具有3点径向跟踪的光学系统的制作方法

专利名称：具有3点径向跟踪的光学系统的制作方法
具有3点径向跟踪的光学系统
本发明涉及一种光学系统，用于在相关光学记录载体上再现和/或 记录光学可读效果以及在光学记录载体上进行稳定的径向跟踪(radial tracking)。本发明还涉及一种在相关光学记录载体上再现和/或记录光 学可读效果的方法。
为了满足增加信息存储容量的需求，可利用的光介质，也就是压缩 磁盘(CD)、数字可视磁盘(DVD)和蓝射线磁盘(BD)在存储能量 上展示出了持续的改善。在这些光介质中，再现的分辨率由此很大程度 上体现在再现光的波长？v和光学再现装置的数值孔径(NA)。然而， 由于很难缩短再现光的波长或者增加对应透镜系统的数值孔径，所以增 加记录密度的企图已经预先明显地集中在改善介质和/或者记录/再 现方法上。
尤其是，对于适于记录信息的光介质，已经提议了两种不同的方 法平陆凹槽格式，其中在轨迹的凹槽以及邻近这个凹槽处记录信息， 以及仅仅凹槽形式，其中仅仅在凹槽中记录信息，例如BD;兹盘格式。 这两种格式都具有优点和缺点，尤其是相对于径向跟踪和内轨迹/符号 交叉写入/擦除问题。
目前，通过组合240nm的轨迹间距和50nm的沟道位长度获得的密 度极限已经显示出BD型磁盘的容量可以使介质上的每个信息层大概从 当前的23 - 25 - 27GB增加到50GB。
然而，在现有磁盘中，存在轨迹间距的进一步尺寸减小与需要稳定 径向跟踪和有限交叉写入/擦除问题之间的内在冲突。具体是，既具有 与稳定径向跟踪有关的平陆-凹槽格式的优点又具有与有限交叉写入/ 擦除问题有关的仅仅凹槽格式的优点的光学存储方法因此是理想的。
在US2004/0076100中，公开了 一种改善存储密度的光学磁盘。该 光学磁盘基本上是具有专用预凹坑区域的平陆-凹槽格式，该区域具有设 置在数据记录区域之间的 一对摆动凹坑，其中数据区域以螺旋形或者圆 形设置在磁盘上。预凹坑区域适于产生径向跟踪误差信号。然而，由于 预凹坑区域的角距导致》兹盘的不均匀，所以制造这种^兹盘4各式4艮麻烦。
另外，预凹坑区域的数量和径向跟踪稳定性之间的折衷可能固有地限制 了磁盘的存储密度。
因此， 一种改进的光学跟踪方法将是有利的，尤其是， 一种用于在 相关光学记录载体上再现和/或记录光学可读效果的更有效和/或可 靠的光学系统将是有利的。
因此，本发明优选地试图单独地或者任意组合地减轻、緩和或者消 除上述的一个或者多个缺点。尤其是，可以看作是本发明的一个目的 是，通过提供一种促使增加光学载体上存储密度的光学系统，提供一种 解决上述现有技术问题的光学系统。
在本发明的第一方面，通过提供一种用于再现和/或记录相关光学 记录载体上的光学可读效果的光学系统，获得这个目的和几个其它的目
的，该系统包括
-光提供装置，用于提供至少
-主光束，用于读取作为载体上可读效果的信息和/或记录作为载体
上可读效果的信息，以及
-多个辅助光束，应用于径向跟踪，所述多个辅助光束包括第一、第
二和第三辅助光束，
-光检测装置，其能够检测来自光学记录载体的反射光， 所述相关光学记录载体包括，或者适用于记录，布置在一个或者多
个螺旋中的轨迹中的可读效果，所述一个或者多个螺旋被一个或者多个
保护带(guard land)分开，
其中所述光学系统适于通过下述光束的反射光进行径向跟踪 第一辅助光束，该第一辅助光束定位在第一保护带中，以及 第二和第三辅助光束，该第二辅助光束基本上定位在第一轨迹上或
者挨着第一轨迹，以及第三辅助光束，该第三辅助光束基本上定位在第
二轨迹上或者挨着第二轨迹，并相对于第二辅助光束在所述第一保护带
的相7于侧。
