磁记录装置的制作方法

文档序号:6781470阅读:204来源:国知局
专利名称:磁记录装置的制作方法
技术领域
本发明涉及能够稳定地检测高精度的跟踪误差信号,正确地记录、重放或清除记录在固定磁盘或者软盘等磁记录媒体上的信息的磁记录装置。
背景技术
迄今,在把信息记录在磁记录媒体上的磁盘系统中,信道间距200μm左右与光记录媒体上的1.6μm左右相比是非常宽的,用步进电动机就可以进行机械上粗略的信道定位。但是,近年来为了实现大容量化希望有几μm~几十μm的信道间距,在该场合,比现有的磁盘系统更准确的信道定位机构成为必要的。
用光来进行跟踪误差信号的检测的现有的磁记录装置的构成示于图3。在图3中,现有的磁记录装置包括直线偏光的发散光束(以下称为“光束”)70、出射光束70的半导体激光器光源(以下称为“光源”)1、把从光源1所出射的光束70分光成三个光束的衍射元件16、磁记录媒体(以下称为“盘”)4、把透射衍射元件16的光束70聚焦于盘4上的物镜17、支撑该物镜17并且为了把焦点位置准确地定位在盘4上能够把物镜沿Z方向调整位置的支撑体21、接受在盘4上反射、衍射,再次透射物镜17,由衍射元件16分光的光束70、输出与受光量相对应的电气信号的光检测器15、处理从光检测器15所输出的电气信号并输出跟踪误差信号的信号处理部61、接受从信号处理部61所输出的跟踪误差信号,跟踪误差信号检测光学系统和进行信息的记录重放的磁头14、用来把透射物镜17的光束70在盘4上收缩成适当的光点尺寸的光阑2、磁头14和光阑2形成的基台13、以及调整盘4和基台13的相对位置的驱动部91。
在衍射元件16上,在靠近光源1一侧的表面上形成区域16A,在其对峙一侧的表面上形成区域16B。而且,从光源1所出射的直线偏光的发散光束入射到衍射元件16的区域16A,分光成0次衍射光和±1次衍射光三个光束。在区域16A中所生成的三个光束在区域16B进一步分光成多个光束。在从光源1至物镜17的光路中,这样设计区域16B的光栅间距,以便在区域16B中所生成的衍射光当中仅有0次衍射光入射到物镜的光阑。此外,在盘4上反射、衍射,入射到衍射元件16的区域16B的光束70分光成多个衍射光,其中仅有±1次衍射光71、72由光检测器14受光。
现有的磁记录装置中的盘与聚光的光束的关系示于图4。如图4中所示,在盘4上,在邻接的信道(由磁头14记录或重放信息的区域)的中间形成导向槽,导向槽与其以外部分的反射率的差异使得可以光学地检测跟踪误差信号。在图4中,Tn-1、Tn、Tn+1…是信道,Gn-1、Gn、Gn+1…是导向槽。信道间距pt设定成20μm,导向槽的宽度设定成2μm。此外,为了得到盘4的旋转引起的周期信号,在这些导向槽沿圆周方向还断续地形成,圆周方向间距pt′可以设定成在盘4以720rpm旋转时,通过导向槽沿圆周方向掠过光束70而得到的周期信号的频率为20kHz。
光束70中,光束70A是在衍射元件16的区域16A中所生成的0次衍射光,光束70B、70C是在衍射元件16的区域16A中所生成的±1次衍射光。三个光束70A~70C配置成对于盘4上的导向槽成为各pt/4的间隔。
在图5(a)、(b)中示出现有的磁记录装置中的衍射元件的光栅图案,在图5(c)中示出现有的磁记录装置中的光检测器与光束的关系。如图5(a)、(b)中所示,在衍射元件16的区域16A、16B上所形成的光栅图案分别是等间距的图案,区域16A的光栅图案与区域16B的光栅图案正交。如图5(c)中所示,由光检测器15来受光的±1次衍射光71、72分别由三个光束71A~71C、72A~72C组成。光检测器15有六个受光部15A~15F,光束71A由受光部15B来受光,光束71B由受光部15A来受光,光束71C由受光部15C来受光,光束72A由受光部15E来受光,光束72B由受光部15D来受光,光束72C由受光部15F来受光。
如图5(c)中所示,光源1配置在蚀刻硅基片的光检测器15上。此外,在硅基片上形成反射镜150,从光源1所出射的光束70被反射镜150反射,沿着垂直于光检测器15的受光部15A~15F形成的X-Y平面的Z轴方向出射。
