专利名称：记录/再现数据的方法和记录介质的盘检验方法
技术领域：
本发明涉及一种盘，并且，更具体地讲，涉及一种光学记录介质，在其上记录数据/从其上再现数据的设备和方法，以及存储执行该方法的程序的计算机可读记录介质。
背景技术：
以规则单位执行将数据记录在信息存储介质例如硬盘(HD)、压缩盘(CD)、或数字多功能盘(DVD)上或从其上再现数据。该单位是记录单元块或再现单元块。记录单元块或再现单元块的例子是校正当记录或再现数据时产生的错误的纠错块。
当64K字节纠错块中仅有4K字节被记录，其余纠错块，即，剩余60K字节用无效值例如00h填满。
当盘驱动器读取仅一部分块具有有效数据的纠错块，然后执行纠错来再现纠错块时，由于包括60K字节的无效数据的代码字不能被校正，即使包括4K字节的有效数据的代码字可以被校正，但整个纠错块被确定是无法校正的。盘驱动器不能辨别纠错块的哪个部分充满有效数据哪个部分充满无效数据。因此，盘驱动器再次执行纠错或再现，或错误地结束纠错块，即使一部分纠错块具有有效数据。这种情况不仅在再现数据时而且在更新数据或是添加数据时发生。
美国专利第6,367,049号(在下文中指“交错编码”)公开使用交错方法编码数据的方法。“交错编码”在物理簇中交错地排列包括用户数据的“LDS块”和包括地址数据的“BIS块”，然后记录它们。当再现数据时，“BIS块”首先被纠错，然后“LDS块”被纠错。参考图1将简要描述“交错编码”。
图1是交错编码的传统的方法的示意性表示。
参考图1，从源(未示出)例如主机或应用程序接收的用户数据11被分成每个具有2048+4字节的数据帧。用户数据11构成以304列216行排列的数据块12。接着，通过添加32个奇偶校验行到数据块12构成长距离(LDS)块13。然后，LDS块13被以152列496行排列，构成纠错代码(ECC)簇14。ECC簇14被分散来充满标有ECC的物理簇块20的区段。
由记录系统结合的逻辑地址和控制数据15被以32*18字节排列。与介质上的数据的物理位置有关的物理地址16被以16*9字节排列。逻辑地址和控制数据15以及物理地址16被结合起来构成具有24列*30行的访问块17。接着，32个奇偶校验行被添加到访问块17构成突发指示符子码(BIS)块18。BIS块18被排列为具有3列496行的BIS簇19。BIS簇19被分散来填充标有BIS的物理簇块20的区段。一列的同步比特组被添加到物理簇块20，这样构成155列*496行的物理簇块20。通过交错排列数据，纠错能力被改进。
当将数据记录在作为可记录信息存储介质的盘上时，驱动系统以簇为单元即记录单元记录数据。当簇被构成例如以32个扇区构成，如果需要被记录的扇区的大小不是32的倍数，则驱动系统填充一些无效扇区，使扇区的数量是簇的倍数来匹配簇的扇区的数量，然后记录数据。
此外，即使在记录扇区的一部分(例如16个扇区)，不是一个单位的簇(即32个扇区)时，当对已经记录的簇添加数据或更新数据时，驱动系统从盘21读取包含32个扇区的簇，其中包括数据将被添加或更新的16个扇区，并将簇存储在内部存储器中。然后，在簇被纠错之后，数据将被添加或更新的16个扇区被修改到内部存储器中相应的位置，并与其余的16个扇区一起被编码为一个ECC簇，并被写在盘21上。这个过程被称作“读-修改-写”，并被表示在图2中。当然，当再现可记录信息存储介质中的簇时，如果簇没有缺陷则数据将被记录在同一物理地址，如果簇具有缺陷时，则根据配置的缺陷管理方法，数据将被记录在可供选择的簇中。在一次写入型记录介质中，由于一次写入型记录介质的数据只能被一次写在其中的特点，数据将通过缺陷处理写在可供选择的簇中。
对数据结构中已经记录的簇在16个扇区中添加数据或更新的操作，如“交错编码”方法，将被更加详细地描述。当在读-修改-写处理中读取盘来在16个扇区中添加数据到或更新数据时，记录/再现簇单元的数据被从盘读取并存储在内部存储器中。然后，在首先纠错BIS簇之后，用于32个扇区中的数据LDS簇被纠错。如果LDS簇的纠错不成功，除其中数据将被添加或更新的16个扇区外，其余16个记录的扇区不能被再现，因此将被添加或更新的数据不能被记录。这是因为由于有效数据可以在除其中数据将被添加或更新的16个扇区外的其余16个扇区中，因此需要执行完全地纠错。因此，在这种情况下，如果其余16个扇区的数据的有效性未知，驱动系统再次访问盘中的簇并再次尝试再现，或如果尽管再试簇也不能被再现，则发送错误消息到主机。结果在这种情况下，驱动系统被无用地操作。