根据第一方面，本发明尤其但不仅仅有利于实现一种光学系统，其 能够记录/再现具有较低轨迹间距也就是轨迹宽度的载体上的信息。由 于在相关载体的保护带中进行径向跟踪时，较低轨迹间距的可能性并不 危害径向跟踪。通常使用的具有单螺旋载体格式的光学存储系统，在由
轨迹提供的径向跟踪信号和最小化轨迹间距的愿望之间存在固有的冲 突，此即本发明的光学系统所解决的冲突。
另夕卜，根据第 一 方面,本发明尤其但是不仅仅有利于实现一种光学系 统，其对于将用于径向跟踪的反射光相对于用于检测所述反射光的光检 测器装置精确地对准的小偏离，是稳定的。否则这种不对准可能导致用
于读/记录的主要光点的所谓光束着靶(beam landing),也就是主光束可 能相对于轨迹上的预期径向位置稍微偏离，并且主光束的反射光在相应 的检测器上偏离。这可能反过来减低了再现/记录的质量，例如串扰。
可以有利地布置光学系统，使得所述第一、第二和第三辅助光束适 于基本上等距离地定位在该相关光学记录载体上。这种对称可以很容易 借助于作为分光装置的光栅来获得。然而，本发明不局限于这种对称。 在一些条件下，它可能有益于使得例如第二辅助光束相对于载体移动方 向向前变换，以及使得第三辅助光束相对于载体移动方向向后变换。对 于当前使用的3点推挽式(push pull)径向跟踪，通常是这样的情况。
有利地是，可以改变所述光学系统，使得第一、第二和第三辅助光 束之间在径向方向上的间距基本上等于相关光学记录载体的轨迹间距 (Tp)的整数倍。因此，在光束间距和载体上的轨迹间距之间存在匹配， 优选所述整数等于一，但是还可以使用其它的整数。在一些情形中，例 如，如果以工作循环(或占空比，duty cycle )模式操作所述跟踪伺服系 统，则在光束间隔和载体之间的匹配可能出现非整数比例。
注意，第二和第三辅助光束不需要精确地在对应轨迹上，而是还可 以在轨迹的邻近或者邻近和其上的组合也就是部分地在轨迹上，只要获 得用于产生径向跟踪误差的足够推挽(push pull)信号。
有益地，所述第一轨迹可以和所述第一保护带相邻，以及所述第二 轨迹可以和所述第一保护带相邻。可替换地，可以使用和所述第一和第 二轨迹相邻的轨迹。甚至更可以替换地，可以将所述第一和第二轨迹定 位在和载体不相邻的不同可读效果螺旋上，即被一个或者多个螺旋分隔 开的螺旋。所述不同的螺旋可能在所述第 一 保护带的相同侧或者相对 侧。
有利地，相关载体的每个轨迹可能适用于记录和/或再现光学可读 效果，例如基本上定位在载体中的凹槽或者凹陷中的凹坑。这种仅仅凹 槽格式应用于一次写入和可再写入的光学介质。
优选地，可以根据该推挽(PP)方法进行所述径向跟踪，因为该方
法是本领域 >知的，并因此可以#4居本发明的原理容易实现。
有益地，该光学系统对于第一、第二和第三辅助光束的每一个包括 至少两个相应的光检测器。通过减法装置，例如差分电路，所述至少两 个光检测器可以适于产生用于每个辅助光束的差分信号。另外，其中通 过将表示对应每个差分信号的所述至少两个光检测器上的反射光总强 度的信号求和，所述光学系统适于对每个差分信号进行标准化。这对于 克服反射光中的波动是尤其有利的。当在仅在保护带的一侧上有螺旋的 边界保护带中进行跟踪时，这可能也是有益的。否则，将产生不正确的 跟踪误差信号。
在第二方面，本发明涉及一种用于操作光学系统的方法，所述光学 系统适于再现和/或记录相关光学记录载体上的光学可读效果，所述方法
包括下述步骤
-提供光提供装置，该光提供装置能够至少发射
-主光束，用于读取作为载体上可读效果的信息和/或记录作为载体 上可读效果的信息，以及
-多个辅助光束，应用于径向跟踪，所述多个辅助光束包括第一、第 二和第三辅助光束，
-提供光检测装置，该光检测装置能够检测来自光学记录载体的反射
光，
