专利名称：在光信息记录介质上记录信息的方法和装置以及光记录介质的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种在光信息记录介质上记录信息的方法和装置，所述光信息记录介质具有通过激光束或者类似光束照射记录或重现信息的多个记录层。本发明还涉及一种光信息记录介质。
背景技术：
在具有大容量和高密度的存储器中，存在一种光信息记录介质。在光信息记录介质之中，存在可重写和可擦除型介质，该介质的基底上具有充当记录层的薄膜，并且根据激光束照射所产生的热能，使记录层在非晶态与结晶态之间变化，以记录和擦除信息。
作为记录层的相变材料，包含Ge、Sb、Te、In等主要成份的合金膜，例如GeSbTe合金是公知的。通过使一部分记录层非结晶，执行信息的记录以便形成记录标记。通过使记录标记结晶，执行信息的擦除。通过把记录层加热到熔点之上的温度然后再快速冷却，形成非结晶状态。通过把记录层加热到结晶温度之上和熔点之下的温度，形成结晶状态。
此外，通常在基底上提供螺旋导沟纹或者同心导沟纹，以便在记录或重现信息时跟踪激光束。相邻沟纹之间的区域被称作纹间表面，并且通常把沟纹和纹间表面之一做成记录信息的信息轨迹，而把另一个做成分离相邻信息轨迹的保护带。该方法还被实行在可记录致密盘(CD-R)和袖珍盘(MD)中。
作为在介质上记录信息的方法，有标记长度记录方法，其中标记长度和空间长度(即，标记的前沿和后沿的位置)承载信息，并且形成具有不同空间的不同长度的标记。
对于这种标记长度记录方法，必需注意以下几点问题。即，如果诸如激光脉冲的强度或者生成定时之类的脉冲条件在记录信息时不适合，则标记的形状可能被变形，使前段变细以及使后段变厚。这是因为前段上产生的热影响后段温度上升。或者标记边缘的位置可能波动，这归因于形成相邻标记时产生的热的影响，从而导致信号质量的恶化。
最佳脉冲条件主要取决于介质的特征以及记录和重现装置。因此，需要一种“示教”操作，其中在每次激活该操作时，将介质置入记录和重现装置中，同时记录用于确定最佳脉冲条件的信息。该示教操作通过在改变脉冲条件的同时执行测试记录以及通过将诸多重现信号的质量进行相互比较，启用最佳脉冲条件的确定。
图6显示了现有技术的光信息记录介质的一个实例。如图6所示，光信息记录介质61包括由聚碳酸酯制成的厚度为1.1mm的透明基底；用来放入到记录和重现装置上的中心孔62；布置在基底上的记录层；以及厚度为0.1mm的保护层。激光束穿过保护层照射到光信息记录介质61，以记录和重现信息。基底设置有轨迹66，用于在记录和重现信息时跟踪激光束。此外，光信息记录介质61包括一个导入区域63，在该区域中利用仅仅为重现而制成的压花坑或类似物记录介质的标识信息；一个测试记录区域64，用于执行示教操作以确定最佳脉冲条件；和一个记录用户数据的信息记录区域65。
另一方面，待处理的信息量最近已经随着各种信息技术装置的处理能力的改进而增加。为此，需要具有较大容量并支持较高记录和重现速度的记录介质。为了满足这种较大的容量，人们建议了一种多层记录介质，该多层记录介质具有多个记录层并且可以从一侧在每个记录层上记录和重现信息。这种多层记录介质具有不同的记录和重现特征，例如用于针对每个记录层记录信息的最佳激光脉冲的强度。因此，现有技术的记录和重现装置执行用于每个记录层的示教操作(例如参见日本待审专利公开No.11-3550)。
在这种多层记录介质中，在激光束穿过激光源侧的一个或多个记录层执行除邻近激光源的记录层之外的每个记录层上的信息记录和重现。然而，光的透射率(transmittance)在非静态和结晶态是不同的，这取决于记录层的材料，所以每个记录层的激光束的透射率的变化取决于是否已经记录了信息。
因此，到达实际记录或重现信息的记录层的激光束的强度依赖于前一个记录层的记录状态而改变。因此，如果根据现有技术的方法利用示教操作确定的脉冲条件来记录用户数据，则不能正确地记录该用户数据。
此外，不能在示教操作中获得脉冲条件，因为到达为了测试记录而实际执行示教操作的记录层的激光束的强度依据前一个记录层的记录状态而改变。
发明内容
本发明的目的是提供一种记录信息的方法和装置，其中通过示教操作可以正确地确定脉冲条件，并且可以正确地记录用户数据，而不考虑每个记录层的信息记录状态。
本发明第一方面的方法是在光信息记录介质上记录信息，所述光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除数据的多个记录层。该方法包括临时脉冲条件确定步骤；测试区域反射光测量步骤；最终脉冲条件确定步骤；和记录执行步骤。临时脉冲条件确定步骤用于通过在测试记录层上执行测试记录来确定包括激光束强度的临时脉冲条件，所述测试记录层是多个记录层中的至少一个记录层。测试区域反射光测量步骤用于测量测试区域反射光能级，该能级是进行测试记录的一个区域中的激光束的反射光能级。最终脉冲条件确定步骤通过根据被测量的测试区域反射光能级校正临时脉冲条件来确定最终脉冲条件。记录执行步骤是利用最终脉冲条件记录数据。
根据本发明的记录方法，通过测试记录而确定的临时脉冲条件是根据测试区域反射光能级来校正的，以便确定最终脉冲条件。例如，执行根据测试区域反射光能级的校正，所以可以补偿每个记录层上的信息记录状态。因此，可以通过示教操作确定正确的脉冲条件，而不考虑每个记录层中的信息记录状态，并且可以正确地记录用户数据。
根据本发明第二方面的方法，测试区域反射光测量步骤包括，测量执行测试记录的区域中的未用部分、标记间(intermark)部分和信息擦除部分之一的反射光能级。
本发明已经发现，实质上具有相同高的反射能级的信号是在未用部分、标记间部分和信息擦除部分上获得的。
根据本发明第三方面的记录方法，该方法还包括基准反射光能级测量步骤，用于测量测试记录层中的激光束的反射光能级。基准反射光能级测量步骤测量基准反射光能级，该基准反射光能级是一个径向位置的反射光能级，在该径向位置，数据不能记录在一个比测试记录层更接近激光入射侧的记录层上。最终脉冲条件确定步骤包括，通过根据基准反射光能级和测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，确定最终脉冲条件。
根据本发明的记录方法，临时脉冲条件是根据基准反射光能级和测试区域反射光能级校正的。因此，能够依据临时脉冲条件补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态的影响。
根据本发明第四方面的记录方法，所述方法还包括用于获取校正系数的校正系数获取步骤，所述校正系数指示记录状态与非记录状态之间的激光束入射侧的记录层的激光束透射率的差值。最终脉冲条件确定步骤包括，通过根据校正系数、基准反射光能级和测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，确定最终脉冲条件。
根据本发明的记录方法，校正系数还用于校正脉冲条件。因此，在记录信息的同时，能够补偿激光束入射侧的记录层的记录状态的影响。
根据本发明第五方面的记录方法，校正系数获取步骤包括，通过读取预先记录在光信息记录介质的特定位置上的校正系数，来获取该校正系数。
根据本发明的记录方法，校正系数被记录在光信息记录介质的特定位置上。因此，通过根据光信息记录介质的特征，使用适当校正系数，能够确定脉冲条件。
根据本发明第六方面的记录方法，最终脉冲条件确定步骤包括有效脉冲条件确定步骤和有效脉冲条件校正步骤。有效脉冲条件确定步骤通过根据基准反射光能级和测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，确定包括当激光束入射侧上的记录层位于非记录状态时激光束强度为适当的有效脉冲条件。有效脉冲条件校正步骤根据校正系数校正有效脉冲条件，以便确定最终脉冲条件。
根据本发明的记录方法，通过依据临时脉冲条件补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态的影响，能够确定有效脉冲串条件。此外，通过根据光信息记录介质的特征使用适当的校正系数来校正有效脉冲条件，能够确定最终脉冲条件。
根据本发明第七方面的记录方法，所述方法还包括一个已完成记录层信息获取步骤，用于从光信息记录介质读取已完成记录层信息，该信息指定一个已经记录数据的已完成记录层。校正系数获取步骤是从光信息记录介质读取校正系数(该系数对应于(i)目标记录层信息，用于指定光信息记录介质的多个记录层之一；和(ii)记录层指定信息，用于指定比由目标记录层信息所指示的记录层更接近于激光束入射侧的诸多记录层之一)的步骤。校正系数获取步骤所获取的校正系数对应于指示执行数据记录的记录层的目标记录层信息，以及与已完成记录层信息一致的记录层指定信息。
根据本发明的记录方法，判定在比将要记录用户数据的记录层更接近激光束入射侧的记录层之中有多少记录层已经完成了信息记录。此外，选择适合于该记录状态的校正系数。因此，能够确定更合适的脉冲条件并且更精确地记录用户数据。
根据本发明第八方面的记录方法，已完成记录层信息还包括指示已完成记录层中的已完成区域的位置的已完成地址信息。
这里，如果在记录层上连续执行记录(即，如果没有剩下用于在任何记录层上记录用户数据的未完成区域，则另一个记录层则连续用于该记录)，已完成地址信息可以是指示已经记录数据的区域的位置的地址，或者是指定最终位置的地址，该地址指定已经记录用户数据的区域的最终位置。
根据本发明的记录方法，能够在记录新的用户数据之前读取已完成地址信息，以便根据已完成区域的位置以及用户数据将被记录的位置选择校正系数。
根据本发明第九方面的记录方法，校正系数获取步骤包括根据从光信息记录介质读取的已完成地址信息判定已完成记录层上的已完成区域的位置；以及根据已完成区域的位置和数据被记录的位置，选择校正系数。
根据本发明的第十方面的记录方法，该方法还包括测量用户区域反射光能级的用户区域反射光测量步骤，该用户区域反射光能级是记录数据的信息信息记录区域中的激光束的反射光能级。最终脉冲条件确定步骤包括，根据用户区域反射光能级、基准反射光能级和测试区域反射光能级，校正临时脉冲条件，来确定最终脉冲条件。
根据本发明的记录方法，测试区域反射光能级和基准反射光能级用于校正。因此，例如依据临时脉冲条件，补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态的影响。此外，用户区域反射光能级和基准反射光能级用于校正。因此，当记录信息时，能够补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态的影响。
根据本发明的第十一方面的记录方法，最终脉冲条件确定步骤包括有效脉冲条件确定步骤和有效脉冲条件校正步骤。有效脉冲条件确定步骤通过根据基准反射光能级和测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，来确定有效脉冲条件，该有效脉冲条件包含当激光束入射侧上的记录层处于非记录状态时适当的激光束的强度。有效脉冲条件校正步骤根据用户区域反射光能级和基准反射光能级校正有效脉冲条件，并且确定最终脉冲条件。
