一种适用于MTM反熔丝PROM的读出电路的制作方法

文档序号:34737086发布日期:2023-07-12 20:38阅读:129来源:国知局
一种适用于MTM反熔丝PROM的读出电路的制作方法

本发明涉及半导体集成电路,特别涉及一种适用于mtm反熔丝prom的读出电路。


背景技术:

1、mtm反熔丝为一次可编程器件,编程后,mtm反熔丝的物理状态发生改变来实现不同状态的存储。mtm反熔丝天然具备良好的抗辐射特性,同时编程不可恢复,具有非易失性、体积小、速度快、高可靠性等优点。基于mtm反熔丝的prom存储器体积小、制造成本低且可靠性高,可以稳定可靠的保存数据,在辐射强、昼夜温差大、电磁干扰严重的外太空环境工作时具有无可比拟的优势。mtm反熔丝prom具备快速读取、功耗低、抗辐照性强、可靠性高、安全性好等优点,被广泛利用在航空环境中。在等优势日益凸显。

2、mtm反熔丝单元由两个导通电极层之间加一层反熔丝介质构成。反熔丝单元在未编程前具有绝缘特性,电阻高达250g欧姆量级;反熔丝单元在二个电极层之间施加编程电压,对反熔丝单元进行编程,在二个导通电极层之间形成导电丝,呈现出导通特性,具有较小的电阻,编程后的电阻在200欧姆以下。mtm反熔丝prom,编程的反熔丝单元存储数据1,未编程的反熔丝存储数据0。

3、反熔丝根据电极和反熔丝介质材料的不同,而分为不同的类型,形成不同的mtm反熔丝工艺。根据mtm反熔丝工艺的不同,以及编程电压、编程电流、编程脉冲等的不同,反熔丝单元在编程后的电阻都有不同。即使在同一个工艺下,不同的流片批次,同一批次的不同圆片,同一圆片的不同mtm反熔丝prom芯片上的反熔丝单元的编程后电阻都会有区别。反熔丝单元编程后的电阻对反熔丝prom编程后的数据读出有重要的影响。

4、为了提高mtm反熔丝prom存储器的存储密度,提高容量、降低成本和提高制造良率,mtm反熔丝prom存储器采用单端的存储单元,即一个存储单元只有一个存储节点,只存储对应的数据0或1,一个存储单元不会像sram存储单元同时差分地存储0和1。存储单元的结构如图1所示。

5、为了保证读出的可靠性,传统的mtm反熔丝prom在编程后读出数据时,读出灵敏放大器电路先对读出位线bl和位线上的寄生电容进行预充电到vdd电平,再打开灵敏放大器的使能,由存储单元对读出位线bl进行放电。已经编程的反熔丝存储单元,由于反熔丝编程后电阻低于200欧姆,可以迅速将bl的电压放电,从vdd向下拉低到一个较低的电平;而未编程的存储单元,由于反熔丝的电阻高达250g欧姆量级,无法对bl的电压放电,bl的电压保持在接近vdd的电平。这使得其中未编程的反熔丝两端会长时间存在一个接近vdd的电压。当反熔丝prom长时间工作时,在反熔丝prom存储器中未编程的受到读出时两端施加的接近vdd的电压的影响,可能会出现弱击穿编程,从而影响到反熔丝prom的可靠性。


技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种适用于mtm反熔丝prom的读出电路,以解决背景技术中的问题。

2、为解决上述技术问题,本发明提供了一种适用于mtm反熔丝prom的读出电路,包括隔离管n1、预充管p0、下拉管n0、限压保护电阻r0、识别反相器inv1、常规反相器inv2、编程控制信号prog_vc和读出使能信号sa_en;

3、所述隔离管n1的漏端连接位线bl,栅端连接编程控制信号prog_vc,源端连接关键节点d0;限压保护电阻r0的第一端连接关键节点d0,第二端接地;下拉管n0的源端接地,栅端连接读出使能信号sa_en,漏端连接关键节点d0;预充管p0的漏端连接电源vdd,栅端连接读出使能信号sa_en,源端连接关键节点d0;所述关键节点d0连接识别反相器inv1的输入端,调整识别反相器inv1的翻转电平,准确识别编程和未编程二种状态下,关键节点d0的电平;识别反相器inv1的输出端连接常规反相器inv2的输入端,所述常规反相器inv2将识别反相器inv1的输出反相,作为读出电路的输出结果,即存储单元中存储的数据。

4、在一种实施方式中,当适用于mtm反熔丝prom的读出电路在进行编程时,编程控制信号prog_vc为低电平,进行隔离保护;当适用于mtm反熔丝prom的读出电路在进行读操作时,prog_vc为高电平,将位线bl和读出电路进行连通。