在上述情况，如果驱动系统知道除其中数据将被添加或更新的16个扇区外的其余16个扇区的数据的有效性，并且数据是无效的，则驱动系统能在其中数据将被添加或更新的16个扇区中添加新数据或更新数据而不用驱动系统不必要地再试再现或发送错误消息到主机。然而，其余16个扇区的有效性不能被知道，这样很有可能驱动系统错误地处理其余的16个扇区。结果，纠错能力降低。
同时，驱动系统执行盘检验来检查盘是否具有缺陷。盘检验是由驱动系统用驱动系统知道的预定值(00h或FFh)将填充整个簇，记录将被检验的簇的位置，然后再现簇来检查簇中是否有缺陷。这就是在盘初始化时获悉整个盘的缺陷状态以使用盘，当使用盘时在再初始化盘时再获悉整个盘的缺陷状态以从开始使用盘，或者当需要使用盘时，获悉特定区域的缺陷状态。此外，驱动系统通过反射检验结果更新簇的缺陷信息。
图3表示盘检验的传统方法。
参考图3，当包括导人区31、数据区32和导出区33的盘30被检验时，盘30的整个数据区32被充满，例如，“0.”。
在检验盘30来检测盘30的一部分或整个盘30的缺陷状态之后，由于至少被检验的区域是已经被写的区域，当尝试在检验过的区域中写数据时，驱动系统由RF信号知道被检验区域是已经被写的区域。因此，当对已经被写的簇添加或更新作为包括32个扇区的簇的一部分的16个扇区时，需要读-修改-写处理。在读-修改-写处理中，当读盘30时，驱动系统以记录/再现单元簇读取数据并将数据存储在内部存储器中，并在首先纠错BIS簇之后，LDS簇被纠错。如果LDS簇不能被纠错，则除了将被添加或被更新的16个扇区外，其余16个扇区不能被再现，并且将被添加或更新的数据不能被写。因此，驱动系统再访问在盘30中的簇并再次尝试再现，或即使第二次尝试之后如果簇不能被再现，则发送错误消息到主机。
发明内容
本发明提供一种光学记录介质，记录/再现该介质的设备和方法，以及存储执行该方法的程序的计算机可读记录介质，这样通过检查无效数据是否存在于由盘检验记录的记录单元块中驱动系统不必要的操作被防止，并且纠错能力被改进。
在下面的描述中将部分地阐明本发明另外的方面和/或优点，另外的部分，通过描述，其会变得更加清楚，或者通过实施本发明可以了解。
根据本发明的一方面，提供一种记录/再现单元块被记录在其上的光学记录介质。记录/再现单元块包括在盘检验中使用的无效数据和指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的填充标识符，无效数据在对光学记录介质的一部分或整个光学记录介质进行盘检验的期间被使用。
记录/再现单元块可包括包括无效数据的数据块和访问数据块的访问块。访问块可包括数据块中的无效数据的地址信息和填充标识符。
记录/再现单元块可以是包括长距离(LDS)簇和突发指示符子码(BIS)簇的物理簇。BIS簇可包括LDS簇中的数据的地址信息和具有填充标识符的哑元字节。
填充标识符可指示用于一个或两个扇区或用于一个簇的填充信息。
根据本发明的另一方面，提供一种记录/再现数据的方法，该方法包括将记录/再现单元块记录在记录介质上，记录/再现单元块包括在盘检验中使用的无效数据和指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的填充标识符，无效数据在对记录介质的一部分或整个记录介质进行盘检验期间被使用。
该方法可还包括通过再现记录在记录介质上的记录/再现单元块执行盘检验；和基于盘检验的结果将记录/再现单元块的缺陷信息记录在记录介质上。
该方法可还包括基于指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的填充信息，将数据记录在记录/再现单元块中，而不管记录/再现单元块的先前记录数据的纠错如何。
该方法可还包括响应于被接收的作为盘检验结果被登记在缺陷块中的记录/再现单元块的数据写命令，直接将数据记录在记录/再现单元块中，而不用读-修改-写处理。
根据本发明的另一方面，提供一种记录/再现数据的方法，该方法包括生成包括在记录介质的盘检验中使用的无效数据的LDS(长距离)簇；通过将指示LDS簇被无效数据填满的填充标识符包括在物理地址块中，生成BIS簇；将结合LDS簇和BIS簇的物理簇记录在记录介质上；通过再现记录在记录介质上的物理簇执行盘检验；和将盘检验的结果作为缺陷信息记录在记录介质上。