图6是现有的磁记录装置中的信号处理部61的电路构成图。如图6中所示,光检测器15的受光部15A、15B、15C(或者15D、15E、15F)分别连接到电流-电压转换部(以下简称I-V转换部)355、354、353。由此,从光检测器15的受光部15A、15B、15C(或者15D、15E、15F)所输出的电气信号分别在I-V转换部355、354、353中转换成电压信号。在盘4旋转的状态下,从I-V转换部355、354、353所输出的电压信号v5(或者v6、v7)如图7(a)中所示成为20kHz的周期信号。此时,v5的最大值v5″是在光束内没有导向槽的状态的输出值,v5的最小值v5′是盘4旋转而光束落在导向槽中的状态的输出值,在光束中心与导向槽的X方向中心相一致时|v5″-v5′|取最大值。
在盘4旋转的状态下光束70与时间t成比例地位移时,v5(或者v6、v7)成为图7(b)中所示,20kHz的周期信号的极小值的包络线v5′(或者v6′、v7′)在光束70从盘4的导向槽(例如Gn)的中心有位移x时,分别成为由式(1)~式(3)来表达的波形。
v5′=A1·cos(2πx/pt)+B1(1)v6′=A2·sin(2πx/pt)+B2(2)v7′=-A3·sin(2πx/pt)+B3 (3)在式(1)~式(3)中,A1~A3是振幅,B1~B3是直流分量。这里v5′~v7′的振幅对直流分量的比率,也就是A1/B1(或者A2/B2、A3/B3)称为调制度MOD。如图6中所示,I-V转换部353、354分别经由可变增益放大部476、477和包络线检测部356、357连接到差动运算部374。由此,从I-V转换部353、354所输出的电压信号v5、v6分别在可变增益放大部476、477中被调整成周期信号的最大振幅(图6中所示的A1+B1)相等后,在包络线检测部356、357中作为位移信号v5′、v6′被检测。然后,位移信号v5′、v6′在差动运算部374差动运算,作为电压信号v8输出。此外,从I-V转换部354、355所输出的电压信号v5、v7分别在可变增益放大部478、479中被调整成周期信号的最大振幅相等后,在包络线检测部358、359中作为位移信号v5′、v7′被检测。然后,位移信号v5′、v7′在差动运算部375中差动运算,作为电压信号v9输出。
从差动运算部374、375所输出的电压信号v8、v9成为分别由式(4)、式(5)来表达的,相位相差π/2的正弦波。
v8=A4·sin(2πx/pt+π/4)(4)v9=A4·sin(2πx/pt-π/4)(5)在式(4)、式(5)中,A4是振幅。差动运算部374、375分别经由可变增益放大部474、475连接到运算部433。由此,从差动运算部374、375所输出的电压信号v8、v9分别在可变增益放大部474、475中被调整成想要的振幅后,在运算部433中相加,作为电压信号v10输出。电压信号v10成为由式(6)所表达的波形,作为跟踪误差信号从输出端403输出。
v10=K3·A4·sin(2πx/pt+π/4)+K4·A4·sin(2πx/pt-π/4)=K3·A4·sin(2πx/pt+Φ1)+K4·A4·sin(2πx/pt+π/2+Φ1) (6)在式(6)中,K3、K4分别是可变增益放大部474、475的增益,Φ1为-π/4。通过适当地选择增益K3、K4,跟踪误差信号v10成为具有任意的相位和振幅的信号。
下面就如上所述所构成的磁记录装置中的跟踪动作进行说明。
如图3中所示,从光源1所出射的直线偏光的发散光束70入射到衍射元件16的区域16A被分光为0次衍射光和±1次衍射光三个光束。在区域16A中所生成的三个光束虽然在区域16B中进一步被分光为多个光束,但是在区域16B中所生成的衍射光当中仅有0次衍射光入射到物镜17的光阑。这三个衍射光70A~70C被物镜17聚光在盘4上(图5)。在盘4上反射、衍射的光束70A~70C再次透射物镜17,入射到衍射元件16的区域16B,被分光为多个衍射光。然后,所分光的衍射光当中仅有±1次衍射光71A~71C、72A~72C由光检测器16的受光部15A~15F来受光(图5(c))。光检测器15的受光部15A~15F把与各自的光束受光量相对应的电气信号输出到信号处理部61(图6)。该电气信号在信号处理部61中被处理,作为跟踪误差信号输出到驱动部91。收到跟踪误差信号的驱动部91调整包含光学系统和磁头14的基台13与盘4的相对位置。由此跟踪想要的信道。
