方形电芯正极极片的检测方法、装置、电子设备及介质与流程

本发明涉及图像处理，尤其涉及一种方形电芯正极极片的检测方法、装置、电子设备及介质。

背景技术：

1、在方形电芯卷绕过程中，需要检测方形电芯正极极片的入料角度，以此来检测方形电芯正极极片在入辊时是否打折，检测入料角度的前提条件是可以准确提取到极片入料的边界，即入料边缘线。

2、相关技术中，由于包裹极片的隔膜覆盖，卷绕过程中辊子转动速度较快，且卷绕过程中采用的是点光源，导致图像光照不均匀且边缘过渡像素较多。传统检测方法直接利用灰度梯度进行边缘提取，难以准确提取到入料边缘线及其所在的上轮廓区域。

技术实现思路

1、本发明提供一种方形电芯正极极片的检测方法、装置、电子设备及介质，用以解决传统检测方法难以准确提取到入料边缘线及其所在的上轮廓区域的缺陷。

2、一方面，本发明提供一种方形电芯正极极片的检测方法，包括：

3、提取方形电芯正极极片的极片图像中的感兴趣区域；其中，所述感兴趣区域中包含方形电芯正极极片的入料边缘线；

4、确定所述感兴趣区域中的第一暗区域；

5、将所述第一暗区域与所述感兴趣区域进行差集运算，得到第一过渡区域；

6、对所述第一过渡区域进行开运算和区域打散处理，得到第二过渡区域；

7、提取所述第二过渡区域中的第二暗区域，并对所述第二暗区域进行补全处理，得到第三暗区域；

8、将所述第一暗区域与所述第三暗区域进行组合和后处理，得到包含所述入料边缘线的上轮廓区域。

9、根据本发明提供的方形电芯正极极片的检测方法，确定所述感兴趣区域中的第一暗区域，包括：

10、对所述感兴趣区域进行压缩处理，得到压缩区域；

11、通过局部阈值算法确定所述压缩区域中的目标暗区域；

12、将所述目标暗区域进行放大处理，得到所述第一暗区域；

13、其中，所述压缩处理的压缩倍数与所述放大处理的放大倍数相同。

14、根据本发明提供的方形电芯正极极片的检测方法，在得到所述第一暗区域之后，所述方法还包括：

15、对所述第一暗区域周围的毛刺和不规则区域进行剔除。

16、根据本发明提供的方形电芯正极极片的检测方法，对所述第二暗区域进行补全处理，得到第三暗区域，包括：

17、通过位置信息先验条件确定所述感兴趣区域中的剩余暗区域；

18、基于所述剩余暗区域对所述第二暗区域进行补全处理，得到第三暗区域。

19、根据本发明提供的方形电芯正极极片的检测方法，将所述第一暗区域与所述第三暗区域进行组合和后处理，得到所述方形电芯正极极片的上轮廓区域，包括：

20、将所述第一暗区域与所述第三暗区域进行组合，得到第四暗区域；

21、对所述第四暗区域进行空隙填补处理，得到第五暗区域；

22、对所述第五暗区域进行轮廓提取和轮廓分割，得到包含所述入料边缘线的上轮廓区域。

23、根据本发明提供的方形电芯正极极片的检测方法，在得到包含所述入料边缘线的上轮廓区域之后，所述方法还包括：

24、根据所述上轮廓区域，确定所述方形电芯正极极片的入料角度；

25、根据所述入料角度，得到所述方形电芯正极极片的入料打折检测结果。

26、根据本发明提供的方形电芯正极极片的检测方法，根据所述入料角度，得到所述方形电芯正极极片的入料打折检测结果，包括：

27、若所述入料角度大于预设角度阈值，则所述入料打折检测结果为所述方形电芯正极极片出现入料打折；

28、若所述入料角度小于或等于预设角度阈值，则所述入料打折检测结果为所述方形电芯正极极片未出现入料打折。

29、另一方面，本发明还提供一种方形电芯正极极片的检测装置，包括：

30、提取模块，用于提取方形电芯正极极片的极片图像中的感兴趣区域；其中，所述感兴趣区域中包含方形电芯正极极片的入料边缘线；

31、确定模块，用于确定所述感兴趣区域中的第一暗区域；

