光拾取器及光盘装置的制作方法

专利名称：光拾取器及光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明是涉及对光盘中记录的信息进行再现的光拾取器及光盘装置。
背景技术：
作为本技术领域的背景技术，例如有日本专利特开平10 — 269587 号公报。本公报中记述了"通过小型、薄型化，能够容易地防止无用散 乱光的发生，且能够同时进行基于推挽式及3光束法的信号检测"的技 术。而且，作为另一背景技术，例如有日本专利特开2006 — 54006号 公报。本公报中记述了"在从基于推挽式的跟踪误差信号去除偏移量 吋，能够防止再现信号的S/N大幅度下降"的技术。在光盘系统中，为了达到增加记录容量的目的，存在有使信号记 录面为两层的2层盘。例如在DVD中，存在有DVD — R及DVD — RW 的2层盘，能够实现对于单层盘容量的约2倍的容量。而且，在被称 为蓝光盘(以下成为BD)的高密度记录的光盘系统中，也同样存在有 2层盘。在装载于光盘装置的光拾取器中，通过使用来自光盘的反射光， 作为物镜的聚焦方向及跟踪方向的伺服控制用信号。因此，在信号中 应该使用反射光中增加了无用散乱光时，在信号的检测中会产生不匹 配(合适)。从激光光源射出的光束分支为0次光及士l次光的至少3个光束而 照射于光盘上，在由光检测器接受来自光盘的反射光的光拾取器中， 在进行2层盘的再现动作的情况下，存在有来自其它层的无用反射光 就成为散乱光成分，成为跟踪信号的干扰成分的问题。但是在上述专利文献1中，为了排除该散乱光成分而将衍射区域 进行分割，分离为仅接受+ 1次光，或一l次光的区域。因此，衍射的光束的光量就成为原来的一半以下，检测的信号就减小。而且由于 是从不同的分割区域生成士l次光的光束，所以由各区域所衍射的光量 的比例就容易产生偏差，照射于光盘的土l次光的光点位置就难以对于 0次光而对称配置，因此就难以得到良好的伺服信号。而且在专利文献2中，.虽然提出了为了控制再现信号的S/N的低 下的跟踪误差信号检测方式，但是对于来自由2层光盘等由多个记录 层构成的光盘的散乱光，却未进行任何的考虑，关于对散乱光成为跟 踪信号的干扰成分的解决方法，也未有记载。发明内容本发明的目的在于，提供可靠性高的光拾取器及光盘装置。 作为一例，上述目的是通过对将激光导入光检测器的光学系统及光检测器的受光面下工夫而实现的。根据本发明，能够提供可靠性高的光拾取器及光盘装置。 本发明的其他目的、特征与优点，可以通过以下参照附图的实施例的说明而得到进 一 步的理解。


图1是表示本发明的第一实施例中光拾取器的结构的图。图2是关于半导体激光器中装载的激光芯片及偏光的图。 图3是表示偏光衍射光栅中光束的衍射状态的图。 图4是表示对于偏光衍射光栅的入射偏光角度与0次光及士l次光 的光量的关系的图。图5是表示偏光衍射光栅的模式的图。图6是表示光检测器的受光面模式的图。图7是表示跟踪误差信号的生成方法的图。图8是表示光拾取器中光束的偏光状态的图。图9是表示再现2层盘情况下的光束状态的图。图10是表示再现2层盘情况下的光检测器上的光点状态的图。图11是表示历来的光拾取器中跟踪误差信号的变动的图。图12是表示本发明的第二实施例中光检测器的受光区域的图。图13是表示再现2层盘情况下的光检测器上的光点状态的图。图15是表示光检测器的受光面模式的图。图16是表示再现2层盘情况下的光检测器上的光点状态的图。图17是表示本发明的第四实施例中偏光衍射光栅的模式的图。图18是表示光检测器的受光面模式的图。图19是表示再现2层盘情况下的光检测器上的光点状态的图。图20是表示本发明的第五实施例中再现2层盘情况下的光检测器 上的光点状态的图。图21是表示本发明的第六实施例中再现2层盘情况下的光检测器 上的光点状态的图。图22是表示本发明的第七实施例中偏光衍射光栅的模式的图。图23是表示光检测器的受光面模式的图。图24是表示再现2层盘情况下的光检测器上的光点状态的图。 图25是表示本发明的第八实施例中再现2层盘情况下的光检测器 上的光点状态的图。图26是装载有光拾取器的光盘装置的概略方框图。
具体实施方式
作为用于实施本发明的具体结构，使用第一实施例到第五实施例 进行以下的说明。而且，各实施例的适当的组合也能够得到良好效果。 [第一实施例]以下参照附图，对本发明的第一实施例的光拾取器的结构加以说图1是表示本发明的第一实施例中的光拾取器的结构的图。在图1 中，半导体激光器1是能够以405nm带的波长振动的半导体激光器， 常温下的振动波长为405nm。还有，405nm带是能够进行BD记录再 现的波长。图1是表示405nm的波长的光束射出的状态。半导体激光 器1围绕光束的光轴旋转配置，使得由半导体激光器1所射出的光束 成为与纸面平行的偏光状态(以下称为P偏光)的光束。光束到达半 导体激光器之前的二分之一波长板2。这里，二分之一波长板2，是对图14是表示本发明的第三实漠式的于规定方向的入射偏光，附加与半导体激光器1的波长的二分之一相 当的相位差的波长板，这里通过将入射的P偏光旋转约85度的角度， 几乎能够全部地变换为与纸面垂直的偏光方向的(以下称为S偏光) 的直线偏光。射出到二分之一波长板2的光束，到达PBS棱镜3。 PBS棱镜3 是具有以下特征的元件，由内部具有对于从半导体激光器1射出的光 束的射出光轴呈45。的角度的膜面的长方体构成，并利用形成在该膜面 上的膜，反射405nm带波长的光束的S偏光成分的约100%，反射P 偏光成分的约0%。因此，到达PBS棱镜3的光束几乎都是S偏光成 分，所以相对于入射方向向90°方向反射，光束的一部分的P偏光成分， 透过PBS棱镜3，到达用于监视光束的光量的前面监视器(front monitor ) 5 。在PBS棱镜3的反射膜上，被反射的光束由准直透镜4变换为平 行的光束。射出到准直透镜4的光束，透过四分之一波长板6。这里， 透过准直透镜4的光束，在由四分之一波长板6变换为圆偏光后，入 射到物镜7。物镜7是具有以下功能的物镜，在405nm带的光束以平 行光入射的情况下，例如BD那样，可对于基板厚度为O.lmm的第一 光盘11的信息记录面进行聚焦。物镜7保持于与驱动线圈9成为一体的促动器8，在与驱动线圈9 相对的位置上配置有磁铁10。因此，对驱动线圈9通电，会发生由来 自磁铁10的反力引起的驱动力，由此，物镜7能够在光盘11的大致 半径方向及与盘面垂直的方向上移动。这里，透过物镜7的光束，基 于由前面监视器5所检测的光量，能够推定透过物镜7的光束的光量， 或者在光盘11上聚光的光点的光量。