磁记录介质读取装置制造方法
【专利摘要】在供磁卡(21)插入的插入口(22)附近设置产生干扰磁场的环形天线(35),并使干扰磁场常时作用于插入口(22)的前方和后方,从而防止通过安装于插入口(22)的前方的非法读取装置非法地取得磁数据、以及通过与磁条检测用的磁头(34)连接的引线非法地取得磁数据。干扰磁场也到达磁头(34),但是利用检测出磁条前的检测信号的模式和检测出磁条后的检测信号的模式不同这一情况,能够检测磁卡(21)的磁条中有无磁数据。
【专利说明】磁记录介质读取装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及读取磁记录介质中记录的数据的装置,尤其涉及具备防止数据的非法取得的功能的磁记录介质读取装置。
【背景技术】
[0002]在ATM (Automated Teller Machine:自助设备、自动存取款机)或 CD (CashDispenser:自动付款机)等交易处理装置中,搭载有对磁卡进行读取的读卡器。在这样的交易处理装置中,最近发生在磁卡被插入读卡器时非法地取得卡的磁条中记录的数据的被称为窃取(skimming)的犯罪。
[0003]窃取的类型大体有两种。一种是将具备磁头的非法读取装置设置为盖在ATM或CD所具备的读卡器的卡插入口,通过该非法读取装置的磁头,非法地取得读卡器中插入的磁卡的数据(以下称为“第I类型”)。另一种是通过引线将非法读取装置与设置于卡插入口附近的包括磁条检测用的磁头的磁条检测部连接,经由引线非法地取得从磁条检测部输出的信号(磁头所读取的数据)(以下称为“第2类型”)。
[0004]对于上述那样的窃取,到目前为止提出了各种对策。例如,在后述的专利文献I中,记载了在卡插入口附近设置干扰磁场产生器的读卡器。在该读卡器中,通过干扰磁场产生器,在卡插入口的外侧区域产生干扰磁场。因此,即使在卡插入口的外侧安装非法读取装置,由该装置读取的数据受到干扰磁场的影响,成为与卡中记录的原来的数据不同的数据。由此,能够防止卡的数据被非法取得。
[0005]此外,在后述的专利文献2中,记载了在卡插入口的周围配设用于产生干扰磁场的环形天线的读卡器。环形天线的天线面与卡插入口的前表面平行。在该读卡器中,也在卡插入口的外侧区域产生干扰磁场,所以即使在卡插入口的外侧安装非法读取装置,也能够防止卡的数据被非法取得。
[0006]此外,在后述的专利文献3中记载了如下的读卡器:在卡插入口的附近配置用于检测卡的磁条的预磁头(P r e -h e a d ),从该预磁头输出与磁条中记录的磁信息不同的信号。在该读卡器中,即使在预磁头上经由引线安装了非法读取装置,从预磁头输出的信号也是与卡中记录的信息不同的信号,所以能够防止卡的数据被非法取得。
[0007]在先技术文献
[0008]专利文献
[0009]专利文献1:特开2001-67524号公报
[0010]专利文献2:特许第4425674号公报
[0011]专利文献3:特开2010-205187号公报
[0012]发明的概要
[0013]发明所要解决的课题
[0014]专利文献I所记载的读卡器在卡插入口的外侧区域产生干扰磁场,所以对于将非法读取装置安装于卡插入口的外侧的第I类型的窃取是有效的。但是,在该读卡器中,在进行第2类型的窃取、即经由引线将非法读取装置安装于磁条检测部的情况下,数据可能会被非法地取得。
[0015]专利文献2所记载的读卡器也在卡插入口的外侧区域产生干扰磁场,所以对于第I类型的窃取是有效的。但是,在该读卡器中,未考虑第2类型的窃取的对策。
[0016]在专利文献3的读卡器中,从预磁头输出的信号是与卡的记录信息不同的信号,所以对于第2类型的窃取是有效的。但是,在该读卡器中,需要用于将由预磁头的头部读取的信号变换为与其不同的信号的信号变换机构,所以构造变得复杂。此外,对于第I类型的窃取未实施对策,可能会被安装于卡插入口的外侧的非法读取装置非法地取得数据。
【发明内容】
[0017]因此,本发明的目的在于,提供一种对于第I类型的窃取和第2类型的窃取都能够有效防止数据的非法取得的磁记录介质读取装置。
[0018]解决课题所采用的手段
[0019]本发明的磁记录介质读取装置具备:插入口,供磁记录介质插入;磁条检测部,包括用于对磁记录介质的磁条进行检测的磁头;磁场产生部,产生用于防止磁记录介质的磁条中记录的数据的读取的干扰磁场;以及判定机构,基于从磁条检测部输出的检测信号,判定是否插入了在磁条中记录有数据的磁记录介质。磁场产生部设置于插入口附近,常时使干扰磁场作用于插入口的前方和后方。判定机构比较磁头检测出磁条之前的检测信号的第I模式和磁头检测出磁条之后的检测信号的第2模式,第2模式与第I模式不同的情况下,判断为插入了在磁条中记录有数据的磁记录介质。
