基于概率信息检测半导体存储器的被最频繁存取的地址的方法与流程

文档序号：11531156阅读：123来源：国知局
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技术特征：

技术总结
提供了一种管理半导体存储器的方法，所述方法包括如下步骤：根据采样时间段，从对于存储器单元阵列的存取流对行地址进行采样；基于概率信息，确定采样的行地址是否是与被最频繁存取的目标行对应的地址；对与目标行相邻的行执行刷新操作。

技术研发人员：赵相衍
受保护的技术使用者：三星电子株式会社
技术研发日：2014.11.25
技术公布日：2017.08.18
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  • 技术研发人员：赵相衍
  • 技术所有人：三星电子株式会社
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