选的,所述晶体管级仿真器包括:晶体管级的带时序检查的spice仿真器。
8、本申请还提供一种动态时序的检查装置,包括:创建单元,适于建立时序元件列表以及对应每个时序元件的时序检查清单,所述时序元件列表包括:时序元件名称,所述时序检查清单包括:时序元件在动态时序检查中所需检查的项目;电路获取单元,适于获取待检查电路的电路原理图或电路网表:元件列表抓取单元,适于基于所述时序元件列表,从所述电路原理图或电路网表中自动抓取时序元件;检查清单获取单元,适于根据所述时序检查清单以及抓取的时序元件,自动获取与所述待检查电路对应的电路检查清单,其中,所述电路检查清单包括:所述抓取的时序元件的名称、所述抓取的时序元件在所述电路原理图或电路网表中的层级,以及所述抓取的时序元件在动态时序检查中所需检查的项目;仿真单元,适于将所述电路检查清单带入动态时序分析的仿真器完成验证。
9、可选的,所述建立时序元件列表包括:基于工艺元件库建立时序元件列表。
10、可选的,所述工艺元件库包括:foundry发布的标准设计包文件。
11、可选的,所述电路检查清单支持产生不同仿真器的检查语法。
12、可选的,所述动态时序分析的仿真器包括:高速电路设计中的晶体管级仿真器。
13、可选的,所述晶体管级仿真器包括:晶体管级的带时序检查的spice仿真器。
14、本申请还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行,以实现上述方法的步骤。
15、本申请一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机程序,其中,所述处理器运行所述计算机程序时执行上述方法的步骤。
16、使用本申请实施例的动态时序的检查方法,通过预先建立时序元件列表以及对应每个时序元件的时序检查清单,再基于电路原理图或电路网表自动获得对应待检查电路对应的电路检查清单,由此获得的电路检查清单包含了对应待检查电路的全部时序元件,且时序元件在电路检查清单中自带层级结构。将该电路检查清单带入动态时序分析的仿真器,可以提高检查结果的准确性和完备性。
1.一种动态时序的检查方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的动态时序的检查方法,其特征在于,所述建立时序元件列表包括:基于工艺元件库建立时序元件列表。
3.根据权利要求2所述的动态时序的检查方法,其特征在于,所述工艺元件库包括:foundry发布的标准设计包文件。
4.根据权利要求1所述的动态时序的检查方法,其特征在于,所述电路检查清单支持产生不同仿真器的检查语法。
5.根据权利要求1所述的动态时序的检查方法,其特征在于,所述动态时序分析的仿真器包括:高速电路设计中的晶体管级仿真器。
6.根据权利要求5所述的动态时序的检查方法,其特征在于,所述晶体管级仿真器包括:晶体管级的带时序检查的spice仿真器。
7.一种动态时序的检查装置,其特征在于,包括:
8.根据权利要求7所述的动态时序的检查装置,其特征在于,所述建立时序元件列表包括:基于工艺元件库建立时序元件列表。
9.根据权利要求8所述的动态时序的检查装置,其特征在于,所述工艺元件库包括:foundry发布的标准设计包文件。
10.根据权利要求7所述的动态时序的检查装置,其特征在于,所述电路检查清单支持产生不同仿真器的检查语法。
11.根据权利要求7所述的动态时序的检查装置,其特征在于,所述动态时序分析的仿真器包括:高速电路设计中的晶体管级仿真器。
12.根据权利要求11所述的动态时序的检查装置,其特征在于,所述晶体管级仿真器包括:晶体管级的带时序检查的spice仿真器。
13.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行,以实现权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
14.一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至6任一项所述方法的步骤。