[0020]由此,从设置于插入口附近的磁场产生部常时产生干扰磁场,所以即使在插入口安装了具备磁头的非法读取装置,也必定对该磁头作用干扰磁场。因此,无法由非法读取装置非法地取得磁数据,能够事前防止第I类型的窃取。此外,从磁场产生部产生的干扰磁场也常时作用于磁条检测用的磁头。因此,即使将引线与磁条检测部连接,也无法取得磁数据,能够有效防止第2类型的窃取。另一方面,由于干扰磁场作用于磁条检测用的磁头,所以无法从该磁头得到正规的磁条检测信号,但是在本发明中,利用检测出磁条前的检测信号的模式与检测出磁条后的检测信号的模式不同这一情况,能够无障碍地检测磁记录介质中是否有数据。
[0021]在本发明中,也可以是,第I模式预先存储在存储器中。这种情况下,判定机构比较从存储器读出的第I模式和从磁条检测部输出的检测信号的第2模式。
[0022]在本发明中,也可以是,设置感知机构,在磁头检测出磁条之前,该感知机构感知从插入口插入的磁记录介质,判定机构比较从感知机构感知到磁记录介质的时刻起回溯一定期间内的第I模式和从磁条检测部输出的检测信号的第2模式。也可以是,这种情况的一定期间是感知机构感知到磁记录介质的紧前的期间。
[0023]此外,也可以取代上述构成,判定机构比较感知机构感知到磁记录介质的时刻以后的一定期间的第I模式和从磁条检测部输出的检测信号的第2模式。也可以是,这种情况的一定期间是感知机构感知到磁记录介质紧后的期间。
[0024]在本发明中,也可以是,判定机构对磁头检测磁条之前的检测信号进行采样,将规定期间内的各采样值的总和作为第I模式,并对磁头检测磁条之后的检测信号进行采样,将规定期间内的各采样值的总和作为第2模式。
[0025]在本发明中,也可以是,判定机构对磁头检测磁条之前的检测信号进行采样,将多个规定期间的各期间内的采样值的总和的平均值作为第I模式,并对磁头检测磁条之后的检测信号进行采样,将多个规定期间的各期间内的采样值的总和的平均值作为第2模式。
[0026]发明效果
[0027]根据本发明,磁场产生部常时产生干扰磁场,所以对于在插入口安装有非法读取装置的第I类型的窃取和在磁条检测部经由引线安装有非法读取装置的第2类型的窃取,都能够有效防止数据的非法取得。此外,干扰磁场即使作用于磁条检测用的磁头,利用在检测出磁条前后检测信号的模式不同这一情况,也能够无障碍地检测磁记录介质中是否有数据。
【专利附图】
【附图说明】
[0028]图1是表示本发明的实施方式的读卡器的电构成的框图。
[0029]图2是该读卡器的侧视截面图及主视图。
[0030]图3是环形天线的另一例的主视图。
[0031 ] 图4是磁卡的俯视图。
[0032]图5是用于说明第I实施方式的波形图。
[0033]图6是表示基准模式的波形的图。
[0034]图7是表示第I实施方式中的卡插入时的动作的流程图。
[0035]图8是表示第I实施方式中的卡退还时的动作的流程图。
[0036]图9是用于说明第2实施方式的波形图。
[0037]图10是说明卡插入检测的定时和磁条检测的定时的俯视图。
[0038]图11是表示第2实施方式中的卡插入时的动作的流程图。
[0039]图12是用于说明第3实施方式的波形图。
[0040]图13是表示第3实施方式中的卡插入时的动作的流程图。
[0041]图14是用于说明第4实施方式的波形图。
[0042]图15是表示第4实施方式中的卡插入时的动作的流程图。
[0043]图16是用于说明第5实施方式的波形图。
[0044]图17是表示第5实施方式中的卡插入时的动作的流程图。
【具体实施方式】
[0045]以下,参照【专利附图】
【附图说明】本发明的实施方式。在各图中,同一附图标记表示同一部分或对应部分。
[0046](第I实施方式)
[0047]首先,参照图1及图2说明第I实施方式的读卡器的构成。
[0048]如图1所示,本实施方式的读卡器I具备:由CPU构成的控制部2,对装置整体的动作进行控制;磁信息读取部3,读取磁卡中记录的磁数据;卡输送部4,输送磁卡;卡检测传感器5,对磁卡进行检测;存储器6,存储由磁信息读取部3读取的磁数据;主机接口 7,作为与上级装置(例如ATM)的连接部;磁条检测部10,对磁卡的磁条进行检测;以及磁场产生部8,产生用于防止磁条中记录的数据的读取的干扰磁场。控制部2是本发明中的“判定机构”的一例。
[0049]控制部2包括对磁场产生部8进行控制的磁场控制部9和对卡输送部4进行控制的卡输送控制部12。磁条检测部10及磁场产生部8设置于卡插入口单元24内。磁条检测部10包括后述的磁头34 (图2)。此外,磁场产生部8包括后述的环形天线35 (图2)。
[0050]如图2 Ca)所示,在读卡器I的箱体100的前表面设有卡插入口单元24。在卡插入口单元24上形成有供磁卡(以下简称为“卡”)21插入的插入口 22。如图4所示,卡21具有磁条21a。图4是从背面观察卡21的图。在插入口 22的附近,设置有对插入的卡21进行检测的卡插入检测传感器23。该卡插入检测传感器23例如由微开关构成,配置在被从插入口 22插入的卡21按压的位置。卡插入检测传感器23是本发明中的“感知机构”的一例。此外,在插入口 22的附近设置有磁条检测用的磁头34。该磁头34对卡21的磁条21a进行检测。
