一种测试设备及测试方法与流程

本发明涉及测试，特别涉及一种测试设备及测试方法。

背景技术：

1、高速串行计算机扩展总线标准(peripheral component interconnect express，pcie)作为一种高速、可靠的串行总线标准，被广泛应用于计算机、服务器、嵌入式设备和工控设备等领域。例如在服务器场景，pcie可以用来扩展图形处理器(graphics processingunit，gpu)、存储设备或网卡等设备。

2、pcie的信号质量会影响服务器的数据传输速率，增加误码率等，严重的会导致服务器中断等一系列问题。因此，需要出厂前对pcie的链路进行信号质量的测试。

3、目前没有对pcie链路进行测试的设备。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种测试设备及测试方法，能够自动实现对pcie链路进行信号质量的测试，提高测试效率。

2、本申请实施例提供一种测试设备，包括：操控平台、夹持结构和测试夹具；所述测试夹具，用于插接被测单板的高速串行计算机扩展总线标准pcie槽位；所述测试夹具还用于连接示波器；所述夹持结构，用于固定所述测试夹具，并接收所述操控平台的按键指令，根据所述按键指令在所述测试夹具上完成对应的按键次数操作；不同的按键次数对应不同的pcie档位，不同的pcie档位具有不同的速率；所述示波器，用于从所述测试夹具捕获pcie发送信号；所述示波器或所述操控平台，用于对所述示波器捕获的pcie发送信号进行分析。

3、本申请实施例提供的测试设备，通过夹持结构固定测试夹具，并且夹持结构可以接收操控平台发送的按键指令，根据按键指令在测试夹具上完成对应的按键次数操作，不同按键次数对应不同的pcie档位，不同的pcie档位对应不同的速率，从而完成测试夹具的不同pcie档位的测试。示波器与测试夹具连接，可以捕获测试夹具的pcie发送信号，分析pcie发送信号，判断被测单板的pcie链路是否正常。该测试设备可以自动完成不同pcie档位的测试，效率高，而且可靠性高。

4、一种可能的实现方式，所述夹持结构包括：支架、电磁阀和吸附杆；所述电磁阀和所述吸附杆固定在所述支架上，所述吸附杆用于吸附所述测试夹具，所述电磁阀得电时按动设置在所述测试夹具上的按键。

5、本申请实施例提供的测试设备，为了更好地固定测试夹具，方便测试夹具与示波器连接，设置了以上的夹持结构，夹持结构可以固定测试夹具。夹持结构通过吸附杆来完成对测试夹具的固定，固定以后可以准确的将电磁阀末端对准需要进行自动化按键的位置，同时三段式支臂和底座可以提升夹持结构的适用场景，避免因场地不够而受限。

6、一种可能的实现方式，所述操控平台包括：上位机和控制器；所述上位机包括人机交互界面，所述人机交互界面用于设置按键次数；所述上位机，用于根据设置的按键次数生成按键指令，向所述控制器发送所述按键指令；所述控制器，用于控制所述夹持结构完成所述按键指令对应的按键次数操作，所述控制器向所述上位机反馈按键完成信息；所述按键完成信息包括实际按键次数；所述上位机，用于在确认所述实际按键次数与所述按键指令中的按键次数匹配时，控制所述人机交互界面显示所述实际按键次数，反之向所述夹持结构重新发送所述按键指令。

7、因此，本申请实施例提供的测试设备，可以闭环反馈实际按键次数，不存在错按或漏按的情况，如果反馈的实际按键次数与按键指令携带的按键次数不匹配，则操控平台会重新向夹持结构发送按键指令。另外，为了保证示波器的参数设置与对应的测试档位匹配，操控平台可以在收到实际按键次数，并确认实际按键次数与按键指令中的按键次数匹配时，再设置示波器的参数，进而保证示波器的参数设置正确，进而可以更好地捕获pcie发送信号。

8、一种可能的实现方式，所述上位机，还用于在接收到所述按键完成信息后，将所述实际按键次数对应的当前pcie档位发送给所述示波器，以设置所述当前pcie档位对应的示波器电平参数，使能所述示波器的波形保存功能。

9、上位机接收控制器反馈的实际按键次数后设计延时，延时后控制示波器调用脚本文件自动保存波形，例如，一种可能的实现方式，示波器可以将波形保存至统一格式，然后将保存的波形发送给上位机，上位机将波形对应的数据导入分析文件进行分析工作，全程无需时刻切换测试对象和控制分析软件。