经光盘11反射的光束，经由与去路光同样的光路返回到与去路光 相反的方向，经过物镜7而到达四分之一波长板6。此时，由于光束的 大致全部偏光是与去路相同的圆偏光，所以透过四分之一波长板6后 能够变换为与去路垂直的P偏光。其后，光束入射到准直透镜4。由准 直透镜4将光束从平行光变换为收束光，到达PBS棱镜3。到达PBS 棱镜3的光束由于是P偏光成分，所以能够100%地透过PBS棱镜3 的膜面。在PBS棱镜3之后，在直线上配置有检测透镜12、 二分之一波长板13、偏光衍射光栅14、平板15。检测透镜12是为了放大检出系统 侧的合成焦点距离，以及消除由配置在之后的像散发生用的平板15所 发生的多余的慧型像差的透镜。二分之一波长板13，对其方位角进行 设定，如后面所述，以使光束的偏光方向沿光轴旋转24度。偏光衍射 光栅14将入射的光束根据其偏光状态，将光束分支为0次光和±1次光 的3个光束，照射到光检测面16。关于其详细内容，后面进行叙述。 透过偏光衍射光栅14的光束，由透过准直透镜4而己经成为收束光，-在透过相对光束的行进方向倾斜的平板15时会对光束施加像散，其后， 光束聚光于光检测器16的规定的光检测面。在光检测器16上，利用 接收到的光束而输出从光盘11得到的伺服信号和再现信号等。利用以上说明的光学部件和电气部件的组合，能够构成光拾取器17。接着，使用图2，对装载于半导体激光器的激光芯片及偏光进行说 明。在图2中，激光芯片40射出405nm带的光朿，装载在基板42之 上，并装载在图1所示的半导体激光器1的内部。在激光芯片40的内 部，形成有活性层41，由该活性层的端面射出光束。从激光芯片40 中的活性层41的端面，向着与激光芯片40的长度方向大致平行的方 向射出的405nm带的光束，使相对光束光轴与活性层41平行的方向9h (水平方向)的扩展角度变窄，与活性层41的垂直方向0v(垂直方向) 的扩展角度变宽。例如该扩展角度大约为9。和18°，光束的扩展43是 在0v方向上长的椭圆状强度分布。这里，从激光芯片40射出的光束 的振动面，与平行于活性层41的面，即与eh方向大致一致，是沿着 图中箭头所示的方向振动，也就是成为P偏光的偏光状态。图3是表示偏光衍射光栅中光束的衍射状态的图，抽出了图1中 二分之一波长板13与偏光衍射光栅14的部分。在图3中，来自未图 示的光盘11的返回的光束，沿图中箭头18所示的方向行进，成为入 射到二分之一波长板13的光。入射到二分之一波长板13的光束的偏 光方向，是与纸面平行的偏光方向(P偏光)。这里，由于二分之一波 长板13的方位角沿光轴旋转12度而倾斜，所以透过二分之一波长板 13的光束的偏光方向，如图中所示，是沿光轴旋转01=24度而倾斜的直线偏光，在不仅具有P偏光，也具有S偏光成分的状态下，入射到偏 光衍射光栅14。在偏光衍射光栅14中，由于是由光栅将成为S偏光成分的光束作为规定角度的士l次光而衍射，所以相当于cosa的平方的光 量衍射分支为+ 1次光和一l次光。此时，被衍射的士l次光20、 21的 偏光方向，就成为图中由圆圈所示的与纸面垂直的振动面的S偏光。 另一方面，入射到偏光衍射光栅14的光束中相当于sina的平方的光量， 作为0次光而直接通过偏光衍射光栅14。此时，0次光的偏光方向， 成为图中由箭头所示的与纸面平行的振动面的P偏光。就是说，透过 偏光衍射光栅14后的光束19，分支为由P偏光成分构成的0次光19， 以及由S偏光成分构成的士l次光20、 21。接着对入射到偏光衍射光栅14的光束的偏光角度与0次光及士l 次光的光量的关系加以说明。图4是表示相对偏光衍射光栅的入射偏 光角度与0次光及土1次光的光量的关系的图。这里，为了对讨论进行 简化，第一实施例中的偏光衍射光栅14，仅将S偏光成分衍射为各50% 的光量的+1次光与一l次光的光朿。因此，在P偏光的光束入射角度 为0度的情况下，不是全光量衍射，而是原封不动地透过，0次光的光 量为1， +1次光与一l次光的光量为0。由于随着入射偏光的入射角 度从0度增大，衍射的S偏光成分相对增加，所以0次光减少，+1 次光与一l次光却反而增加。这里，+1次光与一1次显示出相同的行 为。.0次光与士l次光的比例，从再现信号中尽量多的使用0次光的观 点来看，希望能够将士l次光的总和对于0次光的比例设定为大约10 比l。例如，在将0次光设定为士1次光的IO倍的光量的情况下，将向 偏光衍射光栅14入射的入射偏光的角度设定为24度即可。接着，使用图5对第一实施例中偏光衍射光栅的模式(pattern)加 以说明。图5是表示偏光衍射光栅14的模式的图。在偏光衍射光栅14 的表面形成偏光依存性的衍射光栅沟，该衍射光栅沟对于S偏光衍射 约100%，对于S偏光透过约100%。对于垂直于图中上下方向所示的 衍射光栅沟的方向，由光盘的沟结构所得到的图中虚线所示的光束50 的衍射模式(ball shape像)的方向，即盘的半径方向，使偏光衍射光 栅14与图中上下方向一致地配置。接着对检测器的受光面模式加以说明。图6是表示光检测器16的受光面模式的图。在光检测器16上，形成3个受光区域70、 71、 72， 在以受光区域70为中心相互对向的位置上配置有受光区域71与72。 受光区域70由4个受光面73、 74、 75、 76而分割为"田"字型。来自 各受光面的输出分别为，受光面73从端子a输出、受光面74从端子b 输出、受光面75从端子c输出、受光面76从端子d输出。受光区域 71是由2个带状的受光面77、 78上下连接。来自各受光面的输出分别 为，受光面77从端子e输出、受光面78从端子f输出。受光区域72 是由2个带状的受光面79、 80上下连接构成。来自各受光面的输出分 别为，受光面79从端子g输出、受光面80从端子h输出。在第一实施例中，原封不动地通过偏光衍射光栅14的0次光的光 束51照射到光检测器16内的受光区域70的中心附近，由偏光衍射光 栅14衍射后的+ l次光的光束52照射到受光区域71的中心附近，一l 次光的光束53照射到受光区域72的中心附近。另外，在第一实施例 中，利用图1所示的平板15的作用，对光束施加像散，即进行基于像 散方式的聚焦误差信号的检测。因此，各光束51、 52、 53成为在检测 面上具有约50微米左右直径的点。而且，设置光拾取器17的各光学 部件，以使存在于各光束内的衍射模式的方向，即盘半径方向，与+ 1 次光52， 一l次光53的衍射方向一致。