所述相关光学记录载体包括，或者适用于记录，以一个或者多个螺 旋布置在轨迹中的可读效果，所述一个或者多个螺旋被一个或者多个保 护带分开，
其中所述光学系统适于通过下述进行径向跟踪 检测所述第一辅助光束的反射光，该第一辅助光束定位在第一保护 带中，以及
第二和第三辅助光束的反射光，该第二辅助光束基本上定位在第一 轨迹上或者挨着第一轨迹，以及该第三辅助光束基本上定位在第二轨迹 上或者挨着第二轨迹并相对于第二辅助光束在所述第一保护带的相对侧。
在第三方面，本发明涉及一种计算机程序产品，其适于使得一种包 括至少 一个具有与此有关的数据存储装置的计算机的计算机系统来控 制 一种根据本发明第二方面的光学系统。
本发明的这个方面特别地但不仅仅地，有利之处在于，本发明可以 通过使得计算机系统执行本发明第二方面的操作的计算机程序产品来 实现。因此，考虑可以通过在控制光学系统的计算机系统上安装计算机 程序产品，改变某些已知的所述光学系统来按照本发明操作。这样的计 算机程序产品可以提供在任何种类的计算机可读介质上，例如基于磁性
或光学的介质，或通过基于计算机的网络，例如internet。
本发明的第一、第二和第三方面每一个可以分别和任何其它方面组 合。参考下文描述的实施例本发明的这些和其它方案将是明显的，并将 得到阐述。
现在将参考附图，仅仅示例地解释本发明，其中

图1是根据本发明第一方面的光学系统的示意图， 图2是根据本发明第一方面的光检测装置的示意图， 图3是特别适于用根据本发明第 一方面的光学系统操作的载体格式 的示意图，
图4是特别适于用根据本发明第 一方面的光学系统操作的另 一载体 格式的示意图，
图5是在根据本发明的相关载体上第一、第二和第三辅助光束的位 置的示意图，
图6示出了叠加多个推挽(PP )信号的载体的垂直径向(vertical radial)
横截面，
图7是描述了根据本发明第二方面的方法的流程图。
图1示意性地示出了根据本发明的光学系统和相关光学载体100。 该载体IOO通过保持装置30固定和旋转。
载体100包括适于借助辐射束52记录信息的材料。在整个申请中， 术语"辐射束"可以和术语"光束，，相互交换使用。例如，记录材料可 能是磁光型的、相变型的、染料型的、金属合金比如Cu/Si的，或者任 何其它适当材料。可以以光学可检测区域的形式，其对于可再写入介质 还称作标记以及对于一次写入介质称作凹坑，将信息记录在载体100 上。然而，可选择地，载体还可以是只读存储器(ROM)格式。
装置包括光学头20，有时还称为光学拾波器(OUP)、光学头20 是可以通过启动装置21例如电力步进电机移动。光学头20包括光检测 系统101、辐射源4、分束器6、目镜7和透镜移动装置9。光学头20 还包括分光装置22，例如能够将辐射束51分成至少四个部分52、 A、 B、 C的光栅或者全息图形，其中A、 B、 C分别表示在零级主束52的左侧 上的第一、第二和第三级衍射。然而，为了改变用于在所需轨迹上读取 /写入的主束52的径向位置，需要使得三个辅助光束A、 B和C可以 改变相对于主束52的位置。
为了清楚起见，仅仅示出了通过分束装置22之后的辐射束52和三 个辅助光束A、 B、 C,但是例如如果分光装置22是光栅，则通常存在 更多的辅助点。类似地，反射的辐射束8也包括不止一种组成，例如三 个点A、 B、 C的反射和其衍射，但是为了清楚起见在图1中只示出了 一个光束8。用于发射辐射束52的辐射源4例如可以是具有可变功率的 半导体激光器，可能还具有可变的辐射波长。可替换地，辐射源4可以 包括不止一个激光器。在本发明的上下文中，可以将辐射源4、分光装 置22和透镜7认为是光提供装置。
