光盘装置的制作方法

专利名称：光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于在光盘中记录信号或者再生记录在光盘中的信号 的光盘装置。
背景技术：
以往，作为这种光盘装置已经知道有例如专利文献1中公开的装置。
在此，参照图8 图10说明以该现有示例为原型略微施加修改后的装置。
图8 (a)是表示现有技术的光盘装置的侧视图，图8 (b)是表示在该 光盘装置中使用的光栅面上形成的光栅图案和该光栅面上的光分布状态的 图，图8 (c)是表示光盘的信号面的结构和该信号面上的光分布状态的图。 如图8所示，从半导体激光器等放射光源1射出的激光2顺序透射透 明基板3、偏振光束分离器4的分离面4a，然后由准直透镜5聚光而成为 平行光。该平行光通过1/4波长板6被从直线偏振光(P波)转换为圆偏振 光，然后由物镜7聚光并在光盘8的信号面8a上聚焦(连接光点)。在光 盘8的信号面8a上，在光盘8的径方向(以下称为"光盘径方向")以相 等节距形成沿着光盘8的旋转方向(以下称为"光盘旋转方向")的引导槽 8a。在光盘8的信号面8a反射后的光透射物镜7并由1/4波长板6转换为 直线偏振光(S波)，然后经由准直透镜5成为聚焦性的光。该聚焦性的光 在偏振光束分离器4的分离面4a反射，然后透射筒形透镜9并入射位于最 小弥散圆附近(纵焦线与横焦线的中间位置)的光检测基板IO上的光检测 面10a，该筒形透镜9被配置成为使其圆柱面的中心轴相对于与纸面平行的 面倾斜45度。
在透明基板3的表面(光栅面3a)形成有以对应光盘旋转方向的轴3Y 为边界的直线光栅3b和直线光栅3c。并且，从放射光源1射出并透射透明 基板3的光(透射光)在光栅面3a上的光点的形状为以光栅面3a的中心 30为中心的圆2a。各个光栅的方位与轴3Y正交，直线光栅3b与直线光栅 3c的光栅的相位错开;u (移位)。透射透明基板3的光(透射光)经由直线光栅3b与直线光栅3c衍射，除0次衍射光(直接透射的光)以外，产生 ±1次衍射光(以下把经由光栅形成的衍射光称为"Gr衍射光")。0次Gr 衍射光的波阵面不受光栅的影响，所以没有相位的变化，但士l次Gr衍射 光的波阵面以轴3Y为边界，相位在左右移位7C。这些Gr衍射光在光盘8 的信号面8a上连接光点。并且，在跟踪控制时，对应于O次Gr衍射光的 光点2b位于引导槽8g的正上方，对应于土l次Gr衍射光的光点2b'、 2b" 分别成为以引导槽8g为中心分离到光盘径方向的两个光点。光点2b'、 2b" 分别成为两个，这是由于士l次Gr衍射光的波阵面以中心轴3Y为边界而 相位在左右移位ti。另外，直线光栅3b和直线光栅3c的衍射效率被设定为 使光点2b'、 2b"的光量分别达到光点2b的光量的1/10左右。
图9 (a)是表示现有技术的光盘装置中使用的光检测面的结构与该光 检测面上的光分布状态的图，图9 (b)是表示入射该光盘装置中使用的筒 形透镜之前的光束的图。入射筒形透镜9之前的光束2c、 2c'、 2c"分别对 应于光盘8的信号面8a上的光点2b、 2b'、 2b"。经由光盘8的引导槽8g 形成的衍射光2cp、 2cm，以沿着对应光盘径方向的轴9X移位的形式重叠 在0次Gr衍射光2c上(以下把经由引导槽形成的衍射光称为"槽衍射光")。 ± 1次Gr衍射光2c' 、 2c"的0次槽衍射光以与光盘旋转方向平行的轴9Y
为边界，使相位移位7T， 士l次衍射光以保持着该移位7l的状态并沿轴9X移
位的形式重叠在O次槽衍射光上。光检测面10a上的光点2d、 2d，、 2d"分 别对应于入射筒形透镜9之前的光束2c、 2c'、 2c"。光束2c、 2c'、 2c"透 射筒形透镜9，从而光分布相对筒形透镜9的圆柱面的中心轴翻转，所以光 检测面10a上的光点2d、 2d，、 2d"成为相对光束2c、 2c，、 2c"整体旋转 90度后的光分布(不仅光分布，物镜7的透镜移位(以下也把物镜的透镜 移位简称为"透镜移位")时的光点的移动方向也旋转90度)。在光检测面 10a上配置有分别与光点2d、 2d，、 2d"大致同轴的光检测器11、 11'、 11"。 光检测器11、 11'、 11"分别被与轴9X、 9Y平行的直线(其中，把与轴 9Y平行的直线设为10X)分割为4个检测单元(分别为检测单元lla、 llb、 llc、 lld，检测单元lla，、 llb，、 llc'、 lld，和检测单元lla"、 llb"、 llc"、 lld")，分割线的交点与各个光点2d、 2d'、 2d"的中心大致一致。
在图9中，可以通过各个检测单元获得以下12个信号(检测信号)。Tl二由检测单元lla得到的信号 丁2=由检测单元llb得到的信号 丁3 =由检测单元llc得到的信号 丁4=由检测单元lld得到的信号 Tl' 二由检测单元lla'得到的信号 T2， 二由检测单元llb'得到的信号 T3' 二由检测单元llc'得到的信号 T4， 二由检测单元lld'得到的信号 Tl"=由检测单元lla"得到的信号 T2" 二由检测单元llb"得到的信号 T3"=由检测单元llc"得到的信号 T4" 二由检测单元lld"得到的信号
使用这些检测信号，利用下式(1) (3)运算针对光盘轨道的跟踪 错误信号TE、针对光盘的信号面的聚焦错误信号FE、和光盘的信号面的 再生信号RF。
TE=T1+T2—T3—T4
—kX (T1， +T2， _T3， _T4， +T1" +T2" —T3" —T4") 式(1)
FE=T1+T3—T2—T4 式(2)
RF=T1+T2+T3+T4 式(3)
其中，系数k的大小被设定为用于消除可跟踪控制时的透镜移位而产 生的跟踪错误信号的偏移。例如，光点2d，、 2d"的光量分别为光点2d的 光量的1/10左右时，系数k的大小约为5。
图10是说明现有技术的光盘装置由于透镜移位产生的跟踪错误信号 的偏移的图(使筒形透镜的90度旋转恢复原状进行说明)。
