一种硬盘测试装置以及系统的制作方法

本技术涉及硬盘测试，特别是涉及一种硬盘测试装置以及系统。

背景技术：

1、随着互联网的飞速发展，人们对数据信息的存储需求也在不断提升，固态硬盘(solid state drive，ssd)作为一种用于存储数据信息的载体，因具有存储速度快、功耗低等特点，而被广泛应用于车载、工控、视频监控、网络监控等众多领域。

2、在当前技术中，ssd在生产过程中需进行测试，以验证其功能的完整性。测试工具包括开卡板，rdt板，接口转接板，可调稳压电源，开关继电器等，对于不同接口的ssd需要配置不同的测试装置，导致测试装置设备繁多且复杂，导致研发和测试成本很高，且大大降低了研发测试以及生产效率；并且，在测试ssd的不同功能之时，需切换连接不同的测试载板以进行测试，操作麻烦，测试效率低。

3、由此可见，如何提高硬盘的测试效率，降低测试成本是本领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是提供一种硬盘测试装置以及系统，用于提高硬盘的测试效率，降低测试成本。

2、为解决上述技术问题，本实用新型提供一种硬盘测试装置，包括：

3、处理器，检测单元，控制单元，多个接口卡；

4、所述接口卡用于插入测试硬盘；

5、所述处理器通过所述控制单元连接所述接口卡，以根据所述测试硬盘配置对应的测试参数；

6、所述处理器通过所述检测单元连接所述接口卡，以检测测试过程中各所述测试硬盘的测试参数。

7、优选的，所述检测单元包括：电流检测电路和电压检测电路；分别用于检测各所述接口卡的电流和电压。

8、优选的，还包括：人机交互单元和上位机；

9、所述处理器通过所述人机交互单元与所述上位机连接；

10、所述人机交互单元用于接收所述上位机的控制指令，以根据所述控制指令配置所述控制单元；还用于将所述检测单元采集的测试参数反馈至所述上位机；

11、所述上位机用于查看所述处理器反馈的各测试硬盘的状态信息，还用于发送控制指令至所述处理器，以配置测试参数。

12、优选的，所述检测单元还包括：功率检测电路；所述功率检测电路用于检测各测试硬盘的功率，并将检测的功率通过所述处理器发送至所述上位机；

13、所述上位机用于在检测的功率超出配置的报警功率时，显示报警信息。

14、优选的，所述控制单元包括：拉偏配置电路；所述拉偏配置电路用于根据所述处理器接收的所述上位机配置的拉偏状态，输出相对应的电压至各接口卡，为各接口卡配置相对应的电压。

15、优选的，所述控制单元还包括：过流保护电路；所述过流保护电路用于在检测到所述接口卡的电流超出电流阈值时，断开电路以保护元件。

16、优选的，所述控制单元还包括：io扩展电路；所述io扩展电路用于根据所述处理器的输出，控制所述测试硬盘的休眠和自毁测试。

17、优选的，还包括：指示灯；

18、所述指示灯与所述处理器连接，以根据所述上位机配置的信息显示各所述接口卡的测试状态。

19、优选的，所述控制单元还包括：电源开关；用于根据所述上位机配置的电源开关控制指令开关测试板上的各接口卡的电源状态。

20、为解决上述技术问题，本实用新型还提供一种硬盘测试系统，包括测试硬盘以及上述的硬盘测试装置。

21、本实用新型所提供的硬盘测试装置，包括：处理器，检测单元，控制单元，多个接口卡；接口卡用于插入测试硬盘；处理器通过控制单元连接接口卡，以根据测试硬盘配置对应的测试参数；处理器通过检测单元连接接口卡，以检测测试过程中各测试硬盘的测试参数。相对于当前技术中，对于不同接口的ssd需要配置不同的测试装置，导致测试装置设备繁多且复杂，导致研发和测试成本很高，且大大降低了研发测试以及生产效率，采用本技术方案，硬盘测试装置上配置多个接口卡，各接口卡可以接入相同或不同类型的硬盘，从而硬盘测试装置可以同时对多个硬盘进行测试，提高了测试效率，并且降低测试成本。本技术方案中，处理器通过控制单元配置各接口卡插入的硬盘的测试参数，通过检测单元采集各接口卡处的信息，实现对不同硬盘的测试，提高了硬盘的测试效率，降低了测试成本。