光检测系统101的功能是将从载体100反射的辐射8转换成电信 号。因此，光检测系统101包括几个光4企测器，例如光电二极管、充电 耦合装置(CCD)等等，它们能够产生传输到预处理器11的一个或者 多个电输出信号。所述光检测器空间地彼此布置，并具有足够的时间分 辨率，以便于能够检测预处理器11中的焦点误差(FE)和径向跟踪误 差(RTE)。因此，预处理器11将焦点误差(FE)和径向跟踪误差(RTE) 信号传输给处理器50。该光检测系统IOI还可以将读信号或RF信号通 过预处理器11发送到处理器50,该RF信号表示通过主束52从载体100 读出的信息。可以通过在处理器50中低通滤波所述RF信号将所述读信 号转化成中心孔径(CA)信号。
光学地布置所述光学头20，使得通过分束器6和目镜7将辐射束52 引导到光学载体100。另外，在目镜7之前还可以有准直透镜(未示出)。 通过目镜7聚集从载体100反射的辐射8，并且在穿过分束器6后，落 在光检测系统100上,该光检测系统将入射辐射8转化成如上所述的电输 出信号。
处理器50接收和分析来自预处理器11的输出信号。处理器50还
可以向启动装置21、辐射源4、透镜移动装置9、预处理器ll和保持装 置30输出控制信号，如图1所示。类似地，处理器50可以接收数据， 如61表示，并且处理器50可以输出来自读出过程的数据,如60所示。
图2是根据本发明第一方面的光检测装置101的示意图。示出了三 个光检测器部分IIO、 120、 130。在光检测器部分IIO、 120、 130的每 一个上面，分别示出了对应的点A、 B和C。在图2所示的实施例中， 将光检测器部分IIO、 120、 130分成两个光检测器a和b。这是普通的 光学结构，用于通过推挽(PP)方法进行跟踪，其中两个检测器a和b 之间的相对权重(relative weighing)用于产生表示从预期径向位置和实 际位置之间的误差或者偏差的径向误差信号。为了简单起见，在光检测 器110、 120和130上只示出了单个点，但是通常还存在第一级衍射线 (m= ± 1 )。通过标i己为a和b的4全测器之间的相^H又重，只十于每个光冲全 测器部分UO、 120和130通过减法电路121、 122和123获得三个推挽 信号PPA、 PPb、 PPc。由此，计算该推挽信号PPA、 PPb、 PPc。如图3 所示，通过加法电^各124将PPb加到PPc上。随后，通过乘法电3^ 125 中的条件g调节PPB和PPc的总和，g通常等于0.5。
可以通过其它的方法，例如借助于适当的求和电路(未示出)对光 检测器a和b上的光求和来标准化，可以平均推挽信号PPa、 PPb、 PPc 的组成。最后，通过减法电路127从所述第一辅助光束推挽信号减去调 整并求和的第二及第三辅助光束推挽信号，以及获得跟踪误差信号 (TES)或者径向误差(RE)并将其传输到所述处理器50。
在图3和4中，描述了两种特殊格式的光学载体格式1,其很适合 由根据本发明的光学系统使用。在图3、 4、 5的实施例中，所述载体格 式是带有轨迹的格式，其中该轨迹具有凹槽，例如一次写入和可再写入 载体。然而，应当强调，本发明的原理不局限于这种格式。
图3是特别适用于由根据本发明第 一方面的光学系统操作的载体格 式的示意图。相对于载体上的中心位置3,基本上螺旋地并基本上同中 心地设置多个轨迹2。每个轨迹2适于记录和/或再现光学可读效果，其 基本上定位在凹槽也就是凹陷(未示出)中。
在光学记录载体上的多个轨迹螺旋1中相邻地布置多个轨迹2，图3 所示的轨迹数量是8。由于这样的事实，即保护带5不包含数据或者保 护带5中的数据密度低于宽阔螺旋的凹槽中的数据密度，所以通过在射
线伺服系统复杂化和存储容量减小之间折衷来确定宽阔螺旋1中的轨迹