根据本发明的另一方面，提供一种记录/再现数据的设备，该设备包括读/写单元，用于从记录介质读数据和/或将数据写在记录介质上；和控制单元，控制读/写单元将记录/再现单元块写在记录介质上，该记录/再现单元块包括在盘检验中使用的无效数据和指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的填充标识符，无效数据在对记录介质的一部分或整个记录介质进行盘检验期间被使用。
根据本发明的另一方面，提供一种记录/再现数据的设备，该设备包括读/写单元，用于从记录介质读数据和/或将数据写在记录介质上；和控制单元，用于通过将具有在记录介质的盘检验中使用的无效数据的LDS(长距离)簇和指示LDS簇被无效数据填满的填充标识符包括在物理地址块中来生成BIS簇，控制读/写单元来写入将LDS簇和BIS簇结合的物理簇，通过再现被记录在记录介质上的物理簇执行盘检验，和控制读/写单元将盘检验的结果作为缺陷信息写在记录介质上。
根据本发明的另一方面，提供一种具有记录在其上的记录/再现数据的方法的计算机可读记录介质。该方法包括将记录/再现单元块记录在记录介质上，记录/再现单元块包括在盘检验中使用的无效数据和指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的填充标识符，无效数据在对记录介质的一部分或整个记录介质进行盘检验期间被使用。
根据本发明的另一方面，提供一种具有记录在其上的记录/再现数据的方法的计算机可读记录介质。该方法包括生成包括在记录介质的盘检验中使用的无效数据的LDS(长距离)簇；通过将指示LDS簇由无效数据填满的填充标识符包括在物理地址块中生成BIS簇；将结合LDS簇和BIS簇的物理簇记录在计算机可读记录介质上；通过再现记录在记录介质上的物理簇执行盘检验；和将盘检验的结果作为缺陷信息记录在记录介质上。
通过下面结合附图对实施例进行的描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将会变得清楚和更易于理解，其中图1是传统的交错编码方法的示意性描述；图2表示传统的“读-修改-写”方法；图3表示盘检验的传统方法；图4表示根据本发明实施例在盘检验期间填充标识符被插入其中的记录单元块；图5表示根据本发明的实施例在盘检验期间填充标识符被插入其中的再现单元块；图6是表示根据本发明实施例具有插入其中的填充信息的突发指示符子码(BIS)簇的结构的参考图；图7是根据本发明实施例图6中表示的具体具有两个扇区的填充信息的物理扇区的结构图；图8是根据本发明实施例图6中表示的具体具有一个簇的填充信息的物理扇区的结构图；图9是根据本发明实施例的记录/再现设备的示意图；图10是图9中记录/再现设备的详细图；图11是表示根据本发明实施例表示执行盘检验的方法的流程图；图12是表示根据本发明实施例在盘检验之后在记录单元块中写数据的方法的流程图；和图13是比较长距离(LDS)簇和BIS簇的纠错能力的曲线图。
具体实施例方式
现在对本发明实施例进行详细的描述，其示例表示在附图中，其中，相同的标号始终表示相同部件。下面通过参照附图对实施例进行描述以解释本发明。
为了解决先前提及的问题，和/或其它可能的问题，当为了盘检验将记录单元块记录在盘中时，指示无效数据被包括在记录单元块中的填充标识符被记录在记录单元块中。通过将填充标识符包括在记录单元块中，当将数据记录在记录单元块中时，通过检验记录单元块中的填充标识符并确定无效数据是否被包括在记录单元块中，即使记录单元块的纠错不成功，也可通过读-修改-写处理记录数据。尽管下面主要描述记录单元块，但是同样也能应用于再现单元块。
首先，将描述当执行盘检验时被写在盘上的填充标识符被插入其中的记录单元块。
图4表示根据本发明的实施例在盘检验期间填充标识符44被插入其中的记录单元块40。
参考图4，当执行盘检验时数据被写入其中的记录单元块40包括无效数据被存储在其中的数据块41和访问数据块41的数据的访问块42。在图4表示的例子中，存储在数据块41中的无效数据被表示为“00h”，但无效数据也能是“FFh”或其它不同值。