在受光区域71、 72中，设定 有受光面77、 78、 79、 80的上下方向的宽度，以使得由任何+ 1次光 52， 一l次光53的内部不发生衍射模式的中央附近来检测出信号。这里，使用图6及图7对第一实施例中的聚焦误差信号及跟踪误 差信号的生成方法进行说明。聚焦误差信号是对于由受光区域70接受 0次光51而得到的输出信号，由所谓的像散方式通过下述的计算而得 到。聚焦误差信号=(a+b) — (c + d)还有，关于像散的原理，由于是共知的技术，所以其说明予以省略。另一方面，跟踪误差信号是对于分别从0次光51、 +1次光52、 一l次光53所得的输出信号，通过与所谓的差动推挽式(differential push pull: DPP)同样的下述计算而得到。跟踪误差信号=((a+b) — (c+d)) —K* ((e — f) + (g—h))还有，关于DPP的原理，由于是共知的技术，所以其说明予以省略。这里，前面的项((a+b) — (c+d))是从0次光51生成如波形 110那样的所谓推挽式信号的部分。波形110是假设物镜7向盘半径方 向移位的情况下，对推挽式信号添加规定量的DC偏移量的状态。后 面的第一项(e — f)是，通过对伴随着物镜7向盘半径方向移位的+ 1 次光52的光点位置移动及分布的光量变化进行检测而发生与物镜7的 半径方向的移位成比例的偏移量信号的部分。后面的第二项(g — h) 也同样是，通过对一l次光53的光点位置移动及分布的光量变化进行 检测，而发生与物镜7的半径方向的移位成比例的偏移量信号的部分。 从后面项的((e—f) + (g—h))所得的偏移量信号，由于是从不发生 + 1次光52及一l次光53的衍射模式的部分所检测，所以像波形111 那样，几乎不包含推挽式信号成分，是添加了 DC偏移量的状态。通 过由减法器114进行与在波形110、波形111中添加了 K倍增益113 的波形的减法计算，如波形112所示的那样，而得到没有DC偏移量的 良好推挽式波形作为跟踪误差信号。由此，即使是存在物镜7的半径 方向移位的情况下，也能够不发生跟踪误差信号的DC偏移量。接着，使用图8对光拾取器中光束的偏光状态加以说明。还有， 关于图8的各构成部件，由于是已经使用图1进行了说明，所以这里 将其说明省略。在图8中，从半导体激光器1射出的光束，成为图中 箭头所示的与纸面平行的偏光(P偏光)。在透过半导体激光器l之前 的二分之一波长板2时，几乎都以图中圆圈所示的与纸面垂直的偏光 (S偏光)，具有极少量P偏光的直线偏光围绕光轴旋转约85度。从二 分之一波长板2射出的光束，到达PBS棱镜3，由于几乎全部的光束 为S偏光，所以由PBS棱镜3对于入射方向而向90度的方向反射。光 束的一部分的P偏光，透过PBS棱镜3，到达前面监视器5。由PBS棱镜3的反射膜所反射的光束，在维持S偏光的状态下透 过准直透镜4而到达四分之一波长板6，光束由四分之一波长板6变换 为圆偏光。其后，入射到物镜7的光束，由光盘11的记录面而反射， 再次以圆偏光的状态经过物镜7而到达四分之一波长板6。在透过四分 之一波长板6时，光束变换为与去路相垂直方向上的偏光。就是说， 成为图中箭头所示的与纸面平行的P偏光。其后，光束经过准直透镜4，入射到PBS棱镜3。由于P偏光的100。/。能够透过PBS棱镜3，所以即 使是在透过检测透镜12时，偏光状态也是维持为P偏光。在检测透镜12之后，设定其方位角，以使二分之一波长板13使 光束的偏光方向绕光轴旋转24度，所以透过二分之一波长板13后的 光束，成为对具有P偏光与S偏光双方的直线偏光绕光轴旋转。射出 二分之一波长板13的光束，虽然入射到偏光衍射光栅14，但如前面所 述，在偏光衍射光栅14中，入射的光束中的P偏光成分作为0次光而 透过，S偏光成分作为土l次光而衍射。从偏光衍射光栅14射出的0次 光及士1次光，在维持其偏光状态的情况下透过平板15，到达光检测器 16的规定受光面。接着，使用图9对再现2层盘的情况下的光束的状态进行说明。 图9 (a)是表示再现2层盘的情况下的光束的状态，图9 (b)是表示 2层盘内的光朿状态的图。还有，在图9中，各构成部件，由于是已经 使用图1进行了说明，所以这里将其说明省略。从半导体激光器1射出的光束，与前述相同利用物镜7聚光在用 于光盘22上的再现的的记录面23上。由记录面23反射的光束，如图 中实线所示，成为与去路相同的光路的光束，到达光检测器16。这里， 2层盘是具有2个记录面23及记录面24的光盘，从物镜7观看位于前 侧的(距离观察者近的)记录面23，设定为反射规定量的光束，并使 规定量的光束而导向记录面24的记录面特性。因此，即使是在光束聚 光于记录面23的情况下，也必然能够发生规定量的透过记录面23的 光束。聚光于记录面23的光束中的透过记录面23的光束，如图中虚 线所示，被记录面24全反射，经过物镜7而到达准直透镜4。相对于 由实线所示的在记录面23上反射的光束，与在该记录面24上反射的 光束的由虚线所示的该光束的收縮状态不同。因此，在到达光检测器 16之前暂时成为聚光状态，在光检测器16上光束的有效孔径就有所增 大。图10是表示再现2层盘情况下的光检测器上的点状态的图。图10 (a)是表示来自所希望的记录面的信号光的点，图10 (b)是追加表 示来自其它记录面的反射光的点。在图10 (a)中，在光检测器内配置 有前面说明的受光区域70、受光区域71、受光区域72，对于这些受光区域，对光检测器16进行位置调整，以照射来自所希望的记录面的信号光，在受光区域70上照射0次光51、在受光区域71上照射+1次 光52、在受光区域72上照射一1次光53。因此，通过对来自受光区域 70、 71、 72的输出信号进行计算，能够输出基于像散法的聚焦误差信 号，和与差动推挽法同样的跟踪误差信号，这些与前面说明的同样。 在第一实施例中，由于直线偏光是对于偏光衍射光栅14以规定的角度 而入射，所以，0次光的信号光是由图中向右上的斜线所表示的P偏光， 而土1次光的信号光是由图中向左上的斜线所表示的S偏光，0次光与士1次光的偏光方向呈相互垂直的状态。在再现2层盘的情况下，如以上的说明，来自在其它层上反射的0 次光的返回光54照射于光检测面。该返回光54，如图IO (b)所示， 对于0次光的信号光大致在同心圆上，其直径是不仅能够包含受光区 域70，而且大至能够包含受光区域71及受光区域72的程度。相对于 + 1次信号光52，照射在相同受光区域71的返回光54，光量为相同程 度或几分之一左右但大致相同的光路长度，因此在返回光54与+ 1次 信号光是相同偏光状态的组合的情况下，以记录面23与记录面24的 面间隔变动为主要原因，发生与+ 1次信号光的干涉。