但是,在如上所述所构成的现有的磁记录装置中,因为结构上不一定充分确保光检测器15的受光部15A~15F的信号分离特性,故在受光部15A与15B(或15D与15E),或者受光部15B与15C(或15E与15F)的输出信号间产生百分之几的串话(交调失真)。此外,随着最近装置的小型化等,装置的构成部件接近地配置的机会增多,因此,因信号处理部中的配线(挠性基片、PCB图案等)的影响使信号间的串话在一定程度上是不得已的。令输出信号间的串话比为ε时,前述信号v5′(或者v6′、v7′)的调制度MOD成为由公式1来表达的值。 在数1中,α是输出信号间的20kHz的周期波形的相位差。如令盘的导向槽的圆周方向间距为pt′并令光束间隔为d则α可由式(7)来表达。
α=2πxd/pt′ (7)可是,因为周期信号与盘上的光束位置无关地始终取为恒定(20kHz),故盘4的导向槽的圆周方向间距pt′随盘上的半径方向位置而不同。在720rpm旋转的3.5英寸盘的场合,磁记录区的最内周上为pt′=80μm,最外周上为pt′=160μm连续地变化。与此相反,因为光束间隔d始终恒定,故周期信号的相位差α如式(7)所表达的,与圆周方向间距pt′成反比地在盘的内外周间变化。
因而,如数1所表达的,因为调制度MOD表达为相位差α的函数,故在盘的内外周上调制度MOD变化。因此,本来应该成为π/2的信号v8、v9的相位差对π/2有了误差,结果存在着产生跟踪误差这样的问题。
本发明正是为了解决上述问题而提出的,其目的在于提供一种减小跟踪误差的磁记录装置。

发明内容
根据本发明的权利要求1的磁记录装置,备有给出反射率变化的周期性物理变化形成的盘状信息记录媒体,出射光束的光源,接受从前述光源所出射的光束并生成三个光束的衍射元件,把由前述衍射元件所生成的光束向信息记录媒体上聚光成微小光点的聚光光学系统,有接受在前述信息记录媒体上反射、衍射,再次透射前述聚光光学系统的光阑内的光束,输出与受光量相对应的信号的三个受光部的光检测机构,有处理从前述光检测机构所输出的信号并输出跟踪误差信号的信号处理机构,接受从前述信号处理机构所输出的跟踪误差信号,在想要的信道上进行光束的定位的驱动机构,以及把信息记录在前述信息记录媒体上,或者重放或清除前述信息记录媒体上的信息的磁头,其特征在于,其中前述信号处理机构备有消除在从前述光检测机构的三个受光部所输出的信号间发生的串话,的消除机构。
如果用本发明,则可以消除在光检测信号间发生的串话,减小信号间的串话对跟踪误差检测的影响,检测出精度高的跟踪误差信号成为可能。
此外,根据本发明的权利要求2的磁记录装置,是权利要求1中所述的磁记录装置,其特征在于,其中前述信号处理机构由前述消除机构来消除在信号间发生的串话,检测误差小的跟踪误差信号。
如果用本发明,则可以消除在光检测信号间发生的串话,减小信号间的串话对跟踪误差检测的影响,检测出精度高的跟踪误差信号成为可能。
此外,根据本发明的权利要求3的磁记录装置,是权利要求1中所述的磁记录装置,其特征在于,其中前述消除机构消除从前述光检测机构所输出的三个信号当中至少一个信号向别的信号的串话。
如果用本发明,则可以消除在光检测信号间发生的串话,减小信号间的串话对跟踪误差检测的影响,检测出精度高的跟踪误差信号成为可能。
此外,根据本发明的权利要求4的磁记录装置,是权利要求1中所述的磁记录装置,其特征在于,其中前述消除机构备有把来自前述光检测机构的第1受光部的输出信号分压的第1和第2分压机构,对来自前述光检测机构的第2受光部的输出信号与来自前述第1分压机构的输出信号进行差动运算的第1差动运算机构,以及对来自前述光检测机构的第3受光部的输出信号与来自前述第2分压机构的输出信号进行差动运算的第2差动运算机构。
如果用本发明,则可以消除在光检测信号间发生的串话,减小信号间的串话对跟踪误差检测的影响,检测出精度高的跟踪误差信号成为可能。