[0051]在读卡器I的箱体100的内部设置有输送辊25?28、卡位置检测传感器30?33、磁头29。输送辊25?28分别隔着输送路P而设置I对,通过I对辊夹持卡21而进行输送。这些输送辊25?28经由输送带(省略图示)与马达(省略图示)连结。I对输送辊中,一个是被传递马达的旋转力的驱动辊,另一个是跟随该驱动辊而旋转的从动辊。输送辊25?28与上述的输送带及马达一起构成卡输送部4 (图1)。
[0052]卡位置检测传感器30?33是透过型的光传感器,分别具有隔着输送路P而对置的发光部和受光部。这些传感器30?33的配置间隔比磁卡21的输送方向的长度更短。传感器30检测卡21被夹持在离插入口 22最近的输送辊25的情况。传感器33检测所插入的卡21到达暂时存放卡的存放部(省略图示)的情况。传感器31、32检测输送中的卡21的位置。这些卡位置检测传感器30?33与所述卡插入检测传感器23 —起构成卡检测传感器5 (图1)。
[0053]磁头29在输送棍26与输送棍27之间设置在输送路P的下侧。插入的卡21在输送路P上被输送的过程中,该磁头29读取卡21的磁条21a中记录的数据。前述的磁头34是用于检测磁条中是否记录有数据的磁头,与此相对,磁头29是用于再现磁条中记录的数据本身的磁头。磁头29和传感器33的间隔比卡21的输送方向的长度稍长。因此,卡21到达存放部时,即卡21的前端到达传感器33的位置时,磁头29已完成卡21中记录的数据的读取。
[0054]在卡插入口单元24的前表面附近设有环形天线35。从图2 (a)可知,环形天线35在插入口 22附近设置在相对于卡21的插入方向A比磁条检测用的磁头34更靠插入口22侦彳。该环形天线35是将导体以环状卷绕I次或多次而成的天线,如图2 (b)所示,以包围插入口 22的方式配置。
[0055]基于磁场控制部9的控制,在磁场产生部8中向环形天线35流入驱动电流时,环形天线35在插入口 22附近产生磁场。在本发明中,通过向环形天线35持续流入驱动电流,环形天线35常时产生磁场。该磁场作为干扰磁场作用于插入口 22的前方,在插入口 22的前方安装有非法读取装置(省略图示)的情况下,防止该装置对磁信息的读取。此外,该磁场作为干扰磁场也作用于位于插入口 22的后方的磁条检测用的磁头34,防止磁头34中的磁信息的非法读取。[0056]另外,也可以取代图2 (b)所示的环形天线35,而如图3 (a)所示,将2个独立的环形天线35a、35b配置在插入口 22的两侧。或者,如图3 (b)所示,仅将I个环形天线35c配置在磁条检测用的磁头34 (图2 Ca?附近。
[0057]接下来,说明第I实施方式中的窃取对策。图5 (a)是在环形天线35中流动的驱动电流的波形。从环形天线35产生与该驱动电流相应的干扰磁场。图5 (b)是在不存在干扰磁场的情况下从磁条检测部10输出的检测信号的波形。在磁头34检测到磁条21a(图4)的时刻t以后,磁条检测部10基于磁头34从磁条21a读取的磁数据,输出图示的脉冲状的检测信号。图5 (c)是存在干扰磁场的情况下从磁条检测部10输出的检测信号的波形。在时刻t之前,对磁头34仅作用干扰磁场,所以检测信号的波形成为与图5 (a)的干扰磁场对应的波形。在时刻t之后,对磁头34作用干扰磁场和基于磁条21a的磁数据的磁场,所以检测信号的波形成为将图5 (a)和图5 (b)合成的波形。
[0058]在本实施方式中,如图5 (a)所示,从环形天线35常时产生干扰磁场。而且,该干扰磁场作用于插入口 22的前方和后方。因此,即使在插入口 22的前方安装有具备磁头的非法读取装置,也必定对该磁头作用干扰磁场。因此,无法利用干扰磁场的休止期间来非法地取得卡21的磁数据,能够事前防止第I类型的窃取。此外,干扰磁场也常时作用于磁头34,所以也无法从磁头34经由引线非法地取得磁数据。因此,也能够事前防止第2类型的窃取。
[0059]另一方面,从环形天线35产生的干扰磁场常时作用于磁头34,所以在磁头34读取磁条21a时,无法从磁头34得到图5 (b)的右侧所示的正规的磁条检测信号。但是,磁头34只要检测磁条21a中是否有磁数据即可,不需要将磁数据本身再现。在此,在本实施方式中,利用检测出磁条前的检测信号的模式和检测出磁条后的检测信号的模式不同这一情况,检测磁条21a中是否有磁数据。以下说明该处理。
[0060]从图5 (C)可知,比较磁头34检测出磁条21a之前(时刻t以前)的检测信号的模式(以下称为“第I模式”)和磁头34检测出磁条21a之后(时刻t以后)的检测信号的模式(以下称为“第2模式”)的情况下,两种模式不同。即,插入了在磁条21a中记录有数据的卡21的情况下,通过由磁头34读取数据,检测信号的模式从第I模式变化为第2模式。另一方面,插入了在磁条21a中未记录数据的卡21的情况下,不产生图5 (b)的信号,所以检测信号的模式维持第I模式不变。因此,通过比较第I模式和第2模式,能够检测磁条21a中是否有数据,由此,能够判定是否插入了在磁条21a中记录有数据的卡21。