根据本发明的记录方法，能够在依据临时脉冲条件补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态影响的同时，确定有效脉冲条件。此外，能够通过校正有效脉冲条件来确定最终脉冲条件，以便在记录信息时补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态的影响。
根据本发明的第十二方面的记录方法，用户区域反射光测量步骤包括，在记录数据的同时以预定时间间隔测量用户区域反射光能级，或者在光信息记录介质上的每个预定的径向位置上测量用户区域反射光能级。
根据本发明记录方法，当记录信息时，可以更适当地补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态。
根据本发明第十三方面的记录方法，临时脉冲条件确定步骤包括信号质量估算步骤和临时脉冲条件设置步骤。信号质量估算步骤用于在改变测试记录层中激光束的强度的同时执行测试记录；重现测试记录信号；测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和差错率之一；并且估算重新信号的质量。临时脉冲条件设置步骤用于把激光束的强度设置到接近最大值的值，其中，当在一个比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上记录数据时，该最大值使介质的重现信号的预定质量标准满足降低激光束透射率的激光束入射侧上记录层；把激光束的强度设置到接近最小值的值，其中，当在一个比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上记录数据时，该最小值使介质的重现信号的预定质量标准满足提高激光束透射率的激光束入射侧上记录层。
根据本发明的记录方法，能够确定临时脉冲条件，所以重现信号的质量满足预定标准，而与激光束入射侧上的记录层的记录状态无关。
根据本发明第十四方面的记录方法，该方法还包括透射率变化信息获取步骤，用于从光信息记录介质中读取透射率变化信息。透射率变化信息指示在记录层上记录数据时激光束透射率是增加还是降低。临时脉冲条件设置步骤包括获得透射率变化信息和判定透射率变化的趋势。
根据本发明的记录方法，透射率变化信息被预先记录在光信息记录介质上。因此，通过根据光信息记录介质的特征选择适当的透射率变化信息，能够确定脉冲条件。
本发明第十五方面的方法是把信息记录在光信息记录介质上，该光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层。该方法包括激光束强度信息获取步骤、测试记录步骤和记录执行步骤。激光束强度信息获取步骤用于从光信息记录介质读取激光束强度信息，该激光束强度信息指示在至少一个记录层上记录数据的激光束强度的最大值，或者用于计算最大值。测试记录步骤用于在一个激光束强度的范围之内执行测试记录，该激光束强度小于从激光束强度信息获取的最大值。记录执行步骤利用根据测试记录所确定的脉冲条件记录数据。
本发明已经发现，如果用过度的激光束强度记录信息，则透射率变化在记录信息的记录层中增加。
根据本发明的记录方法，能够在记录层的测试记录区域中抑止透射率变化，以便依据后侧的记录层上的记录减小影响。
根据本发明第十六方面的装置用于把信息记录在光信息记录介质上，该光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层。该装置包括测试纪录单元，反射光能级测量单元和最终脉冲条件确定单元。测试纪录单元通过在测试记录层上执行测试记录，确定包括激光束强度的临时脉冲条件，所述测试记录层是多个记录层的至少一个记录层。反射光能级测量单元测量来自记录层的激光束的反射光能级。最终脉冲条件确定单元根据测试区域反射光能级和基准反射光能级，校正临时脉冲条件(由测试纪录单元确定)，从而确定用于记录数据的最终脉冲条件，其中由反射光能级测量单元测量测试区域反射光能级，以作为执行测试记录的一个区域中的激光束的反射光能级，以及由反射光能级测量单元测量基准反射光能级，以作为在比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上未记录数据的径向位置的反射光能级。
根据本发明的记录装置，测试记录所确定的临时脉冲条件由测试区域反射光能级和基准反射光能级来校正，以便确定最终脉冲条件。因此，能够依据临时脉冲条件补偿激光束入射侧上的每个记录层的记录状态的影响。因而，能够通过示教操作确定校正脉冲条件以及正确地记录脉冲条件，而不管每个记录层上的信息的记录状态。
根据本发明的第十七方面的记录装置，该装置还包括一个获取校正系数的校正系数获取单元，该校正系数指示记录状态与非记录状态之间的记录层的激光束透射率的差值。最终脉冲条件确定单元还利用校正系数来校正临时脉冲条件，并确定最终脉冲条件。
根据本发明的记录装置，校正系数还用于校正脉冲条件。因此，当记录信息时，能够补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态的影响。
根据本发明第十八方面的记录装置，该装置还包括获取已完成记录层信息的已完成记录层获取单元，该已完成记录层信息指定已经记录数据的一个已完成记录层。最终脉冲条件确定单元还利用已完成记录层信息来校正临时脉冲条件，以便确定最终脉冲条件。
根据本发明的记录装置，判定在比将记录用户数据的记录层更接近激光束入射侧的诸多记录层之中有多少记录层已经完成信息记录。为此，能够确定更合适的脉冲条件并且更精确地记录用户数据。根据本发明第十九方面的记录装置，校正系数获取单元是一个从光信息记录介质读取校正系数的单元，所述校正系数对应于(i)目标记录层信息，用于指定光信息记录介质的多个记录层之一；和(ii)记录层指定信息，用于指定比目标记录层信息所指示的记录层更接近于激光束入射侧的诸多记录层之一。校正系数获取单元所获取的校正系数对应于指示记录数据的记录层的目标记录层信息，以及与已完成记录层信息一致的记录层指定信息。
根据本发明的记录装置，判定在比将要记录用户数据的记录层更接近激光束入射侧的记录层之中有多少记录层已经完成了信息记录。此外，选择适合于该记录状态的校正系数。因此，能够确定更合适的脉冲条件并且更精确地记录用户数据。
根据本发明第二十方面的记录装置，已完成记录层信息还包括已完成地址信息，它指示已完成记录层中的已完成区域的位置。
根据本发明第二十一方面的记录装置，校正系数获取单元依据从光信息记录介质读取的已完成地址信息判定已完成记录层上的已完成区域的位置，并且根据已完成区域的位置和数据被记录的位置来选择校正系数。
根据本发明的记录装置，能够在记录新的用户数据之前读取已完成地址信息，以便根据已完成区域的位置和将记录用户数据的位置选择校正系数。
根据本发明的第二十二方面的记录装置，测试记录单元包括信号质量估算单元，用于测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和差错率之一，以便估算信号质量。
根据本发明的第二十三方面的记录装置，最终脉冲条件包括对应于待记录的标记的长度和/或间隔设置的激光束的强度、脉冲长度和生成定时。
根据本发明第二十四方面的记录装置，测试纪录单元包括信号质量估算单元和临时脉冲条件设置单元。信号质量估算单元执行测试记录，同时改变测试记录层上的激光束强度、重现测试记录信号、估算重现信号的质量。临时脉冲条件设置单元用于(i)把激光束强度设置到接近最大值的值，其中，当在一个比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上记录数据时，该最大值使介质的重现信号的预定质量标准满足降低激光束透射率的激光束入射侧上的记录层；(ii)把激光束的强度设置到接近最小值的值，其中，当在比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上记录数据时，该最小值使介质的重现信号的预定质量标准满足提高激光束透射率的激光束入射侧上的记录层。
根据本发明的记录装置，能够确定临时脉冲条件，所以重现信号的质量满足预定标准，而与激光束入射侧上的记录层的记录状态无关。
根据本发明第二十五方面的记录装置，信号质量估算单元测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和差错率之一，以便估算信号的质量。
根据本发明第二十六方面的记录装置，最终脉冲条件包括对应于待记录的标记的长度/间隔设置的激光束的强度、脉冲长度和生成定时。
根据本发明第二十七方面的记录装置，该装置还包括一个透射率变化信息获取单元，用于从光信息记录介质中读取透射率变化信息。透射率变化信息指示当在记录层上记录数据时激光束透射率是增加还是降低。临时脉冲条件设置单元获取透射率变化信息并判定透射率变化的趋势。
根据本发明的记录装置，获取预先记录在光信息记录介质上的透射率变化信息。因此，通过根据光信息记录介质的特征使用适当的透射率变化信息，能够确定脉冲条件。
根据本发明第二十八方面的光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层，其中该介质存储指示记录状态与非记录状态之间的记录层的激光束透射率的差值的校正系数。
根据本发明的光信息记录介质，能够向记录装置提供校正系数，以便当记录信息时补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态的影响。
根据本发明第二十九方面的光信息记录介质，校正系数被存储在导入区域中。
根据本发明的光信息记录介质，校正系数被存储在导入区域中，所以可以保护记录用户数据的区域。
根据本发明第三十方面的光信息记录介质，对应于以下信息存储校正系数(i)目标记录层信息，用于指定光信息记录介质的多个记录层之一；和(ii)记录层指定信息，用于指定比目标记录层信息所指示的记录层更接近于激光束入射侧的诸多记录层之一。
根据本发明第三十一方面的光信息记录介质，介质还存储用于指定已经记录数据的已完成记录层的已完成记录层信息。
本发明的光信息记录介质向记录装置提供已完成记录层信息，所以当记录信息时，能够补偿激光束入射侧上的记录层的记录状态的影响。
根据本发明的第三十二方面的光信息记录介质，已完成记录层信息包括指示已完成记录层上的已完成区域的位置的已完成地址信息。
本发明的光信息记录介质向记录装置提供已完成记录层信息，所以在记录新的用户数据之前可以读取已完成地址信息，并且可以根据已完成区域的位置和将记录用户数据的位置选择校正系数。