如图10所示，在物镜7从光轴L向光盘径方向(轴10X的方向)移 位s时，沿着光轴L旋转对称地入射物镜7的高斯分布的光2A在光盘8的 信号面8a上反射后，成为移位2s (相对物镜7的中心轴7c仅移位e)后的 分布的光2B。因此，光检测器ll上的光点2d也成为以移动与2s成比例的 量(严格地讲是向2s乘以(筒形透镜9的像散的一半)/ (准直透镜5的焦点距离)后的值)的位置2D为中心的光分布，而且物镜7的开口的、沿着 对光检测面10a的光线投影所得的图形即圆7a (移动与e成比例的量)的外 侧被遮光。结果，由检测单元llc、 lld检测的光量大于由检测单元lla、 lib检测的光量，在只能由检测器11得到的跟踪错误信号(TE=T1+T2 —T3—T4)中产生偏移。该偏移的产生在光检测器11'、 11"中也完全相 同，在只能由光检测器ll，得到的跟踪错误信号(TE=T1， +T2， 一T3' —T4')、只能光由检测器11"得到的跟踪错误信号(TE二T1" +T2"— T3" —T4")中，在按照检测光量进行标准化时，在相同极性产生相同量的 偏移。另一方面，在光盘8的信号面8a上的光点偏离轨道时产生的跟踪错 误信号，在只能由检测器光11得到的跟踪错误信号和只能由光检测器11'、 ll"得到的跟踪错误信号中极性相反。这是因为光检测器ll'、 ll"上的光
点的槽衍射光的相位以与光盘旋转方向平行的轴为边界移位7U，使得槽衍射
光之间的干涉关系翻转。因此，根据上述式(1)得到的跟踪错误信号与只 能由光检测器11得到的跟踪错误信号(T1+T2—T3—T4)相比，不会破 坏检测灵敏度(相反提高检测输出)，能够消除伴随透镜移位形成的偏离轨 道的影响。
专利文献l:日本特开平9—81942号公报
在上述以往的光盘装置中存在以下问题。艮口，在图8中，光点2b，、 2b"的位置偏移，在该光点2b'、 2b"各自的两个光点的中心位于引导槽 8g的中间部81附近时，只能由光检测器ll'、 11"得到的跟踪错误信号的 极性与只能由光检测器ll得到的跟踪错误信号的极性相同。并且，由于即 使光点2V、 2b"的位置变化，透镜移位造成的跟踪错误偏移的产生方式也 不变，所以如果确定用于消除伴随透镜移位形成的偏离轨道的影响的系数 k,则根据上述式(1)得到的跟踪错误信号的检测输出变小，检测输出有 时成为零。因此，在上述以往的光盘装置中，需要对形成有直线光栅3b、 3c的透明基板3进行高精度的旋转调整，以使光点2b，、 2b"各自的两个 光点以引导槽8g为中心对称，，这使得光盘装置的装配变困难。

发明内容
本发明就是为了解决现有技术的所述问题而提出的，其目的在于提供一种光盘装置，即使不对直线光栅进行旋转调整，也能够消除伴随透镜移 位而形成的偏离轨道的影响，而且不会损耗跟踪错误信号的检测输出。
为了达到所述目的，本发明涉及的光盘装置的结构的特征在于，具有 放射光源、形成于衍射栅格面上的衍射栅格、物镜、光分支单元和光检测
器，从所述放射光源射出的光透射所述衍射栅格后分离为透射光a、 +1次 衍射光b和一 1次衍射光c，所述透射光a、所述+1次衍射光b和所述—1 次衍射光c在其一部分重合的状态下经过所述物镜聚光于光盘的信号面上 的轨道，在所述信号面上的轨道上反射的光经过所述物镜入射所述光分支 单元，入射到所述光分支单元的光中，根据其入射位置，与所述透射光a 对应的光分支为光al、 a2这两种光，各自入射所述光检测器上的光检测区 域A1、 A2，与所述+1次衍射光b对应的光分支为光bl、 b2这两种光， 各自入射所述光检测器上的光检测区域B1、 B2，与所述一l次衍射光c对 应的光分支为光cl、 c2这两种光，各自入射所述光检测器上的光检测区域 Cl、 C2，通过组合来自所述光检测区域Al、 A2、 Bl、 B2、 Cl、 C2的检 测信号，生成对所述光盘的轨道的跟踪错误信号。
在所述本发明的光盘装置的结构中，优选所述物镜和所述光分支单元 被一体固定。
并且，在所述本发明的光盘装置的结构中，优选所述光检测区域B2 在乘以常数k后的状态下与所述光检测区域Al电气导通，而且所述光检测 区域Cl在乘以系数k后的状态下与所述光检测区域A2电气导通。
并且，在所述本发明的光盘装置的结构中，优选所述光检测区域Al 和所述光检测区域C2是电气导通或者相同的光检测区域，而且所述光检测 区域A2和所述光检测区域B1是电气导通或者相同的光检测区域。并且， 在该情况下，在将所述光检测区域A1、 A2的检测信号的差分设为AT1、将 所述光检测区域B2、 Cl的检测信号的差分设为AT4时，使用系数k通过 ATI—kXAT4运算对所述光盘的轨道的跟踪错误信号。
并且，在所述本发明的光盘装置的结构中，优选与所述+1次衍射光b 对应的所述光分支单元上的投影区域具有不超过所述物镜的半径的宽度， 而且通过所述物镜的中心并沿着对应于光盘旋转方向的直线。并且，在该 情况下，在将所述物镜的开口沿着去程的光线投影于所述衍射栅格面上时，所述衍射栅格面上的所述衍射栅格的区域具有不超过所述开口的投影图形 的半径的宽度，而且通过所述开口的投影图形的中心并沿着对应于光盘旋 转方向的直线。该情况时，还优选所述衍射栅格是沿着光盘径方向的直线 光栅。在该情况下，还优选所述衍射栅格的区域位于所述开口的投影图形 的外侧。在该情况下，还优选所述衍射栅格沿着对应于光盘旋转方向的直 线被划分为多个窄条形状区域，在每隔一个的窄条形状区域中，所述衍射 栅格的凹凸同步，在相邻的窄条形状区域中，所述衍射栅格的凹凸偏移
1/5 1/2节距。
并且，在所述本发明的光盘装置的结构中，优选所述光分支单元被通 过所述物镜的中心并与光盘旋转方向平行的直线分割为两个区域，在各个 区域中，分别分支成所述光al和所述光a2、所述光bl和所述光b2、所述 光cl和所述光c2。
并且，在所述本发明的光盘装置的结构中，优选在将所述光检测区域 Al、 A2的检测信号的差分设为AT1、将所述光检测区域B1、 B2的检测信 号的差分设为AT2、将所述光检测区域C1、 C2的检测信号的差分设为AT3 时，使用系数k通过AT1—kX (AT2+AT3)运算对所述光盘的轨道的跟踪 错误信号。
