专利名称：光学信息存储介质的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种仅再现信息存储介质、信息记录/再现方法、和记录/再现设备，更具体地讲，涉及一种包括用于在形成存储介质的区之中的两个相邻区之间过渡的过渡区的光学信息存储介质，一种将数据记录到光学信息存储介质/从光学信息存储介质再现数据的方法和设备。
背景技术：
如光盘的光学信息存储介质被广泛地用在用于以非接触方式记录/再现信息的光学拾取设备。根据光盘的信息存储容量光盘被分为压缩盘(CD)或数字多用途盘(DVD)。可记录光盘的例子是650MB CD-R、CD-RW、4.7GBDVD+RW等。此外，具有20GB或更大记录容量的HD-DVD正在研究中。
以上光学信息存储介质彼此的兼容性增加用户方便。考虑用户的经济效率和方便，存储介质对于不同类型具有不同标准。不具有确定的标准的存储介质正在标准化。为了实现这种标准化，具有能够保证与现存存储介质之间的兼容性和一致性的格式的存储介质被研发。
传统仅再现光盘包括烧录区(BCA)、导入区、用户数据区和导出区。BCA存储关于光盘的序列号的信息，导入区存储盘相关信息。这里，光盘的序列号被记录为条码。
BCA、导入区、用户数据区和导出区被连续排列，在相邻区之间没有过渡区。然而，当BCA、导入区和用户数据区具有不同的凹坑图样时，由于过渡区的不存在，连续数据再现可能不被正确地执行。
发明内容
本发明提供一种光学信息存储介质，其包括多个区和位于两个相邻区之间以实现平稳数据再现的过渡区。
根据本发明的一方面，提供一种包括多个区和至少一个过渡区的仅再现光学信息存储介质。每个过渡区位于两个相邻区之间。
数据可以以凹坑的形式被记录在多个区和过渡区中。
过渡区的凹坑图样可与过渡区前面的区的凹坑图样或与过渡区后面的区的凹坑图样相同。
过渡区可为镜面区。
过渡区的凹坑可以以直线图样或抖动图样形成。
过渡区的凹坑的轨道间距可与相邻区中的凹坑的轨道间距相同。或者，过渡区中的凹坑的轨道间距和相邻区中的凹坑的轨道间距可不同。形成在过渡区中的凹坑的轨道间距可逐渐从形成在在过渡区之前的区的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在在过渡区后面的区的凹坑的轨道间距。
根据本发明的另一方面，提供一种仅再现光学信息存储介质，包括烧录区(BCA)；导入区；用户数据区；导出区；和过渡区，位于BCA和导入区之间的区、导入区和用户数据区之间的区、和用户数据区和导出区之间的区中的至少一个中。BCA、导入区、用户数据区和导出区由凹坑形成。
第一过渡区可被包括在BCA和导入区之间，BCA、导入区和第一过渡区的每个可以以直线图样或抖动图样中的一个由凹坑形成。
第二过渡区可被包括在导入区和用户数据区之间，导入区、用户数据区和第二过渡区的每个可以以直线图样或抖动图样由凹坑形成。
当第一或第二过渡区的凹坑可以以抖动图样被形成时，抖动的幅度可逐渐减小或增加。
根据本发明的另一方面，提供一种仅再现光学信息存储介质，包括烧录区(BCA)；导入区；用户数据区；导入区；和过渡区。BCA、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个被分为多个子区。过渡区位于两个相邻子区之间。
根据本发明的一方面，提供一种将信息记录在仅再现光学信息存储介质上的方法，包括将多个区形成在仅再现光学信息存储介质上；和将至少一个过渡区形成在仅再现光学存储介质上。每一过渡区位于两个相邻区之间。
根据本发明的一方面，提供一种用于仅再现光学信息存储介质的记录设备，包括记录单元，用于将数据记录在仅再现光学信息存储介质上；和控制器，其控制记录单元以在仅再现光学存储介质上形成多个区，和控制记录单元以在两个相邻区之间形成至少一个过渡区。
将在接下来的描述中部分阐述本发明另外的方面和/或优点，还有一部分通过描述将是清楚的，或者可以经过本发明的实施而得知。
图1显示根据本发明实施例的仅再现光学信息存储介质的物理结构；图2A至2E显示当BCA的凹坑以单一图样被形成并且导入区的凹坑以直线随机图样被形成时根据本发明第一实施例的光学信息存储介质的烧录区(BCA)和导入区之间的过渡区的凹坑图样的例子；图3A至3E显示当BCA的凹坑以特定图样被形成并且导入区的凹坑以直线随机图样被形成时根据本发明第一实施例的光学信息存储介质的BCA和导入区之间的过渡区的凹坑图样的例子；图4A至4E显示当BCA的凹坑以随机图样被形成并且导入区的凹坑以直线随机图样被形成时根据本发明第一实施例的光学信息存储介质的BCA和导入区之间的过渡区的凹坑图样的例子；图5A至5E显示当BCA的凹坑以单一图样被形成并且导入区的凹坑以抖动随机图样被形成时根据本发明第一实施例的光学信息存储介质的BCA和导入区之间的过渡区的凹坑图样的例子；图6A至6E显示当BCA的凹坑以特定图样被形成并且导入区的凹坑以抖动随机图样被形成时根据本发明第一实施例的光学信息存储介质的BCA和导入区之间的过渡区的凹坑图样的例子；图7A至7F显示当BCA的凹坑以随机图样被形成并且导入区的凹坑以抖动随机图样被形成时根据本发明第一实施例的光学信息存储介质的BCA和导入区之间的过渡区的凹坑图样的例子；图8A至8F显示当导入区的凹坑以直线随机图样被形成并且用户数据区的凹坑以直线随机图样被形成时根据本发明第二实施例的光学信息存储介质的导入区和用户数据区之间的过渡区的凹坑图样的例子；图9A至9F显示当导入区的凹坑以抖动随机图样被形成并且用户数据区的凹坑以直线随机图样被形成时根据本发明第二实施例的光学信息存储介质的导入区和用户数据区之间的过渡区的凹坑图样；图10A至10F显示当导入区的凹坑以直线随机图样被形成并且用户数据区的凹坑以抖动随机图样被形成时根据本发明第二实施例的光学信息存储介质的导入区和用户数据区之间的过渡区的凹坑图样的例子；
图11显示根据本发明第三实施例的光学信息存储介质的物理结构；和图12A至12F显示当导入区的第一区的凹坑以随机图样被形成并且导入区的第二区的凹坑以抖动随机图样被形成时根据本发明第三实施例的光学信息存储介质的BCA和导入区之间的过渡区的凹坑图样的例子；图13是根据本发明实施例的记录和/或再现系统的方框图。