[0061]在此,在第I实施方式中,上述的第I模式作为图6所示的基准模式预先存储在存储器6 (图1)中。并且,在图5 (c)的时刻t以后,对从磁条检测部10输出的检测信号进行解析,将该检测信号的模式(第2模式)和基准模式进行对照,验证检测信号的模式是否与基准模式一致。模式的对照例如能够通过依次比较各个模式的采样值来进行。
[0062]这样,在第I实施方式中,通过由环形天线35常时产生的干扰磁场,对于第I类型的窃取和第2类型的窃取,都能够有效防止卡21的数据的非法取得。此外,即使干扰磁场作用于磁头34,利用在检测出磁条21a前后检测信号的模式不同这一情况,能够无障碍地检测卡21中是否有数据。
[0063]图7是表示第I实施方式中的卡插入时的动作的流程图。以下基于该流程图,详细说明进行卡21的插入及读取时的步骤。各步骤的处理由控制部2执行。[0064]在步骤SI中,从存储器6读取第I模式(图6的基准模式)。在步骤S2中,判定卡插入检测传感器23是否检测到了卡21的插入。如果未检测到卡21的插入(步骤S2 ;否),重复执行步骤S2,并待机直至检测到卡21的插入。检测到卡21的插入(步骤S2 ;是)后,进入步骤S3。
[0065]在步骤S3中,从磁条检测部10的检测信号提取第2模式,与在步骤SI中读出的第I模式(基准模式)进行比较。然后,在步骤S4中,判定第2模式是否与第I模式不同。
[0066]步骤S4的判定的结果为第2模式与第I模式不同的情况下(步骤S4 ;是),在磁条21a中“有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中记录有数据的卡21,进入步骤S5。另一方面,步骤S4的判定的结果为第2模式与第I模式相同的情况下,即从第I模式没有变化的情况下(步骤S4 ;否),在磁条21a中“没有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中未记录数据的卡21,将卡21退还后,回到步骤S2。
[0067]在步骤S5中,通过卡输送控制部12,卡21的输送开始。这时,输送辊25?28向使插入的卡21进入箱体100的内部的方向(以下称为“正方向”)旋转。由此,卡21通过输送路P进入箱体100内。卡21在输送路P中被输送的过程中,在步骤S6中,由磁头29读取卡21的磁条21a中记录的磁数据。
[0068]在步骤S7中,判定配置于输送辊28旁边的传感器33是否检测到卡21的一端(图2 (a)中为右端)。如果传感器33未检测到卡端(步骤S7 ;否),则重复执行步骤S7。S卩,使输送棍25?28向正方向旋转而继续输送卡21,直至检测到卡端。如果传感器33检测到卡端(步骤S7 ;是),则判断为卡21到达输送路P的后端,进入步骤S8。
[0069]在步骤S8中,通过卡输送控制部12,输送辊25?28的旋转停止,卡21的输送停止。这时,卡21暂时存放在前述的存放部(省略图示)。通过以上动作,图7的一系列处理结束。
[0070]图8表示进行卡21的退还时的顺序。各步骤的处理由控制部2执行。
[0071]在步骤Sll中,通过卡输送控制部12,卡21的输送开始。这时,输送辊25?28向将插入的卡21从存放部向插入口 22输送的方向(以下称为“反方向”)旋转。由此,卡21朝向插入口 22在输送路P中被输送。
[0072]在步骤S12中,判定配置于输送辊25旁边的传感器30是否检测到卡21的端部(图2 (a)中为右端)。如果传感器30未检测到卡端(步骤S12;否),则重复执行步骤S12。即,使输送棍25?28向反方向旋转而继续卡21的输送,直至检测到卡端。如果传感器30检测到卡端(步骤S12 ;是),则判断为输送的卡21已被退还到插入口 22,进入步骤S13。
[0073]在步骤S13中,通过卡输送控制部12,输送辊25?28的旋转停止,卡21的输送停止。这时,卡21如图2 (a)那样被上下的输送辊25夹持,并且卡的前端部分从插入口 22向外部突出。因此,利用者能够握持从插入口 22突出的卡21的前端部分而将卡21拔出。
[0074]在步骤S14中,判定卡插入检测传感器23是否检测到卡21的拔出。处于卡插入检测传感器23检测到卡的状态时,判断为卡21未拔出(步骤S14 ;否),重复执行步骤S14,等待卡21被拔出。卡插入检测传感器23从检测到卡的状态变化为未检测到卡的状态时,判断为卡21已拔出(步骤S14 ;是),结束处理。通过以上处理,图8的一系列处理全部结束。
[0075](第2实施方式)
[0076]接下来说明本发明的第2实施方式。另外,第2实施方式中的读卡器的构成与图I及图2相同,因此省略说明。