此外,根据本发明的权利要求5的磁记录装置,是权利要求4中所述的磁记录装置,其特征在于,其中前述第1和第2分压机构,把其分压比取为几乎等于前述第1受光部的输出信号向前述第2和第3受光部的输出信号串话的比率。
如果用本发明,则可以消除在光检测信号间发生的串话,减小信号间的串话对跟踪误差检测的影响,检测出精度高的跟踪误差信号成为可能。
此外,根据本发明的权利要求6的磁记录装置,是权利要求4中所述的磁记录装置,其特征在于,其中前述第1和第2分压机构由电阻器组成。
如果用本发明,则可以消除在光检测信号间发生的串话,减小信号间的串话对跟踪误差检测的影响,检测出精度高的跟踪误差信号成为可能。
附图简述

图1是表示本发明的第1实施例中的信号处理部的构成的图。
图2是表示本发明的第1实施例中的消除电路的电路图。
图3是表示现有的磁记录装置的构成的图。
图4是表示现有的磁记录媒体与聚光的光束的关系的图。
图5(a)、(b)是表示现有的衍射元件的光栅图案的图。图5(c)是表示现有的光检测器与光束的关系的图。
图6是表示现有的磁记录装置的信号处理部的构成的图。
图7是表示现有的磁记录装置的信号处理部中的信号波形的图。
图8是表示本发明的实施例中的消除电路的变形例的图。
实施发明的最佳形态(第1实施例)下面用图1、图2和图8就本发明的第1实施例进行说明。
图1是本实施例的磁记录装置中的信号处理部61的电路构成图,对与图6中所示的现有的磁记录装置中的信号处理部61相同的部分赋予相同的标号,省略其说明。
下面说明根据本实施例的信号处理部61与现有例的信号处理部61的不同点。也就是说,虽然在现有例中,如图6中所示,I-V转换部353(或者354、355)的输出信号经由可变增益放大部476(或者477~479)输出到包络线检测部356(或者357~359),但是在本实施例中,如图1中所示,I-V转换部354的输出信号在分压部381和382中被分压,其分压输出信号在差动运算部376、377中与I-V转换部353、355的输出信号进行差动运算。
下面说明如果用像以上这样所构成的本实施例的信号处理部61则可以消除信号间的串话,检测出误差小的跟踪误差信号的理由。因为结构上不一定充分确保光检测器15的受光部15A~15F的信号分离特性,故在受光部15A与15B(或15D与15E)、或者受光部15B与15C(或15E与15F)的输出信号间产生百分之几的串话。该串话的量随着受光部间的距离的减小而增加。例如,在受光部15B的输出信号以对受光部15C(或者15A)的输出信号的比率ε串话的场合,受光部15C的I-V转换信号v6(或者v7)由式(8)来表达。
v6=v60+εv5 (8)式(8)中v60是信号间不发生串话的理想信号。由此,可以把随着受光部间的距离减小而增加的串话量抑制到最低限度。显然,根据式(8),按等于串话比ε的比率把来自受光部15B的I-V转换信号v5分压,对该分压输出信号和受光部15C的I-V转换信号v6进行差动运算,由此可以消除信号间的串话,消除由数1来表达的串话对调制度的影响。
这样一来,如果用本实施例,则从光检测器的受光部所输出的三个信号当中,通过把一个输出信号分压,与别的输出信号进行差动运算,可以消除信号间的串话,检测出误差小的跟踪误差信号成为可能。
再者,虽然在本实施例的信号处理部61中,把I-V转换部的输出信号分压,进行差动运算,但是只要是直到包络线检测部之间,在任何部位用分压部和差动运算部都能消除串话。
此外分压部和差动运算部没有必要是独立的电路,如图2中所示,可以在一般的差动运算放大器中,通过把翻转输入侧和非翻转输入侧的电压增益分别取为最佳值而容易地构成。也就是说,如果电阻器501~504的电阻值(R1~R4)满足式(9)的条件,则可以从v6中减去式(8)中的εv5。
R4/(R3+R4)=εR2/(R1+R2) (9)再者,虽然在图2中,说明了仅靠电阻器来确定翻转输入侧和非翻转输入侧的电压增益的电路构成,但是也可以使电阻器、电容器、线圈等单独或者串联、并联地组合,使之具有适当的频率特性来实施。此外,通过用可变电阻器等把翻转输入侧和非翻转输入侧的电压增益调整成最佳值,也能精度更高地消除信号间的泄漏。进而,用数字式电位器等作为图2的R2(电阻器502),由此把图1中的可变增益放大部476(或者479)与差动运算部376一体化,可以消除串话。