发明效果
根据本发明，可以提供一种光盘装置，即使不对直线光栅进行旋转调 整，也能够消除伴随透镜移位形成的偏离轨道的影响，而且不会损耗跟踪 错误信号的检测输出。


图1 (a)是表示本发明的实施方式中的光盘装置的侧视图，图1 (b) 是表示该光盘装置的光源部分的俯视图，图1 (c)是表示在该光盘装置中 使用的光栅面上形成的光栅图案和该光栅面上的光分布状态的图，图1 (d) 是表示光盘的信号面的结构和该信号面上的光分布状态的图，图1 (e)是 表示在该光盘装置中使用的全息面上的光栅图案的节距较大时的光分布状 态的图，图1 (f)是表示在该光盘装置中使用的全息面上的光栅图案的节 距较小时的光分布状态的图。图2 (a)是表示在本发明的第1实施方式的光盘装置中使用的光检测 器上形成的光检测图案和相对从放射光源射出的激光的回程光在该光检测 器上的光分布状态的图，图2 (b)是表示该光盘装置中使用的全息图的结 构的图。
图3是表示在本发明的第1实施方式中聚焦光相对光盘的信号面散焦 时的光检测面上的光分布状态的图，(a)表示光盘的信号面处于远离物镜 的一侧的情况，(b)表示光盘的信号面处于接近物镜的一侧的情况。
图4是表示在本发明的第1实施方式的光盘装置中来自光盘的回程光 在全息面上的光分布状态的图，(a)表示O次Gr衍射光的情况，(b)表示 ±1次Gr衍射光的情况。
图5是说明在本发明的第1实施方式的光盘装置中由于物镜的透镜移 位而产生的跟踪错误信号的偏移的图，(a)表示0次Gr衍射光在全息面上 的光分布状态，(b)表示士l次Gr衍射光在全息面上的光分布状态，(c) 表示槽衍射光在全息面上的光分布状态。
图6 (a)是表示在本发明的第2实施方式的光盘装置中使用的光检测 器上形成的光检测图案和相对从放射光源射出的激光的回程光在该光检测 器上的光分布状态的图，图6 (b)是表示该光盘装置中使用的全息图的结 构的图。
图7是表示在本发明的第2实施方式中聚焦光相对光盘的信号面散焦 时的光检测面上的光分布状态的图，(a)表示光盘的信号面处于接近物镜 的一侧的情况，(b)表示光盘的信号面处于远离物镜的一侧的情况。
图8 (a)是表示现有技术的光盘装置的侧视图，图8 (b)是表示在该 光盘装置中使用的光栅面上形成的光栅图案和该光栅面上的光分布状态的 图，图8 (c)是表示光盘的信号面的结构和该信号面上的光分布状态的图。
图9 (a)是表示现有技术的光盘装置中使用的光检测面的结构和在该 光检测面上的光分布状态的图，图9 (b)是表示入射该光盘装置中使用的 筒形透镜之前的光束的图。
图10是说明现有技术的光盘装置中由于透镜移位而产生的跟踪错误 信号的偏移的图。
具体实施例方式
以下，使用实施方式进一步具体说明本发明。另外，关于与现有技术 的光盘装置相同的构成部分，赋予相同参照符号来进行说明。 [第1实施方式〗
图1 (a)是表示本发明的实施方式的光盘装置的侧视图，图1 (b)是 表示该光盘装置的光源部分的俯视图，图1 (c)是表示在该光盘装置中使 用的光栅面上形成的光栅图案和该光栅面上的光分布状态的图，图1 (d) 是表示光盘的信号面的结构和该信号面上的光分布状态的图，图1 (e)是 表示在该光盘装置中使用的全息面上的光栅图案的节距较大时的光分布状 态的图，图1 (f)是表示在该光盘装置中使用的全息面上的光栅图案的节 距较小时的光分布状态的图。
如图1 (a)所示，本实施方式的光盘装置具有由半导体激光器等构 成的放射光源1、使从放射光源1射出的光衍射的衍射栅格、把经由衍射栅 格衍射后的光转换为平行光的准直透镜5、把直线偏振光转换为圆偏振光并 把圆偏振光转换为直线偏振光的1/4波长板6、使所述平行光在光盘8的信 号面8a上的轨道上聚光的物镜7、使在光盘8的信号面8a反射的光(回程 光)衍射的全息图、以及使由全息图衍射的回程光聚光的光检测器。
如图1 (a)、 (b)所示，光检测器具有光检测基板10和形成于光检测 基板10上的光检测面10a。光检测面10a大致位于准直透镜5的焦平面位 置(即，图1 (b)所示的放射光源1的发光点la的虚拟发光点位置)。放 射光源1安装在光检测基板10上。并且，在光检测基板10上安装着接近 放射光源1的反射镜12，用于反射从放射光源1射出的激光并使其光路折 弯。
如图1 (a)、 (c)所示，衍射栅格具有透明基板3和形成于透明基板3 的表面(光栅面3a)的直线光栅3b、 3c。其中，直线光栅3b和直线光栅 3c沿着通过光栅面3a的中心30的轴3Y分离形成。更加具体地讲，在使 物镜7的开口沿着入射光线(去程的光线)投影于光栅面3a上而成的图形 设为圆2a时，直线光栅3b、 3c的区域位于圆2a的外侧。各个光栅是相等 节距，其方位与轴3Y正交(即，与正交于轴3Y的轴3X平行)。并且，直 线光栅3b、 3c分别沿着轴3Y被划分为间隔20nm (或20pm 40nm)的两个区域，在两个区域之间，光栅的相位偏移l/4节距(即7U/2)(优选相位移 位为1/5 1/2节距左右)。直线光栅3b和直线光栅3c在轴3X方向的宽度 为圆2a的直径的1/3左右(至少不超过圆2a的直径的1/2)。并且，直线光 栅3b和直线光栅3c是沿着轴3Y的断面为锯齿状或与锯齿状内切的阶梯形 状，其衍射效率被设定为使光点2b'、 2b"的光量分别达到光点2b的光量 的1/10左右(在本实施方式中，与现有技术不同，由于限定了光栅的区域， 所以衍射光的光量减少，为了弥补这一点，采用锯齿状等高衍射效率的断 面)。
如图1 (a)、 (e)、 (f)所示，全息图具有偏振光性全息基板13和形成 于偏振光性全息基板13上的作为光分支单元的全息面13a。 1/4波长板6 设置在形成有全息面13a的偏振光性全息基板13上(1/4波长板6贴合在 偏振光性全息基板13上)，它们与物镜7固定在同一壳体内，并可以与该 物镜7—体移动。