在这种情况下， 由受光区域71所得的跟踪误差信号中发生因干涉所致的变动。在本发 明的第一实施例中，该返回光54的偏光方向是P偏光，十l次信号光 52是S偏光。因此，返回光54在受光区域71中的总光量有少许增加， 但不成为因干涉引起的变动的主要因素，因此由受光区域71及受光区 域72能够输出的跟踪误差信号也不因干涉而变动。换言之，使生成跟踪误差信号的0次光和土l次光的偏光相互垂直， 利用其差信号而生成跟踪误差信号，因此，0次光与士l次光不会相互 干涉，能够得到良好的跟踪误差信号。接着使用图11对以往的光拾取器中的跟踪误差信号的变动加以说 明。在图11中，波形110是由受光区域70检测的信号所得到的0次 光的推挽式信号。波形115是表示跟踪误差信号受到来自其它层的返 回光54的影响而发生变动的状态。因此，在这样的光拾取器结构中， 跟踪误差信号如波形116那样发生大的变动，就不能施加稳定的伺服。 但是如第一实施例所示的光拾取器的结构，能够得到图7所示的良好的跟踪误差信号。 [第二实施例]接着，使用图12及与13对本发明的第二实施例进行说明。图12 是表示第二实施例中光检测器的受光区域的图。在第二实施例中的光 拾取器的部件配置，与前面说明的图1的部件配置相同，关于光拾取器内的同一部件结构都赋予同样的编号。在图12中，与图6的不同之 处在于，在十l次光52与一1次光53照射的位置上，沿着盘半径方向 或透镜移位时光束的移动方向设置有在中央部分具有间隙的受光区域 81与受光区域82，来取代受光区域71与受光区域72。该受光区域81 是由长方形的受光面83、 84、 85、 86所构成，受光面83与受光面86， 受光面84与受光面85的各自的一边相接而配置。来自各受光面的输 出分别为，受光面83从端子e输出、受光面84从端子f输出、受光面 85从端子g输出、受光面86从端子h输出。而且，受光区域82与受 光区域81同样，是由长方形的受光面87、 88、 89、 90所构成，受光 面87与受光面90，受光面88与受光面89的各自的一边相接而配置。 来自各受光面的输出分别为，受光面87从端子i输出、受光面88从端 子j输出、受光面89从端子k输出、受光面90从端子1输出。这里，设定受光面的形状，以使由偏光衍射光栅14所衍射的+1 次光的光束52照射的受光区域81的中央部分的间隙，呈带状地将光 束52正好发生衍射模式的部分除去。另外，设定受光面的形状，以使 一l次光的光束53的照射的受光区域82的中央部分的间隙，呈带状地 将光束53正好发生衍射模式的部分除去。这里，对第二实施例中聚焦误差信号及跟踪误差信号的生成方法 进行说明。由于聚焦误差信号是由与第一实施例同样的结构而生成， 所以其说明予以省略。另一方面，跟踪误差信号，是对于从0次光51、 +1次光52、 一1 次光53分别得到的信号，如图6所示，通过进行与DPP法同样的下述 计算而得到。跟踪误差信号=((a+b) — (c+d)) —K* ((e + f) — (g+h)) + ((i+j) - (k+l))这里，后面的第一项((e + f) — (g + h))是通过对伴随物镜7在半径方向移位的+1次光52的光点位置移动及分布的光量变化进行 检测而发生与物镜7在半径方向移位成比例的偏移量信号的部分。而且，后面的第二项((i+j) - (k+l))也同样，是通过对一l次光53 的光点位置移动及分布的光量变化进行检测而发生与物镜7在半径方 向的移位成比例的偏移量信号的部分。从后面的全体项((e+f) — (g +h)) + ((i+j) - (k+l))所得到的偏移量信号，由于是从不发生十 1次光52与一l次光53的衍射模式的部分所检测的，所以如图7的波 形111那样，几乎不包含推挽式信号成分。因此，与第一实施例同样， 能够得到没有DC偏移量的良好推挽式波形作为跟踪误差信号。由此， 在物镜7的半径方向有移位的情况下，可能不发生跟踪误差信号的DC 偏移量。而且，通过这样的结构，即使是在透镜移位量大的情况下， 在从受光区域81及受光区域82所得到的信号中，不会漏进推挽式信 号成分。图13是表示再现2层盘情况下的光检测器上的点状态的图。图13 (a)是表示来自所希望的记录面的信号光的点，图13 (b)是追加表 示来自其他记录面的反射光的点。在图13 (a)中，在光检测器内，配 置有前面说明的受光区域70、受光区域81、受光区域82，对于这些受 光区域，对光检测器16进行位置调整，以照射来自所希望的记录面的 信号光，在受光区域70上照射P偏光的0次光51、在受光区域81上 照射S偏光的+ 1次光52、在受光区域82上照射S偏光的一l次光53。 而且，Q次光与±1次光的偏光方向相互垂直，这一点与第一实施例相 同。在再现2层光盘的情况下，与第一实施例同样，来自在其它层上 反射的0次光的返回光54照射到光检测器面上。该返回光54，如图 13 (b)所示，相对于O次光的信号光为大致同心圆上，其直径是不仅 能够包含受光区域70，而且大至能够包含受光区域81及受光区域82 的程度。但是，在第二实施例中，由于0次光的返回光54的偏光状态 是P偏光，+1次光52及一1次光53的偏光状态是S偏光，所以，在 受光区域81和受光区域82上的总光量少许增加，但是不成为因干涉 引起的变动的主要因素，因此由受光区域81及受光区域82能够输出 的跟踪误差信号也不因干涉而变动。[第三实施例]接着，使用图14 16对本发明的第三实施例进行说明。图14是 表示本发明的第三实施例中偏光衍射光栅的模式的图。在第三实施例 中的光拾取器的部件配置，与前面说明的图1的部件配置相同，关于光拾取器内16的同一受光面，都赋予与图6同样的编号。在图14中， 在偏光衍射光栅25表面的中央部分，在与光盘半径方向垂直的方向上， 形成有带状的偏光衍射光栅区域26，其两侧是没有光栅沟的区域27 与区域28。这里，偏光衍射光栅区域26仅使S偏光大致100%进行衍 射的区域，使P偏光大致100%透过。而且，偏光衍射光栅区域26的 宽度设定为，不影响发生光束50的推挽式成分的区域的宽度。通过使 用这样的偏光衍射光栅，光束50的P偏光成分在全部区域上透过，光 束50的S偏光成分仅对入射到偏光衍射光栅区域26中的部分进行衍 射，在没有光栅沟的区域27及区域28的部分透过。接着对检测器的受光面模式进行说明。图15是表示第三实施例中 光检测器16的受光面模式的图。