本发明的第三十三方面的光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层，其中媒体存储透射率变化信息，该透射率变化信息指示当数据被记录在记录层上时激光束透射率是增加还是降低。
本发明的光信息记录介质向记录装置提供透射率变化信息，所以适当的透射率变化信息可以被用来根据光信息记录介质的特征来确定脉冲条件。
本发明第三十四方面的光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层，其中媒体存储激光束强度信息，该激光束强度信息指示当数据被记录在至少一个记录层上时的激光束强度的最大值，或者用于计算最大值。
本发明的发明人已经发现，如果使用过度激光束强度记录信息，则透射率变化在记录信息的记录层上增加。
本发明的光信息记录介质向记录装置提供指示激光束强度的最大值的信息或者计算最大值的信息，所以可以抑止记录层的记录状态的透射率变化，并且可以减少在后侧的记录层上进行记录的影响。
根据本发明的方法和装置，为了记录信息，本发明能够通过示教操作确定校正脉冲条件，并且能够在具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层的光信息记录介质上正确地记录用户数据，而不管每个记录层的信息的记录状态，即使记录层的激光束透射率依据是否记录信息而变化。
图1是显示根据本发明第一实施例应用记录和重现信息的方法的光信息记录介质的一个实例的剖面图；图2是显示根据本发明第一实施例应用记录重现信息的方法的光信息记录介质的一个实例的主要部分的剖面图；图3是显示根据本发明第二实施例应用记录和重现信息的方法的光信息记录介质的一个实例的剖面图；图4是显示本发明记录和重现装置的结构的方框图；图5是显示本发明的记录和重现信息的方法的流程图；图6是显示传统光信息记录介质的透视图；图7是显示根据记录和重现信息的本发明的方法的测试记录信号的质量的曲线图；图8是显示根据记录和重现信息的本发明的方法的测试记录信号的质量的曲线图；图9显示了本发明的记录和重现装置中的反射光能级信号的波形图。
具体实施例方式
下面将结合附图描述本发明的实施例。
(第一实施例)(结构和操作)
图1是显示根据本发明第一实施例应用记录和重现信息的方法的光信息记录介质的一个实例的剖面图。如图1所示，记录介质1包括用厚度约为1.1mm的聚碳酸酯制成的基板6。在该基板上顺序地构成第一记录层5、厚度约为0.025mm的透明分隔层4、厚度约为100nm的是半透明层的第二记录层3、厚度约为0.075mm的保护膜2。记录层3和5在约为0.32μm的间距上设有多个约为20nm深度和0.2μm宽度的多个信息轨迹(未示出)，当记录和重现信息时，该信息轨迹用于跟踪激光束7。从记录层3的一侧照射激光束7。
记录层3包括用于重现目的的导入区域101，被设置在约为22-23mm范围之内的径向位置上，通过在信息轨迹上颤动来记录介质的标识信息或者类似信息；测试记录区域102，被设置在约为23-24mm范围之内的径向位置上，用于确定最佳脉冲条件的示教操作；和信息记录区域103，被设置在约为24-58mm范围之内的径向位置上，用于记录用户数据。此外，记录层5类似于记录层3，包括用于重现目的的导入区域104，被设置在约为22-23mm范围之内的径向位置上，用于通过在信息轨迹上颤动来记录介质的标识信息或者类似信息；测试记录区域105，被设置在约为23-24mm范围之内的径向位置上，用于确定最佳脉冲条件的示教操作；和信息记录区域106，被设置在约为24-58mm范围之内的径向位置上，用于记录用户数据。
图2显示了记录介质1的更详细的结构。如图2所示，记录层3具有多层薄膜结构，包括由介电材料制成的保护层201，由包含主要成分为Sb和Te的薄膜制成的相变层202，以及由介电材料制成的保护层203。在该实施例中，当记录信息时，相变层202的一部分从结晶态变成非晶态，所以对于激光束7的波长，记录层3的透射率降低。
记录层5具有多层薄膜结构，包括由介电材料制成的保护层204，由包含主要成分为Sb和Te的薄膜制成的相变层205，由介电材料制成的保护层206和由金属材料制成的反射层207。
指示由于信息的记录导致记录层3的透射率降低的校正系数α被记录在图1所示的导入区域104中。校正系数α由下式定义。
α＝T1/T2其中，例如，T1代表记录信息之前的记录层3的透射率，T2代表记录信息之后的记录层3的透射率。
当使用记录介质1时，记录和重现装置被激活，并读取记录在导入区域104中的校正系数α，然后测量基准反射光能级R1。这里基准反射光能级R1是指导入区域104中的反射光能级，即对应于导入区域101的第一记录层5的径向位置上的反射光能级，以用于在比第一记录层5更接近激光束入射侧的第二记录层3上不记录数据的重现目的。
然后，在记录层3和5的测试记录区域102和105中，在执行测试记录的同时，改变诸如激光脉冲的强度、长度或者生成定时的脉冲条件。从而执行示教操作，其中根据由此得到的重现信号质量的测量结果确定临时脉冲条件。确定临时脉冲条件的示教操作是，通过执行测试记录并同时改变脉冲条件以及比较重现信号质量的测量结果而确定更合适的脉冲条件的操作。这里还使用了传统方法。
此外，当在记录层5上执行示教操作时，测量测试记录区域105中的反射光能级R2。图9示出了在测试记录区域中获取得反射光能级信号的波形。在记录信号的区域中，获取具有记录标记部分中低反射光能级RL的强度以及标记间部分，实际上是与未用部分相同的部分，中的高反射光能级RH的强度的信号。
测试记录区域105中的反射光能级R2是通过测量图9中的能级RH获得的。应该注意的是，能够在擦除记录信息之后，测量测试记录区域105中的反射光能级R2的能级。
为了在记录层3的信息记录区域103中记录用户数据，测试记录区域102中确定的临时脉冲条件被用于记录。即，临时脉冲条件变成最终脉冲条件。
此外，为了在记录层5上的信息记录区域106中记录用户数据，用导入区域104中的基准反射光能级R1、测试记录区域105中的反射光能级R2和校正系数α，校正测试记录区域105中确定的临时脉冲条件的激光束强度，以便获得用于记录的最终脉冲条件。
具体地说，用导入区域104和测试记录区域105中的反射光能级R1和R2校正临时脉冲条件的激光束能级，以便确定有效脉冲条件，以补偿由于测试记录区域102的已完成状态造成的透射率变化的影响。此外，用校正系数α校正有效脉冲条件的激光束强度，以便获得用于记录的最终脉冲条件。
这里，有效脉冲条件代表记录层3未被记录的状态中的记录层5的最佳脉冲条件。记录层5的反射光能级与记录层3的透射率的平方成正比。此外，记录层5的最佳激光束强度与记录层3的透射率成反比。因此，如果测试记录区域105中确定的临时脉冲条件的激光束强度是P0，则有效脉冲条件的激光束强度由下式给出。
P0×(R2/R1)^(1/2)此外，信息记录区域106中的用于记录用户数据的最终脉冲条件的激光束强度由下式给出。
P0×(R2/R1)^(1/2)×α需要注意，校正系数α不限于由公式α＝T1/T2给出的值。还可以定义为当在记录层3为非记录状态即大透射率状态的最终脉冲条件下，在记录层5中记录信息时，使重现信号的质量满足特定标准。
例如，如果最小抖动值的激光强度是P1，以及小于基准值J1的抖动值的最大激光强度是P2，则类似图7所示的用于记录的激光脉冲的强度与重现信号的抖动之间的关系，可以在如下所示的范围内确定校正系数αP1×α＜P2此外，如果最终脉冲条件的激光束强度大于重现信号质量满足示教操作中的特定条件的有效脉冲条件的激光束强度，则最好在激光束强度接近最大值的脉冲条件下记录用户数据。
例如，如果最小抖动值的激光强度是P1、小于基准值J1的抖动值的最大激光束强度是P2以及最终脉冲条件的激光强度大于P2，则类似图8所示的通过真实示教操作而获得的有效脉冲条件与重现信号的抖动之间的关系，最好把用于记录的激光强度设置到接近P2的值。
(效果)如上所述，通过在记录层5的测试记录区域105中的示教操作而获得的脉冲条件(临时脉冲条件)的激光束强度，利用导入区域104中的基准反射光能级R1和测试记录区域105中的反射光能级R2来校正，所以可以获得总是恒定的脉冲条件(有效脉冲条件)，并且不受测试记录区域102中的记录状态与非记录状态之间的透射率差值影响。
另一方面，记录层3不受记录层5的记录状态影响，因为它比记录层5更接近激光束入射侧。因此，在记录层3的测试记录区域102中的示教操作中获得恒定脉冲条件。
此外，当在记录层5的信息记录区域106中记录用户数据时，通过使用校正系数α可以补偿由于记录层3的已完成状态造成的记录层5的记录灵敏度的降低，所以可以正确记录用户数据。
如上所述，即使记录层的激光束透射率根据信息是否被记录而变化，可以不管示教操作的每个记录层的信息记录状态而确定正确的脉冲条件，并且可以正确地记录用户数据。
(变化)需要注意，还可以在与导入区域104分离设置的反射基准区域中执行记录层5的基准反射光能级的测量。在此情况下，导入区域可以被设置在记录层3上或者设置在记录层5上。此外，可以通过凸起凹坑来记录导入区域的信息。
此外，在示教操作中，通过执行测试记录并同时改变记录和重现条件以及将重现信号的测量结果进行相互比较，可以确定最佳脉冲条件。作为选择，可以使用更简单的方法确定临时脉冲条件。更简单方法之一是，例如在任何时候将重现信号质量的测量结果与预定条件进行比较。当测量结果满足预定条件时，此时的脉冲条件被视为临时脉冲条件。在此情况下，最好通过测量重现信号的抖动值(相对于是基准信号的时钟改变重现信号的位置)、数据的差错率、重现信号的振幅或者调制深度，来测量重现信号质量。
另外，尽管当记录信息时记录层3的透射率降低的情况已经在该实施例中说明，但是在记录信息时增加记录层3的透射率情况下也可以获得相同效果。这里，如果最终脉冲条件的激光束强度小于有效脉冲条件的激光束强度的最小值，以使重现信号质量满足示教操作中的一定条件，则最好在把激光束强度设置到接近最小值的值的脉冲条件下记录用户数据。
此外，能够在记录介质上记录透射率变化信息，而不是记录校正系数α。投射变化信息指示当信息被记录在记录层3上时透射率是降低还是增加。通过读取该透射率变化信息，可以判定当信息被记录在记录层3上时透射率是降低还是增加。
根据该信息，利用有效脉冲条件，即激光束强度被设置到接近最大值的值，以使记录层5的测试记录信号质量满足具有增加透射率的介质的预定条件，来记录用户数据；同时利用有效脉冲条件，即激光束强度被设置到接近最小值的值，以使记录层5的测试记录信号质量满足具有降低透射率的介质的预定条件，来记录用户数据。
因而，当在记录层5的信息记录区域106中记录用户数据时，可以补偿由于记录层3的已完成状态造成的记录层5的记录灵敏度的变化，所以可以正确地记录用户数据。
需要注意，最好测量信号质量满足预定判决标准的部分的反射光能级，所述部分是当在信号被记录的测试记录区域中测量反射光能级时，以适当脉冲条件记录信息的部分。
