一种基于USB接口的通用嵌入式系统测试平台的制作方法

本技术涉及嵌入式系统测试，尤其是涉及一种基于usb接口的通用嵌入式系统测试平台。

背景技术：

1、随着嵌入式系统的日趋复杂化，为了使嵌入式系统能够正常的运行，对嵌入式系统的黑盒测试工作是嵌入式系统开发的重要一步。目前对嵌入式系统进行黑盒测试工作中，在对于嵌入式系统进行测试时通常采用各类接口调试装置，如rs232/422/485接口调试装置、can接口调试装置、mil-std-1553b接口调试装置以及arinc429接口调试装置，以实现在嵌入式系统与测试主机间建立连接。但每种接口调试装置只能实现对嵌入式系统的单项接口的测试，每套接口调试装置只能实现对单一的通信协议类型嵌入式系统进行测试。

2、然而，在面对带有不同通信协议接口的嵌入式系统时，对其进行黑盒测试需要针对不同的对外接口准备多套接口调试装置，并基于每种接口调试装置分别对嵌入式系统进行测试，该方案极大的降低了对嵌入式系统的测试效率。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型提供了一种基于usb接口的通用嵌入式系统测试平台，主要目的在于解决对嵌入式系统的测试效率过低的技术问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供了一种基于usb接口的通用嵌入式系统测试平台，用于对待测嵌入式系统的进行测试，其中，所述通用嵌入式系统测试平台包括接口测试装置和测试主机，其中，

3、所述接口测试装置包括usb集线器和多个usb接口转换模块，所述usb集线器包括第一usb接口和多个第二usb接口；

4、所述usb集线器通过所述第一usb接口与所述测试主机连接，所述usb集线器通过所述第二usb接口分别与每个所述usb接口转换模块连接，所述待测嵌入式系统与所述多个usb接口转换模块中的至少一个usb接口转换模块连接；

5、所述测试主机用于通过所述接口测试装置向所述待测嵌入式系统发送测试信号，并通过所述接口测试装置接收所述待测嵌入式系统发送的响应信号。

6、本实用新型提供的一种基于usb接口的通用嵌入式系统测试平台，能够基于usb集线器连接的多个usb接口转换模块与待测试嵌入式系统的不同类型的接口进行连接；进一步的，通过usb集线器的第一usb接口可以与测试主机进行连接，以使测试主机能够通过接口测试装置向待测嵌入式系统发送测试信号，并通过接口测试装置接收接口测试装置发送的响应信号，以进行嵌入式系统的测试工作。本申请的技术方案可以避免分别使用多套接口调试装置对待测试嵌入式系统进行测试，降低了测试的硬件成本，提高了对嵌入式系统的测试效率。

7、上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本实用新型的具体实施方式。

技术特征：

1.一种基于usb接口的通用嵌入式系统测试平台，用于通过待测嵌入式系统的接口，对待测嵌入式系统进行黑盒测试，包括功能测试、性能测试和接口测试中的至少一项测试，其特征在于，所述通用嵌入式系统测试平台包括接口测试装置和测试主机，其中，

2.根据权利要求1所述的通用嵌入式系统测试平台，其特征在于，所述usb接口转换模块包括usb转串行通信接口模块、usb转can总线接口模块、usb转arinc429接口模块、usb转flexray总线接口模块、usb转mil-std-1553b总线接口模块、usb转ad/da接口模块、usb转lin接口模块以及usb转di/do接口模块之中的多种模块。

3.根据权利要求2所述的通用嵌入式系统测试平台，其特征在于，所述usb转串行通信接口模块包括usb转rs232串行通信接口模块、usb转rs422串行通信接口模块以及usb转rs485串行通信接口模块中的至少一种。

4.根据权利要求1所述的通用嵌入式系统测试平台，其特征在于，所述测试主机包括：

5.根据权利要求4所述的通用嵌入式系统测试平台，其特征在于，所述测试主机还包括：

6.根据权利要求5所述的通用嵌入式系统测试平台，其特征在于，所述通用嵌入式系统测试平台还包括待测嵌入式系统，所述待测嵌入式系统与所述多个usb接口转换模块中的至少一个usb接口转换模块连接。

技术总结
本技术公开了一种基于USB接口的通用嵌入式系统测试平台，涉及嵌入式系统测试技术领域，其中通用嵌入式系统测试平台用于通过待测嵌入式系统的接口，进行功能测试、性能测试和接口测试，包括接口测试装置和测试主机，其中接口测试装置包括USB集线器和多个USB接口转换模块，USB集线器包括第一USB接口和多个第二USB接口；USB集线器通过第一USB接口与测试主机连接，USB集线器通过第二USB接口分别与每个USB接口转换模块连接，待测嵌入式系统与多个USB接口转换模块中的一个USB接口转换模块连接；测试主机通过接口测试装置向待测嵌入式系统发送测试信号，并通过接口测试装置接收待测嵌入式系统发送的响应信号。本技术公开的方案，能提高嵌入式系统的测试效率。

技术研发人员：陈策,何国凯,何国栋
受保护的技术使用者：凯云联创（北京）科技有限公司
技术研发日：20230327
技术公布日：2024/1/13