2的数量。轨迹2的数量还可以是2、 3、 4、 5、 6、 7、 8、 9、 10、 11、 12、 13、 14、 15、 16、 17、 18、 19和20。多轨迹螺-菱1的绕组之间的 跟踪区(tracking area) 5适于提供来自光学载体100的径向跟踪误差信
图4是特别适用于由根据本发明第 一 方面的光学系统操作的另 一个 载体格式IO的示意图。相对于载体上的中心位置13基本上螺旋地和基 本上同心地设置多个轨迹12。每个轨迹12适于记录和/或再现光学可 读效果(叩tically readable effects ),其基本上定位在凹槽(未示出)中。 所述多个螺旋10布置在光学记录载体上同心连续层12中，其中每一层 中具有一个螺旋,类似于洋葱结构。在图4中，为了清楚起见只示出了三 个连续螺旋12,但是对于实际的载体100,螺旋12或者"洋葱层"的数 量可以是2和1， 0000, OO之间的任何数量。螺旋12之间的跟踪区15 适于提供来自光学记录载体的径向跟踪误差信号，这将在图5和6中进 一步解释。
图5是根据本发明的一个实施例在相关载体IOO上第一 A、第二B 和第三C辅助光束的位置的示意图。第 一辅助光束A定位在第 一保护带 5或者15中。同时，第二辅助光束B基本上定位在第一轨迹I上以及第 三辅助光束基本上定位在第二轨迹1I上。第二B和第三C辅助光束彼此 分別在第一保护带5或者15的相对侧。另外，相邻于保护带5或者15 定位所述第二 B和第三C辅助光束。注意，第二B和第三C辅助光束 相对于第一辅助光束C以载体的切线方向(在图中垂直)变化。优选地 在光检测装置101上荻得更好的光学分离。
图6示出了叠加相应径向跟踪误差信号的载体IOO的垂直径向横截 面图，其中相应径向跟踪误差信号是通过模拟图5中实施例的推挽径向 跟踪误差信号获得叠加的。图的标度是任意的。在图6中，以水平标度 画出载体IOO上的径向位置。在垂直标度上，画出来自辅助点的反射光 8的推挽径向跟踪误差信号。该图对应于沿着径向方向扫描的辅助点 A、 B和C。虛线表示从打算在保护带5或者15的中心定位的第一辅助 光束A荻得的PPa信号。可以将该单个点用于径向跟踪，但是如之前解 释的，这种单点方法对于光束着靶(beamlanding)是敏感的。实体黑线表 示来自第二 B和第三C辅助光束的信号的总和的0.5 (PPB+PPC)。最
后，虚线表示减法式
TES=PPA-0.5(PPB+PPC) ( 1 )
其中TES表示跟踪误差信号。在方程式(1)中，所有的信号都是 标准化的。从三个辅助光束A、 B和C获得的这种跟踪误差TES对于偏 移是不变的，这种偏移将三个辅助光束A、 B和C的反射光8同时地水 平分开在光检测部分110、 120和130上，如图2所示。这种移动通常是 透镜移动、透镜倾斜、OPU移动、制造容限等等的结果。
在垂直标度上还示出了凹槽的物理结构。振幅1对应于凹槽的底 部，然而，载体表面定位在振幅0。因此，如所看到的，在跟踪区域5 和15中没有凹槽。
所述凹槽聚集在载体格式10中具有轨迹2的多个螺旋1或者连续 螺旋12中。两种都是10个轨迹宽度，和内螺旋间隔，即跟踪区或保护 带5或15。由于光点分辨率是有限的，基本上导致沟道响应的低通特 性，所以不能在宽阔组2或者12内捕获到非常高频率的轨迹。在所给 的实施例中，使用下述数据数值孔径(NA) =0.85、光波长-405nm 和轨迹间距220nm，其中工作周期(或占空比，duty circle ) 50 % 。