(第二实施例)(结构和操作)图3是显示根据本发明第二实施例应用记录和重现信息的方法的光信息记录介质的一个实例的剖面图。如图3所示，记录介质11包括由厚度约为1.1mm的聚碳酸酯制成的基板18。在该基板上顺序地构成第一记录层17、厚度约为0.02mm的透明分隔层16、厚度约为100nm的是半透明层的第二记录层15、厚度约为0.02mm的透明分隔层14、厚度约为100nm的半透明层的第三记录层13、以及厚度约为0.06mm的保护膜12。记录层13、15和17在约为0.32μm的间距上设有多个深度约20nm和宽度约0.2μm的信息轨迹(未示出)，当记录和重现信息时，该信息轨迹用于跟踪激光束7。从记录层13的一侧照射激光束7。
记录层13、15、17的每一个包括用于重现目的的导入区域101、114或者117，它们被设置在相距中心约为22-23mm范围之内的径向位置上，通过在信息轨迹上颤动，记录介质的标识信息或者类似信息；测试记录区域112、115或者118，被设置在相距中心约23-24mm范围之内的径向位置上，用于确定最佳脉冲条件的示教操作；和信息记录区域113、116或者119，被设置在相距中心约为24-58mm范围之内的径向位置上，用于记录用户数据。
记录层13和15具有多层薄膜结构，类似图2所示的记录层3，并且当记录信息时记录层的透射率降低。记录层17具有多层薄膜结构，类似图2所示的记录层5。
在导入区域117中，记录有当信息被记录在记录层15上时指示记录层15的透射率降低的校正系数α1；当信息被记录在记录层13上时指示记录层13的透射率降低的校正系数α2；当信息被记录在记录层13和15上时指示记录层13和15的透射率降低之和的校正系数α3。例如，校正系数α1由下式定义。
α1＝T11/T12其中，例如，T11代表记录信息之前的记录层15的透射率，T12代表记录信息之后的记录层15的透射率。
校正系数α1和α2与分别指示记录层15和13的记录层指定信息一起被记录。校正系数α3与指示记录层13和15的记录层指定信息一起被记录。
当用户数据被记录在记录介质11上时，指示信息已经被记录的多个记录层的已完成记录层信息被记录在信息记录区域119的特定位置中。例如，已完成记录层信息是三比特信息β。如果只是记录层17已经有已完成信息的记录，则β是二进制“100”。如果记录层17和16已经有已完成信息的记录，则β是二进制“110”。如果所有记录层已经有已完成信息的记录，则β是二进制“111”。
当信息被再次记录在记录介质11上时，记录和重现装置在其被激活时，在导入区域114和117中测量基准反射光能级R11和R21，并且读取校正系数α1、α2和α3以及已完成记录层信息β。
此外，类似第一实施例，在执行测试记录的同时，改变记录层13的测试记录区域112、115和118中的脉冲条件。然后执行示教操作，以依据重现信号质量的测量结果确定临时脉冲条件。
此外，当执行示教操作时，测量测试记录区域115和118的反射光能级R12和R22。
当用户数据被记录在记录层13的信息记录区域113时，测试记录区域112中确定的临时脉冲条件被用于记录。即，临时脉冲条件变成最终脉冲条件。
当用户数据被记录在记录层15的信息记录区域116中时，用导入区域114中的基准反射光能级R11、测试记录区域115中的反射光能级R12和校正系数α2，如果需要的话，校正测试记录区域115中确定的临时脉冲条件的激光束强度，以便获得用于记录的最终脉冲条件。
具体地说，用导入区域114和测试记录区域115中的反射光能级R11和R12校正临时脉冲条件的激光束能级，以便确定有效脉冲条件，以补偿由于测试记录区域112的已完成状态造成的透射率变化的影响。此外，依据已完成记录层信息判定记录层13是否已经完成。如果记录层13还没有完成，则测试记录区域115中确定的有效脉冲条件被用于记录。即有效脉冲条件变成最终脉冲条件。另一方面，如果记录层13已经具有已完成的记录，则用校正系数α2校正有效脉冲条件的激光束强度，以便获得用于记录的最终脉冲条件。
这里，有效脉冲条件是指当记录层13没有已完成的记录时，记录层15的最佳脉冲条件。记录层5的反射光能级与记录层13的透射率的平方成正比。此外，记录层15的最佳激光束强度与记录层13的透射率成反比。因此，当测试记录区域115中确定的临时脉冲条件的激光束强度由P10代表时，有效脉冲条件的激光束强度由下式给出。
P10×(R12/R11)^(1/2)
此外，当用户数据被记录在信息记录区域116时的最终脉冲条件的激光束强度由下式给出。
P10×(R12/R11)^(1/2)×α2当用户数据被记录在记录层17的信息记录区域119时，用导入区域117中的基准反射光能级R21、测试记录区域118中的反射光能级R22和校正系数α1-α3，如果需要的话，校正测试记录区域118中确定的临时脉冲条件的激光束强度，以便获得用于记录的最终脉冲条件。
具体地说，用导入区域117和测试记录区域118中的反射光能级R21和R22校正临时脉冲条件的激光束能级，以便通过补偿由于测试记录区域112的已完成状态造成的透射率变化的影响，获取有效脉冲条件。此外，依据已完成记录层信息判定记录层13和15是否已经完成信息记录。
如果记录层13和15中的每一个还没有完成记录，则测试记录区域118中获得的有效脉冲条件被用于记录。即，有效脉冲条件变成最终脉冲条件。这里，有效脉冲条件是指当记录层13和15没有完成记录时的用于记录层17的最佳脉冲条件。当测试记录区域118中确定的临时脉冲条件的激光束强度是P20时，有效脉冲条件的激光束强度由下式给出P20×(R22/R21)^(1/2)此外，只要记录层13已经完成记录，就用校正系数α2校正有效脉冲条件的激光束强度，并且用下式给出的激光束强度的最终脉冲条件记录信息P20×(R22/R21)^(1/2)×α2只要记录层15已经完成记录，就用校正系数α1校正有效脉冲条件的激光束强度，并且用下式给出的激光束强度的最终脉冲条件记录信息P20×(R22/R21)^(1/2)×α1如果记录层13和15都已经完成记录，就用校正系数α3校正有效脉冲条件的激光束强度，并且用下式给出的激光束强度的最终脉冲条件记录信息P20×(R22/R21)^(1/2)×α3
(效果)如上所述，通过在记录层15的测试记录区域115中的示教操作而获得的脉冲条件(临时脉冲条件)的激光束强度，利用导入区域117中的基准反射光能级R11和测试记录区域115中的反射光能级R12来校正，所以可以获得恒定的脉冲条件(有效脉冲条件)，并且不受测试记录区域112中的记录状态与非记录状态之间的透射率差值影响。
另外，通过在记录层15的测试记录区域115中的示教操作而获得的脉冲条件(临时脉冲条件)的激光束强度，利用导入区域117中的基准反射光能级R21和测试记录区域118中的反射光能级R22来校正，所以可以获得恒定的脉冲条件(有效脉冲条件)，并且不受测试记录区域112和115中的记录状态与非记录状态之间的透射率差值影响。
此外，当用户数据被记录在记录层15和17的信息记录区域中时，可以从校正系数α1、α2和α3的组中选择对应于已完成记录层信息的校正系数。因而，可以通过使用校正系数补偿因在记录层13和15上记录信息造成的记录层15和17的记录灵敏度降低，所以可以记录用户数据。
如上所述，即使记录层的激光束透射率由于记录层上的信息的记录或未纪录状态而导致变化，也可以确定正确的脉冲条件而与示教操作的每个记录层的信息的记录状态无关，于是可以正确地记录用户数据。
(变化)需要注意，还可以在与导入区域分离设置的反射基准区域中测量记录层15和17的基准反射光能级的测量。在此情况下，导入区域可以被设置在一个记录层。此外，可以通过凸起凹坑记录导入区域的信息。
此外，尽管记录层的数量在该实施例中为三个，但是显然，如果记录层的数量是两个、四个或者等多，也可以获得相同的效果。
此外，当在信号被记录的区域中测量测试记录区域中的反射光能级时，最好是测量信号质量满足预定判决标准的部分的反射光能级，即，所述部分是当用合适的脉冲条件记录信息的部分。
此外，在示教操作中，通过执行测试记录并同时改变记录和重现条件以及将多个重现信号的测量结果进行相互比较，可以确定最佳脉冲条件，或者通过一个更简单的方法确定临时脉冲条件。更简单方法之一是，例如在任何时候将重现信号质量的测量结果与预定条件进行比较，并且当测量结果满足预定条件时，把此时的脉冲条件视为临时脉冲条件。在此情况下，最好通过测量重现信号的抖动值(相对于是基准信号的时钟改变重现信号的位置)、数据的差错率、重现信号的振幅或者重现信号的调制深度，来测量重现信号质量。
(第三实施例)(结构)图4是显示根据本发明的记录和重现装置的一个实施例的结构的方框图，其中显示了装备具有多个如图3所示的记录层的光信息记录介质11的状态。
图4中所示的记录和重现装置包括记录介质被放在其上以用于旋转的主轴电动机402；控制器403；将待记录的数据转换成记录信号的调制器404；激光驱动电路405，根据记录信号驱动半导体激光器；具有半导体激光器的光学头401，用于把激光束聚光到介质上，以便记录信息并从反射光获得重现信号；前置放大器406，用于放大重现信号，以便产生反射光能级信号406A；信息重现信号406S和406P；聚焦误差信号406F和跟踪误差信号406T；反射光能级测量电路418，用于测量反射光能级信号406A的反射光能级；反射光能级存储电路419，用于存储已测量的反射光能级；二进制电路420，用于把信息重现信号406P转换成二进制信号；标识信息解调电路421，用于把二进制信号解调成标识信息；二进制电路407，用于把信息重现信号406S转换成二进制信号；数据解调电路408，用于把二进制信号解调成数据；信号质量判定电路409，用于判定作为记录介质11的测试记录区域中特定数据的测试记录信号的记录信号的重现信号质量；脉冲条件存储电路412，用于存储通过示教操作获得的最佳记录条件；校正系数存储电路410，用于存储校正系数，该校正系数指示依赖于从介质11读出的记录状态的记录层透射率差值；已完成记录层信息存储电路411，用于存储从记录介质11读出的已完成记录层信息；脉冲条件设置电路413，用于根据记录条件、已完成记录层信息和校正系数控制激光脉冲；聚焦控制电路414，用于根据聚焦误差信号406F控制光学头401，使激光束被聚焦在记录介质11的目标记录层上；跟踪控制电路415，用于根据跟踪误差信号406T控制光学头401，使激光束适当地跟踪记录介质11上的轨迹；像差控制电路416，用于控制光学头401，使激光束的球面光行差在记录或者重现信息的记录层上变得最小；移动部分417，用于沿记录介质11的径向方向移动光学头401。
这里通过被称作散焦方法或类似方法的一般方法产生聚焦误差信号406F。通过被称作推挽方法或者类似方法的一般方法产生跟踪误差信号406T。
请注意，通过将记录介质11的记录层13、15或者17的相变层(未示出)局部地从结晶态改变成非静态记录信号，以便形成标记。此外，记录层13、15、17具有以下特征对于相变层的结晶态，反射光能级高；对于相变层的非结晶态，反射光能级低。