访问块42包括数据块41的数据的地址信息43；和填充标识符44，其指示数据块41中的数据是无效的。当驱动系统访问记录单元块40时，驱动系统首先通过读访问块42并检查填充标识符44来获悉记录单元块40中的数据是无效的。
图5表示根据本发明实施例的在盘检验期间其中被插入填充标识符54的再现单元块50。
参考图5，当执行盘检验时数据被写入其中的再现单元块50包括无效数据被存储在其中的数据块51和访问数据块51的数据的访问块52。在图5表示的例子中，存储在数据块51中的无效数据被表示为“FFh”，但无效数据也能是“00h”或其它不同值。
访问块52包括数据块51的数据的地址信息53和指示数据块51中的数据是无效的的填充标识符54。当驱动系统访问再现单元块50时，驱动系统首先通过读访问块52并检查填充标识符54来获悉在再现单元块50中的数据是无效的。
现在描述填充标识符被应用在包括长距离(LDS)簇和突发指示符子码(BIS)簇的物理簇中的例子。
图6是表示根据本发明的实施例的具有被插入的填充信息的BIS簇60的结构的参考图。
在图6中表示的数据结构是根据本发明实施例的填充标识符被应用于在“交错编码”技术中公开的数据结构的例子。然而，如果被包括在记录单元块中的用户数据和填充标识符被分别纠错码(ECC)编码，并且填充信息在用户数据被纠错之前被纠错，则填充标识符可被应用于其中的数据结果和系统是足够的。图6中表示的根据“交错编码”技术的系统和结构仅仅是便于解释本发明的例子。
尽管未示出，但是为了盘检验，无效数据被填充到构成ECC簇的用户数据的一部分中或整个用户数据中。填充信息即关于无效数据的信息被插入构成BIS簇60的物理地址62的一部分中。
也就是说，参考图6，物理地址62具有关于从物理扇区0到15总共16个物理扇区的地址信息。关于每个物理扇区的信息是在9字节内。即，关于每个物理扇区的信息包括4个字节的地址信息63，1个字节的填充信息64，和4个字节的奇偶校验码65。即，在BIS簇60中，16个物理扇区号被存储在记录在盘上的簇中，每个物理扇区号包括4个字节的地址信息63和1个哑元字节，当在盘上记录数据时，数据被编码为(9，5，5)码并被存储在BIS簇60中。
地址信息63指示相应物理扇区的地址，填充信息64指示相应物理扇区中的数据是无效的，并且奇偶校验码65指示奇偶校验值来纠错地址信息63或相应的填充信息64。
参考图7和8将更详细地描述填充信息64。
图7是图6中表示的物理扇区0到15其中一个的结构图，根据本发明的实施例每个具有具体用于两个扇区的填充信息64。
参考图7，一个字节的填充信息64是哑元字节，并具有使用8比特的哑元字节的2个低位比特(b0和b1)指示用于两个扇区的填充信息64的填充标识符66。
在BIS簇60中，16个物理扇区号被存储在记录在盘上的簇中。每个物理扇区号包括4个字节的地址信息63和1个哑元字节，并且，当在盘上记录数据时，数据被编码为(9，5，5)码并被存储在BIS簇60中。
一个LDS簇是32个扇区，其包括64K字节。因此，为了盘检验，对每个LDS簇需要32比特的填充信息。在这种情况下，有16个物理扇区号在一个LDS簇中。因此，如果2比特被分配到在物理扇区号中的每个哑元字节，则具有64K字节和32个扇区的整个LDS簇的每个扇区的填充信息能被指示。即，一个物理扇区号的哑元字节中的2比特指示两个扇区的填充信息。
图8是根据本发明实施例的簇的具有填充信息64的图6中表示的物理扇区0到15其中一个的结构图。
参考图8，一个字节的填充信息64是哑元字节，并且具有通过使用从8比特的哑元字节的最低位开始的第三比特b2来指示一个簇的填充信息的标识符67。
当通过盘检验指示在簇中的整个LDS簇由驱动系统填充时，对于填充信息的每个例子1比特是足够的。因此，如图8中表示，使用在哑元字节中的1比特的填充标识符67可指示整个簇的填充信息。
填充信息指示在ECC簇或整个簇中的每个扇区中存在无效信息。同样地，驱动系统使用在BIS簇60中的填充信息在读-修改-写过程的读取处理期间获悉将被添加或更新的扇区的数据的无效性。结果，即使ECC簇中的LDS簇不能被纠错，簇的添加或更新处理也能被执行。
图9是根据本发明实施例的记录/再现设备的示意图。