如图1所示，从放射光源1的发光点la射出的激光2在反射镜12反 射后透射透明基板3，然后经由准直透镜5聚光成为平行光。该平行光透射 偏振光性全息基板13,经由1/4波长板6被从直线偏振光(S波或P波) 转换为圆偏振光，然后由物镜7聚光，并聚焦于光盘8的信号面8a上(连 接光点)。从放射光源1射出并透射透明基板3的光(透射光)在光栅面3a 上的光点的形状为以光栅面3a的中心30为中心的圆2a。透射透明基板3 的激光2在光栅面3a上的光分布也扩散到圆2a的外侧，该扩散的成分通 过直线光栅3b和直线光栅3c被衍射，产生± 1次衍射光(以下把经由光栅 形成的衍射光称为"Gr衍射光")。并且，这些衍射光中能够入射物镜7的 开口内的光是在光轴侧衍射的成分(在直线光栅3b上的一l次Gr衍射光 和在直线光栅3c上的+ 1次Gr衍射光)，这些成分与透射圆2a的内侧的成 分(虽然不衍射，但为了方便称为"0次Gr衍射光")相结合，在光盘8 的信号面8a上连接光点。
在光盘8的信号面8a反射的光透射物镜7，经由1/4波长板6被转换 为直线偏振光(P波或S波)，然后入射全息面13a。入射全息面13a的所 述直线偏振光被该全息面13a衍射，从而被分支成为把光轴L作为对称轴 的+ 1次衍射光2'和一1次衍射光2"(以下把经由全息形成的衍射光称为"全息衍射光")。并且，各个全息衍射光经由准直透镜5成为聚焦性的光， 并入射光检测基板10的光检测面10a上。
在跟踪控制时，对应0次Gr衍射光的光点2b位于引导槽8g的正上方， 但对应土l次Gr衍射光的光点2b'、 2b"(分别对应于在直线光栅3c上的 + 1次Gr衍射光和在直线光栅3b上的一l次Gr衍射光)也可以不位于引 导槽8g的正上方。另外，士l次Gr衍射光的波阵面分别沿着轴3Y被划分 为间隔20nm的两个区域，在两个区域之间，相位移位tt/2，所以它们的聚 焦光成为在引导槽8g的方位(光盘旋转方向)分离的3个光点(相位在两 个区域之间移位7i时，成为两个光点)。在光盘8的信号面8a反射并透射物 镜7后入射全息面13a的光，是在0次Gr衍射光2e上重叠± 1次Gr衍射 光2e'、 2e"形成的(Gr衍射光2e、 2e'、 2e"分别对应于光点2b、 2V、 2b")， 土l次Gr衍射光2e，、 2e"的沿着光盘径方向(轴13X的方向)的 宽度为0次Gr衍射光2e的直径(物镜7的开口直径)的1/3左右。在直 线光栅3b、 3c的节距较大时，士l次Gr衍射光2e'、 2e"分离不重合(参 照图l (e))，但在直线光栅3b、 3c的节距较小时，土l次Gr衍射光2e'、 2e"均成为越过轴13X而重合的分布(参照图1 (f))。
图2 (a)是表示在本发明的第1实施方式的光盘装置中使用的光检测 器上形成的光检测图案和相对从放射光源射出的激光的回程光在该光检测 器上的光分布状态的图，图2 (b)是表示该光盘装置中使用的全息图的结 构的图。其中，在图2 (a)、 (b)示出了从光盘侧观看时的光检测面、全息 面。另外，全息面13a上的士l次Gr衍射光2e'、 2e"为图1 (e)状态。
如图2 (b)所示，全息面13a被在光轴L与全息面13a之间的交点130 上正交的两条直线(13X、 13Y)分割为4个象限131、 132、 133、 134。轴 13X与光盘径方向平行，经由形成于光盘8的信号面8a上的引导槽8g形 成的衍射光2ep、 2em，以沿着对应光盘径方向的轴13X移位的形式重叠在 全息面13a上的回程光(0次Gr衍射光2e)上(以下把经由引导槽形成的 衍射光称为"槽衍射光")。在图2 (b)中，以来自DVD—R和DVD—RW 等狭小节距格式的光盘的回程光为例，利用虚线表示槽衍射光的轮廓。并 且，该光通过全息面13a，从而产生士l次的衍射光，并按照每个象限131、 132、 133、 134分割后入射光检测基板10上的光检测面10a。另一方面，如图2 (a)所示，在光检测面10a上，把在光轴L与光检 测面10a之间的交点100上正交并与轴13X、 13Y平行的两条直线作为轴 IOX、 IOY，在轴10X的负恻交替配置有沿着轴10X的梳齿状的聚焦检测 单元95、 96 (被赋予了相同参照符号的检测单元电气导通)，在轴10X的 正侧配置有方形状的跟踪检测单元91、 92、 92'、 93、 94、 94'(光检测图 案)。这些跟踪检测单元91、 92、 92，、 93、 94、 94，形成以跟踪检测单元 92、94的边界线的中心为中心对称旋转180。的形状，跟踪检测单元92、92'、
94、 94'在轴10Y的方向排列成一列，跟踪检测单元91、 93从该轴10Y 方向的排列沿着轴IOX在彼此相反的方向错开。另外，从放射光源1的发 光点la射出的激光2在与纸面平行的面内与轴IOY平行地前进，通过反射 镜12在光轴L的方向(通过点100与纸面正交的方向)反射。
全息面13a上的0次Gr衍射光2e中，通过全息面13a的象限131衍 射的+ 1次全息衍射光聚光于收纳在跟踪检测单元91内部的光点2dl，通 过全息面13a的象限131衍射的一l次全息衍射光聚光于跨越聚焦检测单元
95、 96的边界的光点2D1，通过全息面13a的象限132衍射的+ 1次全息 衍射光聚光于收纳在跟踪检测单元92内部的光点2d2，通过全息面13a的 象限132衍射的一l次全息衍射光聚光于跨越聚焦检测单元95、 96的边界 的光点2D2,通过全息面13a的象限133衍射的+ 1次全息衍射光聚光于收 纳在跟踪检测单元93内部的光点2d3，通过全息面13a的象限133衍射的 一1次全息衍射光聚光于跨越聚焦检测单元95、 96的边界的光点2D3，通 过全息面13a的象限134衍射的+ 1次全息衍射光聚光于收纳在跟踪检测单 元94内部的光点2d4，通过全息面13a的象限134衍射的一1次全息衍射 光聚光于跨越聚焦检测单元95、 96的边界的光点2D4。