[0077]在所述的第I实施方式中,第I模式(基准模式)预先存储在存储器6中。与此相对,在第2实施方式中,从实际检测信号取得第I模式,并将其作为基准模式。以下参照图9具体说明。
[0078]图9的各波形与图5的各波形相同。图9 ((:)的〖1表示卡插入检测传感器23检测到卡21的时刻,t2表示磁头34检测到磁条21a的时刻。即,卡21如图10 (a)那样向A方向插入时,如图10 (b)所示,首先由卡插入检测传感器23 (微开关)检测卡21。该时刻是图9 (c)的tl。然后,如果卡21进一步向A方向插入,则如图10 (c)那样,磁头34开始磁条21a的读取。该时刻是图9 (c)的t2。
[0079]在第2实施方式中,如图9 (C)所示,提取检测到卡21的时刻tl紧前的一定期间的检测信号,并作为基准模式(第I模式)。提取的基准模式暂时存储在存储器6中。然后,在检测到磁条21a的时刻t2以后,对从磁条检测部10输出的检测信号进行解析,将该检测信号的模式(第2模式)和基准模式进行对照,验证检测信号的模式是否与基准模式一致。模式的对照例如能够通过依次比较各个模式的采样值来进行。
[0080]第2实施方 式的情况也与第I实施方式同样,通过由环形天线35常时产生的干扰磁场,对于第I类型的窃取和第2类型的窃取,都能够有效防止卡21的数据的非法取得。此外,即使干扰磁场作用于磁头34,利用在检测出磁条21a前后检测信号的模式不同这一情况,也能够无障碍地检测卡21中是否有数据。
[0081]此外,在第2实施方式中,从检测到卡21的紧前的实际的检测信号取得基准模式(第I模式),所以能够生成反映了温度及外来噪声等环境变化的基准模式。因此,与第I实施方式那样使用固定的基准模式的情况相比,基准模式的精度变高,提高了卡21中有无数据的检测精度。
[0082]图11是表示第2实施方式中的卡插入时的动作的流程图。各步骤的处理由控制部2执行。
[0083]在步骤Sla中,从磁条检测部10的检测信号在规定期间内提取第I模式,并将提取的第I模式存储到存储器6中。
[0084]在步骤S2a中,判定卡插入检测传感器23是否检测到卡21的插入。如果未检测到卡21的插入(步骤S2a ;否),则返回步骤Sla,在下一期间中进行第I模式的提取?存储。这种情况下,在存储器6中,将第I模式覆盖而更新。重复步骤Sla、S2a,直至检测到卡21的插入。然后,检测到卡21的插入后(步骤S2a;是),进入步骤S3a。
[0085]在步骤S3a中,从磁条检测部10的检测信号提取第2模式,并与存储器6中存储的检测出卡紧前的第I模式(基准模式)进行比较。然后,在步骤S4a中,判定第2模式是否与第I模式不同。
[0086]步骤S4a中的判定的结果为第2模式与第I模式不同的情况下(步骤S4a ;是),磁条21a中“有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中记录有数据的卡21,进入步骤S5。另一方面,步骤S4a中的判定的结果为第2模式与第I模式相同的情况下,即从第I模式没有变化的情况下(步骤S4a ;否),在磁条21a中“没有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中未记录数据的卡21,将卡21退还后,返回步骤Sla。
[0087]在步骤S5中,通过卡输送控制部12,卡21的输送开始。步骤S5~S8的顺序与图7中的步骤S5?S8的顺序相同,因此省略说明。此外,进行卡21的退还时的顺序与图8的顺序相同,因此也省略说明。
[0088]在上述的第2实施方式中,如图9 (C)所示,提取检测出卡紧前的一定期间内的检测信号,作为基准模式(第I模式)。也可以取代于此,提取检测出卡紧前的一定期间之前的期间内的检测信号作为基准模式。此外,也可以不从I个期间提取基准模式,而对从多个期间提取的模式进行平均,并将该平均后的结果作为基准模式。总之,基于从卡检测时刻起回溯的任意的一定期间内的模式来设定基准模式即可。进而,也可以不使用一定期间中包含的全部信号,而使用一部分来设定基准模式。
[0089](第3实施方式)
[0090]接下来说明本发明的第3实施方式。另外,第3实施方式中的读卡器的构成与图1及图2相同,因此省略说明。
[0091]在第3实施方式中,与第2实施方式同样,从实际的检测信号取得第I模式,并将其作为基准模式。但是,在第2实施方式的情况下,将检测出卡紧前的一定期间的检测信号作为基准模式,而在第3实施方式的情况下,如图12 (c)所示,提取检测到卡21的时刻tl的紧后的一定期间内的检测信号,并作为基准模式(第I模式)。
[0092]提取的基准模式暂时存储在存储器6中。然后,在检测到磁条21a的时刻t2以后,对从磁条检测部10输出的检测信号进行解析,将该检测信号的模式(第2模式)和基准模式进行对照,验证检测信号的模式与基准模式是否一致。模式的对照例如能够通过依次比较各个模式的采样值来进行。
