一种存储测试单元及其测试方法、电子设备与流程

本发明涉及存储测试，特别涉及一种存储测试单元及其测试方法、电子设备。

背景技术：

1、存储设备最基本的要求就是是要保证存储数据的正确性。在存储领域中，非易失性存储器（non-volatile memory，nvm）在静态时可以保证存储在其中的数据不会丢失，但如果正在往存储芯片写入数据时存储芯片发生掉电，则存储数据极大可能发生丢失。在掉电的情况下，存储设备的数据完整性难以保证，可能会导致存储在存储设备内部的操作系统数据或用户文件数据丢失，因此存储芯片对数据完整性的保持能力是未知的。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储测试单元及其测试方法、电子设备，能够测试出存储设备的对数据完整性的保持能力且测试准确性较高。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明提供了一种存储测试单元的测试方法，包括以下步骤：

4、对存储设备写入第一类数据，并写满所述存储设备；

5、对所述存储设备写入第二类数据，且所述第二类数据覆盖所述第一类数据，在写入所述第二类数据的过程中对所述存储设备断电或硬复位；以及

6、重新上电后读取所述存储设备的存储数据，当所述存储数据中保留掉电前写入的所述第二类数据，用所述第一类数据覆盖保留的所述第二类数据后，全盘读出校验时所述存储数据都为所述第一类数据，则所述存储设备的测试通过。

7、在本发明一实施例中，对所述存储设备写入所述第二类数据的步骤包括：

8、设置多个测试段，所述测试段中存储所述第二类数据，其中多个所述测试段具有编号，其中所述测试段包括至少一个逻辑块，且在所述测试段中，多个所述逻辑块的地址连续分布，其中多个所述测试段的逻辑块数量和地址随机设置，且多个所述测试段的地址不重叠；

9、按照编号顺序依次将所述测试段写入所述存储设备。

10、在本发明一实施例中，在将所述测试段写入所述存储设备的步骤中，所述测试段被随机写入所述存储设备中，且所述第二类数据覆盖写入位置的所述第一类数据。

11、在本发明一实施例中，对所述存储设备断电或硬复位的步骤包括：从写入第二个所述测试段开始，在任一所述测试段写入的过程中对所述存储设备断电或硬复位。

12、在本发明一实施例中，重新读取所述存储设备的存储数据的步骤包括获取断电段，所述断电段为断电或硬复位发生时正在写入的所述测试段。

13、在本发明一实施例中，所述存储设备的测试通过的判断条件包括：在所述断电段之前写入的所述测试段中存储了所述第二类数据，在所述断电段之后写入的所述测试段中存储了所述第一类数据。

14、在本发明一实施例中，所述存储设备的测试通过的判断条件包括：在所述断电段中，允许部分逻辑块中存储了所述第一类数据，其中存储了所述第一类数据的所述逻辑块位于所述断电段的尾部。

15、在本发明一实施例中，所述测试方法包括在写入所述第二类数据前，准备多个所述测试段。

16、本发明提供了一种存储测试单元，包括：

17、测试段准备模块，用于准备多个测试段，并记录所述测试段的地址和数据块数量，其中多个所述测试段的地址不重叠；

18、第一数据写入模块，用于对存储设备写入第一类数据，并填满所述存储设备；

19、第二数据写入模块，根据所述测试段的地址，对所述存储设备写入第二类数据，其中所述第二类数据覆盖所述第一类数据；

20、断电执行模块，用于在写入所述第二类数据的过程中对所述存储设备断电或硬复位；以及

21、校验复原模块，用于在重新上电后读取所述存储设备的存储数据，当所述存储数据中保留掉电前写入的所述第二类数据，用所述第一类数据覆盖保留的所述第二类数据后，全盘读出校验时所述存储数据都为所述第一类数据，则所述存储设备的测试通过，判定所述存储设备的测试通过。

22、本发明提供了一种电子设备，包括存储设备、处理器以及存储在一存储介质中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上任一项所述存储测试单元的测试方法。

23、如上所述，本发明提供了一种存储测试单元及其测试方法、电子设备，能够测试出存储设备是否在异常掉电下的情况下仍旧具备良好的对数据完整性的保持能力。且根据本发明提供的技术方案，具备使存储设备完成自测的能力，测试效率高，还能够排除坏块等硬件问题造成的测试误差，测试准确率高。

24、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储测试单元的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的存储测试单元的测试方法，其特征在于，对所述存储设备写入所述第二类数据的步骤包括：

3.根据权利要求2所述的存储测试单元的测试方法，其特征在于，在将所述测试段写入所述存储设备的步骤中，所述测试段被随机写入所述存储设备中，且所述第二类数据覆盖写入位置的所述第一类数据。

4.根据权利要求2所述的存储测试单元的测试方法，其特征在于，对所述存储设备断电或硬复位的步骤包括：从写入第二个所述测试段开始，在任一所述测试段写入的过程中对所述存储设备断电或硬复位。

5.根据权利要求2所述的存储测试单元的测试方法，其特征在于，重新读取所述存储设备的存储数据的步骤包括获取断电段，所述断电段为断电或硬复位发生时正在写入的所述测试段。

6.根据权利要求5所述的存储测试单元的测试方法，其特征在于，所述存储设备的测试通过的判断条件包括：在所述断电段之前写入的所述测试段中存储了所述第二类数据，在所述断电段之后写入的所述测试段中存储了所述第一类数据。

7.根据权利要求5所述的存储测试单元的测试方法，其特征在于，所述存储设备的测试通过的判断条件包括：在所述断电段中，允许部分逻辑块中存储了所述第一类数据，其中存储了所述第一类数据的所述逻辑块位于所述断电段的尾部。

8.根据权利要求6所述的存储测试单元的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括在写入所述第二类数据前，准备多个所述测试段。

9.一种存储测试单元，其特征在于，包括：

10.一种电子设备，其特征在于，包括存储设备、处理器以及存储在一存储介质中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任一项所述存储测试单元的测试方法。

技术总结
本发明提供了一种存储测试单元及其测试方法、电子设备，其中存储测试单元的测试方法包括以下步骤：对存储设备写入第一类数据，并写满存储设备；对存储设备写入第二类数据，且第二类数据覆盖第一类数据，在写入第二类数据的过程中对存储设备断电或硬复位；以及重新上电后读取存储设备的存储数据，当存储数据中保留掉电前写入的第二类数据，用第一类数据覆盖保留的第二类数据后，全盘读出校验时存储数据都为第一类数据，则存储设备的测试通过。本发明提供了一种存储测试单元及其测试方法、电子设备，能够测试出存储设备的对数据完整性的保持能力且测试准确性较高。

技术研发人员：姜涛,许展榕,王星,赵建议
受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/8/1