并且，全息面13a上的+ l次Gr衍射光2e'中，通过全息面13a的象 限131衍射的全息衍射光聚光于检测单元外部的光点2dl'，通过全息面13a 的象限132衍射的全息衍射光聚光于收纳在跟踪检测单元92'内部的光点 2dT。并且，全息面13a上的一l次Gr衍射光2e"中，通过全息面13a的 象限133衍射的全息衍射光聚光于检测单元外部的光点2d3"，通过全息面 13a的象限134衍射的全息衍射光聚光于收纳在跟踪检测单元94'内部的 光点2d4"。关于0次Gr衍射光2e，通过全息面13a的各个象限131、 132、 133、 134衍射的一1次全息衍射光聚光的光点2D1、 2D2、 2D3、 2D4分别形成 在相对点100与+ l次全息衍射光聚光的光点2dl、 2d2、 2d3、 2d4大致点 对称的位置。
对此，±1次Gr衍射光2e， 、 2e"的全息衍射光把0次Gr衍射光2e 的全息衍射光的聚光位置作为基点，十l次Gr衍射光2e'的全息衍射光聚 光于移位到轴IOY的正侧的位置，一l次Gr衍射光2e"的全息衍射光聚光 于移位到轴10Y的负侧的位置。
另夕卜，光点2D1、 2D2、 2D3、 2D4的轴10X的方向的焦线也可以在 光检测面10a的任一侧(接近里侧(远离全息面13a的一侧)或跟前侧(接 近全息面13a的一侧))，但光点2D1、 2D3的轴10Y的方向的焦线位于光 检测面10a的里侧(或跟前)，光点2D2、 2D4的轴10Y的方向的焦线位于 光检测面10a的跟前(或里侧)。并且，也可以考虑以下方式，把全息面13a 的各个象限131、 132、 133、 134分别分割为沿着轴13Y的窄条形状区域， 使通过每隔一个的窄条形状区域衍射的全息衍射光聚光于光检测面10a的 里侧，使通过剩余的窄条形状区域衍射的全息衍射光聚光于光检测面10a 的跟前。
在图2中，通过各个检测单元可以得到以下8个信号(检测信号)。
Tl =由检测单元91得到的信号
T2=由检测单元92得到的信号
T3 =由检测单元93得到的信号
T4=由检测单元94得到的信号
T2'=由检测单元92'得到的信号
T4'=由捡测单元94'得到的信号
Fl =由检测单元95得到的信号
F2=由检测单元96得到的信号
使用这些检测信号，根据下式(4) (7)运算针对记录型光盘的轨 道的跟踪错误信号TE1、针对DVD—ROM等再生专用光盘的轨道的跟踪 错误信号TE2、针对光盘的信号面的聚焦错误信号FE、和光盘的信号面的 再生信号RF。TE1=T4—T2—kX (T4， 一T2，) 式(4)
TE2二T1+T3—T2—T4 式(5)
FE二F1—F2 式(6)
RF=T1+T2+T3+T4 式(7)
其中，系数k的大小被设定为能够消除伴随跟踪控制时的物镜7的透 镜移位(以下把物镜的透镜移位简称为"透镜移位")形成的偏离轨道的影 响。
图3是表示在本发明的第1实施方式中聚焦光相对光盘的信号面散焦 时的光检测面上的光分布状态的图，(a)表示光盘的信号面处于远离物镜 的一侧的情况，(b)表示光盘的信号面处于接近物镜的一侧的情况。另外， 在图3中，仅示出了 + 1次全息衍射光侧的光点，但一l次全息衍射光侧的 光点在相对点100与+ 1次全息衍射光侧的光点大致点对称的位置。在图3 (a)、 (b)中，光分布2dl、 2d3未形成于检测单元92、 92， 、 94、 94，上。 这是因为光分布2dl、 2d3的基点2dlS、 2d3S位于相比其他检测单元在沿 着轴10X彼此相反的方向错开的检测单元91、 93上。
在双层盘(作为DVD—R和蓝光(Blu—ray)盘等被商品化的、两个 信号面夹着数十pm厚的粘接层(厚度d、折射率n)形成双层结构的光盘) 中，当在一方的信号面上聚焦时，在另一方的信号面反射的光以在去程和 回程中分别散焦d/n、在往返行程中散焦2d/n的状态返回到光检测面上。 并且，根据光检测器的结构，在另一方的信号面反射的光作为杂散光混入， 给跟踪错误信号和聚焦错误信号带来较大影响。但是，在本实施方式中， 在基于上述式(4)的跟踪错误检测中，只使用检测单元92、 92'、 94、 94'， 所以光点的一半(2dl、 2d3)不会成为跟踪错误检测中的杂散光，其他光 点(2d2、 2d4)也以保持对称关系的状态覆盖在跟踪检测单元上，所以对 于跟踪错误信号TE1的干扰被消除。结果，可以稳定双层盘中的跟踪控制， 消除跟踪控制时的偏离轨道和轨道跳越。
图4是表示在本发明的第1实施方式的光盘装置中来自光盘的回程光 在全息面上的光分布状态的图，(a)表示O次Gr衍射光的情况，(b)表示 土l次Gr衍射光的情况(实际上这些Gr衍射光重合着返回)。如图4 (a) 所示，经由形成于光盘8的信号面8a上的引导槽8g形成的衍射光2ep、2em，以沿着对应光盘径方向的轴13X移位的形式重叠在入射全息面13a之前的 光束(0次Gr衍射光2e)上。在把物镜7的焦点距离设为f、把光的波长 设为X、把引导槽8g的光盘径方向的节距设为A时，根据Di/A赋予移位量。 当然，在全息面13a上的回程光由于物镜7的开口的外侧被切，所以只有 将物镜7的开口沿着光线投影于全息面13a上形成的图形即圆7a的内侧成 为回程光。在0次Gr衍射光2e中具有与其土l次槽衍射光2ep、 2em重合 的区域(重叠区域)。因此，在光点2b从引导槽8g偏离轨道时，槽衍射光 的相位信息变化，在重叠区域之间产生光强度差，该光强度差被用作跟踪 错误信号。在图4 (b)中，±1次槽衍射光2em、 2em，以及它们的+ 1次 槽衍射光2ep'、 2ep"和—1次槽衍射光2em'、 2em"，作为回程光入射全 息面13a。 ±1次槽衍射光2ep，、 2ep"、 2em，、 2em"相对0次槽衍射光沿 着轴13X移位a/A。 ±1次Gr衍射光2e' 、 2e"以及它们的+ 1次槽衍射光 2ep'、 2ep"和一l次槽衍射光2em'、 2em"，在轴13X的方向的宽度为w， 如果把w的大小设定为圆7a的半径(开口半径)a的1/3程度，则无论哪 种格式的光盘，w都不会超过a/A的1/2。因此，±1次Gr衍射光2e，、 2e" 不会与它们的士l次槽衍射光2ep' 、 2ep"、 2em' 、 2em"重合，即使光点2b'、 2b"从引导槽8g偏离轨道使得槽衍射光的相位信息变化时，该信息也不会 用作跟踪错误信号。即，信号面8a上的光点2V、 2b"可以在相对引导槽 8g的任何位置，不需要像现有技术那样调整相对引导槽8g的位置，所以不 需要直线光栅3b、 3c的旋转调整。