正如图6所示的，在多螺旋1的轨迹2内或者连续螺旋12内具有 几乎为零的推挽信号。然而，在保护带5或者15上，凹槽结构具有明 显较低的频率成分，因为那儿的轨迹间隔较大，并且来自辅助点A、 B 和C的推挽跟踪信号很强并提供围保护带5和15中间的清晰"S曲线"。 这意味着辅助点A、 B和C从获得的径向跟踪信号可以可靠地跟踪保护 带5和15的中间，但是多螺旋1的单个轨迹2或者连续螺旋l2不能产 生有用的径向跟踪误差信号。在所给的例子中，保护带宽度是3 x Tp/2=3 x 120nm = 360nm,同时对于光点信号的所给特性来说，推挽信号仅仅 在低于2 x 120nm = 240nm的空间轨迹间隔处消失。这意味着还可以使 保护带5和15更窄，低至大约280nm/2 = 140nm。然而由于当前的光一全 测装置，所以轨迹间距的下限值可能有些难以实现。
图7是描述了根据本发明第二方面的方法的流程图，其通过提供用 于操作适于再现和/或记录相关光学记录载体IOO上的光学可读效果的 光学系统的方法，该方法包括下述步骤
Sl提供光提供装置4、 22和7，其能够至少发射下述光束
-主光束52,用于读取作为载体100上可读效果的信息和/或记录作为载体IOO上可读效果的信息，以及
-多个辅助光束A、 B、 C，应用于径向跟踪，所述多个辅助光束包 括第一A、第二B和第三C辅助光束，
S2提供光检测装置101、 110、 120、 130,其能够检测来自光学记 录载体100的反射光8，
所述相关的光学记录载体100包括，或者适用于记录，布置在一个 或者多个螺旋2或者12的轨迹中的可读效果，所述一个或者多个螺旋 被一个或者多个保护带5或者15分开，
其中所述光学系统适于通过下述进行径向跟踪
S3检测第一辅助光束A的反射光8,该第一辅助光束定位在第一保 护带5或者15中，以及
S4检测第二 B和第三辅助光束C的反射光8，第二 B辅助光束基 本上定位在第一轨迹I上或者挨着第一轨迹I ，以及第三辅助光束C基
本上定位在第二轨迹n上或者挨着第二轨迹n ,并相对于第二辅助光束
B在第一保护带5或者15的相对侧。
尽管结合特定的实施例已经描述了本发明，但是不意味着局限到这 里所陈述的特性形式。相反，本发明的范围仅仅受到附带的权利要求的 限制。在权利要求中，术语"包含，，不排除其它元件或者步骤的存在。 另外，尽管在不同的权利要求中包括了单个的特征，但是可以有益地组 合，并且在不同权利要求中的包含不暗示着特征的组合不是可行的和/ 或有利的。而且，单数标记不排除多个。因此，标记"一"、"一个，，、 "第一"、"第二，，等等不排除多个。另外，权利要求中的附图标记将
不构成对范围的限制。
权利要求
1.一种用于再现和/或记录相关光学记录载体(100)上的光学可读效果的光学系统，该系统包括-光提供装置(4、22、7)，用于至少提供-主光束(52)，用于读取作为载体上可读效果的信息和/或在记录作为载体上可读效果的信息，以及-多个辅助光束，应用于径向跟踪，所述多个辅助光束包括第一(A)、第二(B)和第三(C)辅助光束，-光检测装置(101、110、120、130)，其能够检测来自光学记录载体(100)的反射光(8)，所述相关光学记录载体包括，或者适用于记录，布置在一个或者多个螺旋中的轨迹(2，12)中的可读效果，所述一个或者多个螺旋被一个或者多个保护带(5，15)分开，其中所述光学系统适于通过下述光束的反射光进行径向跟踪1)第一辅助光束(A)，该第一辅助光束定位在第一保护带(5，15)中，以及2)第二(B)和第三辅助光束(C)，该第二辅助光束(B)基本上定位在第一轨迹(I)上或者挨着第一轨迹(I)，以及该第三辅助光束基本上定位在第二轨迹(II)上或者挨着第二轨迹(II)，并相对于所述第二辅助光束(B)在所述第一保护带(5，15)的相对侧。
2. 根据权利要求1的光学系统，其中所述第一(A)、第二(B) 和第三辅助光束(C)调整成基本上等距离地定位在所述相关光学记 录载体上。