此外,如图8中所示,在把I-V转换部353(或者354、355)的输出信号在由差动运算放大器378(或者379、380)和电阻器505、506(或者507、508、509、510)所构成的翻转电压放大器中放大的场合,把差动运算放大器379的输出信号经由电阻器511(或者512)输入到差动运算放大器378(或者380)的翻转输入端,由此容易地消除串话成为可能。也就是说,翻转电压放大器的电压增益可以通过把电阻器506的电阻值除以电阻器511的电阻值来求出。再者,该电压增益相当于图1的分压部381、382对I-V转换信号进行分压时的分压比。因而,在这里由差动运算放大器378(或者380),电阻器505(或者509)、511(或者512)、506,一般来说取为加法器的构成,把差动运算放大器379的输出信号输入到差动运算放大器378,由此可以从v6中减去式(8)中的εv5。
再者,在为了除去信号的直流(DC)分量,而把电阻器505、507、509、511、512和耦合电容器串联连接的场合也是,通过选定适当的容量值,消除串话成为可能。
像以上这样,根据本发明的磁记录装置稳定地检测高精度的跟踪误差信号,适于记录、重放、或者清除记录在固定磁盘或者软盘等磁记录媒体上的信息。
权利要求
1.一种磁记录装置,包括形成提供反射率变化的周期性物理变化的盘状信息记录媒体;出射光束的光源;接受从前述光源所出射的光束并生成三个光束的衍射元件;把由前述衍射元件所生成的光束向信息记录媒体上聚光成微小光点的聚光光学系统,有接受在前述信息记录媒体上反射、衍射,再次透射前述聚光光学系统的光阑内的光束,并输出与受光量相对应的信号的三个受光部的光检测机构,处理从前述光检测机构所输出的信号并输出跟踪误差信号的信号处理机构,接受从前述信号处理机构所输出的跟踪误差信号,在想要的信道上进行光束的定位的驱动机构,以及把信息记录在前述信息记录媒体上,或者重放或清除前述信息记录媒体上的信息的磁头,其特征在于,前述信号处理机构具有消除从前述光检测机构的三个受光部所输出的信号间发生的串话的消除机构。
2.权利要求1中所述的磁记录装置,其特征在于,前述信号处理机构借助于前述消除机构来消除在信号间发生的串话,检测误差小的跟踪误差信号。
3.权利要求1中所述的磁记录装置,其特征在于,前述消除机构消除从前述光检测机构所输出的三个信号中的至少一个信号向其它信号的串话。
4.权利要求1中所述的磁记录装置,其特征在于,前述消除机构备有把来自前述光检测机构的第1受光部的输出信号分压的第1和第2分压机构,对来自前述光检测机构的第2受光部的输出信号与来自前述第1分压机构的输出信号进行差动运算的第1差动运算机构,以及对来自前述光检测机构的第3受光部的输出信号与来自前述第2分压机构的输出信号进行差动运算的第2差动运算机构。
5.权利要求4中所述的磁记录装置,其特征在于,前述第1和第2分压机构,把其分压比取为几乎等于前述第1受光部的输出信号向前述第2和第3受光部的输出信号串话的比率。
6.权利要求4中所述的磁记录装置,其特征在于,前述第1和第2分压机构由电阻器组成。
全文摘要
提供一种即使在来自光检测器的三个受光部的信号之间有泄漏,也能稳定地检测高精度的跟踪误差信号的磁记录装置。在处理从光检测器(15)的受光部所输出的电气信号,检测跟踪误差信号的信号处理部(61)中,电路构成为把I-V转换部(354)的输出信号在分压部(381)和(382)中分压,对其分压输出信号与I-V转换部(353、354)的输出信号在差动运算部(376、377)中进行差动运算。
文档编号G11B5/596GK1358312SQ01800004
公开日2002年7月10日 申请日期2001年3月2日 优先权日2000年3月2日
发明者海稻睦人, 児岛弘明 申请人:松下电器产业株式会社
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