图5是说明在本发明的第1实施方式的光盘装置中由于物镜的透镜移 位而产生的跟踪错误信号的偏移的图，(a)表示0次Gr衍射光在全息面上 的光分布状态，(b)表示士l次Gr衍射光在全息面上的光分布状态，(c) 表示槽衍射光在全息面上的光分布状态。
如图5 (a)所示，在物镜7从光轴L向光盘径方向(轴13X的方向) 移位s时，沿着光轴L旋转对称地入射物镜7的高斯分布的光2A在光盘8 的信号面8a上反射后，成为移位2s (相对物镜7的中心轴7c仅移位s)后 的分布的光2B。因此，全息面13a上的0次Gr衍射光2e也成为以移位2s 后的位置2E为中心的光分布，而且物镜7的开口中沿着向全息面13a上的 光线的投影图形即圆7a的外侧被遮光。并且，由于物镜7和全息面13a被一体固定，所以位置2E从全息面13a的分割线13Y移位s。因此，由检测 单元92检测的光量大于由检测单元94检测的光量，只在由检测单元92、 94得到的信号(T4一T2)中产生偏移。但是，由于全息面13a的分割线13Y 与物镜7 —起移动，所以其偏移量为现有技术的1/3左右。另一方面，如 图5 (b)所示，全息面13a上的土次Gr衍射光2e，、 2e"也成为以移位2s 后的位置2E为中心的光分布，而且物镜7的开口中沿着向全息面13a上的 光线的投影图形即圆7a的外侧被遮光。因此，由检测单元92'检测的光量 大于由检测单元94'检测的光量，在由检测单元92'、 94'得到的信号(T4， 一T2')中也产生偏移。但是，由于圆7a的遮光影响远远小于图5 (a)所 示情况，所以起到使偏移量增大的作用，如果按照检测光量标准化，则为 图5 (a)所示情况的3.5倍左右，与现有技术相比，产生1.1 1.2倍左右 的偏移。并且，根据上述式(4)得到的跟踪错误信号TEl在使光点2b'、 2b"的光量分别是光点2b的光量的1/10时，可以利用大小为k=5/3.5 = 1.43 的系数k消除伴随透镜移位形成的偏离轨道的影响，由于信号(T4' 一T2') 中不包含跟踪错误信号，所以伴随运算形成的检测灵敏度不会恶化。
另外，在0次Gr衍射光2e的跟踪错误信号(T4一T2)中产生伴随透 镜移位形成的偏离轨道的影响的情况，只限于DVD—R和DVD—RW等引 导槽的深度较浅、槽节距较小的光盘，在DVD—RAM等引导槽的深度较 深、槽节距较大的光盘中几乎没有影响。这种现象对于土l次Gr衍射光2e，、 2e"也相同。图5 (c)表示DVD—RAM装置的土1次Gr衍射光2e，、 2e" 及其槽衍射光的状态。如图5 (c)所示，±1次Gr衍射光2e'、 2e"以及它 们的+ l次槽衍射光2ep'、 2ep"和一l次槽衍射光2em'、 2em"只隔着微 小的间隙在轴13X的方向排列，并大致覆盖整个开口 (圆7a)。这些槽衍 射光2印'、2ep"、 2em'、 2em"借助经由深度较深、槽节距较大的引导槽 8g的衍射，使强度一致，结果，在轴13X的方向的光强度基本相同，所以 在信号(T4' —T2')中也几乎没有由于透镜移位产生的偏离轨道输出。因 此，上述式(4)是也可以适用于DVD—RAM等槽节距较大的光盘的运算 公式。
并且，在本实施方式中，基于从全息面13a上的两个象限132、 134派 生的衍射光检测跟踪错误信号，不需要研究检测单元的配置，即可在其他两个象限中进行相同处理，可以实现使用全部象限的跟踪错误信号的检测。
下面，参照图l、图6、图7说明本发明的第2实施方式的光盘装置。 另外，本实施方式与上述第1实施方式相比，仅是基于全息图的光衍射的 方式不同，其他结构与上述第1实施方式相同，所以对与上述第1实施方 式相同的部件赋予相同的参照符号，并省略其说明(图1在本实施方式和 上述第l实施方式中重复，所以省略其说明)。
图6 (a)是表示在本发明的第2实施方式的光盘装置中使用的光检测 器上形成的光检测图案和相对从放射光源射出的激光的回程光在该光检测 器上的光分布状态的图，图6 (b)是表示该光盘装置中使用的全息图的结 构的图。其中，图6 (a)、 (b)表示从光盘侧观看时的光检测面、全息面。 另外，全息面13a上的土l次Gr衍射光2e'、 2e"为图1 (f)状态。
如图6(b)所示，全息面13a被在光轴L与全息面13a之间的交点130 上正交的两条直线U3X、 13Y)分割为4个象限131、 132、 133、 134。轴 13X与光盘径方向平行，经由形成于光盘8的信号面8a上的引导槽8g形 成的衍射光2ep、 2em，以沿着对应光盘径方向的轴13X移位的形式重叠在 全息面13a上的回程光(0次Gr衍射光2e)上。在图6 (b)中，以来自 DVD—R和DVD—RW等狭小节距格式的光盘的回程光为例，利用虚线表 示槽衍射光的轮廓。并且，该光通过全息面13a，从而产生土l次的衍射光， 并按照每个象限131、 132、 133、 134分割后入射光检测基板10上的光检 测面10a。
另一方面，如图6 (a)所示，在光检测面10a上，把在光轴L与光检 测面10a之间的交点100上正交并与轴13X、 13Y平行的两条直线作为轴 IOX、 IOY，在轴10X的负侧交替配置有沿着轴10X的梳齿状的聚焦检测 单元95、 96 (被赋予了相同参照符号的检测单元电气导通)，在轴10X的 正侧配置有方形状的跟踪检测单元91、 92、 92'、 93、 94、 94'(光检测图 案)。这些跟踪检测单元91、 92、 92'、 93、 94、 94'形成以跟踪检测单元 92、94的边界线的中心为中心对称旋转180。的形状，跟踪检测单元92、92'、 94、 94'在轴10Y的方向排列成一列，跟踪检测单元91、 93从该轴10Y 方向的排列沿着轴10X向彼此相反的方向错开。另外，从放射光源l的发光点la射出的激光2在与纸面平行的面内与轴IOY平行地前进，通过反射 镜12向光轴L的方向(通过点100与纸面正交的方向)反射。