在上述结构中，信号质量判定电路409和控制器403构成测试记录单元，以用于在是多个记录层的至少一个记录层的测试记录层中执行测试记录，以便确定包括激光束强度的临时脉冲条件。特别是，信号质量判定电路409构成用于估算重现信号的信号质量估算单元，控制器403构成临时脉冲条件设置单元。此外，反射光能级测量电路418构成从记录层测量激光束反射光能级的反射光能级测量单元。此外，控制器403构成确定最终脉冲条件的最终脉冲条件确定单元。数据解调电路408构成获取校正系数的校正系数获取单元，获取已完成记录层信息的已完成记录层获取单元，和获取指示激光束透射率降低或增加的透射率改变信息的透射率改变信息获取单元。
(记录和重现方法)图5是显示利用图4所示的记录和重现装置的记录和重现方法的流程图，将参照图3进行说明。
(1)首先，在步骤S501中，控制器403激活记录和重现装置。特别是，旋转被放置在主轴电动机402上的记录介质11，然后光学头401把用于重现信息的激光束照射在记录介质11上。此外，驱动聚焦控制电路414和跟踪控制电路415，以使激光束被聚焦在记录层17上，访问导入区域117，并使激光束跟踪信息轨迹。因而，可以从导入区域117中读出标识信息、已完成记录层信息、记录介质11的校正系数以及其它信息。此外，测量导入区域117的基准反射光能级R21。
这里，通过以下方式执行标识信息和其它信息的读取二进制电路420将光学头401从记录介质11的反射光获得的信息重现信号406P转换成二进制信号，标识信息解调电路421对该二进制化信号进行解调，并将其发送到控制器403中。反射光能级测量电路418通过测量反射光能级信号406A执行基准反射光能级的测量，并将其发送到控制器403中。
此外，按照与测量基准反射光能级R21的相同方式，测量记录层15的导入区域114中的基准反射光能级R11。
控制器403把已完成记录层信息、校正系数、基准反射光能级分别存储到已完成记录层信息存储电路411、校正系数存储电路410和反射光能级存储电路419中。
(2)在下一个步骤S502中，通过确定临时脉冲条件执行示教操作。示教操作是根据以下过程执行的。
首先，控制器403移动光学头401以访问记录层17上的测试记录区域118。控制器403把脉冲条件设置电路413设置到预定的特定条件或者设置到由标识信息指定的条件。
然后调制器404把从用于示教操作的控制器403传送的特定数据(用于测试记录的数据)转换成激光驱动信号。激光驱动电路405根据激光驱动信号驱动设置在光学头401上的半导体激光器。光学头401使半导体激光器发光，并且将光聚光在记录介质11上，以把测试信号记录在测试记录区域118中。
前置放大器406和二进制电路407重现测试记录数据。此外，信号质量判定电路409测量重现信号的抖动值(相对于时钟即基准的重现信号位置的变化量)并将其与用于判定信号质量的预定判定标准进行比较。
当抖动值满足判定标准时，示教结果被发送给控制器403，然后结束示教操作。
如果抖动值不满足判定标准，则控制器403顺序改变脉冲条件设置电路413的脉冲条件，以便判定特定数据的测试记录和测试记录数据的信号质量。该工作重复至抖动值满足判定标准，以便作为测试记录区域118中的最佳记录条件获得临时脉冲条件。
此外，反射光能级测量电路418测量测试记录区域118中的反射光能级R22，并且将测量结果存储到反射光能级存储电路419中。图9显示了在测试记录区域获得的反射光能级信号的波形。在记录信号的区域中，获取这样一个信号，该信号在记录标记部分具有低反射光能级的强度，在标记间部分(实际上与未完成部分相同)具有高反射光能级的强度。通过测量图9中的能级RH获得测试记录区域118中的反射光能级R22。
相同过程用于记录层15和13，以便确定最佳记录条件和反射光能级。
(3)接下来，在步骤S503中，用导入区域和测试记录区域中的反射光能级校正在步骤S502通过示教操作获得的临时脉冲条件的激光束强度，以便确定有效脉冲条件。这里，有效脉冲条件是指在更接近激光束入射侧并处于未完成状态的记录层的测试记录区域中的最佳脉冲条件。
例如，当确定记录层15的有效脉冲条件时，记录层15的反射光能级与记录层13的透射率成正比。此外，记录层15上的最佳激光束强度与记录层15的透射率成反比。因此，当临时脉冲条件的激光束强度由P10代表，基准反射光能级由R11代表，测试记录区域115中的反射光能级由R12代表时，有效脉冲条件中的激光束强度可以从下式导出P10×(R12/R11)^(1/2)(4)接下来，在步骤S504中，把控制器403在步骤S503中获得的有效脉冲条件存储到脉冲条件存储电路412中。
(5)接下来，在步骤S505中，控制器403根据指定用户数据将被记录的记录层的目标记录层信息和已完成记录层信息从诸多校正系数中选择相应的校正系数。
例如，当在记录层17上记录用户数据时，根据在步骤S501中从判定记录介质11读出的校正系数α1-α3的已完成记录层信息，判定记录层13和15是否已经具有已完成的记录。这里，校正系数α1代表当信息被记录在记录层15上时记录层15的透射率降低。校正系数α2代表当信息被记录在记录层13上时记录层13的透射率降低。校正系数α3代表当信息被记录在记录层13和15上时记录层13和15的透射率之和的降低。如果记录层13和15二者没有已完成的记录，则不使用校正系数。如果只有记录层13具有已完成的记录，则选择校正系数α2。如果只有记录层15具有已完成的记录，则选择校正系数α1。如果记录层13和15都有已完成的记录，则选择校正系数α3。
(6)接下来，在步骤S506中，控制器403从有效脉冲条件和校正系数导出最终脉冲条件，将其置入脉冲条件设置电路413中，并把用户数据记录在信息记录区域中。这里，最终脉冲条件包括对应于待记录的标记的长度和间隔设置的激光脉冲的强度、长度和生成定时。需要注意的是，这里省略了对最终脉冲条件的详细解释，因为上述实施例已经对其进行了详细说明。
(7)在步骤S507中，控制器403把最后的已完成记录层信息记录在记录介质11的特定区域中或者记录在已完成记录层信息存储电路411中。
(效果)如上所述，通过使用校正系数可以补偿由于记录层13和15上用户数据的记录造成的记录层15和17的记录灵敏度的降低，所以可以正确地记录用户数据。
(变化)应当注意，已完成记录层信息能够包括已完成地址信息，该已完成用户地址信息用于指定用户数据被记录的已完成区域的位置。在此情况下，能够在记录新的用户数据之前读出已完成地址信息，因此可以根据选出的已完成区域的位置和记录用户数据的位置选择校正系数。
例如，假定当在记录层17中记录用户数据时，依据包含在步骤S501读出的已完成记录层信息，判定记录层15的所有区域已经具有已完成记录并且记录层13具有部分完成的记录。在此情况下，如果信息将要记录在记录层17上的位置对应于步骤S505中的记录层15上的已完成区域的位置，则选择校正系数α3。如果对应于记录层15的未完成区域的位置，则选择校正系数α1。
因而，即使前侧的记录层具有部分完成的记录，也可以根据已完成区域的位置与信息待记录的位置之间的关系可靠地补偿由于在前记录层上记录用户数据造成的记录灵敏度的降低。
此外，尽管在示教操作中重现测试记录数据，并且测量重现信号的抖动值以便在该实施例中确定脉冲条件，但是也能够通过测量重现信号的数据误差率或者振幅或者调制深度来确定脉冲条件。需要注意，当测量重现信号的振幅或者调制深度时，最好使用未二进制化的信息重现信息406S。
此外，在该实施例中结合图5所示的记录和重现方法的步骤不一定按上述顺序执行，而是可以按改变某些步骤位置的方式执行。
例如，步骤S501中的基准反射光能级的测量或者步骤S502中的反射光能级的测量可以在确定有效脉冲条件之前的步骤S503中执行。
此外，图4所示的方框图的各单元和硬件通常可以被实施为LSI。它们的每一个可以被分离地配置成单个芯片中，或者它们的某些或者全部可以被配置成单个芯片中。
例如，图4所示的控制器可以被单独配置成单个芯片或者与其它元件一起被配置成单个芯片。
也可以是IC、系统LSI、高级LSI、或者超级LSI，而不是LSI，这取决于集成度。
此外，制造集成电路的方法不限于LSI，也可以用专用电路或者通用处理器实现。也可以使用可以在制造LSI之后编程的现场可编程门阵列(FPGA)，或者使用可以重新配置LSI中各电路单元的连接或者设置的可重新配置处理器。
此外，如果半导体技术或者另外的导出型技术的发展，使集成电路的新技术替代LSI，则该技术可以用于集成这些功能块。此外，还能够利用生物技术应用。
(第四实施例)(结构和操作)下面将在本发明的方法应用于图3所示的光信息记录介质的情况下说明本发明第四实施例的记录和重现方法。
当在图3所示的记录介质11上记录信息时，记录和重现装置首先测量导入区域114和117中的基准反射光能级R11和R12。
然后，类似于第二实施例，执行示教操作。即，记录和重现装置执行测试记录并同时改变记录层13、15和17上的测试记录区域112、115和118中的脉冲条件。此外，重现测试记录信号，测量重现信号的质量，依据测量结果确定临时脉冲条件。此外，在示教操作期间，测量测试记录区域115和118中的反射光能级R12和R22。
当在记录层13的信息记录区域113中记录用户数据时，在测试记录区域112中获得的临时脉冲条件被用于记录。
当在记录层15的信息记录区域116中记录用户数据时，首先用导入区域114和测试记录区域115的反射光能级R11和R12校正在测试记录区域115中获得的临时脉冲条件的激光束强度，以便通过补偿由于测试记录区域112的已完成状态造成的透射率变化的影响，获得有效脉冲条件。这里，有效脉冲条件代表记录层13处于记录的未完成状态时，记录层15的最佳脉冲条件，该最佳脉冲条件是按照与第二实施例相同的方法确定的。接着，测量信息记录区域116中的反射光能级R13，并且用反射光能级R11和R13校正有效脉冲条件的激光束强度，以便通过补偿由于信息记录区域113的已完成状态造成的透射率变化的影响，确定最终脉冲条件。因此，可以用最终脉冲条件记录用户数据。
这里，当有效脉冲条件的激光束强度由P11代表时，按下式确定最终脉冲条件的激光束强度。
P11×(R11/R13)^(1/2)
当在记录层17的信息记录区域119中记录用户数据时，首先用导入区域117和测试记录区域118的反射光能级R21和R22校正在测试记录区域118中确定的临时脉冲条件的激光束强度，以便获得有效脉冲条件，其中补偿由于测试记录区域112的已完成状态造成的透射率变化的影响。这里，有效脉冲条件代表在记录层13和15没有已完成记录的状态中的记录层17的最佳脉冲条件，该最佳脉冲条件是按照与第二实施例相同的方式确定的。接着，测量信息记录区域119中的反射光能级R23，并且用反射光能级R21和R23校正有效脉冲条件的激光束强度，以便通过补偿由于信息记录区域113和115的已完成状态造成的透射率变化的影响，获得最终脉冲条件。因此，可以用最终脉冲条件记录用户数据。