在光检测器16上，形成3个受光区 域70、 91、 92，以受光区域70为中心，受光区域91和受光区域92 配置在相互对向的位置上。在第三实施例中的光拾取器的部件配置， 与前面说明的图1的部件配置相同，关于光拾取器内的同一的部件结 构，都赋予与图6同样的编号。在图15中，与图6的不同点在于，在 由偏光衍射光栅25所衍射的+l次光55及一1次光53照射的位置上， 设置有受光区域91与受光区域92，来取代受光区域71及受光区域72。关于受光区域70，由于与图6同样是以其说明省略。受光区域91 是由2个受光面93、 94上下连接而构成。来自各受光面的输出分别为， 受光面93从端子e输出、受光面94从端子f输出。受光区域92是由 2个受光面95、 96上下连接而构成。来自各受光面的输出分别为，受 光面95从端子g输出、受光面96从端子h输出。这里，在第三实施例中，原封不动地透过偏光衍射光栅25的0次 光的光束51照射到光检测器16内的受光区域70的中心附近，由偏光 衍射光栅25衍射的+ l次光的光束55照射到受光区域91的中心附近， —1次光的光束56照射到受光区域92的中心附近而设定。接着，对第三实施例中聚焦误差信号及跟踪误差信号的生成方法进行说明。由于聚焦误差信号是由与第一实施例相同的构成而生成， 所以其说明予以省略。另一方面，跟踪误差信号，是对于从0次光51、 +1次光55、 --1 次光56分别得到的信号，如图6所示，通过进行与DPP法同样的下述 计算而得到。跟踪误差信号=((a+b) — (c + d)) —K* ((e —f) + (g—h))这里，在第三实施例中，通过由后面的第一项(e — f)，对伴随物 镜7在半径方向移位的+ 1次光55的光点位置移动及分布的光量变化 进行检测而发生与物镜7在半径方向的移位成比例的偏移量信号的部 分。此时，由于+1次光55是从不发生光朿50的衍射模式的中央部分 衍射光束，所以，成为没有推挽式信号成分的信号。而且，后面的第 二项(g—h)也同样，是通过对一l次光56的光点位置移动及分布的 光量变化进行检测而发生与物镜7在半径方向的移位成比例的偏移量 信号的部分。由于+ 1次光56是从不发生光束50的衍射模式的中央部 分衍射光束，所以，成为没有推挽式信号成分的信号。因此，从后面 的全体项((e — f) + (g—h))所得到的偏移量信号，如图7的波形 111那样，几乎不包含推挽式信号成分，与第一实施例同样，能够得到 没有DC偏移量的良好推挽式波形作为跟踪误差信号。图16是表示再现2层盘情况下的光检测器上的点状态的图。图16 (a)是表示来自所希望的记录面的信号光的点，图16 (b)是追加表 示来自其他记录面的反射光的点。在图16 (a)中，在光检测器内，配 置有前面说明的受光区域70、受光区域91、受光区域92，对于这些受 光区域，对光检测器16进行位置调整，以照射来自所希望的记录面的 信号光，在受光区域70上照射P偏光的0次光5K在受光区域91上 照射S偏光的+ 1次光55、在受光区域92上照射S偏光的一l次光56。 而且，0次光与±1次光的偏光方向相互垂直，这一点与第一实施例、 第二实施例相同。在再现2层光盘的情况下，与第一实施例、第二实施例同样，来 自在其它层上反射的0次光的返回光54照射到光检测器面上。该返回 光54，如图16 (b)所示，相对于0次光的信号光为大致同心圆上， 其直径是不仅能够包含受光区域70，而且大至能够包含受光区域91、受光区域92的程度。但是，在第三实施例中，由于0次光的返回光54 的偏光状态是P偏光，+1次光55及一 1次光56的偏光状态是S偏光， 所以，在受光区域91和受光区域92上的总光量少许增加，但不成为 因干涉不引起变动的主要因素，因此由受光区域91及受光区域92能 够输出的跟踪误差信号也不因干涉而变动。 [第四实施例]接着，使用图17 19对本发明的第四实施例进行说明。图17是 表示本发明的第四实施例中偏光衍射光栅的模式的图。在第四实施例 中的光拾取器的部件配置，与前面说明的图1的部件配置相同，关于 光拾取器内16的同一受光面，都赋予与图6同样的编号。在图17中， 在偏光衍射光栅29表面的中央部分，在与光盘半径方向垂直的方向上， 形成2个带状的偏光衍射光栅区域30及偏光衍射光栅区域31 ，其两侧 也形成偏光衍射光栅区域32及偏光衍射光栅区域33。这里，偏光衍射光栅区域31 33的任何一个是，仅使S偏光大致 100%进行衍射，使P偏光大致100%透过的衍射光栅。而且，偏光衍 射光栅区域30及偏光衍射光栅区域31设置为在中央附近一边相接， 偏光衍射光栅区域30与偏光衍射光栅区域31的宽度设定为不影响任 何发生光束50的推挽式成分的区域的宽度。通过使用这样的偏光衍射 光栅，光束50的P偏光成分就全部区域透过，光束50的S偏光成分 仅由偏光衍射光栅区域30 33的4个区域分别进行衍射。还有，对偏 光衍射光栅区域30及31设定衍射光栅的沟间距(pitch),以使光照射 到光检测器16的受光面，对于偏光衍射光栅区域32及33，设定衍射 光栅的沟间距，以成为光不能照射到光检测器16的受光面的角度。接着对检测器的受光面模式进行说明。图18是表示第四实施例中 光检测器16的受光面模式的图。在光检测器16上，形成3个受光区 域70、 97、 98，以受光区域70为中心，受光区域97与受光区域98 配置在相互对向的位置上。在第四实施例中的光拾取器的部件配置， 与前面说明的图1的部件配置相同，关于光拾取器内的同一的部件结 构，都赋予与图6同样的编号。在图18中，在由偏光衍射光栅29的区域30所衍射的+ l次光57 及由偏光衍射光栅区域31所衍射的+ 1次光58照射的位置上，设置有受光区域97，在由偏光衍射光栅区域30所衍射的一l次光59及由偏 光衍射光栅区域31所衍射的一 1次光60照射的位置上，设置有受光区 域98。关于受光区域70，由于与图6同样，所以其说明省略。受光区域 97是由2个受光面99、 IOO上下并列而构成。来自各受光面的输出分 别为，受光面99从端子e输出、受光面100从端子f输出。受光区域 98是由2个受光面101、 102上下并列而构成。来自各受光面的输出分 别为，受光面101从端子g输出、受光面102从端子h输出。这里，在第四实施例中，原封不动地透过偏光衍射光栅29的0次 光的光束51照射到光检测器16内的受光区域70的中心附近，由偏光 衍射光栅30衍射的+ 1次光的光束57照射到受光区域99，由偏光衍 射光栅31衍射的+ 1次光的光束58照射到受光区域100，由偏光衍射 光栅30衍射的一 1次光的光束60照射到受光区域102，由偏光衍射光 栅31衍射的一l次光的光束59照射到受光区域101。