全息面13a上的0次Gr衍射光2e中，通过全息面13a的象限131衍 射的+ 1次全息衍射光聚光于收纳在跟踪检测单元91内部的光点2dl，通 过全息面13a的象限131衍射的一l次全息衍射光聚光于跨越聚焦检测单元 95、 96的边界的光点2D1，通过全息面13a的象限132衍射的+ l次全息 衍射光聚光于收纳在跟踪检测单元92内部的光点2d2，通过全息面13a的 象限132衍射的一1次全息衍射光聚光于跨越聚焦检测单元95、 96的边界 的光点2D2，通过全息面13a的象限133衍射的+ 1次全息衍射光聚光于收 纳在跟踪检测单元93内部的光点2d3，通过全息面13a的象限133衍射的 一l次全息衍射光聚光于跨越聚焦检测单元95、 96的边界的光点2D3，通 过全息面13a的象限134衍射的+1次全息衍射光聚光于收纳在跟踪检测单 元94内部的光点2d4，通过全息面13a的象限134衍射的一1次全息衍射 光聚光于跨越聚焦检测单元95、 96的边界的光点2D4。
并且，全息面13a上的+ l次Gr衍射光2e'中，通过全息面Ba的象 限131衍射的全息衍射光聚光于检测单元外部的光点2dl'，通过全息面13a 的象限132衍射的全息衍射光聚光于收纳在跟踪检测单元94内部的光点 2d2'，通过全息面13a的象限133衍射的全息衍射光聚光于检测单元外部 的光点2d3'，通过全息面13a的象限134衍射的全息衍射光聚光于收纳在 跟踪检测单元94，内部的光点2d4，。并且，全息面13a上的一l次Gr衍射 光2e"中，通过全息面Ba的象限131衍射的全息衍射光聚光于检测单元 外部的光点2dl"，通过全息面13a的象限132衍射的全息衍射光聚光于收 纳在跟踪检测单元92'内部的光点2d2"，通过全息面13a的象限133衍射 的全息衍射光聚光于检测单元外部的光点2d3"，通过全息面13a的象限134 衍射的全息衍射光聚光于收纳在跟踪检测单元92内部的光点2d4"。
关于0次Gr衍射光2e，通过全息面13a的各个象限131、 132、 133、 134衍射的一1次全息衍射光聚光的光点2D1、 2D2、 2D3、 2D4分别在相 对点100与+ 1次全息衍射光聚光的光点2dl、 2d2、 2d3、 2d4大致点对称 的位置。
对此，±1次Gr衍射光2e' 、 2e"的全息衍射光把0次Gr衍射光2e，十l次Gr衍射光2e'的全息衍射光聚 光于移位到轴10Y的正侧的位置，一 1次Gr衍射光2e"的全息衍射光聚光 于移位到轴10Y的负侧的位置。
另外，光点2D1、 2D2、 2D3、 2D4的轴10X的方向的焦线也可以位 于光检测面10a的任一侧(接近里侧(远离全息面13a的一侧)或跟前侧 (接近全息面13a的一侧))，但光点2D1、 2D3的轴IOY的方向的焦线位 于光检测面10a的里侧(或跟前)，光点2D2、 2D4的轴10Y的方向的焦线 位于光检测面10a的跟前(或里侧)。并且，也可以考虑以下方式，把全息 面13a的各个象限131、 132、 133、 134分别分割为沿着轴13Y的窄条形状 区域，使通过每隔一个的窄条形状区域衍射的全息衍射光聚光于光检测面 10a的里侧，使通过剩余的窄条形状区域衍射的全息衍射光聚光于光检测面 10a的跟前。
本实施方式的检测单元的名称的定义和信号的检测式与上述第1实施 方式相同，所以省略其说明。
并且，本实施方式除了使il次Gr衍射光2e'、 2e"跨越轴13X、以及 基于全息图的光衍射的方式不同外，其他与上述第1实施方式相同，所以 在士l次Gr衍射光2e'、 2e"的检测信号中，由于透镜移位的影响，产生0 次Gr衍射光2e的3.5倍左右(按照检测光量标准化时)的偏移，另一方面， 关于偏离轨道则没有产生偏移。在跟踪检测单元92的内部存在光点2d2、 2d4"，在跟踪检测单元94的内部存在光点2d4、 2d2'，但光点2d2、 2d2' 是从全息面13a上的轴13X的负侧区域即象限132产生的衍射光，光点2d4、 2d4"是从全息面13a上的轴13X的正侧区域即象限134产生的衍射光，所 以基于透镜移位的偏移为彼此相反的极性。因此，在跟踪检测单元92、 94 中，有关透镜移位的消除作用已经动作，只依靠由跟踪检测单元92、 94得 到的信号(T4一T2)就能够在某种程度上消除伴随透镜移位的偏离轨道的 影响。用于修正剩余的偏离轨道的影响的是由检测单元92'、 94'得到的信 号(T4， 一T2')项。信号(T4， 一T2')由于其检测量较小、修正量也少， 所以利用与上述第1实施方式相同大小的系数k (k-l 2左右)，即可完 全消除偏离轨道的影响，伴随运算消除的跟踪错误信号输出不会恶化。这 样，根据本实施方式，可以获得与上述第1实施方式相同的效果，并且信号面8a上的光点2b，、 2b"相对引导槽8g可以在任何位置，不需要像现有 技术那样调整相对引导槽8g的位置，所以不需要对直线光栅3b、 3c的旋 转调整。
另外，与上述第1实施方式不同，在利用本实施方式的光盘装置检测 的再生信号中包含光点2V、 2b"读取的信号成分，该信号成分使再生信号
(光点2b读取的信号)的质量恶化。但是，信号面8a上的光点2b'、 2b" 分别由在光盘旋转方向扩散的3个光点构成，通过光点2b'、 2b"再生的信 号的AC成分几乎被去除。因此，光点2b'、 2b"读取的信号成分对光点 2b读取的再生信号造成的影响被抑制得充分小。
图7是表示在本发明的第2实施方式中聚焦光相对光盘的信号面散焦 时的光检测面上的光分布状态的图，(a)表示光盘的信号面处于接近物镜 的一侧的情况，(b)表示光盘的信号面处于远离物镜的一侧的情况。另外， 在图7中，仅示出了 + l次全息衍射光侧的光点，一l次全息衍射光侧的光 点在相对点100与+ 1次全息衍射光侧的光点大致点对称的位置。在图7