具体实施例方式
现在，详细描述本发明的实施例，其示例在附图中表示，其中，相同的标号始终表示相同的部件。以下通过参考附图描述实施例以解释本发明。
根据本发明多个实施例的光学信息存储介质是仅再现并且其整个区由凹坑形成。根据本发明多个实施例的光学信息存储介质根据功能被分为多个区。如图1所示，根据本发明实施例的光学信息存储介质包括烧录区(BCA)10；导入区20；用户数据区30，用于存储用户数据；和导出区40；从光学信息存储介质的内部边界到外部边界被顺序地形成这些区。
BCA 10存储如光盘的光学信息存储介质的序列号或识别BCA的数据。导入区20存储盘相关信息、复制保护信息等。盘相关信息的例子是关于信息存储介质的类型，如可记录盘、一次写入盘或仅再现盘的信息，关于记录层的数量的信息，关于记录速度的信息，关于盘大小的信息等。
参照图2A至2F，根据本发明第一实施例的光学信息存储介质包括BCA10和导入区20之间的第一过渡区域15。
BCA 10存储以第一直线凹坑图样记录的数据。导入区20存储可以以不同于第一直线凹坑图样的第二直线凹坑图样或者以抖动凹坑图样记录的数据。或者，BCA 10存储以第一抖动凹坑图样记录的数据，导入区20存储可以以不同于第一抖动凹坑图样的第二抖动凹坑图样或者以直线凹坑图样记录的数据。直线凹坑图样表示沿直线的凹坑的排列，抖动凹坑图样表示沿波形线的凹坑的排列。
第一和第二直线凹坑图样以及第一和第二抖动凹坑图样可被分为单一图样、特定图样或随机图样。单一图样表示在其中每一具有相同长度(nT)的凹坑以有规则间隔被排列的图样。这里，n表示自然数，并且T表示凹坑的最小长度。例如，直线单一凹坑图样表示在其中每一具有相同长度的凹坑沿直线排列的图样。抖动单一凹坑图样表示在其中每一具有相同长度的凹坑沿波形线排列的图样。特定图样表示具有不同长度的凹坑的图样的重复。例如，3T凹坑和6T凹坑的图样重复。直线特定凹坑图样表示沿直线具有不同长度的凹坑的图样的重复。抖动特定凹坑图样表示沿波形线具有不同长度的凹坑的图样的重复。随机图样表示具有不同长度的凹坑的随机排列。例如，直线随机凹坑图样表示沿直线具有不同长度的凹坑的随机排列。抖动随机凹坑图样表示沿波形线具有不同长度的凹坑的随机排列。
由于BCA 10和导入区20具有不同凹坑图样，所以第一过渡区15被包括在BCA 10和导入区20之间以防止数据的不正确的连续再现。第一过渡区15存储识别过渡区的数据。
图2A至2E显示当BCA 10以直线单一图样由凹坑形成并且导入区20以直线随机图样由凹坑形成时的第一过渡区15的凹坑图样的例子。如图2A所示，数据以直线单一图样的凹坑的形式被记录在BCA 10中，数据以直线随机图样的凹坑的形式被记录在导入区20中，以及BCA 10和导入区20之间的第一过渡区15由直线单一图样的凹坑形成。尽管未显示，第一过渡区15可由抖动单一图样的凹坑形成。
如图2B所示，数据以直线单一图样的凹坑的形式被记录在BCA 10中，数据以直线随机图样的凹坑的形式被记录在导入区20中，以及BCA 10和导入区20之间的第一过渡区15由直线随机图样的凹坑被形成。尽管未显示，第一过渡区15可由抖动随机图样形成。
如图2C所示，数据以直线单一图样的凹坑的形式被记录在BCA 10中，数据以直线随机图样的凹坑的形式被记录在导入区20中，以及BCA 10和导入区20之间的第一过渡区15是镜面区(mirror area)。
如图2D所示，数据以直线单一图样的凹坑的形式被记录在BCA 10中，数据以直线随机图样的凹坑的形式被记录在导入区20中，BCA 10和导入区20之间的第一过渡区15由直线特定图样的凹坑形成。
或者，第一过渡区15可由抖动单一图样的凹坑、抖动随机图样的凹坑或抖动特定图样的凹坑形成。在图2E中，第一过渡区15由抖动随机图样的凹坑形成。
尽管图2A至2E显示由直线单一图样的凹坑形成的BCA 10，但是BCA10也可由抖动单一图样的凹坑形成。
图3A至3E显示当BCA 10由直线特定图样的凹坑形成并且导入区20由直线随机图样的凹坑形成时的BCA 10和导入区20之间的第一过渡区15的凹坑图样的例子。参照图3A，第一过渡区15由直线单一图样的凹坑形成。参照图3B，第一过渡区15由直线随机图样的凹坑形成。参照图3C，第一过渡区15是镜面区。参照图3D，第一过渡区15由直线特定图样的凹坑形成。参照图3E，第一过渡区15由抖动随机图样的凹坑形成。另外，第一过渡区15可由抖动单一图样的凹坑、抖动随机图样的凹坑或抖动特定图样的凹坑形成。
图4A至4E显示当凹坑以直线随机图样被形成在BCA 10中并且凹坑以直线随机图样被形成在导入区20中时的形成在BCA 10和导入区20之间的第一过渡区15中的凹坑图样的例子。参照图4A，凹坑以直线单一图样被形成在第一过渡区15中，参照图4B，凹坑以直线随机图样被形成在第一过渡区中。参照图4C，第一过渡区15是镜面区。参照图4D，凹坑以直线特定图样被形成在第一过渡区15中。或者，凹坑可以以抖动单一图样、抖动随机图样或抖动特定图样被形成在第一过渡区15中。参照图4E，第一过渡区15由抖动随机图样的凹坑形成。尽管未显示，凹坑可以抖动随机图样来代替直线随机图样被形成在BCA 10中。
如上所述，当凹坑以直线随机图样或以抖动随机图样被形成在BCA 10中时，包含如00h或BCA的内容的信息可记录在BCA 10中。
尽管以上仅已经描述了凹坑以直线图样被形成在BCA 10中的情况，但是BCA 10可由抖动图样的凹坑形成。例如，凹坑可以以抖动单一图样、抖动特定图样或抖动随机图样被形成在BCA 10中。
凹坑可以直线图样或抖动图样被形成在BCA 10中，并且凹坑以抖动图样被形成在导入区20中。
图5A至5E显示当凹坑以直线单一图样被形成在BCA 10中并且凹坑以抖动随机图样被形成在导入区20中时的形成在BCA 10和导入区20之间的第一过渡区15中的凹坑图样的例子。参照图5A，凹坑以直线单一图样被形成在第一过渡区15中。参照图5B，凹坑以直线随机图样被形成在第一过渡区15中。参照图5C，第一过渡区15是镜面区。参照图5D，凹坑以直线特定图样被形成在第一过渡区15中。或者，凹坑可以以抖动单一图样、抖动随机图样或抖动特定图样被形成在第一过渡区15中。参照图5E，凹坑以抖动随机图样被形成在第一过渡区15中。尽管图5A至5E显示在其中凹坑以直线单一图样被形成的BCA 10，但是凹坑可以以抖动单一图样被形成在BCA10中。
