输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法及设备与流程

本公开涉及但不限定于一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法及设备。

背景技术：

1、存储器是用于存储数据的半导体器件，存储器具有输入缓冲器，输入缓冲器与存储器的输入管脚连接，以将输入管脚接收到的输入信号传输到输入缓冲器中进行处理。在不同的工作温度等因素的影响下，输入信号在输入缓冲器中与参考电压比较后可能会输出与预期不符的比较值，这时候输入缓冲器就需要有一定的校准补偿能力，针对不同的信号通路重新校准后设置合理的失调补偿。

2、现有技术中，一般通过设计电压校准功能测试电路对输入缓冲器校准电压，测试出补偿电路的合理配置。在设计阶段，由于输入缓冲器的核心单元是模拟电路，因此对电压校准功能测试电路是否满足设计要求进行验证时，一般对整体电路采用模拟仿真的方式进行验证，然而模拟仿真复杂度高且耗时较长。

技术实现思路

1、本公开实施例提供一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法及设备，以降低输入缓冲器的电压校准功能测试电路的检查复杂度和耗时。

2、第一方面，本公开实施例提供一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法，所述方法包括：

3、获取所述输入缓冲器的电压校准功能测试电路，所述电压校准功能测试电路包括参考电压产生电路、比较器和组合逻辑电路；所述参考电压产生电路用于向所述比较器提供参考电压信号，所述组合逻辑电路用于基于所述比较器的输出信号生成校准输出信号；

4、建立所述比较器的替代模型；所述替代模型包括正相输入端、负相输入端、输出端及修调电压输入端，所述替代模型用于根据所述修调电压输入端输入的激励信号输出与所述激励信号对应的输出信号；

5、将所述替代模型替换所述电压校准功能测试电路中的所述比较器，以使所述正相输入端和负相输入端均连接至所述参考电压产生电路的输出端，所述替代模型的输出端与所述组合逻辑电路的输入端连接；

6、通过所述修调电压输入端输入所述激励信号，并监控所述组合逻辑电路生成的校准输出信号，以将所述校准输出信号与预设期望输出进行对比。

7、在一些实施方式中，所述激励信号为数字信号，所述替代模型的输出为数字信号，所述组合逻辑电路的输出为数字信号。

8、在一些实施方式中，所述激励信号包括多个测试序列，所述通过所述修调电压输入端输入所述激励信号，并监控所述组合逻辑电路生成的校准输出信号，以将所述校准输出信号与预设期望输出进行对比包括：

9、将多个所述测试序列分别输入所述修调电压输入端得到多个对应的所述校准输出信号，以将所述校准输出信号与预设期望输出进行对比，当所有所述校准输出信号与预设期望输出一致时，确定所述电压校准功能测试电路检查通过。

10、在一些实施方式中，所述测试序列由预设长度的二进制数构成。

11、在一些实施方式中，所述预设长度为3。

12、第二方面，本公开实施例提供一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查装置，所述装置包括：

13、电路获取模块，用于获取所述输入缓冲器的电压校准功能测试电路，所述电压校准功能测试电路包括参考电压产生电路、比较器和组合逻辑电路；所述参考电压产生电路用于向所述比较器提供参考电压信号，所述组合逻辑电路用于基于所述比较器的输出信号生成校准输出信号；

14、替代模型建立模块，用于建立所述比较器的替代模型；所述替代模型包括正相输入端、负相输入端、输出端及修调电压输入端，所述替代模型用于根据所述修调电压输入端输入的激励信号输出与所述激励信号对应的输出信号；

15、模型替换模块，用于将所述替代模型替换所述电压校准功能测试电路中的所述比较器，以使所述正相输入端和负相输入端均连接至所述参考电压产生电路的输出端，所述替代模型的输出端与所述组合逻辑电路的输入端连接；

16、检查模块，用于通过所述修调电压输入端输入所述激励信号，并监控所述组合逻辑电路生成的校准输出信号，以将所述校准输出信号与预设期望输出进行对比。

17、在一些实施方式中，所述激励信号为数字信号，所述替代模型的输出为数字信号，所述组合逻辑电路的输出为数字信号。

18、在一些实施方式中，所述激励信号包括多个测试序列，所述检查模块还用于：

19、将多个所述测试序列分别输入所述修调电压输入端得到多个对应的所述校准输出信号，以将所述校准输出信号与预设期望输出进行对比，当所有所述校准输出信号与预设期望输出一致时，确定所述电压校准功能测试电路检查通过。

20、在一些实施方式中，所述测试序列由预设长度的二进制数构成。

21、在一些实施方式中，所述预设长度为3。

22、第三方面，本公开实施例还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器和存储器；

23、所述存储器存储计算机执行指令；

24、所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述电子设备实现如第一方面所述的方法。

25、第四方面，本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被电子设备执行时用于实现第一方面所述的方法。

26、第五方面，本公开实施例还提供了一种计算机程序，该计算机程序用于实现上述第一方面的方法。

27、本公开实施例提供一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法及设备，包括：获取输入缓冲器的电压校准功能测试电路，电压校准功能测试电路包括参考电压产生电路、比较器和组合逻辑电路；参考电压产生电路用于向比较器提供参考电压信号，组合逻辑电路用于基于比较器的输出信号生成校准输出信号；建立比较器的替代模型；替代模型包括正相输入端、负相输入端、输出端及修调电压输入端，替代模型用于根据修调电压输入端输入的激励信号输出与激励信号对应的输出信号；将替代模型替换电压校准功能测试电路中的比较器，以使正相输入端和负相输入端均连接至参考电压产生电路的输出端，替代模型的输出端与组合逻辑电路的输入端连接；通过修调电压输入端输入激励信号，并监控组合逻辑电路生成的校准输出信号，以将校准输出信号与预设期望输出进行对比。本公开实施例可以为比较器建立替代模型，以通过数字仿真实现输入缓冲器的电压校准功能测试电路的检查，相较于模拟仿真，可以降低输入缓冲器的电压校准功能测试电路的检查复杂度和耗时。

技术特征：

1.一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述激励信号为数字信号，所述替代模型的输出为数字信号，所述组合逻辑电路的输出为数字信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述激励信号包括多个测试序列，所述通过所述修调电压输入端输入所述激励信号，并监控所述组合逻辑电路生成的校准输出信号，以将所述校准输出信号与预设期望输出进行对比，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测试序列由预设长度的二进制数构成。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预设长度为3。

6.一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查装置，其特征在于，所述装置包括：

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述激励信号为数字信号，所述替代模型的输出为数字信号，所述组合逻辑电路的输出为数字信号。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述激励信号包括多个测试序列，所述检查模块还用于：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：至少一个处理器和存储器；

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被电子设备执行时用于实现如权利要求1至5任一项所述的方法。

技术总结
本公开提供一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法及设备，涉及半导体测试技术领域，该方法包括：获取电压校准功能测试电路，包括参考电压产生电路、比较器和组合逻辑电路；建立比较器的替代模型，替代模型用于根据修调电压输入端输入的激励信号输出对应的输出信号；将替代模型替换比较器，以使正相输入端和负相输入端均连接至参考电压产生电路的输出端；通过修调电压输入端输入激励信号，并监控组合逻辑电路生成的校准输出信号，以将校准输出信号与预设期望输出进行对比。本公开可以将替代模型作为比较器的数字模型，以通过数字仿真实现电压校准功能的测试，相较于模拟仿真，可以降低电压校准功能的检查复杂度和耗时。

技术研发人员：史腾
受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/7/23