22、此外，本实用新型所提供的硬盘测试系统，包括硬盘测试装置，硬盘测试装置包括：处理器，检测单元，控制单元，多个接口卡；接口卡用于插入测试硬盘；处理器通过控制单元连接接口卡，以根据测试硬盘配置对应的测试参数；处理器通过检测单元连接接口卡，以检测测试过程中各测试硬盘的测试参数。相对于当前技术中，对于不同接口的ssd需要配置不同的测试装置，导致测试装置设备繁多且复杂，导致研发和测试成本很高，且大大降低了研发测试以及生产效率，采用本技术方案，硬盘测试装置上配置多个接口卡，各接口卡可以接入相同或不同类型的硬盘，从而硬盘测试装置可以同时对多个硬盘进行测试，提高了测试效率，并且降低测试成本。本技术方案中，处理器通过控制单元配置各接口卡插入的硬盘的测试参数，通过检测单元采集各接口卡处的信息，实现对不同硬盘的测试，提高了硬盘的测试效率，降低了测试成本。

技术特征：

1.一种硬盘测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的硬盘测试装置，其特征在于，所述检测单元包括：电流检测电路和电压检测电路；分别用于检测各所述接口卡的电流和电压。

3.根据权利要求1所述的硬盘测试装置，其特征在于，还包括：人机交互单元和上位机；

4.根据权利要求3所述的硬盘测试装置，其特征在于，所述检测单元还包括：功率检测电路；所述功率检测电路用于检测各测试硬盘的功率，并将检测的功率通过所述处理器发送至所述上位机；

5.根据权利要求3所述的硬盘测试装置，其特征在于，所述控制单元包括：拉偏配置电路；所述拉偏配置电路用于根据所述处理器接收的所述上位机配置的拉偏状态，输出相对应的电压至各接口卡，为各接口卡配置相对应的电压。

6.根据权利要求1所述的硬盘测试装置，其特征在于，所述控制单元还包括：过流保护电路；所述过流保护电路用于在检测到所述接口卡的电流超出电流阈值时，断开电路以保护元件。

7.根据权利要求1所述的硬盘测试装置，其特征在于，所述控制单元还包括：io扩展电路；所述io扩展电路用于根据所述处理器的输出，控制所述测试硬盘的休眠和自毁测试。

8.根据权利要求1所述的硬盘测试装置，其特征在于，还包括：指示灯；

9.根据权利要求3所述的硬盘测试装置，其特征在于，所述控制单元还包括：电源开关；用于根据所述上位机配置的电源开关控制指令开关测试板上的各接口卡的电源状态。

10.一种硬盘测试系统，其特征在于，包括测试硬盘以及权利要求1-9任意一项所述的硬盘测试装置。

技术总结
本技术涉及硬盘测试技术领域，公开了一种硬盘测试装置以及系统，包括：处理器，检测单元，控制单元，多个接口卡；接口卡用于插入测试硬盘；处理器通过控制单元连接接口卡，以根据测试硬盘配置对应的测试参数；处理器通过检测单元连接接口卡，以检测测试过程中各测试硬盘的测试参数。采用本技术方案，硬盘测试装置上配置多个接口卡，各接口卡可以接入相同或不同类型的硬盘，从而硬盘测试装置可以同时对多个硬盘进行测试，提高了测试效率，并且降低测试成本。处理器通过控制单元配置各接口卡插入的硬盘的测试参数，通过检测单元采集各接口卡处的信息，实现对不同硬盘的测试，提高了硬盘的测试效率，降低了测试成本。

技术研发人员：王庆,赵昌,李怀科
受保护的技术使用者：成都芯盛集成电路有限公司
技术研发日：20230627
技术公布日：2024/1/22