5、在一种实施方式中,在没有进行读操作时,读出使能信号sa_en为高电平,下拉管n0导通,预充管p0截止,使关键节点d0一直保持在低电平;当在进行读操作时,读出使能信号sa_en跳变到低电平,下拉管n0截止,预充管p0导通,对关键节点d0和位线bl充电。

6、在一种实施方式中,当存储单元中的mtm反熔丝已经编程,mtm反熔丝的电阻较小,即小于200欧姆,则读出操作时,关键节点d0和位线bl会被mtm反熔丝的电阻下拉到低电平;当存储单元中的mtm反熔丝没有被编程,mtm反熔丝的电阻较大,即大于250g欧姆,则读出操作时,关键节点d0和位线bl无法通过mtm反熔丝的电阻下拉。

7、在一种实施方式中,当进行读操作时,预充管p0对关键节点d0和位线bl充电,限压保护电阻r0对关键节点d0和位线bl的电压下拉,使得关键节点d0和位线bl的电压限制在一个安全的范围,从而对存储单元中未编程的mtm反熔丝进行保护。

8、在一种实施方式中,所述限压保护电阻r0的阻值为mtm反熔丝编程后的电阻最大值的5~20倍。

9、本发明提供的一种适用于mtm反熔丝prom的读出电路,包括隔离管、预充管、下拉管、限压保护电阻、识别反相器和常规反相器;增加的限压保护电阻远大于mtm反熔丝的编程后电阻,但又远小于mtm反熔丝的未编程电阻。当存储单元中存储数据0,mtm反熔丝未被编程,电阻极高。在进行读出操作时,限压保护电阻可以有效降低mtm反熔丝两端的电压差,从而实现对未编程mtm反熔丝的保护,提高mtm反熔丝prom存储器的可靠性。



技术特征:

1.一种适用于mtm反熔丝prom的读出电路,其特征在于,包括隔离管n1、预充管p0、下拉管n0、限压保护电阻r0、识别反相器inv1、常规反相器inv2、编程控制信号prog_vc和读出使能信号sa_en;

2.如权利要求1所述的适用于mtm反熔丝prom的读出电路,其特征在于,当适用于mtm反熔丝prom的读出电路在进行编程时,编程控制信号prog_vc为低电平,进行隔离保护;当适用于mtm反熔丝prom的读出电路在进行读操作时,prog_vc为高电平,将位线bl和读出电路进行连通。

3.如权利要求1所述的适用于mtm反熔丝prom的读出电路,其特征在于,在没有进行读操作时,读出使能信号sa_en为高电平,下拉管n0导通,预充管p0截止,使关键节点d0一直保持在低电平;当在进行读操作时,读出使能信号sa_en跳变到低电平,下拉管n0截止,预充管p0导通,对关键节点d0和位线bl充电。

4.如权利要求1所述的适用于mtm反熔丝prom的读出电路,其特征在于,当存储单元中的mtm反熔丝已经编程,mtm反熔丝的电阻较小,即小于200欧姆,则读出操作时,关键节点d0和位线bl会被mtm反熔丝的电阻下拉到低电平;当存储单元中的mtm反熔丝没有被编程,mtm反熔丝的电阻较大,即大于250g欧姆,则读出操作时,关键节点d0和位线bl无法通过mtm反熔丝的电阻下拉。

5.如权利要求1所述的适用于mtm反熔丝prom的读出电路,其特征在于,当进行读操作时,预充管p0对关键节点d0和位线bl充电,限压保护电阻r0对关键节点d0和位线bl的电压下拉,使得关键节点d0和位线bl的电压限制在一个安全的范围,从而对存储单元中未编程的mtm反熔丝进行保护。

6.如权利要求1所述的适用于mtm反熔丝prom的读出电路,其特征在于,所述限压保护电阻r0的阻值为mtm反熔丝编程后的电阻最大值的5~20倍。


技术总结
本发明公开一种适用于MTM反熔丝PROM的读出电路,属于半导体集成电路领域,包括隔离管N1、预充管P0、下拉管N0、限压保护电阻R0、识别反相器INV1、常规反相器INV2、编程控制信号Prog_VC和读出使能信号SA_EN。增加的限压保护电阻远R0大于MTM反熔丝的编程后电阻,但又远小于MTM反熔丝的未编程电阻。当存储单元中存储数据0,MTM反熔丝未被编程,电阻极高。在进行读出操作时,限压保护电阻可以有效降低MTM反熔丝两端的电压差,从而实现对未编程MTM反熔丝的保护,提高MTM反熔丝PROM存储器的可靠性。

技术研发人员:王文,孙杰杰,赵桂林
受保护的技术使用者:中国电子科技集团公司第五十八研究所
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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