32、运算模块，用于将所述第一暗区域与所述感兴趣区域进行差集运算，得到第一过渡区域；

33、第一处理模块，用于对所述第一过渡区域进行开运算和区域打散处理，得到第二过渡区域；

34、第二处理模块，用于提取所述第二过渡区域中的第二暗区域，并对所述第二暗区域进行补全处理，得到第三暗区域；

35、第三处理模块，用于将所述第一暗区域与所述第三暗区域进行组合和后处理，得到包含所述入料边缘线的上轮廓区域。

36、另一方面，本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述方形电芯正极极片的检测方法。

37、另一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述方形电芯正极极片的检测方法。

38、本发明提供的方形电芯正极极片的检测方法、装置、电子设备及介质，通过提取方形电芯正极极片的极片图像中的感兴趣区域，确定感兴趣区域中的第一暗区域，将第一暗区域与感兴趣区域进行差集运算，得到第一过渡区域，对第一过渡区域进行开运算和区域打散处理，得到第二过渡区域，提取第二过渡区域中的第二暗区域，并对第二暗区域进行补全处理，得到第三暗区域，将第一暗区域与第三暗区域进行组合和后处理，得到包含入料边缘线的上轮廓区域。通过处理流程的改进，能够在图像灰度不均匀且过渡像素较多的情况下提取到包含入料边缘线的上轮廓区域，提高了入料边缘检测的准确性和可靠性。

技术特征：

1.一种方形电芯正极极片的检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方形电芯正极极片的检测方法，其特征在于，确定所述感兴趣区域中的第一暗区域，包括：

3.根据权利要求2所述的方形电芯正极极片的检测方法，其特征在于，在得到所述第一暗区域之后，所述方法还包括：

4.根据权利要求1所述的方形电芯正极极片的检测方法，其特征在于，对所述第二暗区域进行补全处理，得到第三暗区域，包括：

5.根据权利要求1所述的方形电芯正极极片的检测方法，其特征在于，将所述第一暗区域与所述第三暗区域进行组合和后处理，得到所述方形电芯正极极片的上轮廓区域，包括：

6.根据权利要求1所述的方形电芯正极极片的检测方法，其特征在于，在得到包含所述入料边缘线的上轮廓区域之后，所述方法还包括：

7.根据权利要求6所述的方形电芯正极极片的检测方法，其特征在于，根据所述入料角度，得到所述方形电芯正极极片的入料打折检测结果，包括：

8.一种方形电芯正极极片的检测装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述方形电芯正极极片的检测方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方形电芯正极极片的检测方法。

技术总结
本发明涉及图像处理领域，提供一种方形电芯正极极片的检测方法、装置、电子设备及介质，方法包括：提取方形电芯正极极片的极片图像中的感兴趣区域；确定感兴趣区域中的第一暗区域；将第一暗区域与感兴趣区域进行差集运算，得到第一过渡区域；对第一过渡区域进行开运算和区域打散处理，得到第二过渡区域；提取第二过渡区域中的第二暗区域，并对第二暗区域进行补全处理，得到第三暗区域；将第一暗区域与第三暗区域进行组合和后处理，得到包含入料边缘线的上轮廓区域。本发明提供的方案，通过处理流程的改进，能够在图像灰度不均匀且过渡像素较多的情况下提取到包含入料边缘线的上轮廓区域，提高了入料边缘检测的准确性和可靠性。

技术研发人员：杨牧,郑晔,张董,赵海江
受保护的技术使用者：钛玛科（北京）工业科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/9/29