[0093]第3实施方式的情况也与第I实施方式同样,通过由环形天线35常时产生的干扰磁场,对于第I类型的窃取和第2类型的窃取,都能够有效防止卡21的数据的非法取得。此夕卜,即使干扰磁场作用于磁头34,利用在检测出磁条21a前后检测信号的模式不同这一情况,能够无障碍地检测卡21中是否有数据。
[0094]此外,在第3实施方式中,从检测到卡21的紧后的实际的检测信号取得基准模式(第I模式),所以能够生成反映了温度和外来噪声等的环境变化的基准模式。因此,与第2实施方式同样,基准模式的精度变高,提高了卡21中有无数据的检测精度。
[0095]图13是表示第3实施方式中的卡插入时的动作的流程图。各步骤的处理由控制部2执行。
[0096]在步骤Slb中,判定卡插入检测传感器23是否检测到卡21的插入。如果未检测到卡21的插入(步骤Slb ;否),则重复执行步骤Slb,并待机直至检测到卡21的插入。检测到卡21的插入后(步骤Slb ;是),进入步骤5213。
[0097]在步骤S2b中,从磁条检测部10的检测信号提取检测出卡紧后的规定期间内的第I模式,并将其作为基准模式存储到存储器6中。
[0098]在步骤S3b中,在检测出磁条后,从磁条检测部10的检测信号提取第2模式,并与存储在存储器6中的第I模式(基准模式)进行比较。然后,在步骤S4b中,判定第2模式是否与第I模式不同。
[0099]步骤S4b中的判定的结果为第2模式与第I模式不同的情况下(步骤S4b ;是),磁条21a中“有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中记录有数据的卡21,进入步骤S5。另一方面,步骤S4b中的判定的结果为第2模式与第I模式相同的情况下,即从第I模式没有变化的情况下(步骤S4b ;否),磁条21a中“没有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中未记录数据的卡21,将卡21退还后,返回步骤Slb。
[0100]在步骤S5中,通过卡输送控制部12,卡21的输送开始。步骤S5?S8的顺序与图7中的步骤S5?S8的顺序相同,因此省略说明。此外,进行卡21的退还时的顺序与图8的顺序相同,因此也省略说明。
[0101]在上述的第3实施方式中,如图12 (C)所示,提取检测出卡紧后的一定期间内的检测信号作为基准模式(第I模式)。也可以取代于此,在从卡检测时刻tl到磁条检测时刻t2较为宽裕的情况下,在tl?t2之间,提取检测出卡紧后的一定期间之后的期间内的检测信号作为基准模式。此外,也可以不从I个期间提取基准模式,而对从多个期间提取的模式进行平均,并将该平均的结果作为基准模式。总之,基于卡检测时刻以后的任意的一定期间内的模式来设定基准模式即可。此外,也可以不使用一定期间中包含的全部信号,而是使用一部分来设定基准模式。
[0102](第4实施方式)
[0103]接下来说明本发明的第4实施方式。另外,第4实施方式中的读卡器的构成与图1及图2相同,因此省略说明。
[0104]在所述的第I至第3实施方式中,通过对检测信号的波形彼此进行比较来进行第I模式(基准模式)和第2模式的对照。与此相对,在第4实施方式中,通过比较检测信号的规定期间内的采样值的总和来进行对照。以下,参照图14进行具体说明。
[0105]图14 (a)的波形与图9 (C)的波形相同。图14 (b)是示意性地表示图14 (a)的期间Tl内的采样的状况的图。在第4实施方式中,对检测出磁条前的检测信号进行采样,计算规定期间Tl内的采样值的总和。然后,将该总和作为第I模式存储到存储器6中。此夕卜,对磁条检测时刻t2之后的检测信号进行采样(省略图示),计算规定期间T2内的采样值的总和。然后,将该总和作为第2模式。
[0106]在图14 Ca)中,期间Tl为卡检测时刻tl的紧前的期间,但也可以是更前面的期间。此外,期间T2也同样,可以是磁条检测时刻t2的紧后的期间,也可以是图示的期间更后面的期间。另外,期间Tl的开始时刻和期间T2的开始时刻取得同步。
[0107]如前述那样,插入了在磁条21a中记录有数据的卡21的情况下,检测出磁条前的检测信号的模式和检测出磁条后的检测信号的模式不同,所以期间Tl和期间T2内的各检测信号的采样值的总和也不同。因此,将各自的总和作为第I模式及第2模式并进行比较,能够检测磁条21a中有无数据。
[0108]第4实施方式的情况也与第I实施方式同样,通过由环形天线35常时产生的干扰磁场,对于第I类型的窃取和第2类型的窃取,都能够有效防止卡21的数据的非法取得。此夕卜,即使干扰磁场作用于磁头34,利用在检测出磁条21a前后检测信号的采样值的总和不同这一情况,也能够无障碍地检测卡21中有无数据。
[0109]图15是表示第4实施方式中的卡插入时的动作的流程图。各步骤的处理由控制部2执行。