这里，当有效脉冲条件的激光束强度由P21代表时，按下式确定最终脉冲条件的激光束强度。
P21×(R21/R23)^(1/2)应当注意到，通过测量在记录一个信号的区域之间的标记间位置上的反射光能级RH或者测量结合图9如上所述的未完成位置中的反射光能级，获得测试记录区域和信息记录区域中的反射光能级。
(效果)如上所述，通过利用导入区域114中的基准反射光能级R11和测试记录区域115中的反射光能级R12，校正在记录层15上的测试记录区域115中示教操作所获得的脉冲条件(临时脉冲条件)的激光束强度，可以获得不受测试记录区域112中记录状态与非记录状态之间透射率差值影响的恒定脉冲条件(有效脉冲条件)。
此外，当在信息记录区域116中记录用户数据时，用导入区域114和信息记录区域116中的反射光能级R11和R13校正激光束强度，以便利用校正系数补偿由于记录层13的信息记录造成的记录层15的记录灵敏度的降低，因而可以正确记录用户数据。
此外，用导入区域117中的基准反射光能级R21和测试记录区域118中的反射光能级R22，校正通过在记录层17的测试记录区域118中示教操作获得的脉冲条件(临时脉冲条件)的激光束强度，所以可以获得不受测试记录区域112和115中记录状态与非记录状态之间透射率差值影响的恒定脉冲条件(有效脉冲条件)。
此外，当在信息记录区域119中记录用户数据时，用导入区域117和信息记录区域119中的反射光能级R21和R23校正激光束强度，以便可以用校正系数补偿由于记录层13和15的信息记录造成的记录层17的记录灵敏度的降低，因而可以正确记录用户数据。
(变化)应当注意，可以在与导入区域分离设置的反射基准区域中执行记录层15和17的基准反射光能级的测量。在此情况下，导入区域可以仅仅被设置在一个记录层上。此外，导入区域的信息可以被记录为凸起凹坑。
此外，尽管该实施例中的记录层的数量为三个，但是，如果记录层的数量是两个、四个或者更多，也可以获得相同的效果。
此外，如果在记录信息的区域中测量测试记录区域的反射光能级，最好是测量信号质量满足预定判定标准的部分的反射光能级，即，该部分是适当脉冲条件被用于记录的部分。
此外，可以在擦除记录信号后执行测试记录区域和信息记录区域中的反射光能级的测量。
此外，最好在用户数据记录期间以预定时间间隔或者预定径向位置间距执行信息记录区域中的反射光能级的测量，或者记录用户数据之前以预定径向位置间距执行该测量。
(第五实施例)(结构和操作)下面将在本发明的方法应用于图1和图2所示的光信息记录介质的情况下说明本发明第五实施例的记录和重现方法。
当在图1所示的导入区域104中，预先记录通过记录信息在记录层3上记录信息时的激光束强度的最大值。选择该激光束强度的最大值，以便使由于信息记录造成的记录层3的透射率变化量变得低于特定值。
当使用记录介质1时，记录和重现装置被激活，并且读出被存储在导入区域104中的激光束强度的最大值。接着执行测试记录，并同时改变脉冲条件，该脉冲条件包括记录层5的测试记录区域105中的激光束的强度、长度和生成定时。然后，执行示教操作，以依据重现信号的质量确定最佳脉冲条件。此外，在不超过激光束强度的最大值的范围之内，在记录层3的记录区域102中执行示教操作。
当在记录层3上的信息记录区域103以及记录层5上的信息记录区域106中记录用户数据时，将测试记录区域102中确定的脉冲条件和测试记录区域105中确定的脉冲条件分别用于记录。
(效果)记录层3的透射率的变化正比于图2所示的相变层202的结晶部分的区域与非结晶部分的区域的比值。即，记录标记变得越大，非记录状态与记录状态之间的透射率差值就越大。
因此，通过把用于记录的激光束强度设置到低于预定值的值，可以抑制过大的记录标记所造成的透射率的变化，所以可以减少在记录层5上记录和重现时的影响。
例如，假设当相变层202的整个区域处于结晶态时，记录层3的透射率为50％，以及当相变层202的整个区域处于非结晶态时，记录层3的透射率为40％。假如记录标记的宽度基本上与径向方向的标记之间的宽度相同，以及当在适当的脉冲条件下通过标记长度记录方法记录信息时，非结晶态中的部分的区域近似整个区域的四分之一，记录层3的透射率变得如下所示。
40％×1/4+50％×3/4＝47.5％即，当用适当脉冲条件记录信息时，记录层3的透射率的降低如下所示。
50％-47.5％＝2.5％与此相反，当利用该适当脉冲条件1.6倍的激光束强度记录信息时，非结晶态部分的区域将是用适当脉冲条件记录信息时的区域的1.6倍。然后，它变成整个区域的近似1.6/4。因此，此情况下的记录层的透射率变成如下所示。
40％×1.6/4+50％×2.4/4＝46％即，当用适当脉冲条件记录信息时，记录层3的透射率的降低如下所示。
50％-46％＝4％因此，如果记录层3的透射率的可允许降低为记录层5上的信息记录和重现的4％，则用于记录的激光束强度的最大值被设置到适当激光束强度1.6被的值。
(变化)应当注意，尽管在该实施例中，测试记录区域被安排在测试记录区域102的径向位置的记录层5上，但是通过设置只重现区域或者信息记录区域，也可以得到相同效果。另外，记录层的数量可以是三层或更多。
此外，可以在记录介质的特定区域中存储计算最大值的信息，而不是存储用于记录信息的激光束强度的最大值，所以可以从该信息和测试记录的结果导出最大值。确定最大值的方法不限于此。例如，存在某些方法，包括通过把预定系数乘到激光束强度上，使重现信号的强度变成测试记录中的预定值，从而计算最大值的方法。在另一种方法中，通过把预定系数乘到激光束强度上，使重现信号强度对激光束强度的变化比变成预定值，从而计算最大值。
此外，在第一至第四实施例的每个实施例中，可以通过使结晶态的记录层变成部分非结晶，或者通过使非结晶态的记录层变成部分结晶，形成记录标记。此外，记录介质不限于可以重写信息的可擦除型介质，而是可以上一次写入多次读取型的记录介质。
(补充)(补充1)一种光信息记录介质的记录和重现方法，所述光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除信息的多个记录层，该方法包括步骤对于至少一个记录层在光信息记录介质的特定位置上预先记录校正系数，该校正系数指示比记录层更接近激光束入射侧的记录层的记录状态与非记录状态之间的激光束透射率的差值；以及在至少一个记录层上，通过测试记录确定包括激光脉冲的强度的临时脉冲条件，测量测试记录区域中的未完成部分、标记间部分和信息擦除部分之一的反射光能级，测量比不同于执行测试记录或者信息记录的区域的径向位置的记录层更接近激光束入射侧的记录层上的基准反射光能级，依据测试记录区域中的临时脉冲条件的反射光能级和基准反射光能级，计算有效脉冲条件，利用有效脉冲条件和校正系数确定最终脉冲条件，和用最终脉冲条件记录用户数据。
(补充2)根据补充1的记录和重现方法，其中如果一个未完成区域未留在记录用户数据的任何记录层中，则为该记录连续地完成另一个的记录层，该方法还包括以下步骤利用校正系数和记录层指定信息，把目标记录层信息与校正系数一起预先记录在光信息记录介质的特定位置中，其中所述目标记录层信息用于指定执行用户数据记录的记录层，记录层指定信息用于指定比目标记录层信息指示的记录层更接近激光束入射侧的诸多记录层之一；把已完成记录层信息记录在光信息记录介质的特定位置中，其中所述已完成记录层信息用于指定已经记录用户数据的记录层。
在记录新的用户数据之前读出已完成记录层信息；选择与待记录信息的记录层一致的与目标记录层信息一起记录的校正系数，和选择与已完成记录层信息一致的记录层指定信息；和利用有效脉冲条件和已选择的校正系数确定最终脉冲条件。
(补充3)根据补充2所述的记录和重现方法，其中根据从光信息记录介质读出的已完成记录层信息，判定比待记录用户数据的记录层更接近激光束入射侧的每个记录层是否已经具有已完成的记录，并且对应于已经具有已完成记录的层选择校正系数。
(补充4)根据补充1的记录和重现方法，还包括以下步骤利用校正系数和记录层指定信息，把目标记录层信息与校正系数一起预先记录在光信息记录介质的特定位置中，其中所述目标记录层信息用于指定执行用户数据记录的记录层，记录层指定信息用于指定比目标记录层信息指示的记录层更接近激光束入射侧的一个记录层；把已完成记录层信息记录在光信息记录介质的特定位置中，其中所述已完成记录层信息指定已经记录用户数据的记录层并且包括用于指示记录层中已完成区域的已完成地址信息；在记录新的用户数据之前读出已完成记录层信息；选择与待记录信息的记录层一致的与目标记录层信息一起存储的校正系数，和选择与已完成记录层信息一致的记录层指定信息；和利用有效脉冲条件和已选校正系数确定最终脉冲条件。
(补充5)根据补充4所述的记录和重现方法，还包括以下步骤依据从记录介质读出的已完成地址信息判定已完成记录层的已完成区域的位置，并且根据已完成区域的位置和待记录新的用户数据的位置选择校正系数。
(补充6)一种光信息记录介质的记录和重现方法，所述光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除信息的多个记录层，该方法包括步骤在至少一个记录层上通过测试记录确定包括激光束脉冲的强度的临时脉冲条件，测量测试记录区域中的未完成部分、标记间部分和信息擦除部分之一的反射光能级，在不同于执行测试记录或者信息记录的区域的径向位置上，测量比记录层更接近激光束入射侧的记录层的基准反射光能级，
依据测试记录区域中的临时脉冲条件的反射光能级和基准反射光能级，计算有效脉冲条件，测量记录用户数据的信息记录区域的反射光能级，根据有效脉冲条件、信息记录区域中的反射光能级和基准反射光能级，确定最终脉冲条件；和用最终脉冲条件记录用户数据。
(补充7)根据补充6的记录和重现方法，其中在记录用户数据期间以预定时间间隔或者预定径向位置间距测量信息记录区域中的反射光能级。
(补充8)一种光信息记录介质的记录和重现方法，所述光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除信息的多个记录层，并且具有由于至少一个记录层上信息记录造成的激光束透射率的降低或增加，该方法包括步骤执行测试记录，同时至少改变比记录层相距激光束入射侧更远的记录层上的激光束强度；重现测试记录信号；通过测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和误差率，估算重现信号的质量。
把临时脉冲条件的激光束的强度设置到接近最大值的值，使信号质量满足激光束入射侧上的具有记录层的介质的预定标准，其中当在比测试记录层更接近激光入射侧的记录层上记录数据时降低其激光束透射率；把临时脉冲条件的激光束的强度设置到接近最小值的值，使信号质量满足激光束入射侧上的具有记录层的介质的预定标准，其中当在比测试记录层更接近激光入射侧的记录层上记录数据时增加其激光束透射率；测量测试记录区域的未完成部分、标记间部分和信息擦除部分之一的反射光能级；测量一个记录层上的基准反射光能级，该记录层比不同于执行测试记录或者信息记录的区域的径向位置上的记录层更接近激光束入射侧；依据测试记录区域的临时脉冲条件的反射光能级和基准反射光能级，确定最终脉冲条件；用最终脉冲条件记录用户数据。