参考图9，其中可读和/或写数据的记录/再现设备包括读/写单元1和控制单元2。换句话说，记录/再现设备能读数据、写数据以及执行既读又写数据。读/写单元1将数据写到作为根据本实施例的信息存储介质的盘100上，并读数据来再现被记录的数据。控制单元2控制读/写单元1以预定的记录单元块来写数据，或者通过处理由读/写单元1读取的数据来获得有效数据。记录的数据的再现包括纠错读取的数据并获得有效数据，并且再现以预定的单元被执行。以其执行再现的单元，被称作再现单元块，与记录单元块对应。再现单元块与至少一个记录单元块对应。
当记录不能充满盘100上的整个记录单元块的小量数据时，控制单元2通过将有效数据存储在记录单元块的一部分中并在记录单元块的其余部分填充无效数据来使记录单元块具有预定大小，然后将记录单元块记录在盘100上。特别地，当在盘100上记录记录单元块时，控制单元2将指示记录单元块中的数据是无效的的填充标识符包括在记录单元块中，以用于盘检验。根据本发明的实施例的填充标识符可指示扇区或簇中的无效数据。涉及这个的详细描述将在后面介绍。
当从盘100再现数据时，读/写单元1读具有填充标识符的记录单元块，并且控制单元2基于记录单元块中的填充标识符确定无效数据被包括在记录单元块中。
图10是在盘驱动系统中配置的图9的记录/再现设备的详细的示图。
参考图10，盘驱动系统包括作为读/写单元1的拾取器10。盘100被安放在拾取器10上。此外，盘驱动系统包括主机接口(I/F)101、数字信号处理器(DSP)102、射频放大器(RF AMP)103、伺服104、系统控制器105和存储器106，作为控制单元。
当在盘100上记录数据时，主机I/F 101一起接收从主机3输出的写命令和将被记录的数据。系统控制器105执行在盘100上写数据所需的系统初始化。DSP 102添加附加数据例如奇偶校验码以对将被写入的并且已从主机I/F101接收的数据纠错，执行ECC编码来生成ECC块即已纠错的块，并用预定方法调制数据。这里，无效数据被使用来填满记录单元块，并且当执行盘检验时指示记录单元块中的无效数据的填充标识符被添加到记录单元块中以生成ECC块。RF AMP 103将从DSP 102输出的数据转换为RF信号。拾取器10将从RF AMP 103输出的RF信号写入盘100中。伺服104从系统控制器105接收伺服控制需要的命令，并且伺服控制拾取器10。
特别地，系统控制器105生成充满无效数据的记录块和指示记录单元块被充满无效数据的填充标识符，并且当将充满无效数据的记录单元块记录到盘100上以用于盘检验时，控制拾取器10以将记录单元块写到盘100上。
此外，在执行这样的盘检验之后，当将数据写到盘100上的无效数据被写在那里的地址上时，即使在记录单元块中的数据的纠错失败，系统控制器105也能通过记录单元块中的填充标识符检查被充满无效数据的记录单元块，并且通过读-修改-写处理使数据可写。此外，当将数据记录到盘100上时，当作为盘检验的结果记录块被登记为缺陷列表时，写操作被直接执行而不用必须从盘100读取记录块。涉及这个的描述以后将被更加详细地描述。
当从盘100读数据时，主机I/F 101接收从主机3输出的读命令。系统控制器105执行读数据所需要的初始化。拾取器10发射激光束到盘100上，并输出通过接收从盘100反射的激光束获得的光信号。RF AMP 103将从拾取器10输出的光信号转换为RF信号，并且除了提供伺服信号到伺服104以控制拾取器10外，还将从RF信号获得的调制数据提供给DSP 102。DSP 102解调调制的数据并输出在ECC纠错之后获得的数据。伺服104接收从RF AMP103输出的伺服信号、和从系统控制器105输出的用于伺服控制所需要的命令，并且伺服控制拾取器10。主机I/F 101将从DSP 102接收的数据发送到主机3。特别地，当通过记录单元块的纠错包括在记录单元块中的填充标识符被检测到时，系统控制器105能确定无效数据被包括在记录单元块中。
以下是由记录/再现设备执行的盘检验过程的描述。
当可重写盘被插入到盘驱动系统并被确定是空白盘时，根据从主机3输出的命令或驱动器制作商的意图，盘驱动系统的系统控制器105执行盘初始化以使用盘。当在盘初始化过程中期望确定包括盘的数据区域的可记录区域中的每个簇的缺陷状态时，系统控制器105在可记录区域的每个簇中写入特定值如00h和FFh之后再现这些簇，并执行纠错以执行确定每个簇中是否有缺陷的盘检验。此外，，根据从主机3输出的命令，当想要再确定包括盘的数据区域的可记录区域中的每个簇的缺陷状态时，或当重新初始化正在使用的可重写盘时确定一些特定区域中的每个簇的缺陷状态时，系统控制器105能执行快速检验。