10、一种可能的实现方式，所述控制器，用于通过串行接口与所述上位机连接；所述控制器，具体用于根据所述按键指令识别按键类型，所述按键类型包括单次按键或连续按键，根据所述按键类型完成所述按键指令对应的按键次数操作。

11、应该理解，单次按键是指夹持结构仅按动按键一次，连续按键是指夹持结构连续按动按键多次，一次性按下控制器要求的次数，对应被测试档位。

12、实际测试时，被测单板的pcie档位可能存在少数几个档位存在问题，例如第35档位存在问题，为了保证测试结果的准确性，可以再次测试第35档，此时其他档位便不必再重复测试，直接进行第35档位的测试，即控制器发送给夹持结构的按键命令可以为连续按键命令。

13、一种可能的实现方式，所述控制器包括可编程逻辑芯片；所述上位机包括可扩展处理平台。

14、基于以上本申请实施例提供的一种测试设备，本申请实施例还提供一种测试方法，具体优点可以参见以上的描述，该测试方法包括：响应于作用在操控平台对测试夹具的测试操作，所述操控平台向所述夹持结构发送按键指令，所述按键指令包括按键次数，不同的按键次数对应不同的pcie档位，不同的pcie档位具有不同的速率；所述夹持结构根据所述按键指令在测试夹具上完成对应的按键次数操作；所述测试夹具插接被测单板的高速串行计算机扩展总线标准pcie槽位；响应于所述操控平台的按键指令，根据所述按键指令中的按键次数设置示波器的参数；响应于所述操控平台发送的所述pcie档位，所述示波器通过所述测试夹具捕获pcie发送信号；对捕获的所述pcie发送信号进行分析。

15、一种可能的实现方式，还包括：所述操控平台获得按键完成信息，所述按键完成信息包括实际按键次数；所述操控平台在确认所述实际按键次数与所述按键指令中的按键次数匹配时，显示所述实际按键次数，反之向所述夹持结构重新发送所述按键指令。

16、一种可能的实现方式，所述根据所述按键指令中的按键次数设置示波器的参数，包括：所述示波器运行脚本文件，根据所述按键次数对应的pcie档位设置示波器电平参数所述脚本文件的参数包括采样率、采样方式及采样宽度中的至少一项。

17、一种可能的实现方式，所述操控平台向所述夹持结构发送按键指令，包括：所述操控平台向所述夹持结构发送的按键指令包括按键类型，所述按键类型包括单次按键或连续按键。

技术特征：

1.一种测试设备，其特征在于，包括：操控平台、夹持结构和测试夹具；

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述夹持结构包括：支架、电磁阀和吸附杆；

3.根据权利要求1或2所述的测试设备，其特征在于，所述操控平台包括：上位机和控制器；

4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述上位机，还用于在接收到所述按键完成信息后，将所述实际按键次数对应的当前pcie档位发送给所述示波器，以设置所述当前pcie档位对应的示波器电平参数，使能所述示波器的波形保存功能。

5.根据权利要求3或4所述的测试设备，其特征在于，所述控制器，用于通过串行接口与所述上位机连接；

6.根据权利要求3或4所述的测试设备，其特征在于，所述控制器包括可编程逻辑芯片；所述上位机包括可扩展处理平台。

7.一种测试方法，其特征在于，包括：

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，还包括：

9.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述按键指令中的按键次数设置示波器的参数，包括：

10.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述操控平台向所述夹持结构发送按键指令，包括：

技术总结
本申请实施例提供一种测试设备及测试方法，测试设备包括：操控平台、夹持结构和测试夹具；测试夹具，用于插接被测单板的高速串行计算机扩展总线标准PCIE槽位；测试夹具还用于连接示波器；夹持结构，用于固定测试夹具，并接收操控平台的按键指令，根据按键指令在测试夹具上完成对应的按键次数操作；不同的按键次数对应不同的PCIE档位，不同的PCIE档位具有不同的速率；示波器，用于从测试夹具捕获PCIE发送信号；示波器或操控平台，用于对示波器捕获的PCIE发送信号进行分析。本申请实施例提供的测试设备能够自动实现对PCIE链路进行信号质量的测试，提高测试效率。

技术研发人员：王首刚
受保护的技术使用者：超聚变数字技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/10/17