[0110]在步骤Slc中,根据磁条检测部10的检测信号运算第I模式(规定期间内的采样值的总和),并存储到存储器6中。
[0111]在步骤S2c中,判定卡插入检测传感器23是否检测到了卡21的插入。如果未检测到卡21的插入(步骤S2c ;否),则回到步骤Slc,进行下一期间的第I模式的运算?存储。这种情况下,在存储器6中将第I模式覆盖而更新。重复执行步骤Slc、S2c,直至检测到卡21的插入。然后,检测到卡21的插入时(步骤S2c ;是),进入步骤S3c。
[0112]在步骤S3c中,在检测出磁条后,根据磁条检测部10的检测信号运算期间T2内的第2模式(采样值的总和),与存储器6中存储的基准模式、即检测出卡紧前的期间Tl内的第I模式(采样值的总和)进行比较。接着,在步骤S4c中,判定第2模式是否与第I模式不同。
[0113]步骤S4c中的判定的结果为第2模式与第I模式不同的情况下(步骤S4c ;是),磁条21a中“有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中记录有数据的卡21,进入步骤S5。另一方面,步骤S4c中的判定的结果为第2模式与第I模式相同的情况下,即从第I模式没有变化的情况下(步骤S4c ;否),在磁条21a中“没有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中未记录数据的卡21,将卡21退还后,回到步骤Sic。
[0114]在步骤S5中,通过卡输送控制部12,卡21的输送开始。步骤S5~S8的顺序与图7中的步骤S5~S8的顺序相同,因此省略说明。此外,进行卡21的退还时的顺序与图8的顺序相同,因此也省略说明。
[0115](第5实施方式)
[0116]接下来说明本发明的第5实施方式。另外,第5实施方式中的读卡器的构成与图1及图2相同,因此省略说明。
[0117]在第5实施方式中,与第4实施方式同样,通过比较检测信号的规定期间内的采样值的总和来进行对照。但是,在第4实施方式的情况下,将检测出卡紧前的规定期间Tl内的采样值的总和作为基准模式,而在第5实施方式的情况下,如图16所示,将检测出卡紧后的规定期间Tl’内的采样值的总和作为基准模式。第5实施方式中的模式的对照与第4实施方式实质上相同,因此省`略详细说明。
[0118]第5实施方式的情况也与第I实施方式同样,通过由环形天线35常时产生的干扰磁场,对于第I类型的窃取和第2类型的窃取,都能够有效防止卡21的数据的非法取得。此外,即使干扰磁场作用于磁头34,利用在检测出磁条21a前后检测信号的采样值的总和不同这一情况,也能够无障碍地检测卡21中有无数据。
[0119]图17是表示第5实施方式中的卡插入时的动作的流程图。各步骤的处理由控制部2执行。
[0120]在步骤Sld中,判定卡插入检测传感器23是否检测到卡21的插入。如果未检测到卡21的插入(步骤Sld ;否),则重复执行步骤Sld,并待机直至插入了卡21。然后,若检测到卡21的插入(步骤Sld ;是),则进入步骤S2d。
[0121]在步骤S2d中,根据磁条检测部10的检测信号运算检测出卡紧后的期间Tl’内的第I模式(采样值的总和),并将其作为基准模式存储到存储器6中。
[0122]在步骤S3d中,在检测出磁条后,根据磁条检测部10的检测信号运算期间T2内的第2模式(采样值的总和),并与存储器6中存储的基准模式、即期间Tl’内的第I模式(采样值的总和)进行比较。接着,在步骤S4d中判定第2模式是否与第I模式不同。
[0123]步骤S4d中的判定的结果为第2模式与第I模式不同的情况下(步骤S4d ;是),磁条21a中“有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中记录有数据的卡21,进入步骤S5。另一方面,步骤S4d中的判定的结果为第2模式与第I模式相同的情况下,即从第I模式没有变化的情况下(步骤S4d ;否),磁条21a中“没有数据”,所以判断为插入了在磁条21a中未记录数据的卡21,将卡21退还后,回到步骤Sld。
[0124]在步骤S5中,通过卡输送控制部12,卡21的输送开始。步骤S5?S8的顺序与图7中的步骤S5?S8的顺序相同,因此省略说明。此外,进行卡21的退还时的顺序与图8的顺序相同,因此也省略说明。
[0125]在上述的第4实施方式和第5实施方式中,求出I个期间内的采样值的总和,但是也可以对于多个期间分别求出采样值的总和,并求出它们的平均值。这种情况下,对检测出磁条前的检测信号进行采样,将多个规定期间的各期间内的采样值的总和的平均值作为第I模式,对检测出磁条后的检测信号进行采样,将多个规定期间的各期间内的采样值的总和的平均值作为第2模式即可。这样,不易受到噪声等的影响,各模式的精度变高。进而,也可以不使用一定期间内的全部信号,而使用一部分来求出采样值的总和。