图6A至6E显示当凹坑以直线特定图样被形成在BCA 10中并且凹坑以抖动随机图样被形成在导入区20中时的被形成在过渡区15中的凹坑图样的例子。参照图6A，凹坑以直线单一图样被形成在第一过渡区15中。参照图6B，凹坑以直线随机图样被形成在第一过渡区15中。参照图6C，第一过渡区15是镜面区。参照图6D，凹坑以直线特定图样被形成在第一过渡区15中。或者，凹坑可以以抖动单一图样、抖动随机图样或抖动特定图样被形成在第一过渡区15中。例如，图6E显示在其中凹坑以抖动随机图样被形成的第一过渡区15。尽管图6A至6E显示在其中凹坑以直线特定图样被形成的BCA10，但是凹坑可以以抖动特定图样被形成在BCA 10中。
图7A至7F显示当凹坑以直线随机图样被形成在BCA 10中并且凹坑以抖动随机图样被形成在导入区20中时的形成在第一过渡区15中的凹坑图样的例子。参照图7A，凹坑以直线单一图样被形成在第一过渡区15中。参照图7B，凹坑以直线随机图样被形成在第一过渡区15中。参照图7C，第一过渡区15是镜面区。参照图7D，凹坑以直线特定图样被形成在第一过渡区15中。或者，凹坑可以以抖动单一图样、抖动随机图样或抖动特定图样被形成在第一过渡区15中。例如，图7E显示在其中凹坑以抖动随机图样被形成的第一过渡区15。尽管图7A至7E显示在其中以直线随机图样被形成的BCA10，但是凹坑可以以抖动随机图样被形成在BCA 10中。当凹坑以如上所述的直线随机图样或抖动随机图样被形成在BCA 10中时，包含如00h或BCA的内容的信息可被记录在BCA 10中。
当凹坑以抖动图样被形成在BCA 10、第一过渡区15或导入区20中时，它们被形成，从而抖动的幅度逐渐增加或减小。如图7F所示，凹坑以抖动图样被形成在第一过渡区15中，从而抖动的幅度可逐渐增加。
BCA 10、第一过渡区15和导入区20可具有相同轨道间距或者不同轨道间距。例如，BCA 10和第一过渡区15具有相同的轨道间距，仅导入区20具有不同的轨道间距。或者，第一过渡区15和导入区20可具有相同的轨道间距，仅BCA 10具有不同的轨道间距。当BCA 10和导入区20具有不同的轨道间距时，第一过渡区15是可形成的，从而其轨道间距可逐渐增加或减小。例如，当BCA 10的轨道间距为“a”并且导入区20的轨道间距为“b”(b＞a)时，第一过渡区15被形成，从而其轨道间距可逐渐从“a”增加到“b”。
根据本发明第二实施例的光学信息存储介质包括BCA 10、导入区20、用户数据区30和导出区40。第二过渡区25还被包括在导入区20和用户数据区30之间。
以下，将参照图8A至10F来描述形成在导入区20、第二过渡区25和用户数据区30的每个中的凹坑图样。当凹坑以第三直线图样被形成在导入区20中并且凹坑以第四直线图样被形成在用户数据区30中时，第二过渡区25可由直线单一图样的凹坑、直线特定图样的凹坑、直线随机图样的凹坑、抖动单一图样的凹坑、抖动特定图样的凹坑或抖动随机图样的凹坑形成。另外，第二过渡区25可为镜面区。
第三和第四直线图样中的每个可为直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
图8A至8F显示当凹坑以直线随机图样被形成在导入区20中并且凹坑以直线随机图样被形成在用户数据区30中时的形成在第二过渡区25中的凹坑图样的例子。参照图8A，凹坑以直线单一图样被形成在第二过渡区25中。参照图8B，凹坑以直线随机图样被形成在第二过渡区25中。参照图8C，第二过渡区25是镜面区。参照图8D，凹坑以直线特定图样被形成在第二过渡区25中。或者，凹坑可以抖动单一图样、抖动随机图样或抖动特定图样被形成在第二过渡区25中。例如，图8E显示在其中凹坑以抖动随机图样被形成的第二过渡区25。
当凹坑以抖动图样被形成在第二过渡区25中时，它们是可形成的，从而如图8F所示抖动的幅度可逐渐减小。
现在将描述当导入区25由抖动图样的凹坑形成并且用户数据区30由直线图样的凹坑形成时形成在第二过渡区25中的凹坑图样。为了更具体，凹坑可以以抖动单一图样、抖动特定图样或抖动随机图样被形成在导入区20中，并且凹坑可以直线单一图样、直线特定图样或直线随机图样被形成在用户数据区30中。
图9A至9F显示当导入区20和用户数据区30由凹坑形成以分别具有抖动随机图样和直线随机图样时形成在第二过渡区25中的凹坑图样的例子。参照图9A，凹坑以直线单一图样被形成在第二过渡区25中。参照图9B，凹坑以直线随机图样被形成在第二过渡区25中。参照图9C，第二过渡区25是镜面区。参照图9D，凹坑以直线特定图样被形成在第二过渡区25中。或者，凹坑可以抖动单一图样、抖动随机图样或抖动特定图样被形成在第二过渡区25中。例如，图9E显示在其中凹坑被以抖动随机图样形成的第二过渡区25。
当凹坑以抖动图样形成在第二过渡区25中时，它们是可形成的，从而如图9F所示抖动的幅度可逐渐减小。
现在将描述当导入区20和用户数据区30分别由直线图样的凹坑和抖动图样的凹坑形成时形成在第二过渡区25中的凹坑图样的例子。为了更具体，凹坑可以以直线单一图样、直线特定图样或直线随机图样被形成在导入区20中，并且凹坑可以以抖动单一图样、抖动特定图样或抖动随机图样被形成在用户数据区30中。
图10A至10F显示当导入区20和用户数据区30由凹坑形成以分别具有直线随机图样和抖动随机图样时形成在第二过渡区25中的凹坑图样的例子。参照图10A，凹坑以直线单一图样被形成在第二过渡区25中。参照图10B，凹坑以直线随机图样被形成在第二过渡区25中。参照图10C，第二过渡区25是镜面区。参照图10D，凹坑以直线特定图样被形成在第二过渡区25中。或者，凹坑可以以抖动单一图样、抖动随机图样或抖动特定图样被形成在第二过渡区25中。例如，图10E显示在其中凹坑以抖动随机图样被形成的第二过渡区25。
当凹坑以抖动图样被形成在第二过渡区25中时，它们是可形成的，从而如图10F所示抖动的幅度可逐渐增加。