接着，对第四实施例中聚焦误差信号及跟踪误差信号的生成方法 进行说明。由于聚焦误差信号是由与第一实施例同样的结构而生成， 所以其说明予以省略。另一方面，跟踪误差信号，是对于从0次光5K +1次光57及58、 一l次光60及59分别得到的输出信号，如图6所示，通过进行与DPP 法同样的下述计算而得到。跟踪误差信号- ((a+b) — (c+d)) —K* ((e —f) + (g—h))这里，在第四实施例中，通过由后面的第一项(e — f)，对伴随物 镜7在半径方向移位的+ 1次光57及58的光点位置移动及分布的光量 变化进行检测而发生与物镜7在半径方向的移位成比例的偏移量信号 的部分。此时，由于+ l次光57及58是从不发生光束50的衍射模式 的中央部分衍射光束，所以，成为没有推挽式信号成分的信号。而且， 后面的第二项(g—h)也同样，是通过对一l次光60及59的光点位置 移动及分布的光量变化进行检测而发生与物镜7在半径方向的移位成 比例的偏移量信号的部分。由于一1次光60及59是从不发生光束50 的衍射模式的中央部分衍射光束，所以，成为没有推挽式信号成分的 信号。因此，从后面的全体项((e — f) + (g—h))所得到的偏移量信号，如图7的波形111那样，几乎不包含推挽式信号成分，与第一实 施例同样，能够得到没有DC偏移量的良好推挽式波形作为跟踪误差 信号。图19是表示再现2层盘情况下的光检测器上的点状态的图。图19 (a)是表示来自所希望的记录面的信号光的点，图19 (b)是追加表 示来自其他记录面的反射光的点。在图19 (a)中，在光检测器内，配 置有前面说明的受光区域70、受光区域97、受光区域98，对于这些受 光区域，对光检测器16进行位置调整，以照射来自所希望的记录面的 信号光，在受光区域70上照射P偏光的0次光51、在受光区域97上 照射S偏光的+ 1次光57及58、在受光区域98上照射S偏光的一l 次光60及59。而且，0次光与土1次光的偏光方向相互垂直，这一点与 第一实施例到第三实施例相同。在再现2层光盘的情况下，与第一实施例到第三实施例同样，来 自在其它层上反射的0次光的返回光54照射到光检测器面上。该返回 光54，如图19 (b)所示，相对于0次光的信号光为大致同心圆上， 其直径是不仅能够包含受光区域70，而且大至能够包含受光区域97 及受光区域98的程度。但是，在第四实施例中，由于O次光的返回光 54的偏光状态是P偏光，十1次光57及58， 一1次光60及59的偏光 状态是S偏光，所以，在受光区域97及受光区域98上的总光量有少 许增加，但不成为因干涉引起变动的主要因素，因此由受光区域97及 受光区域98能够输出的跟踪误差信号也不因干涉而变动。[第五实施例]接着，使用图20对本发明的第五实施例进行说明。图20是表示 本发明的第五实施例中再现2层盘情况下的光检测器上的点状态的图， 也记载了来自其它记录面的反射光的点。还有，在第五实施例中的光 拾取器的部件配置，与前面说明的图1的部件配置相同，关于光检测 器内的同一部件构成都赋予与图6同样的编号。在图20中，在光检测 器内配置有前面说明的受光区域70、受光区域103、受光区域104，在 第五实施例中，与第一实施例的不同之处在于，受光区域103及104 是相对于受光区域70配置在图中的左右方向上。对于这些受光区域， 对光检测器16进行位置调整，照射来自所希望的记录面的信号，在受光区域70上照射P偏光的0次光51、在受光区域103上照射S偏光的 + 1次光61、在受光区域104上照射S偏光的一l次光62。而且，0 次光与±1次光的偏光方向相互垂直，这一点与第一实施例相同。在再现2层光盘的情况下，与第一实施例同样，来自在其它层上 反射的0次光的返回光54照射到光检测器面上。该返回光54，如图 20所示，相对于O次光的信号光为大致同心圆上，其直径是不仅能够 包含受光区域70，而且大至能够包含受光区域103及受光区域104的 程度。但是，在第五实施例中，由于0次光的返回光54的偏光状态是 P偏光，+1次光61及一l次光62的偏光状态是S偏光，所以，在受 光区域103及受光区域104上的总光量有少许增加，但不成为因干涉 引起变动的主要因素，因此由受光区域103及受光区域104能够输出 的跟踪误差信号也不因干涉而变动。根据以上的结构，例如在半导体激光器的波长变动的情况下，即 使是由偏光衍射光栅14衍射的士1次光的衍射角度发生变化，±1次光 的照射位置发生偏差，从受光区域103及受光区域104所得的推挽式 信号也不会受到影响。[第六实施例]接着，使用图21对本发明的第六实施例进行说明。图21是表示 本发明的第六实施例中再现2层盘情况下的光检测器上的点状态的图， 也记载了来自其它记录面的反射光的点。还有，在第六实施例中的光 拾取器的部件配置，与前面说明的图1的部件配置相同，关于光检测 器内同一部件构成都赋予与图6同样的编号。在图21中，光检测器内 配置有前面说明的受光区域70、受光区域71，第六实施例与第一实施 例的不同之处在于，在第六实施例中，仅在受光区域71上进行1次光 的信号检测。对于这些受光区域，对光检测器16进行位置调整，照射 来自所希望的记录面的信号，在受光区域70上照射P偏光的0次光51 、 在受光区域71是照射S偏光的+ 1次光61。而且，O次光与il次光的 偏光方向相互垂直，这一点与第一实施例相同。在再现2层光盘的情况下，与第一实施例同样，来自在其它层上 反射的0次光的返回光54照射到光检测器面上。该返回光54，如图 21所示，相对于O次光的信号光为大致同心圆上，其直径是不仅能够包含受光区域70，而且大至能够包含受光区域71左右的程度。但是，在第六实施例中，由于0次光的返回光54的偏光状态是P偏光，+1 次光63及一1次光64的偏光状态是S偏光，所以，受光区域71的总 光量有少许增加，但不成为因干涉引起变动的主要因素，因此受光区 域71能够输出的跟踪误差信号也不因干涉而变动。[第七实施例]接着，使用图22 24对本发明的第七实施例进行说明。图22是 表示本发明的第七实施例中偏光衍射光栅的模式的图。第七实施例中 的光拾取器的部件配置，与前面说明的图1的部件配置相同，关于光 拾取器内16的同一受光面，都赋予与图15同样的编号。在图22中， 在偏光衍射光栅34表面的外侧部分，沿光盘半径方向形成有偏光衍射 光栅区域35与偏光衍射光栅区域37。