(a)、 (b)中，光分布2dl、 2d3未形成于检测单元92、 92， 、 94、 94，上。 这是因为光分布2dl、 2d3的基点2dlS、 2d3S位于相比其他检测单元在沿 着轴10X向彼此相反的方向错开的检测单元91、 93上。因此，与上述第l 实施方式相同，光点的一半(2dl、 2d3)不会成为跟踪错误检测中的杂散 光，其他光点(2d2、 2d4)也以保持对称关系的状态覆盖在跟踪检测单元 上，所以对跟踪错误信号TE1的干扰被消除。结果，可以稳定双层盘的跟 踪控制，消除跟踪控制时的偏离轨道和轨道跳越。 产业实用性
如上所述，本发明的光盘装置不需进行直线光栅的旋转调整，即可消 除伴随透镜移位消除的偏离轨道的影响，而且不会损耗跟踪错误信号的检 测输出，作为用于各种光盘的记录再生的光盘装置是很有用。
权利要求
1. 一种光盘装置，其特征在于，具有放射光源、形成于衍射栅格面上的衍射栅格、物镜、光分支单元和光检测器，从所述放射光源射出的光透射所述衍射栅格后分离为透射光a、+1次衍射光b和—1次衍射光c，所述透射光a、所述+1次衍射光b和所述—1次衍射光c在其部分重合的状态下经过所述物镜聚光于光盘的信号面上的轨道，在所述信号面上的轨道上反射的光经由所述物镜入射所述光分支单元，入射到所述光分支单元的光中，根据其入射位置，与所述透射光a对应的光分支为光a1、a2这两种光，各自入射所述光检测器上的光检测区域A1、A2，与所述+1次衍射光b对应的光分支为光b1、b2这两种光，各自入射所述光检测器上的光检测区域B1、B2，与所述—1次衍射光c对应的光分支为光c1、c2这两种光，各自入射所述光检测器上的光检测区域C1、C2，通过组合来自所述光检测区域A1、A2、B1、B2、C1、C2的检测信号，生成对所述光盘的轨道的跟踪错误信号。
2. 根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述物镜和所述光 分支单元被一体固定。
3. 根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于，所述光检测区 域B2在乘以常数k后的状态下与所述光检测区域Al电气导通，而且所述 光检测区域Cl在乘以系数k后的状态下与所述光检测区域A2电气导通。
4. 根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于，所述光检测区 域A1和所述光检测区域C2是电气导通或者相同的光检测区域，而且所述 光检测区域A2和所述光检测区域Bl是电气导通或者相同的光检测区域。
5. 根据权利要求1 4中任一项所述的光盘装置，其特征在于，与所 述+1次衍射光b对应的所述光分支单元上的投影区域具有不超过所述物 镜的半径的宽度，而且通过所述物镜的中心并沿着对应于光盘旋转方向的直线。
6. 根据权利要求1 5中任一项所述的光盘装置，其特征在于，所述 光分支单元被通过所述物镜的中心并与光盘旋转方向平行的直线分割为两 个区域，在各个区域中，分别分支成所述光al和所述光a2、所述光bl和 所述光b2、所述光cl和所述光c2。
7. 根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，在将所述物镜的开 口沿着去程的光线投影于所述衍射栅格面上时，所述衍射栅格面上的所述 衍射栅格的区域具有不超过所述开口的投影图形的半径的宽度，而且通过 所述开口的投影图形的中心并沿着对应于光盘旋转方向的直线。
8. 根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于，所述衍射栅格是沿 着光盘径方向的直线光栅。
9. 根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于，所述衍射栅格的区 域位于所述开口的投影图形的外侧。
10. 根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于，所述衍射栅格沿 着对应于光盘旋转方向的直线被划分为多个窄条形状区域，在每隔一个的 窄条形状区域中，所述衍射栅格的凹凸同步，在相邻的窄条形状区域中， 所述衍射栅格的凹凸偏移1/5 1/2节距。
11. 根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于，在将所述光 检测区域A1、 A2的检测信号的差分设为AT1、将所述光检测区域B1、 B2 的检测信号的差分设为AT2、将所述光检测区域C1、 C2的检测信号的差分 设为AT3时，使用系数k通过AT1—kX (AT2+AT3)运算对所述光盘的轨 道的跟踪错误信号。
12. 根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于，在将所述光检测 区域A1、 A2的检测信号的差分设为AT1、将所述光检测区域B2、 Cl的检 测信号的差分设为AT4时，使用系数k通过ATl—kXAT4运算对所述光盘 的轨道的跟踪错误信号。
全文摘要
从放射光源(1)射出的光透射衍射格子(3a)后，分离为透射光a、+1次衍射光b和-1次衍射光c，透射光a、+1次衍射光b和-1次衍射光c以部分重合的状态经过物镜(7)聚光于光盘(8)的信号面(8a)上的轨道。在信号面(8a)上的轨道上反射的光经过物镜(7)入射光分支单元(13a)。根据该入射位置，对应透射光a的光分支为两种光分别入射光检测区域A1、A2，对应+1次衍射光b的光分支为两种光分别入射光检测区域B1、B2，对应-1次衍射光c的光分支为两种光分别入射光检测区域C1、C2。组合来自光检测区域A1、A2、B1、B2、C1、C2的检测信号，生成针对光盘(8)的轨道的跟踪错误信号。通过形成该结构，即使不对直线光栅进行旋转调整，也不会损耗跟踪错误信号的检测输出，可以消除伴随透镜移动的偏离轨道的影响。
文档编号G11B7/13GK101421785SQ20078001307
公开日2009年4月29日 申请日期2007年3月19日 优先权日2006年4月12日
发明者百尾和雄, 西胁青儿, 麻田润一 申请人:松下电器产业株式会社