当导入区20和用户数据区30由凹坑形成以具有抖动图样时，包括在它们之间的第二过渡区25可由直线单一图样的凹坑、直线特定图样的凹坑、直线随机图样的凹坑、抖动单一图样的凹坑、抖动特定图样的凹坑或抖动随机图样的凹坑形成。或者，第二过渡区25可为镜面区。
当凹坑以抖动图样被形成在导入区20、第二过渡区25或用户数据区30时，它们是可形成的，从而抖动的幅度逐渐增加或减小。
导入区20、第二过渡区25和用户数据区30可具有相同轨道间隔或不同轨道间隔。例如，导入区20和第二过渡区25具有相同的轨道间距，仅用户数据区30具有不同轨道间距。或者，第二过渡区25和用户数据区30可具有相同轨道间距，仅导入区20具有不同轨道间距。当导入区20和用户数据区30具有不同轨道间距时，第二过渡区25是可形成的，从而其轨道间距可逐渐增加或减小。例如，当导入区20的轨道间距为“c”并且用户数据区30的轨道间距为“d”(d＞c)时，第二过渡区25被形成，从而其轨道间距可从“c”到“d”逐渐增加。
根据本发明第三实施例的光学信息存储介质根据功能被分为多个区，这些区中的至少一个被分为多个子区。第三过渡区被包括在两个相邻子区之间。参照图11，根据本发明第三实施例的光学信息存储介质包括BCA 10、导入区20、用户数据区30和导出区40。导入区20分别包括第一和第二子区20a和20b。
过渡区可被包括在BCA 10和导入区20之间以及导入区20和用户数据区30之间。第一和第二实施例的第一和第二过渡区的原理被相同地应用到这些过渡区。
第三过渡区27被包括在导入区20的第一和第二子区20a和20b之间。以下，将详细描述形成在第一和第二子区20a和20b以及第三过渡区27中的每个中的凹坑图样。第一和第二子区20a和20b分别以直线图样和抖动图样由凹坑形成。直线图样可为直线单一图样、直线特定图样或直线随机图样，抖动图样可为抖动单一图样、抖动特定图样或抖动随机图样。
现在将描述当第一和第二子区20a和20b由凹坑形成以分别具有直线图样和抖动图样时形成在第一和第二子区20a和20b之间的第三过渡区27。
图12A至12F显示当第一和第二子区20a和20b由凹坑形成以分别具有直线随机图样和抖动随机图样时第三过渡区27的凹坑图样的例子。参照图12A，凹坑以直线单一图样被形成在第三过渡区27中。参照图12B，凹坑以直线随机图样被形成在第三过渡区27中。参照图12C，第三过渡区27为镜面区。参照图12D，凹坑以直线特定图样被形成在第三过渡区27中。或者，凹坑可以以抖动单一图样、抖动随机图样或抖动特定图样被形成在第三过渡区27中。例如，图12E显示在其中凹坑以抖动随机图样被形成的第三过渡区27。当凹坑以抖动图样被形成在第三过渡区27中时，它们可被形成，从而抖动的幅度可逐渐增加或减小。例如，第三过渡区27可由抖动随机图样的凹坑被形成，从而如图12F所示抖动的幅度可逐渐增加。
当第一和第二子区20a和20b由凹坑形成以分别具有抖动图样和直线图样时，包括它们之间的第三过渡区27可由直线单一图样的凹坑、直线特定图样的凹坑、直线随机图样的凹坑、抖动单一图样的凹坑、抖动特定图样的凹坑或抖动随机图样的凹坑形成。或者，第三过渡区27可为镜面区。
当第一和第二子区20a和20b都由凹坑形成以具有直线图样时，包括在它们之间的第三过渡区27可由直线单一图样的凹坑、直线特定图样的凹坑、直线随机图样的凹坑、抖动单一图样的凹坑、抖动特定图样的凹坑或抖动随机图样的凹坑形成。或者，第三过渡区27可为镜面区。
当第一和第二子区20a和20b都由凹坑形成以具有抖动图样，包括在它们之间的第三过渡区27可由直线单一图样的凹坑、直线特定图样的凹坑、直线随机图样的凹坑、抖动单一图样的凹坑、抖动特定图样的凹坑或抖动随机图样的凹坑形成。或者，第三过渡区27可为镜面区。
当凹坑以抖动图样被形成在第一和第二子区20a和20b以及第三过渡区27中时，它们可被形成，从而抖动的幅度逐渐增加或减小。
以上已经描述了仅导入区20被分为两个子区的情况。然而，BCA 10、用户数据区30或导出区40也可被分为多个子区。在这种情况下，过渡区可被形成在两个相邻子区之间。
第一和第二子区20a和20b以及第三过渡区27可具有相同轨道间距或不同轨道间距。例如，第一子区20a和第三过渡区27具有相同轨道间距，仅第二子区20b具有不同轨道间距。或者，第三过渡区27和第二子区20b具有相同轨道间距，仅第一子区20a具有不同轨道间距。当第一和第二子区20a和20b具有不同轨道间距时，第三过渡区27可被形成，从而其轨道间距可逐渐增加或减小。例如，当第一子区20a的轨道间距为“e”第二子区20b的轨道间距为“f”(f＞e)时，第三过渡区27被形成，从而其轨道间距可逐渐从“e”增加到“f”。
参照图13，显示了根据本发明实施例的记录/再现系统的方框图。该设备包括记录/读单元100和控制器200。记录/读单元100将数据写入作为信息存储介质的一次写入记录介质300/或从作为信息存储介质的一次写入记录介质300再现数据。
如上所述，根据本发明所述实施例的光学信息存储介质包括多个区，并且过渡区被包括在由这些区形成的边界区中的至少一个中。例如，过渡区被包括在BCA 10和导入区20之间的区、导入区20和用户数据区30之间的区、以及第一和第二子区20a和20b之间的区中的至少一个中。形成在过渡区中的凹坑图样可与形成在过渡区的前面或后面的区中的凹坑图样相同。过渡区前面的区表示比过渡区距离存储介质的中心近的区。过渡区的后面的区表示在存储介质的半径方向上比过渡区更外侧的区。
根据本发明所述实施例的光学信息存储介质可由单一层或多层组成。
产业上的可利用性如上所述，根据本发明所述实施例的光学信息存储介质根据功能或目的被分为多个区，过渡区被包括在两个相邻区之间。因此，数据以低的错误发生率被平稳再现。另外，由于根据本发明的光学信息存储介质为过渡区提供标准，因此其与现有光学信息存储介质兼容。
尽管已经显示和描述了本发明的一些实施例，但是本发明不限于所公开的实施例。本领域的技术人员应该理解在不脱离由权利要求及其等同物限定其范围的本发明的原理和精神的情况下可对其进行改变。
权利要求
1.一种仅再现光学信息存储介质，包括多个区；和至少一个过渡区，其中，每一过渡区位于两个相邻区之间。
2.如权利要求1所述的光学信息存储介质，其中，数据以凹坑的形式被记录在该多个区和过渡区中。