这里，偏光衍射光栅区域35及 37，是仅对S偏光大致100%进行衍射的区域，使P偏光大致100e/。透 过。而且，偏光衍射光栅区域35及37内侧部分的宽度位置，设定为 不影响发生光束50的推挽式成分的区域的宽度。通过这样的偏光衍射 光栅，光束50的P偏光成分在全区域透过，光束50的S偏光成分仅 在与偏光衍射光栅区域35及37重叠的部分衍射，透过没有光栅沟的 区域36的部分。接着对检测器的受光面模式加以说明。图23是表示第七实施例的 光检测器16的受光面模式的图。在光检测器16上，形成3个受光区 域70、 91、 92，由于与图15中说明的结构相同，所以其说明予以省略。这里，在第七实施例中，原封不动地透过偏光衍射光栅区域34的 0次光的光束51照射到光检测器16内的受光区域70的中心附近，由 偏光衍射光栅区域35所衍射的+ l次光的光束65及由偏光衍射光栅区 域37所衍射的+ 1次光的光束66照射到受光区域91，由偏光衍射光 栅区域35所衍射的一l次光的光束67及由偏光衍射光栅区域37所衍 射的一l次光的光束68照射到受光区域92的中心附近而设置。通过这 样的结构，与第三实施例中说明的同样，能够生成聚焦误差信号与跟 踪误差信号。图24是表示再现2层盘情况下的光检测器上的点状态的图。图24是表示来自所希望的记录面的信号光的点，与来自其它记录面光的点。 在光检测器16内，配置有前面说明的受光区域70、受光区域91、受光区域92，对于这些受光区域，对光检测器16进行位置调整，照射来 自所希望的记录面的信号，在受光区域70上照射P偏光的0次光51、 在受光区域91照射S上偏光的+ 1次光65及66、在受光区域92上照 射S偏光的一1次信号光67及68。而且，0次光与士1次光的偏光方向 相互垂直，这一点与第一实施例相同。在再现2层光盘的情况下，与第一实施例同样，来自在其它层上 反射的0次光的返回光54照射到光检测器面上。该返回光54，如图 24所示，相对于O次光的信号光为大致同心圆上，其直径是不仅能够 包含受光区域70，而且大至能够包含受光区域91及受光区域92的程 度。但是，在第七实施例中，由于0次光的返回光54的偏光状态是P 偏光，+1次光65及66与一l次光67及68的偏光状态是S偏光，所 以，在受光区域91及受光区域92上的总光量有少许增加，但不成为 因干涉引起变动的主要因素，因此由受光区域91及受光区域92能够 输出的跟踪误差信号也不因干涉而变动。[第八实施例]接着，使用图25对本发明的第八实施例进行说明。图25是表示 本发明的第八实施例中再现2层盘情况下的光检测器上的点状态的图， 也记载了来自其它记录面的反射光的点。还有，在第八实施例中的光 拾取器的部件配置，与前面说明的图1的部件配置相同，关于光拾取 器内的同一部件，都赋予与图15同样的编号。在图20中，光检测器 内配置有前面说明的受光区域70、受光区域91、受光区域92，在第八 实施例中，与第七实施例的不同之处在于，受光区域91及92是对于 受光区域70配置在图中的左右方向上。对于这些受光区域，对光检测 器16进行位置调整，照射来自所希望的记录面的信号，在受光区域70 上照射P偏光的0次光51、在受光区域91上照射S偏光的+ 1次光65 及66、在受光区域92上照射S偏光的一1次光67及68。而且，0次 光与±1次光的偏光方向相互垂直，这一点与第七实施例相同。'在再现2层光盘的情况下，来自其它层反射的0次光的返回光54 照射到光检测器面上，但与第七实施例同样，跟踪误差信号不因干涉而变动。进而，根据以上的结构，例如在半导体激光器的波长变动的情况下，即使是由偏光衍射光栅34衍射的士1次光的衍射角度发生变化，±1 次光的照射位置发生偏差，从受光区域91及受光区域92所得的推挽 式信号也不会受到影响。 [第九实施例]接着，对装载有从第一实施例到第八实施例的光拾取器的光盘装 置加以说明。图26是表示本实施例中装载有光拾取器的光盘装置的概 略方框图。由光拾取器17所检测的信号的一部分发送到光盘判别电路 121。光盘判别电路121中的光盘判别动作利用如下方法，在将光盘的 基板厚度对应于正在点亮的半导体激光器的振动波长的情况，和对应 于不同振动波长的情况下进行比较时，在为前者的情况下在由光拾取 器17检测的、例如聚焦误差信号振幅电平较大。该判别结果发送到控 制器电路124。进而，由光拾取器17所检测的信号的一部分发送到伺 服信号生成电路122或信息信号检测电路123。在伺服信号生成电路 122中，根据由光拾取器17检测的各种信号，生成适用于光盘11或2 层光盘22的聚焦误差信号及跟踪误差信号，发送到控制器电路124。 另一方面，在信息信号检测电路123中，根据光拾取器17的检测信号， 检测光盘11或2层光盘22中记录的信息信号，输出到再现信号输出 端子。控制器电路124根据来自光盘判别电路121的信号而设定光盘 11或2层光盘22，基于根据上述由伺服信号生成电路122生成的聚焦 误差信号及跟踪误差信号，将物镜驱动信号发送到促动器驱动电路 125。促动器驱动电路125根据该物镜驱动信号，驱动光拾取器17内 的促动器8而进行物镜7的位置控制。而且控制器电路124还利用访 问控制电路126进行光拾取器17的访问方向位置的控制，利用主轴马 达控制电路127对主轴马达130进行旋转控制，使光盘11或2层光盘 22旋转。进而，控制器电路124通过驱动激光器点亮电路128，对应 于光盘11或2层光盘22而使装载在光拾取器17上的半导体激光器1 适宜地点亮，实现光盘装置的记录再现动作。这里，通过设置根据光拾取器输出的信号而再现信息信号的信息 信号再现部，以及输出由信息信号再现部输出的信号的输出部，能够构成光盘的再现装置。而且能够通过设置输入信息信号的信息输入部， 和根据从信息输入部输入的信息而生成记录在光盘上的信号并输出至 光拾取器的记录信号生成部，能够构成光盘的记录装置。根据以上的各实施例，通过在2层光盘的再现中利用设置在检测 系统中的偏光衍射光栅生成的3个光束，由此在输出聚焦误差信号及 跟踪误差信号的光拾取器中，使土l次信号光与O次光的来自其它层的 返回光的偏光方向相垂直，能够使得不受返回光的干涉的影响，使聚 焦误差信号及跟踪误差信号不发生变动。由此，能够实现可靠性高的 光拾取器和光盘装置。还有，本发明并不限于上述各实施例的偏光方向，也可以是0次 光为S偏光，±1次光为S偏光。而且，当然，即使是使用0次光与+l次光的2个光束，也能够得到与本实施例同样的结构。上述实施形式仅是为了实施本发明的具体化的例子，并不能由此 对本发明的技术范围进行限定性的解释。就是说，本发明在不脱离其 技术思想、或其主要特征的前提下，能够以各种形式进行实施。