图11是表示根据本发明的实施例执行盘检验的方法的流程图。
首先，盘驱动系统的系统控制器105ECC编码包括用于盘检验的00h或FFh的64K字节的数据，并生成LDS簇(111)。
然后，系统控制器105通过将LDS簇的物理扇区号和其它附加信息包含在内来ECC编码LDS簇，并生成BIS簇(112)。这里，通过将填充信息包括在物理地址块中来产生BIS簇，该填充信息指示64K字节的LDS簇的每个扇区(2K字节)或者整个64K字节的LDS簇被充满无效数据。
然后，系统控制器105交错LDS簇和BIS簇并生成ECC物理簇(113)，并通过记录需要的处理例如插入同步模式来生成记录单元块，并将记录单元块记录在盘100上(114)。
接下来，系统控制器105再现记录在记录介质上的簇并执行盘检验(115)。
然后，系统控制器105根据盘检验的结果将具有缺陷的簇的缺陷信息记录在记录介质上(116)。
当在对盘的可记录区域的一部分或整个盘执行检验之后，主机3设法将数据记录在被检验的簇上时，盘驱动系统将发现与由主机3的写命令产生的逻辑扇区号(LSN)相应的物理扇区号(PSN)并执行记录。由于在起始或结束的一些扇区将被记录在其上的盘100上的簇已经被记录，如果由写命令生成的LSN的大小不是簇(64K字节＝32个扇区)的倍数，则以下读-修改-写处理由驱动系统执行(直到BIS簇被再现并且填充信息被获得，盘驱动系统才能知道有效数据是否被记录在盘100上的簇中)。
图12是表示根据本发明的实施例的在盘检验之后将数据写在记录单元块上的方法的流程图。
参考图12，盘驱动系统从主机3或应用程序接收数据写命令(1201)。主机3或应用程序将数据写命令和将要被记录在盘100上的数据的逻辑地址一起发送。
系统控制器105首先发现与将被记录的数据的并已经被与写命令一起发送的逻辑地址相应的物理地址，然后确定物理地址是否是被包括在缺陷信息中的地址(1202)。
当数据将被记录在其上的地址被包括在缺陷信息中时，则将被记录的数据被直接写在盘100上(1203)。即，如果地址被登记为作为盘检验的结果的缺陷信息，则在该地址中的簇具有缺陷或有可能具有缺陷。这意味着有效数据未被记录在该地址中。因此，数据能被记录在地址中，而不用必须通过读-修改-写处理来再现簇并纠错簇。由于簇具有缺陷或可能具有缺陷，即使后来当从盘100中再现该地址中的簇时会出现问题，但是也存在可通过另外的盘驱动系统正确地读取该数据的可能性。因此，目前数据被记录在将被记录在其中的地址中。
如果数据将被记录在其中的地址未包括在缺陷信息中，则记录单元块被从与盘100中的地址相应的物理地址读取并且记录单元块被存储在存储器中(1204)。这里，即使数据量小于一个记录单元块，盘驱动系统也读取用于将要被记录的数据的一个记录单元块。例如，假设一个记录单元块具有32个扇区，即使当将要被记录的数据量仅是16个扇区，盘驱动系统也从盘100读取32个扇区的记录单元块，用于将被记录的16个扇区的数据。
其次，系统控制器105控制DSP 102来纠错被存储在存储器中的记录单元块的BIS簇(1205)。系统控制器105通过纠错BIS簇获得在BIS簇中LDS簇的每个扇区或整个LDS簇的填充信息。
当BIS簇的纠错被完成，系统控制器105控制DSP 102来纠错记录单元块的LDS簇(1206)。
然后，系统控制器105确定LDS簇的纠错是否是成功的(1207)，并当LDS簇的纠错成功时记录单元块被以普通方法处理。
也就是说，确定在记录单元块中是否有缺陷(1209)。实际上，是否将记录单元块作为缺陷来处理可以从操作步骤1205中的纠错来确定。如果作为确定的结果记录单元块被确定不具有缺陷，数据在其将被记录在记录单元块中的位置上被更新，该记录单元块被存储在存储器中，并且数据被记录在其中的记录单元块被记录在盘100上(1210)。这就是普通的读-修改-写过程。
如果在操作步骤1207中作为确定的结果确定记录单元块具有缺陷，则数据被记录在其将被记录在记录单元块中的位置上，其被存储在存储器中，并且具有被记录在其中的数据的记录单元块被记录在盘100的替换位置(1211)。