(补充9)根据补充8的记录和重现方法，还包括以下步骤预先记录透射率变化信息，该信息指示当在记录介质的记录层上记录信息时记录层的透射率降低还是增加；读出透射率变化信息，以便判定当在该记录层上记录信息时透射率沿哪个方向变化。
(补充10)一种光信息记录介质的记录和重现方法，所述光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除信息的多个记录层，并且具有由于至少一个记录层上信息记录造成的激光束透射率的降低或增加，该方法包括步骤把指示至少一个记录层上的记录信息的激光束强度的最大值的信息或者用于计算最大值的信息预先记录在光信息记录介质的特定位置上；在小于最大值的激光束强度的范围内执行测试记录，以便确定脉冲条件；和用测试记录所确定的脉冲条件记录用户数据。
(补充11)一种具有多个记录层的光信息记录介质的记录和重现装置，通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除信息，该装置包括反射光能级测量单元，用于测量来自记录层的反射光能级；存储已测量的反射光能级的反射光能级存储单元；存储校正系数的校正系数存储单元，该校正系数指示记录层的记录状态与非记录状态之间的激光束透射率的差值；存储已完成记录层信息的已完成记录层信息存储单元，该已完成记录层信息指定用户数据已经被记录的记录层；脉冲条件设置单元，用于控制包括记录信息的激光束强度的脉冲条件；信号质量判定单元，用于判定重现信号的质量；以及控制整个装置的控制器，其中控制器利用测试记录的结果、测试记录区域的反射光能级、成为基准的反射光能级、已完成记录层信息和校正系数判定记录用户数据的脉冲条件。
(补充12)根据补充11的记录和重现装置，其中控制器选择与待记录信息的记录层一致的目标记录层信息一起存储的校正系数，和与系数间的已完成记录层信息一致的记录层指定信息，并且利用所选择的校正系数判定用于记录用户数据的脉冲条件。
(补充13)根据补充11的记录和重现装置，其中控制装置根据从光信息记录介质读出的已完成记录层信息，判定比待记录用户数据的记录层更接近激光束入射侧的每个记录层是否已经具有已完成的记录，并且选择与已经具有已完成记录的记录层对应的校正系数。
(补充14)根据补充11的记录和重现装置，其中已完成记录层信息包括指示记录层上的已完成区域的位置的已完成地址信息；(补充15)根据补充14的记录和重现装置，其中控制器根据从记录介质读出的已完成地址信息判定记录层的已完成区域的位置，并且根据已完成区域的位置和待记录新的用户数据的位置选择校正系数。
(补充16)根据补充11的记录和重现装置，其中信号质量判定单元测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和误差率之一，以便估算信号的质量。
(补充17)根据补充11的记录和重现装置，其中脉冲条件包括对应于待记录的标记得长度和/或间隔设置的激光脉冲的强度、长度和生成定时。
(补充18)一种具有多个记录层的光信息记录介质的记录和重现装置，通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除信息，该装置包括反射光能级测量单元，用于测量来自记录层的反射光能级；存储已测量的反射光能级的反射光能级存储单元；脉冲条件设置单元，用于控制包括记录信息的激光束强度的脉冲条件；信号质量判定单元，用于判定重现信号的质量；以及控制整个装置的控制器，其中控制器执行测试记录并同时改变激光束的强度；重现测试记录信号；估算重现信号的质量；把临时脉冲条件的激光束的强度设置到接近最大值的值，使信号质量满足介质的预定标准，其中当记录信息时比记录层更接近激光入射侧的记录层的透射率降低；把临时脉冲条件的激光束的强度设置到接近最小值的值，使信号质量满足介质的预定标准，其中当记录信息时更接近激光入射侧的记录层的透射率增加；测量测试记录区域的反射光能级；测量径向位置中的反射光能级，该经向位置不同于在比记录层更接近激光束入射侧的记录层上执行测试记录或者信息记录的区域；依据临时脉冲条件，即测试记录区域的反射光能级和基准反射光能级，判定最终脉冲条件；用最终脉冲条件记录用户数据。
(补充19)根据补充18的记录和重现装置，其中信号质量判定单元测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和误差率之一，以便估算信号质量。
(补充20)根据补充18的记录和重现装置，其中脉冲条件包括对应于待记录的标记的长度和/或间隔设置的激光脉冲的强度、长度和生成定时。
(补充21)根据补充18的记录和重现装置，其中控制器从记录介质中读出透射率变化信息，并且判定当信息被记录在记录层上时透射率沿哪个方向变化，其中透射率变化信息指示当在记录层上记录信息时记录层的透射率是降低还是增加。
(关于补充的说明)为了实现上述目的，本发明的记录和重现信息的第一方法是光信息记录介质的记录和重现方法，所述光信息记录介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除信息的多个记录层。该方法包括对于至少一个记录层，在光信息记录介质的特定位置上预先记录校正系数，该校正系数指示比记录层更接近激光入射侧的记录层的记录状态与非记录状态之间的激光束透射率的差值；以及在至少一个记录层上，通过测试记录确定包括激光束强度的临时脉冲条件，测量测试记录区域中的反射光能级，测量比不同于执行测试记录或者信息记录的区域的径向位置的记录层更接近激光束入射侧的记录层的基准反射光能级，依据测试记录区域中的临时脉冲条件的反射光能级和基准反射光能级，计算有效脉冲条件，利用有效脉冲条件和校正系数确定最终脉冲条件，和用最终脉冲条件记录用户数据。
这样，不论每个记录层的信息的记录状态如何，都可以通过示教操作来正确确定脉冲条件，所以可以正确记录用户数据。
应当注意，能够把激光束的强度设置到不超过使测试记录信号的质量满足预定标准的最大值的范围的值，该值大于使信号质量对于一个介质的记录用户数据变成最佳的值，当在该介质中记录信息时，更接近激光束入射侧的记录层的透射率降低。
此外，能够把激光束的强度设置到不低于使测试记录信号的质量满足预定标准的最小值的范围的值，该值小于使信号质量对于一个介质的记录用户数据变成最佳的值，当在该介质中记录信息时，更接近激光束入射侧的记录层的透射率增加。
本发明的记录和重现信息的第二方法包括利用校正系数和记录层指定信息，把目标记录层信息与校正系数一起预先记录在光信息记录介质的特定位置中，其中所述目标记录层信息用于指定执行用户数据记录的记录层，记录层指定信息用于指定比目标记录层信息指示的记录层更接近激光束入射侧的诸多记录层之一；把已完成记录层信息记录在光信息记录介质的特定位置中，其中所述已完成记录层信息用于指定已经记录用户数据的记录层；在记录新的用户数据之前读出已完成记录层信息；选择与待记录信息的记录层一致的与目标记录层信息一起存储的校正系数，和选择与已完成记录层信息相同的记录层指定信息；利用有效脉冲条件和已选择的校正系数确定最终脉冲条件。
这样，能够判定比待记录用户数据的记录层更接近激光束入射侧的多个记录层中的哪些记录层已经具有已完成的记录，并且可以选择适合于记录状态的校正系数，以便可以确定更适当的脉冲条件。因此，可以更可靠地记录用户数据。
此外，还能够使用指定已经记录用户数据的结尾位置的已完成地址信息，而不是使用已完成记录层信息。
根据本发明的记录和重现信息的第三方法包括在至少一个记录层上，通过测试记录确定包括激光脉冲强度的临时脉冲条件，测量测试记录区域中的反射光能级，测量比不同于执行测试记录或信息记录的区域的径向位置上的记录层更接近激光束入射侧的一个记录层的基准反射光能级，依据测试记录区域中的临时脉冲条件的反射光能级和基准反射光能级计算有效脉冲条件，测量记录用户数据的信息记录区域的反射光能级，根据有效脉冲条件、信息记录区域中的反射光能级和基准反射光能级确定最终脉冲条件，用最终脉冲条件记录用户数据。
因而，不管每个记录层中的信息记录状态如何，都可以通过示教操作来正确地确定脉冲条件，所以能够正确记录用户数据。
此外，通过把记录层的记录信息的激光束强度的最大值记录在光信息记录介质的特定位置上，在小于最大值的激光束强度的范围内执行测试记录，并且用测试记录所确定的脉冲条件记录用户数据，能够抑止记录层的测试记录区域中的透射率的变化，以便降低对位于后侧的记录层的记录和重现的影响，本发明的记录和重现信息的方法和装置具有以下效果即使记录层的激光束透射率依据信息是否被记录在具有多个通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除信息的记录层而变化，但是通过示教操作可以获得校正脉冲条件，而不考虑每个记录层的信息的记录状态；并且能够正确记录用户数据。因而，有助于需要有大记录能力的信息记录装置或类似装置。
权利要求
1.一种在具有多个通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除数据的记录层的光信息记录介质上记录信息的方法，该方法包括步骤(a)通过在测试记录层上执行测试记录来确定包括激光束强度的临时脉冲条件，所述测试记录层是多个记录层中的至少一个记录层；(b)测量测试区域反射光能级，该能级是执行测试记录的一个区域中的激光束的反射光能级；(c)通过根据被测量的测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，来确定最终脉冲条件；(d)利用最终脉冲条件记录数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其中步骤(b)包括测量执行测试记录的区域的未用部分、标记间部分和信息擦除部分之一的反射光能级。
3.根据权利要求1或2所述的方法，还包括以下步骤(e)通过测量基准反射光能级来测量测试记录层中的激光束的反射光能级，该基准反射光能级是比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上未记录数据的经向位置上的反射光能级，其中步骤(c)包括通过根据基准反射光能级和测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，来确定最终脉冲条件。
4.根据权利要求3所述的方法，还包括以下步骤(f)获取校正系数，所述校正系数指示记录状态与非记录状态之间的激光束入射侧的记录层的激光束透射率的差值，其中步骤(c)包括通过根据校正系数、基准反射光能级和测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，来确定最终脉冲条件。