3.如权利要求2所述的光学信息存储介质，其中，过渡区的凹坑图样与在过渡区之前的区的凹坑图样相同。
4.如权利要求2所述的光学信息存储介质，其中，过渡区的凹坑图样与在过渡区后面的区的凹坑图样相同。
5.如权利要求1所述的光学信息存储介质，其中，过渡区为镜面区。
6.如权利要求2所述的光学信息存储介质，其中，过渡区的凹坑以直线图样或抖动图样中的一个被形成。
7.如权利要求6所述的光学信息存储介质，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
8.如权利要求6所述的光学信息存储介质，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
9.如权利要求2至4中的任何一个所述的光学信息存储介质，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距与相邻区中的凹坑的轨道间距相同。
10.如权利要求2至4中的任何一个所述的光学信息存储介质，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距和相邻区中的凹坑的轨道间距不同。
11.如权利要求2至4中的任何一个所述的光学信息存储介质，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距与相邻区中的一个中的凹坑的轨道间距相同。
12.如权利要求10所述的光学信息存储介质，其中，形成在过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在在过渡区之前的区的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在在过渡区之后的区的凹坑的轨道间距。
13.如权利要求6所述的光学信息存储介质，其中，当过渡区的凹坑以抖动图样被形成时，抖动的幅度逐渐减小或增加。
14.如权利要求1所述的光学信息存储介质，其中，过渡区存储识别过渡区的信息。
15.一种仅再现光学信息存储介质，包括烧录区(BCA)；导入区；用户数据区；导出区；和过渡区，位于BCA和导入区之间的区、导入区和用户数据区之间的区、和用户数据区和导出区之间的区中的至少一个，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区由凹坑形成。
16.如权利要求15所述的光学信息存储介质，其中，第一过渡区被包括在BCA和导入区之间，BCA、导入区和第一过渡区的每个以直线图样和抖动图样中的一个由凹坑形成。
17.如权利要求15所述的光学信息存储介质，其中，第二过渡区被包括在导入区和用户数据区之间，导入区、用户数据区和第二过渡区的每个以直线图样和抖动图样之一由凹坑形成。
18.如权利要求16或17所述的光学信息存储介质，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
19.如权利要求16或17所述的光学信息存储介质，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
20.如权利要求16所述的光学信息存储介质，其中，形成在BCA中的凹坑的轨道间距、形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在导入区中的凹坑的轨道间距相同。
21.如权利要求16所述的光学信息存储介质，其中，形成在BCA中的凹坑的轨道间距、形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在导入区中的凹坑的轨道间距彼此不同。
22.如权利要求21所述的光学信息存储介质，其中，形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在BCA中的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在导入区中的凹坑的轨道间距。
23.如权利要求17所述的光学信息存储介质，其中，形成在导入区中的凹坑的轨道间距、形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距相同。
24.如权利要求17所述的光学信息存储介质，其中，形成在导入区中的凹坑的轨道间距、形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距不同。
25.如权利要求24所述的光学信息存储介质，其中，形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在导入区中的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距。
26.如权利要求16所述的光学信息存储介质，其中，当第一过渡区的凹坑以抖动图样被形成时，抖动的幅度逐渐增加或减小。
27.如权利要求17所述的光学信息存储介质，其中，当第二过渡区的凹坑以抖动图样被形成时，抖动的幅度逐渐减小或增加。
28.如权利要求17所述的光学信息存储介质，其中，第一和第二过渡区的每个存储识别相应的过渡区的信息。
29.一种仅再现光学信息存储介质，包括烧录区(BCA)；导入区；用户数据区；导入区；和过渡区，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个被分为多个子区，并且其中，过渡区位于两个相邻子区之间。
30.如权利要求29所述的光学信息存储介质，其中，子区的凹坑和过渡区的凹坑的每个以直线图样或抖动图样被形成。
31.如权利要求30所述的光学信息存储介质，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
32.如权利要求30所述的光学信息存储介质，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
33.一种将信息记录在仅再现光学信息存储介质上的方法，包括在仅再现光学信息存储介质上形成多个区；和在仅再现光学存储介质上形成至少一个过渡区，其中，每一过渡区位于两个相邻区之间。