当在操作步骤1207中LDS簇的纠错成功时，基于作为BIS簇纠错的结果的BIS簇中的填充信息，系统控制器105检查记录单元块中除了在数据将被记录在其上的地址上的数据之外的数据是否是无效的(1208)。即，根据本发明的实施例，当整个记录单元块没有被充满有效数据，而是仅有一部分记录单元块充满有效数据并且其余部分充满无效的填充数据以创建一个记录单元块时，填充信息即关于填充数据的信息也被包括在记录单元块中。此外，根据本发明的实施例，如果通过将填充信息包括在BIS簇中纠错BIS簇，则系统控制器105能从填充信息检查记录单元块中的有效数据和无效数据的位置。
在这种情况下，如果证实记录单元块中除数据将被记录在其上的地址上的数据之外的数据是无效的填充数据，则即使LDS簇的纠错已经失败，控制系统105也可将数据记录在该记录单元块中。这是因为数据将被记录在记录单元块中的地址上的数据将被覆盖写，因此其是否被纠错也不重要。此外，如果在记录单元块中除数据将被记录在其上的地址上的数据之外的数据是无效的填充数据，则其不需要被纠错。
因此，在这种情况下，系统控制器105在被存储在存储器中的记录单元块中将数据排列在该数据将被记录在其上的位置上，并且将无效填充数据填充在除了数据将被记录在其上的位置之外的位置(即，记录单元块的其余部分)上，以创建替换记录单元块。然后，替换记录单元块被记录在盘100的替换位置上(1211)。即，盘驱动系统使记录单元块成为包括根据主机3的写命令的数据和填充数据的完整的64K字节，然后将记录单元块记录在盘100上。同样地，由系统控制器105填充的数据指示用于BIS簇中的每个扇区的填充信息。
图13是比较BIS簇和LDS簇纠错能力的曲线图。
参考图13，由随机错误引起的BIS簇和LDS簇的纠错能力被比较。从曲线图中可以看出BIS簇的纠错能力比LDS簇的纠错能力好很多。因为LDS簇包括(248，216，33)码，而BIS簇包括(62，30，22)码，所以出现如图13所示的由随机错误引起的LDS簇和BIS簇的纠错能力的不同。照这样，LDS簇和BIS簇的奇偶校验字节数是相同的，但是BIS簇的码长比LDS簇的码长短很多。结果，BIS簇和LDS簇的纠错能力的不同如图13所示。
由突发错误引起的BIS簇和LDS簇的纠错能力的不同如下。LDS簇的每个码字具有32个奇偶校验码字节。因此，在每个码字中最大32个字节通过使用BIS字节的擦除器校正和交错方法被纠错。擦除器校正被使用来改进关于理德-所罗门码的纠错性能。例如，如果内码字的纠错失败，则擦除器标志被设置到该码字并且使用该标志纠错外码字。然而关于“位置”和“值”不能被识别的错误被执行纠错，关于“位置”被识别但“值”未被识别的错误被执行擦除器校正。因此，LDS簇最多能被校正记录单元块中的64个记录帧。另一方面，尽管BIS簇的每个码字与LDS的每个码字具有相同的奇偶校验字节数，但因为不能执行擦除器校正，在每个BIS中的码字中最多16个错误字节能被校正。然而，由于BIS簇包括24个码字，码字被在BIS簇中均匀交错，所以在记录单元块中最多128个记录帧能被校正。例如，当在LDS簇中时，由长错误例如在LDS簇中最大1厘米的擦伤引起的错误能被校正，在BIS簇中，可校正是LDS簇中的错误的两倍的长错误，如最大2厘米的擦伤。
这种其中BIS簇能被纠错但是LDS簇不能被纠错的情况经常发生。因此，用于每个扇区的填充信息被包括在BIS簇中，当在读-修改-写处理期间读LDS簇，即使LDS簇具有缺陷，数据也能被添加到填充信息或被更新。因此，防止了盘驱动系统的不必要的再试，从而提高盘驱动系统的效率。
根据本发明的如上描述，通过预先检查关于在盘检验期间记录的包括在记录单元块中的无效数据的信息并将数据写在盘上来防止驱动系统多余的再试过程。同样，不用汇报实际上可作为错误来处理的数据写操作，因此纠错能力能被改进。
上述记录/再现方法也能被实现为在计算机可读记录介质上的计算机可读代码。计算机可读记录介质是任何能存储其后能由计算机系统读取的数据的数据存储装置。计算机可读记录介质的例子包括只读存储器(ROM)、随机访问存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘、光学数据存储装置和载波(例如数据通过网络传输)。计算机可读记录介质也能结合计算机系统被分布在网络上，所以计算机可读码被以分布的方式存储或执行。同样，用于实现本发明的函数程序、代码和代码片段能由本发明所属技术领域的程序员容易地解释。