[0126]在以上所述的各实施方式中,说明了插入卡21的情况下的窃取对策,但由于常时从环形天线35产生干扰磁场,所以将卡21退还的情况下也能够防止窃取。
[0127]此外,在以上的各实施方式中,说明了针对磁条检测用的磁头34的窃取对策。另一方面,在读卡器I的箱体100内存在用于读取磁条21a而将数据再现的磁头29 (参照图2 (a))。作为针对该磁头29的窃取对策,例如可以采取对磁头29所读取的数据进行加密等对策。
[0128]此外,在以上的各实施方式中,举出了图2和图3的环形天线,但是环形天线不限于此。例如,也可以设置3个以上环形天线。这种情况下,由于产生更强的干扰磁场,所以能够更有效地防止窃取。此外,也可以从多个环形天线产生不同频率的干扰磁场。这样,作用于非法读取装置的干扰磁场具有多个频率成分,所以即便进行滤波处理,也难以将干扰磁场除去,能够更可靠地防止数据的非法取得。
[0129]此外,通过在环形天线中配置磁导率高的铁氧体或铁等金属芯,能够使磁场具有指向性,或产生更强的干扰磁场。
[0130]此外,在以上的各实施方式中,作为磁记录介质举出了在背面(反面)具有磁条的磁卡。但是,本发明也能够适用于对正面或正反两面具有磁条的磁卡进行处理的磁记录介质读取装置。
[0131]此外,在以上的各实施方式中,作为磁记录介质举出了磁卡。但是,本发明不限于磁卡,也能够适用于对具有磁条的存折这样的磁记录介质进行读取的装置。
[0132]工业实用性
[0133]本发明能够适用在搭载于ATM这样的自动交易处理装置的读卡器或存折读取器或搭载于卡认证终端的读卡器等读取磁记录介质的装置。
[0134]附图标记说明:
[0135]I读卡器
[0136]2控制部
[0137]8磁场产生部
[0138]9磁场控制部
[0139]10磁条检测部[0140]21 磁卡
[0141]21a 磁条
[0142]22 插入口
[0143]34 磁头
[0144]35环形天线
【权利要求】
1.一种磁记录介质读取装置,其特征在于,具备: 插入口,供磁记录介质插入; 磁条检测部,包括用于对所述磁记录介质的磁条进行检测的磁头; 磁场产生部,产生用于防止所述磁记录介质的磁条中记录的数据的读取的干扰磁场;以及 判定机构,基于从所述磁条检测部输出的检测信号,判定是否插入了在所述磁条中记录有数据的磁记录介质; 所述磁场产生部设置于所述插入口附近,常时使所述干扰磁场作用于所述插入口的前方和后方, 所述判定机构比较所述磁头检测出所述磁条之前的所述检测信号的第I模式和所述磁头检测出所述磁条之后的所述检测信号的第2模式,在所述第2模式与所述第I模式不同的情况下,判定为插入了在所述磁条中记录有数据的磁记录介质。
2.如权利要求1所述的磁记录介质读取装置,其特征在于, 所述第I模式被预先存储在存储器中, 所述判定机构比较从所述存储器读出的所述第I模式和从所述磁条检测部输出的检测信号的所述第2模式。
3.如权利要求1所述的磁记录介质读取装置,其特征在于, 该磁记录介质读取装置设有感知机构,在所述磁头检测出磁条之前,该感知机构感知从所述插入口插入的磁记录介质, 所述判定机构比较从所述感知机构感知到所述磁记录介质的时刻起回溯的一定期间内的所述第I模式和从所述磁条检测部输出的检测信号的所述第2模式。
4.如权利要求3所述的磁记录介质读取装置,其特征在于, 所述一定期间是所述感知机构感知到所述磁记录介质的紧前的期间。
5.如权利要求1所述的磁记录介质读取装置,其特征在于, 该磁记录介质读取装置设有感知机构,在所述磁头检测出磁条之前,该感知机构感知从所述插入口插入的磁记录介质, 所述判定机构比较所述感知机构感知到所述磁记录介质的时刻以后的一定期间内的所述第I模式和从所述磁条检测部输出的检测信号的所述第2模式。
6.如权利要求5所述的磁记录介质读取装置,其特征在于, 所述一定期间是所述感知机构感知到所述磁记录介质的紧后的期间。
7.如权利要求1?6中任一项所述的磁记录介质读取装置,其特征在于, 所述判定机构对所述磁头检测出所述磁条之前的所述检测信号进行采样,将规定期间内的各采样值的总和作为第I模式,对所述磁头检测出所述磁条之后的所述检测信号进行采样,将规定期间内的各采样值的总和作为第2模式。
8.如权利要求1?6中任一项所述的磁记录介质读取装置,其特征在于, 所述判定机构对所述磁头检测出所述磁条之前的所述检测信号进行采样,将多个规定期间的各期间内的采样值的总和的平均值作为第I模式,对所述磁头检测出所述磁条之后的所述检测信号进行采样,将多个规定期间的各期间内的采样值的总和的平均值作为第2模式。
【文档编号】G07D9/00GK103718219SQ201180072821
【公开日】2014年4月9日 申请日期:2011年8月30日 优先权日:2011年8月30日
【发明者】铃木弘之, 忠政明博, 麦健忠, 川口陵太 申请人:日立欧姆龙金融系统有限公司