3. 根据权利要求2的光学系统，其中所述第一(A)、第二(B) 和第三辅助光束(C)之间在径向方向上的间距基本上等于相关光学 记录载体(100)的轨迹间距(Tp)的整数倍。
4. 根据权利要求1的光学系统，其中所述第一轨迹(I )和所 述第一保护带(5, 15)相邻，以及所述第二轨迹(II )和所述第一 保护带(5, 15)相邻。
5. 根据权利要求1的光学系统，其中相关载体(100)的每个轨 迹适于记录和/或再现基本上定位在凹槽中的光学可读效果。
6. 根据权利要求5的光学系统，其中根据推挽(PP)方法进行 所述径向跟踪。
7. —种根据权利要求1的光学系统，其对于第一(A)、第二(B) 和第三辅助光束(C)中每一个包括至少两个相应光检测器(a， b)， 所述至少两个光检测器适于产生用于每个辅助光束(A、 B、 C)的推 挽信号(PPa、 PPb、 PPc)。
8. 根据权利要求7的光学系统，其中所述光学系统适于对应每 个推挽信号(PPa、 PPb、 PPc)，通过对表示所述至少两个光检测器 上反射光的总强度的信号求和，将每个推挽信号(PPa、 PPb、 PPc) 进行标准化。
9. 一种用于操作光学系统的方法，该光学系统适用于再现和/ 或记录相关光学记录载体(00)上的可读效果，该方法包括下述步 骤-提供光提供装置(4、 7、 22)，其能够至少发射-主光束(52),用于读取作为载体上可读效果的信息和/或记 录作为载体上可读效果的信息，以及-多个辅助光束，应用于径向跟踪，所述多个辅助光束包括第一 (A)、第二 (B)和第三辅助光束(C)，-提供光检测装置(101、 110、 120、 130),其能够检测来自所 述光学记录载体的反射光(8),所述相关光学记录载体包括，或者适用于记录，布置在一个或者 多个螺旋中的轨迹(2、 12)中的可读效果，所述一个或者多个螺旋 被一个或者多个保护带(5、 15)分开，其中所述光学系统适于通过下述步骤进行所述径向跟踪检测所述第一辅助光束(A)的反射光，该第一辅助光束定位在 第一保护带(5、 l5)中，以及第二(B)和第三辅助光束(C)的反射光，该第二辅助光束(B) 基本上定位在所述第一轨迹(I )上或者挨着第一轨迹(I ),以及 所述第三(C)辅助光束基本上定位在所述第二轨迹(II )上或者挨 着第二轨迹(II ),并相对于所述第二辅助光束(B)在所述第一保护带(5, 15)的相对侧。
10. —种计算机程序产品，其适于能够使得计算机系统控制根据 权利要求9的光学系统，该计算机系统包括至少 一个具有与之相关的 数据存储装置的计算机。
全文摘要
本发明涉及一种光学系统，其用于在光学记录载体上再现和/或记录。该系统包括光提供装置，用于至少提供1)主光束，用于读取信息，以及2)多个辅助光束，用于径向跟踪；第一(A)、第二(B)和第三(C)辅助光束。该光学记录载体具有布置在一个或者多个螺旋中的轨迹(2，12)中的可读效果，该螺旋被一个或者多个保护带(5，15)分开。该光学系统通过下述光束的反射光进行所述径向跟踪1)第一辅助光束(A)，该第一辅助光束定位在所述第一保护带中，以及2)第二(B)和第三辅助光束(C)。该第二辅助光束(B)基本上定位在所述第一轨迹(I)上，以及该第三辅助光束基本上定位在所述第二轨迹(II)上，并相对于第二辅助光束(B)在第一保护带(5，15)的相对侧。该光学系统改善了在上述载体格式上的径向跟踪。
文档编号G11B7/09GK101189671SQ200680020013
公开日2008年5月28日 申请日期2006年6月1日 优先权日2005年6月6日
发明者A·帕迪伊, R·夫卢特斯 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司