5.根据权利要求4所述的方法，其中步骤(f)包括通过读取预先记录在光信息记录介质的特定位置上的校正系数，来获取该校正系数。
6.根据权利要求4或5所述的方法，其中步骤(c)包括步骤(c1)通过根据基准反射光能级和测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，来确定包括当激光束入射侧上的记录层处在非记录状态时适当的激光束强度的有效脉冲条件；(c2)根据校正系数校正有效脉冲条件，以便确定最终脉冲条件。
7.根据权利要求4-6中的任何一项所述的方法，还包括以下步骤(g)从光信息记录介质读取已完成记录层信息，该已完成记录层信息指定一个已经记录数据的已完成记录层，其中步骤(f)是从光信息记录介质读取校正系数的步骤，校正系数对应于目标记录层信息，用于指定光信息记录介质的多个记录层之一；和记录层指定信息，用于指定比由目标记录层信息所指示的记录层更接近于激光束入射侧的诸多记录层之一，获取校正系数，该校正系数对应于指示执行数据记录的记录层的目标记录层信息，以及与已完成记录层信息一致的记录层指定信息。
8.根据权利要求7所述的方法，其中已完成记录层信息还包括指示已完成记录层中的已完成区域的位置的已完成地址信息。
9.根据权利要求8所述的方法，其中步骤(f)包括根据从光信息记录介质读取的已完成地址信息判定已完成记录层上的已完成区域的位置；以及根据已完成区域的位置和数据被记录的位置，选择校正系数。
10.根据权利要求3所述的方法，还包括以下步骤(h)测量用户区域反射光能级，该用户区域反射光能级是记录数据的信息信息记录区域中的激光束的反射光能级，其中步骤(c)包括根据用户区域反射光能级、基准反射光能级和测试区域反射光能级，校正临时脉冲条件，来确定最终脉冲条件。
11.根据权利要求10所述的方法，其中步骤(c)包括以下步骤(c3)根据基准反射光能级和测试区域反射光能级，校正临时脉冲条件，来确定有效脉冲条件，该有效脉冲条件包含当激光束入射侧上的记录层处于非记录状态时适当的激光束的强度；(c4)根据用户区域反射光能级和基准反射光能级校正有效脉冲条件，并且确定最终脉冲条件。
12.根据权利要求10或11所述的方法，其中步骤(h)包括在记录数据的同时以预定时间间隔测量用户区域反射光能级，或者在光信息记录介质上的每个预定的径向位置上测量用户区域反射光能级。
13.根据权利要求3所述的方法，其中步骤(a)包括以下步骤(a1)在改变测试记录层中激光束的强度的同时执行测试记录，重现测试记录信号，测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和差错率之一，并且估算重现信号的质量，(a2)把激光束的强度设置到接近最大值的值，其中，当在一个比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上记录数据时，该最大值使介质的重现信号的预定质量标准满足激光束透射率被降低的激光束入射侧上的记录层；把激光束的强度设置到接近最小值的值，其中，当在一个比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上记录数据时，该最小值使介质的重现信号的预定质量标准满足激光束透射率被增加的激光束入射侧上的记录层。
14.根据权利要求13所述的方法，还包括以下步骤(i)从光信息记录介质中读取透射率变化信息，透射率变化信息指示在记录层上记录数据时激光束透射率是增加还是降低。步骤(a2)包括获得透射率变化信息和判定透射率变化的趋势。
15.一种在具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层的光信息记录介质上记录信息的方法，包括以下步骤(j)从光信息记录介质读取激光束强度信息，该激光束强度信息指示在至少一个记录层上记录数据的激光束强度的最大值，或者用于计算最大值，(k)在一个小于从激光束强度信息获取的最大值的激光束强度的范围之内执行测试记录，(l)利用根据测试记录所确定的脉冲条件记录数据。
16.一种记录信息的装置，用于在具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层的光信息记录介质上记录信息，包括测试纪录单元，通过在测试记录层上执行测试记录，可操作地确定包括激光束强度的临时脉冲条件，所述测试记录层是多个记录层的至少一个记录层；反射光能级测量单元，可操作地测量来自记录层的激光束的反射光能级；最终脉冲条件确定单元，通过根据测试区域反射光能级和基准反射光能级校正临时脉冲条件，来确定用于记录数据的最终脉冲条件，其中由反射光能级测量单元测量测试区域反射光能级，以作为执行测试记录的一个区域中的激光束的反射光能级，以及由反射光能级测量单元测量基准反射光能级，以作为在比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上未记录数据的径向位置的反射光能级。
17.根据权利要求16所述的装置，还包括一个可操作获取校正系数的校正系数获取单元，该校正系数指示记录状态与非记录状态之间的记录层的激光束透射率的差值，其中最终脉冲条件确定单元还利用校正系数来校正临时脉冲条件，并确定最终脉冲条件。
18.根据权利要求17所述的装置，还包括可操作以获取已完成记录层信息的已完成记录层获取单元，该已完成记录层信息指定已经记录数据的一个已完成记录层，其中最终脉冲条件确定单元还利用已完成记录层信息来校正临时脉冲条件，并确定最终脉冲条件。
19.根据权利要求17或18所述的装置，其中，校正系数获取单元是一个从光信息记录介质读取校正系数的单元，所述校正系数对应于目标记录层信息，用于指定光信息记录介质的多个记录层之一，记录层指定信息，用于指定比目标记录层信息所指示的记录层更接近于激光束入射侧的诸多记录层之一，获取校正系数，该校正系数对应于指示执行数据记录的记录层的目标记录层信息，以及与已完成记录层信息一致的记录层指定信息。
20.根据权利要求18所述的装置，其中，已完成记录层信息还包括已完成地址信息，它指示已完成记录层中的已完成区域的位置。
21.根据权利要求20所述的装置，其中，校正系数获取单元依据从光信息记录介质读取的已完成地址信息判定已完成记录层上的已完成区域的位置，并且根据已完成区域的位置和记录数据的位置来选择校正系数。
22.根据权利要求16-21中的任何一项所述的装置，其中，测试记录单元包括信号质量估算单元，用于测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和差错率之一，以便估算信号质量。
23.根据权利要求16-22中的任何一项所述的装置，其中，最终脉冲条件包括对应于待记录的标记的长度和/或间隔设置的激光束的强度、脉冲长度和生成定时。
24.根据权利要求16所述的装置，其中，测试记录单元包括信号质量估算单元，可操作以执行测试记录，并同时改变测试记录层上的激光束强度，重现测试记录信号，和估算重现信号的质量；临时脉冲条件设置单元用于把激光束强度设置到接近最大值的值，当在一个比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上记录数据时，该最大值使介质的重现信号的预定质量标准满足激光束透射率被降低的激光束入射侧上的记录层；把激光束的强度设置到接近最小值的值，当在比测试记录层更接近激光束入射侧的记录层上记录数据时，该最小值使介质的重现信号的预定质量标准满足激光束透射率被增加的激光束入射侧上的记录层。
25.根据权利要求24所述的装置，其中，信号质量估算单元测量重现信号的振幅、调制深度、抖动值和差错率之一，以便估算信号质量。
26.根据权利要求24或25所述的装置，最终脉冲条件包括对应于待记录的标记的长度/间隔设置的激光束的强度、脉冲长度和生成定时。
27.根据权利要求24所述的装置，还包括一个透射率变化信息获取单元，从光信息记录介质中可操作地读取透射率变化信息，该透射率变化信息指示在记录层上记录信息时激光束透射率增加还是降低，其中临时脉冲条件设置单元获取透射率变化信息并判定透射率变化的趋势。
28.一种光信息记录介质，具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层，其中该介质存储指示记录状态与非记录状态之间的记录层激光束透射率的差值的校正系数。
29.根据权利要求28所述的光信息记录介质，其中，校正系数被存储在导入区域中。
30.根据权利要求28或29所述的光信息记录介质，其中，对应于以下信息存储校正系数目标记录层信息，用于指定光信息记录介质的多个记录层之一；记录层指定信息，用于指定比目标记录层信息所指示的记录层更接近于激光束入射侧的诸多记录层之一。
31.根据权利要求28-30中的任何一项所述的光信息记录介质，其中，所述介质还存储用于指定已经记录数据的已完成记录层的已完成记录层信息。
32.根据权利要求31所述的光信息记录介质，其中，已完成记录层信息包括指示已完成记录层上的已完成区域的位置的已完成地址信息。
33.一种光信息记录介质，具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层，其中所述媒体存储透射率变化信息，该透射率变化信息指示当数据被记录在记录层上时该信息指示激光束透射率是增加还是降低。
34.一种光信息记录介质，具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或者擦除数据的多个记录层，其中所述媒体存储激光束强度信息，该激光束强度信息指示当数据被记录在至少一个记录层上时的激光束强度的最大值，或者用于计算最大值。
全文摘要
一种在光信息记录介质上记录信息的方法，所述介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除数据的多个记录层，该方法包括临时脉冲条件确定步骤；测试区域反射光测量步骤；最终脉冲条件确定步骤；和记录执行步骤。临时脉冲条件确定步骤包括，在测试记录层上执行测试记录，并且确定包括激光束强度的临时脉冲条件，其中所述测试记录层是多个记录层的至少一个记录层。测试区域反射光测量步骤包括，测量测试区域反射光能级，该能级是用于测试记录的一个区域中激光束的反射光能级。最终脉冲条件确定步骤包括，根据被测量的测试区域反射光能级校正临时脉冲条件，以便确定最终脉冲条件。记录执行步骤包括利用最终脉冲条件记录数据。
文档编号G11B7/125GK1627376SQ20041009637
公开日2005年6月15日 申请日期2004年11月26日 优先权日2003年11月28日
发明者秋山哲也, 宫川直康 申请人:松下电器产业株式会社