虽然已表示和描述了本发明的一些实施例，但本领域技术人员应该理解，在不脱离由权利要求及其等同物限定其范围的本发明的原理和精神的情况下，可以对这些实施例进行修改。
权利要求
1.一种记录/再现数据的方法，该方法包括将记录/再现单元块记录在记录介质上，记录/再现单元块包括在盘检验中使用的无效数据和指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的填充标识符，无效数据在对记录介质的一部分或整个记录介质进行盘检验期间被使用。
2.如权利要求1所述的方法，其中，记录/再现单元块包括数据块，包括无效数据；和访问块，用于访问数据块，访问块包括数据块中的无效数据的地址信息，和填充标识符。
3.如权利要求1所述的方法，其中，记录/再现单元块是物理簇，其包括LDS(长距离)簇；和BIS簇，BIS簇包括LDS簇中的数据的地址信息，和具有填充标识符的哑元字节。
4.如权利要求3所述的方法，其中，填充标识符指示用于两个扇区的填充信息。
5.如权利要求3所述的方法，其中，填充标识符指示用于一个簇的填充信息。
6.如权利要求1所述的方法，还包括通过再现记录在记录介质上的记录/再现单元块执行盘检验；和基于盘检验的结果将记录/再现单元块的缺陷信息记录在记录介质上。
7.如权利要求6所述的方法，还包括基于指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的填充标识符，将数据记录在记录/再现单元块中，而不管记录/再现单元块的先前记录的数据的纠错如何。
8.如权利要求6所述的方法，还包括响应于接收到的记录/再现单元块的数据写命令，直接将数据记录在记录/再现单元块中，而不用读-修改-写处理操作，其中该记录/再现单元块作为盘检验结果被登记在缺陷块中。
9.一种记录/再现数据的方法，该方法包括生成包括在记录介质的盘检验中使用的无效数据的LDS(长距离)簇；通过将填充标识符包括在物理地块中来生成BIS簇，该填充标识符指示LDS簇充满无效数据；将结合LDS簇和BIS簇的物理簇记录在记录介质上；通过再现记录在记录介质上的物理簇执行盘检验；和将盘检验的结果作为缺陷信息记录记录介质上。
10.一种记录/再现数据的方法，该方法包括将记录/再现单元块记录在记录介质上，记录/再现单元块包括指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的指示器，该无效数据在盘检验期间被添加。
11.如权利要求10所述的方法，其中，指示器包括在记录/再现单元块中的一个比特。
12.如权利要求10所述的方法，其中，指示器包括在录/再现单元块中的两个比特，并指示关于记录/再现单元块的两个扇区的无效数据信息。
13.如权利要求10所述的方法，其中，指示器指示关于记录/再现单元块的整个簇的无效数据信息。
14.如权利要求10所述的方法，其中，指示器被设置在记录/再现单元块的访问块中。
15.如权利要求10所述的方法，其中，指示器被设置在记录/再现单元块的哑元字节中。
16.一种在记录单元块中记录数据的方法，该方法包括通过估计在记录单元块中的指示器确定无效数据是否存在于记录单元块中；和响应于指示无效数据存在于记录单元块中的指示器，将数据记录在记录单元块中，不管记录单元块的纠错的结果如何。
17.一种记录介质的盘检验方法，该方法包括使用无效数据填满记录单元块；和将指示器添加到记录单元块以指示记录单元块包括无效数据。
18.一种从记录介质的记录单元块再现数据的方法，该方法包括识别出设置在记录单元块中的指示器；和根据指示器的值确定无效数据是否存在于记录单元块中。
全文摘要
一种记录/再现块被记录在其上的记录介质，一种将数据记录在记录介质上和/或从记录介质再现数据的设备，和一种在记录介质上记录数据/从记录介质再现数据的方法。记录/再现单元块包括在盘检验中使用的无效数据，和指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的标识符，无效数据在对记录介质的一部分或整个记录介质进行盘检验期间被使用。
文档编号G11B7/007GK101075456SQ20071012680
公开日2007年11月21日 申请日期2005年5月10日 优先权日2004年5月22日
发明者黄盛凞, 高祯完 申请人:三星电子株式会社