34.如权利要求33所述的方法，其中，数据以凹坑的形式被记录在该多个区和过渡区中。
35.如权利要求34所述的方法，其中，过渡区的凹坑图样与在过渡区之前的区的凹坑图样相同。
36.如权利要求34所述的方法，其中，过渡区的凹坑图样与在过渡区后面的区的凹坑图样相同。
37.如权利要求33所述的方法，其中，过渡区是镜面区。
38.如权利要求34所述的方法，其中，过渡区的凹坑以直线图样和抖动图样中的一个形成。
39.如权利要求38所述的方法，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
40.如权利要求38所述的方法，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
41.如权利要求34所述的方法，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距与相邻区中的凹坑的轨道间距相同。
42.如权利要求36所述的方法，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距与相邻区中的凹坑的轨道间距不同。
43.如权利要求36所述的方法，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距与多个相邻区的一个中的凹坑的轨道间距相同。
44.如权利要求42所述的方法，其中，形成在过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在在过渡区之前的区中的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在在过渡区后面的区的凹坑的轨道间距。
45.如权利要求38所述的方法，其中，当过渡区的间距以抖动图样形成时，抖动的幅度逐渐减小或增加。
46.如权利要求33所述的方法，其中，过渡区存储识别过渡区的信息。
47.一种将信息记录在仅再现光学信息存储介质上的方法，包括形成烧录区(BCA)；形成导入区；形成用户数据区；形成导出区；和形成位于BCA和导入区之间的区、导入区和用户数据区之间的区和用户数据区和导出区之间的区中的至少一个中的过渡区，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区由凹坑形成。
48.如权利要求47所述的方法，其中，第一过渡区被包括在BCA和导入区之间，BCA、导入区和第一过渡区的每个以直线图样和抖动图样中的一个由凹坑形成。
49.如权利要求47所述的方法，其中，第二过渡区被包括在导入区和用户数据区之间，导入区、用户数据区和第二过渡区的每个以直线图样和抖动图样之一由凹坑形成。
50.如权利要求49所述的方法，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
51.如权利要求49所述的方法，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
52.如权利要求48所述的方法，其中，形成在BCA中的凹坑的轨道间距、形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在导入区中的凹坑的轨道间距相同。
53.如权利要求48所述的方法，其中，形成在BCA中的凹坑的轨道间距、形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距、和形成在导入区中的凹坑的轨道间距彼此不同。
54.如权利要求53所述的方法，其中，形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在BCA中的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在导入区中的凹坑的轨道间距。
55.如权利要求49所述的方法，其中，形成在导入区中的凹坑的轨道间距、形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距和形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距相同。
56.如权利要求49所述的方法，其中，形成在导入区中的凹坑的轨道间距、形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距和形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距不同。
57.如权利要求56所述的方法，其中，形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在导入区中的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距。
58.如权利要求48所述的方法，其中，当第一过渡区的凹坑以抖动图样被形成时，抖动的幅度逐渐减小或增加。
59.如权利要求49所述的方法，其中，当第二过渡区的凹坑以抖动图样被形成时，抖动的幅度逐渐减小或增加。
60.如权利要求49所述的方法，其中，第一和第二过渡区中的每个存储识别相应的过渡区的信息。
61.一种将信息记录在仅再现光学信息存储介质上的方法，包括形成烧录区(BCA)；形成导入区；形成用户数据区；形成导入区；和形成过渡区，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个被分为多个子区，并且其中，过渡区位于两个相邻子区之间。
62.如权利要求61所述的方法，其中，子区的凹坑和过渡区的凹坑的每个以直线图样或抖动图样被形成。
63.如权利要求62所述的方法，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
64.如权利要求62所述的方法，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
