耗材芯片及其烧录控制方法、耗材盒和存储介质与流程

文档序号:37462995发布日期:2024-03-28 18:46阅读:12来源:国知局
耗材芯片及其烧录控制方法、耗材盒和存储介质与流程

本发明涉及芯片烧录,尤其是涉及一种耗材芯片及其烧录控制方法、耗材盒和存储介质。


背景技术:

1、目前的外用式烧录器在耗材芯片烧录完成后会进行点数扣除,点数归零则无法继续烧录,而点数扣除的时间节点容易被找出,经常作为攻击对象被第三方拦截,导致无法正常扣除点数,烧录器成为无限制烧录,从而给耗材芯片的制造厂商造成经济损失。


技术实现思路

1、本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

2、为此,本发明的一个目的在于提出一种耗材芯片的烧录控制方法,该方法打乱点数扣除的时间节点,避免烧录器的点数扣除被第三方破解,烧录器成为无限制烧录,从而保护程序开发者的利益。

3、为此,本发明的第二个目的在于提出一种耗材芯片的烧录控制装置。

4、为此,本发明的第三个目的在于提出一种耗材芯片。

5、为此,本发明的第四个目的在于提出一种耗材盒。

6、为此,本发明的第五个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

7、为了达到上述目的,本发明的第一方面的实施例提出了一种耗材芯片的烧录控制方法,所述耗材芯片的烧录控制方法包括:所述耗材芯片完成点数扣除时,获取解锁指令;根据所述解锁指令解锁所述耗材芯片的锁定测试功能。

8、根据本发明实施例的耗材芯片的烧录控制方法,耗材芯片烧录测试功能对应的测试程序并进行点数扣除后,根据解锁指令对测试功能中被上锁的锁定测试功能进行解锁,在锁定测试功能验证正常后,完成完整的烧录点数扣除过程,通过在完成点数扣除后,再将提前锁定的锁定测试功能解锁并验证,打乱点数扣除的时间节点,避免烧录器的点数扣除被第三方破解,使得烧录器成为无限制烧录,从而保护耗材芯片的制造厂商的经济利益。

9、在一些实施例中,所述耗材芯片完成点数扣除之前,还包括:获取测试功能;对所述耗材芯片烧录所述测试功能对应的测试程序,其中,所述测试功能包括所述锁定测试功能和未锁定测试功能。

10、在一些实施例中,根据所述解锁指令解锁所述耗材芯片的锁定测试功能,包括:获取所述解锁指令的解锁信息;根据所述解锁信息解锁所述耗材芯片的锁定测试功能。

11、在一些实施例中,所述锁定测试功能包括第一锁定测试功能,获取测试功能之前,还包括:获取所述测试功能中设定测试功能的第一加密指令;根据所述第一加密指令对所述设定测试功能上锁,得到所述第一锁定测试功能。

12、在一些实施例中,所述锁定测试功能包括第二锁定测试功能,获取测试功能之前,还包括:获取所述测试功能中任一所述测试功能的第二加密指令;根据所述第二加密指令对任一所述测试功能上锁,得到所述第二锁定测试功能。

13、在一些实施例中,对所述耗材芯片烧录所述测试功能对应的测试程序之后,还包括:若所述锁定测试功能和所述未锁定测试功能中的一个测试失败,还原所述耗材芯片的扣除点数。

14、在一些实施例中,若所述锁定测试功能和所述未锁定测试功能测试均测试成功,发出测试成功提醒信息。

15、为了达到上述目的,本发明的第二方面的实施例提出了一种耗材芯片的烧录控制装置,所述耗材芯片的烧录控制装置包括:获取模块,用于所述耗材芯片完成点数扣除时,获取解锁指令;控制模块,用于根据所述解锁指令解锁所述耗材芯片的锁定测试功能。