权利要求
1.一种光拾取器，是可对应多层光盘的光拾取器，其特征在于具有射出光束的激光光源；将所述光束聚光于多层光盘的物镜；配置于来自所述多层光盘的反射光所透过的位置，将反射光分支为0次光、以及偏光方向与0次光垂直的+1次光的至少2个光束的偏光分支元件；接收所述2个光束的光检测器；位于所述光检测器内，照射有所述0次光的第一受光区域；以及位于所述光检测器内，照射有所述+1次光的第二受光区域，所述光检测器，可输出由所述第一受光区域得到的推挽式信号，和由所述第二受光区域利用与推挽式信号同样的演算式而得到的信号，并输出可由这两个输出信号的差信号生成跟踪误差信号的信号。
2. —种光拾取器，是可对应多层光盘的光拾取器，其特征在于 具有射出光束的激光光源； 将所述光束聚光于多层光盘的物镜；配置于来自所述多层光盘的反射光所透过的位置，将反射光分支 为0次光、偏光方向与0次光垂直的+ l次光、以及偏光方向与0次光垂直的一1次光的至少3个光束的偏光分支元件； 接收所述3个光束的光检测器；位于所述光检测器内，照射有所述0次光的第一受光区域； 位于所述光检测器内，照射有所述+1次光的第二受光区域；以及位于所述光检测器内，照射有所述一l次光的第三受光区域， 所述光检测器，可输出由所述第一受光区域得到的推挽式信号， 和由所述第二及第三受光区域利用与推挽式信号同样的演算式而得到 的信号，并输出可由这些输出信号的差信号生成跟踪误差信号的信号。
3. —种光拾取器，是可对应多层光盘的光拾取器，其特征在于 具有射出光束的激光光源； 将所述光束聚光于多层光盘的物镜；配置于来自所述多层光盘的反射光所透过的位置，将反射光分支 为0次光和+ 1次光的至少2个光束的衍射元件； 接收所述2个光束的光检测器；位于所述光检测器内，照射有所述O次光的第一受光区域；以及 位于所述光检测器内，照射有所述+1次光的第二受光区域， 所述衍射元件是偏光衍射光栅，该偏光衍射光栅对所述反射光的 仅规定的偏光方向成分不进行衍射而使其通过并作为0次光；对于与 所述规定的偏光方向成分大致垂直的方向的偏光方向成分进行衍射并 生成+1次光。
4. 一种光拾取器，是可对应多层光盘的光拾取器，其特征在于 具有射出光束的激光光源； 将所述光束聚光于多层光盘的物镜-,配置于来自所述多层光盘的反射光所透过的位置，将反射光分支 为0次光、+1次光、和一1次光的至少3个光束的偏光分支元件； 接收所述3个光束的光检测器；位于所述光检测器内，照射有所述0次光的第一受光区域； 位于所述光检测器内，照射有所述+l次光的第二受光区域；以及 位于所述光检测器内，照射有所述一l次光的第三受光区域， 所述衍射元件是偏光衍射光栅，该偏光衍射光栅对所述反射光的 仅规定的偏光方向成分不进行衍射而使其通过并作为0次光；对于与 所述规定的偏光方向成分大致垂直的方向的偏光方向成分进行衍射并 生成+l次光与一l次光。
5. 根据权利要求3或4所述的光拾取器，其特征在于 所述光束的0次光与+ l次光或一l次光的偏光方向，在所述光检测面上大致垂直。
6. 根据权利要求5所述的光拾取器，其特征在于 所述光检测器，可输出由所述第一受光区域得到的推挽式信号，和由所述第二或第三受光区域，或者由其两者利用与推挽式信号同样 的演算式而得到的信号，并输出可由它们的差信号生成跟踪误差信号 的信号。
7. 根据权利要求5所述的光拾取器，其特征在于 由所述光检测器内的所述第一受光区域生成基于所谓像散方式的聚焦误差信号。
8. 根据权利要求5所述的光拾取器，其特征在于 在所述衍射元件之前的位置配置有二分之一波长板，该二分之一波长板具有所述激光光源的振动波长的大致二分之一的整数倍的相位差，使光束的偏光方向旋转规定的角度，以使对所述衍射元件入射的 光束具有衍射的偏光成分。
9. 根据权利要求5所述的光拾取器，其特征在于 所述第二或第三受光区域，检测可由所述+1次光或一l次光的光束中不包含推挽式信号成分的大致中央部分，或与不包含推挽式成分 的盘的轨道方向相当的外侧附近生成跟踪误差信号的信号。
10. 根据权利要求5所述的光拾取器，其特征在于 所述衍射元件，在入射光束中不包含推挽式信号成分的大致中央部分，或与不包含推挽式成分的盘的轨道方向相当的外侧附近的光束 中，使规定的偏光方向成分作为+ 1次光或一1次光进行衍射，由所述 第二或第三受光区域检测+ 1次光或一l次光。
11. 根据权利要求10所述的光拾取器，其特征在于 将由所述衍射元件衍射并在所述第二或第三受光区域中未检测的部分，作为对规定的偏光方向成分进行衍射的偏光衍射光栅的结构，其衍射方向或衍射角度与利用第二或第三受光区域所检湖U的光束不
12. —种光盘装置，其特征在于 . 具有如权利要求l所述的光拾取器；和使用由所述光拾取器输出的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差 信号的伺服信号生成电路，所述伺服信号生成电路可生成基于与差动推挽法同样的演算方式 的跟踪信号。
13. —种光盘装置，其特征在于 具有如权利要求3所述的光拾取器；和使用由所述光拾取器输出的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差 信号的伺服信号生成电路，所述伺服信号生成电路可生成基于与差动推挽法同样的演算方式 的跟踪信号。
全文摘要
本发明涉及光拾取器及光盘装置，在再现2层盘的情况下，来自其它层的返回光与信号光干涉，聚焦误差信号与跟踪误差信号变动，不能确保光拾取器的性能。本发明的光拾取器设置有射出光束的激光光源；将光束聚光于多层光盘的物镜；配置于来自多层光盘的反射光所透过的位置，将反射光分支为0次光、以及偏光方向与0次光垂直的+1次光的至少2个光束的偏光分支元件；接收2个光束的光检测器；位于光检测器内，照射0次光的第一受光区域；以及位于光检测器内照射+1次光的第二受光区域。光检测器可输出由第一受光区域得到的推挽式信号，和由第二受光区域利用与推挽式信号同样的演算式而得到的信号，并输出可由这两个信号的差信号生成跟踪误差信号的信号。
文档编号G11B7/09GK101261849SQ20081008290
公开日2008年9月10日 申请日期2008年3月7日 优先权日2007年3月9日
发明者大西邦一, 山崎和良, 川村友人, 泉克彦 申请人:日立视听媒介电子股份有限公司