65.一种将信息记录在仅再现光学信息存储介质上的方法，包括形成烧录区(BCA)；形成导入区；形成用户数据区；形成导出区；和在BCA和导入区之间、导入区和用户数据区之间、以及用户数据区和导出区之间的至少一个形成过渡区。
66.一种从具有多个区和至少一个过渡区的只读光学信息存储介质再现信息的方法，包括从多个区中的至少一个和至少一个过渡区中的一个读取数据，其中，每一过渡区位于两个相邻区之间。
67.一种从仅再现光学信息存储介质再现信息的方法，包括从烧录区(BCA)、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个读取数据；和从位于BCA和导入区之间的区、导入区和用户数据区之间的区、以及用户数据区和导出区之间的区中的至少一个中的过渡区读取数据，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区由凹坑形成。
68.一种从仅再现光学信息存储介质再现信息的方法，包括从烧录区(BCA)、导入区、用户数据区和导入区中的至少一个读取数据；和从过渡区读取数据，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个被分为多个子区，和其中，过渡区位于两个相邻子区之间。
69.一种从仅再现光学信息存储介质再现信息的方法，包括从烧录区(BCA)、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个读取数据；和从位于BCA和导入区之间、导入区和用户数据区之间、以及用户数据区和导出区之间中的至少一个的过渡区读取数据。
70.一种将信息记录到具有多个区和至少一个过渡区的只读光学信息存储介质和从具有多个区和至少一个过渡区的只读光学信息存储介质再现信息的方法，包括将多个区和至少一个过渡区形成在仅再现光学存储介质上；从多个区中的至少一个和至少一个过渡区中的一个读取数据，其中，每一过渡区位于两个相邻区之间。
71.一种将信息记录到只读光学信息存储介质和从只读光学信息存储介质再现信息的方法，包括在仅再现光学存储介质上形成烧录区(BCA)、导入区、用户数据区、导出区、以及位于BCA和导入区之间的区、导入区和用户数据区之间的区和用户数据区和导出区之间的区中的至少一个中的过渡区；和从烧录区(BCA)、导入区、用户数据区、导出区和过渡区中的至少一个读取数据，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区由凹坑形成。
72.一种将信息记录到只读光学信息存储介质和从只读光学信息存储介质再现信息的方法，包括在仅再现光学存储介质上形成烧录区(BCA)、导入区、用户数据区、导入区和过渡区；和从过渡区和烧录区(BCA)、导入区、用户数据区和导入区中的至少一个读取数据。
73.一种用于仅再现光学信息存储介质的记录设备，包括记录单元，用于将数据记录在仅再现光学信息存储介质上；和控制器，其控制记录单元以在仅再现光学存储介质上形成多个区，并且控制记录单元以在两个相邻区之间形成至少一个过渡区。
74.如权利要求73所述的设备，其中，数据以凹坑的形式被记录在多个区和过渡区中。
75.如权利要求74所述的设备，其中，过渡区的凹坑图样与在过渡区之前的区的凹坑图样相同。
76.如权利要求74所述的设备，其中，过渡区的凹坑图样与在过渡区后面的区的凹坑图样相同。
77.如权利要求73所述的设备，其中，过渡区为镜面区。
78.如权利要求74所述的设备，其中，过渡区的凹坑以直线图样和抖动图样中的一个形成。
79.如权利要求78所述的设备，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
80.如权利要求78所述的设备，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
81.如权利要求74所述的设备，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距与相邻区中的凹坑的轨道间距相同。
82.如权利要求76所述的设备，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距与相邻区中的凹坑的轨道间距不同。
83.如权利要求76所述的设备，其中，过渡区中的凹坑的轨道间距与相邻区中的一个中的凹坑的轨道间距相同。
84.如权利要求82所述的设备，其中，形成在过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在在过渡区之前的区中的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在在过渡区后面的区中的凹坑的轨道间距。
85.如权利要求78所述的设备，其中，当过渡区的凹坑以抖动图样形成时，抖动的幅度逐渐减小或增加。
86.如权利要求73所述的设备，其中，过渡区存储识别过渡区的信息。
87.一种用于仅再现光学信息存储介质的设备，包括记录单元，用于将数据记录在仅再现光学信息存储介质上；和控制器，用于控制记录单元以在仅再现光学信息存储介质上形成烧录区(BCA)、导入区、用户数据区、导出区和位于BCA和导入区之间的区、导入区和用户数据区之间的区和用户数据区和导出区之间的区中的至少一个中的过渡区，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区由凹坑形成。
88.如权利要求87所述的设备，其中，第一过渡区被包括在BCA和导入区之间，BCA、导入区和第一过渡区的每个以直线图样和抖动图样中的一个由凹坑形成。
89.如权利要求87所述的设备，其中，第二过渡区被包括在导入区和用户数据区之间，导入区、用户数据区和第二过渡区的每个以直线图样和抖动图样中的一个由凹坑形成。
90.如权利要求89所述的设备，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
91.如权利要求89所述的设备，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