16、根据本发明实施例的耗材芯片的烧录控制装置,耗材芯片烧录测试功能对应的测试程序并进行点数扣除后,根据解锁指令对测试功能中被上锁的锁定测试功能进行解锁,在锁定测试功能验证正常后,完成完整的烧录点数扣除过程,通过在完成点数扣除后,再将提前锁定的锁定测试功能解锁并验证,打乱点数扣除的时间节点,避免烧录器的点数扣除被第三方破解,使得烧录器成为无限制烧录,从而保护耗材芯片的制造厂商的经济利益。

17、为了达到上述目的,本发明的第三方面的实施例提出了一种耗材芯片,所述耗材芯片用于如上述实施例所述的耗材芯片的烧录控制方法对所述耗材芯片进行程序烧录。

18、根据本发明实施例的耗材芯片,耗材芯片烧录测试功能对应的测试程序并进行点数扣除后,根据解锁指令对测试功能中被上锁的锁定测试功能进行解锁,在锁定测试功能验证正常后,完成完整的烧录点数扣除过程,通过在完成点数扣除后,再将提前锁定的锁定测试功能解锁并验证,打乱点数扣除的时间节点,避免烧录器的点数扣除被第三方破解,使得烧录器成为无限制烧录,从而保护耗材芯片的制造厂商的经济利益。

19、为了达到上述目的,本发明的第四方面的实施例提出了一种耗材盒,所述耗材盒包括:盒体;上述实施例所述的耗材芯片,所述耗材芯片设置在所述盒体内。

20、根据本发明实施例的耗材盒,耗材芯片烧录测试功能对应的测试程序并进行点数扣除后,根据解锁指令对测试功能中被上锁的锁定测试功能进行解锁,在锁定测试功能验证正常后,完成完整的烧录点数扣除过程,通过在完成点数扣除后,再将提前锁定的锁定测试功能解锁并验证,打乱点数扣除的时间节点,避免烧录器的点数扣除被第三方破解,使得烧录器成为无限制烧录,从而保护耗材芯片的制造厂商的经济利益。

21、为了达到上述目的,本发明的第五方面的实施例提出了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有耗材芯片的烧录控制程序,所述耗材芯片的烧录控制程序被处理器执行时实现上述实施例所述的耗材芯片的烧录控制方法。

22、本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。



技术特征:

1.一种耗材芯片的烧录控制方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的耗材芯片的烧录控制方法,其特征在于,所述耗材芯片完成点数扣除之前,还包括:

3.根据权利要求1所述的耗材芯片的烧录控制方法,其特征在于,根据所述解锁指令解锁所述耗材芯片的锁定测试功能,包括:

4.根据权利要求2所述的耗材芯片的烧录控制方法,其特征在于,所述锁定测试功能包括第一锁定测试功能,获取测试功能之前,还包括:

5.根据权利要求2所述的耗材芯片的烧录控制方法,其特征在于,所述锁定测试功能包括第二锁定测试功能,获取测试功能之前,还包括:

6.根据权利要求2所述的耗材芯片的烧录控制方法,其特征在于,对所述耗材芯片烧录所述测试功能对应的测试程序之后,还包括:

7.根据权利要求6所述的耗材芯片的烧录控制方法,其特征在于,还包括:

8.一种耗材芯片,其特征在于,用于如权利要求1-7任一项所述的耗材芯片的烧录控制方法对所述耗材芯片进行程序烧录。

9.一种耗材盒,其特征在于,包括:

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有耗材芯片的烧录控制程序,所述耗材芯片的烧录控制程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的耗材芯片的烧录控制方法。


技术总结
本发明提出一种耗材芯片及其烧录控制方法、耗材盒和存储介质,方法包括:耗材芯片完成点数扣除时,获取解锁指令;根据解锁指令解锁耗材芯片的锁定测试功能,本发明打乱点数扣除的时间节点,避免烧录器的点数扣除被第三方破解,烧录器成为无限制烧录,从而保护程序开发者的利益。

技术研发人员:钟兴璐
受保护的技术使用者:广州众诺微电子有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/3/27
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