92.如权利要求88所述的设备，其中，形成在BCA中的凹坑的轨道间距、形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在导入区中的凹坑的轨道间距相同。
93.如权利要求88所述的设备，其中，形成在BCA中的凹坑的轨道间距、形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在导入区中的凹坑的轨道间距彼此不同。
94.如权利要求93所述的设备，其中，形成在第一过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在BCA中的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在导入区中的凹坑的轨道间距。
95.如权利要求89所述的设备，其中，形成在导入区中的凹坑的轨道间距、形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距相同。
96.如权利要求89所述的设备，其中，形成在导入区中的凹坑的轨道间距、形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距、形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距不同。
97.如权利要求96所述的设备，其中，形成在第二过渡区中的凹坑的轨道间距逐渐从形成在导入区中的凹坑的轨道间距增加或减小到形成在用户数据区中的凹坑的轨道间距。
98.如权利要求88所述的设备，其中，当第一过渡区的凹坑以抖动图样被形成时，抖动的幅度逐渐减小或增加。
99.如权利要求89所述的设备，其中，当第二过渡区的凹坑以抖动图样形成时，抖动的幅度逐渐减小或增加。
100.如权利要求89所述的设备，其中，第一和第二过渡区中的每个存储识别相应过渡区的信息。
101.一种用于仅再现光学信息存储介质的设备，包括记录单元，用于将数据记录在仅再现光学信息存储介质上；和控制器，用于控制记录单元以在仅再现光学信息存储介质上形成烧录区(BCA)、导入区、用户数据区、导入区和过渡区，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个被分为多个子区，和其中，过渡区位于两个相邻子区之间。
102.如权利要求101所述的设备，其中，子区的凹坑和过渡区的凹坑的每个以直线图样或抖动图样形成。
103.如权利要求102所述的设备，其中，直线图样是直线单一图样、直线特定图样和直线随机图样中的一个。
104.如权利要求102所述的设备，其中，抖动图样是抖动单一图样、抖动特定图样和抖动随机图样中的一个。
105.一种用于仅再现光学信息存储介质的再现设备，包括读单元，用于从仅再现光学信息存储介质再现数据；和控制器，其控制读单元以从仅再现光学存储介质上的多个区再现数据，并且控制读单元以从位于两个相邻区之间的至少一个过渡区再现数据。
106.一种用于仅再现光学信息存储介质的再现设备，包括读单元，用于从仅再现光学信息存储介质再现数据；和控制器，其控制读单元以从仅再现光学存储介质的烧录区(BCA)、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个再现数据，并且控制读单元以从位于BCA和导入区之间的区、导入区和用户数据区之间的区、以及用户数据区和导出区之间的区中的至少一个中的过渡区再现数据，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区由凹坑形成。
107.一种用于仅再现光学信息存储介质的再现设备，包括读单元，用于从仅再现光学信息存储介质再现数据；和控制器，其控制读单元以从仅再现光学存储介质的烧录区(BCA)、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个再现数据，和控制读单元以从仅再现光学存储介质的过渡区再现数据，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个被分为多个子区，并且其中，过渡区位于两个相邻子区之间。
108.一种用于具有多个区的只读光学信息存储介质的记录和再现设备，包括记录和读单元，用于将数据记录在多个区中和从多个区读取数据；和控制器，其控制记录和读单元以在仅再现光学存储介质上形成多个区和至少一个过渡区，和控制记录和读单元以从多个区的至少一个和至少一个过渡区中的一个读取数据，其中，每一过渡区位于两个相邻区之间。
109.一种用于具有多个区的只读光学信息存储介质的记录和再现设备，包括记录和读单元，用于将数据记录在多个区中和从多个区读取数据；和控制器，其控制记录和读单元以在仅再现光学存储介质上形成烧录区(BCA)、导入区、用户数据区、导出区和位于BCA和导入区之间的区、导入区和用户数据区之间的区、用户数据区和导出区之间的区中的至少一个中的过渡区，和控制记录和读单元以从烧录区(BCA)、导入区、用户数据区、导出区和过渡区中的至少一个读取数据，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区由凹坑形成。
110.一种用于具有多个区的只读光学信息存储介质的记录和再现设备，包括记录和读单元，用于将数据记录在多个区中和从多个区读取数据；和控制器，其控制记录和读单元以在仅再现光学存储介质上形成烧录区(BCA)、导入区、用户数据区、导入区和过渡区，并且控制记录和读单元以从过渡区和烧录区(BCA)、导入区、用户数据区和导入区中的至少一个读取数据，其中，BCA、导入区、用户数据区和导出区中的至少一个被分为多个子区，和其中，过渡区位于两个相邻子区之间。
全文摘要
一种仅再现光学信息存储介质，包括多个区和至少一个过渡区。每个过渡区位于两个相邻区之间。过渡区允许数据以低错误发生率从仅再现光学信息存储介质平稳再现。另外，由于该光学信息存储介质为过渡区提供标准，所以其与现有光学信息存储介质兼容。
文档编号G11B7/007GK1717725SQ200480001608
公开日2006年1月4日 申请日期2004年1月30日 优先权日2003年1月30日
发明者李坰根 申请人:三星电子株式会社