一种存储设备数据丢失测试方法、装置、介质及设备与流程

本发明涉及存储设备测试，尤其涉及一种存储设备数据丢失测试方法、装置、介质及设备。

背景技术：

1、emmc (embedded multi media card）为mmc协会所订立的、主要是针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格，由一个嵌入式存储解决方案组成，带有mmc（多媒体卡）接口、快闪存储器（nand-flash）及emmc控制器。emmc的一个明显优势是在封装中集成了一个emmc控制器，它提供标准接口并管理闪存，使得手机厂商就能专注于产品开发的其它部分，并缩短向市场推出产品的时间，越来越多的移动设备采用emmc作为存储单元。

2、在对emmc存储设备进行读写操作时，消耗完slc（单层储存单元，single-levelcell )block后，就会开始消耗xlc（多层存储单元，x-level cell)block。在掉电后，xlcblock丢失的最大数据量也是各大厂家在衡量emmc性能的重大指标之一。

3、但是现有测试方法中还没有发现可以自动化获取向存储设备写xlc block时丢失的最大数据量的方法。

技术实现思路

1、本发明提供一种存储设备数据丢失测试方法、装置、介质及设备，用于解决现有技术存在的问题。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储设备数据丢失测试方法，包括：

3、根据第一数据写入参数向所述存储设备的第一存储单元写入第一数据，所述第一数据写入参数包括第一数据的大小、类型、地址以及执行测试步骤的次数；

4、对写入第一数据后的所述存储设备执行下电操作；

5、读取下电后存储设备的第一存储单元中的第二数据；

6、获取所述第一数据与所述第二数据之间的差异数据作为丢失数据。

7、于本发明一实施例中，对所述存储设备执行多次测试步骤，得到多个差异数据，多个差异数据中的最大数据作为丢失数据。

8、于本发明一实施例中，在向所述存储设备的第一存储单元写入第一数据的步骤前，所述方法还包括：

9、根据第二数据写入参数向所述存储设备的第二存储单元写入第三数据，所述第三数据写入参数包括所述第三数据的大小、类型、地址。

10、于本发明一实施例中，所述第三数据的数据量大于所述第二存储单元的存储容量。

11、于本发明一实施例中，在进行第一次测试步骤时，所述第一数据的写入起始地址为零；在执行第二次测试步骤时，所述第三数据的写入起始地址从所述第一数据的写入结束地址开始，所述第一数据的写入起始地址从所述第三数据的写入结束地址开始。

12、于本发明一实施例中，所述第三数据的数据量cold_data_capcity表示为：

13、cold_data_capcity = bkops_threshold*(slc_page_count*a*b)+n

14、其中，bkops_threshold表示存储设备内部预留的slc blocks的数量；slc_page_count表示存储设备设定的总slc page数量，a表示一个page的大小；slc_page_count*a*b为xlc的总page数量，b表示xlc的总page数量为slc的总page数量的b倍，n表示数据量的大小。

15、于本发明一实施例中，所述第一数据的数据量hot_data_capcity表示为：

16、hot_data_capcity=trunk_size*2*(cycle+1)

17、其中，trunk_size表示基本写入单元的大小；cycle表示执行测试步骤的次数。

18、为实现上述目的及其他相关目的，本发明还提供一种存储设备数据丢失测试装置，所述测试装置包括：

19、数据写入模块，用于根据第一数据写入参数向所述存储设备的第一存储单元写入第一数据，所述第一数据写入参数包括第一数据的大小、类型、位置以及执行测试步骤的次数；

20、下电控制模块，用于对写入第一数据后的所述存储设备执行下电操作；

21、数据读取模块，用于读取下电后存储设备的第一存储单元中的第二数据；

22、数据比较模块，用于获取所述第一数据与所述第二数据之间的差异数据作为丢失数据。

23、为实现上述目的及其他相关目的，本发明还提供一种计算机设备，包括：

24、一个或多个处理器；和

25、其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当所述一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行前述的一个或多个所述的存储设备数据丢失测试方法。

26、为实现上述目的及其他相关目的，本发明还提供一个或多个机器可读介质，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得处理器执行前述的一个或多个所述的存储设备数据丢失测试方法。

27、如上所述，本发明提供的一种存储设备数据丢失测试方法、装置、机器可读介质及设备，具有以下有益效果：

28、本发明的一种存储设备数据丢失测试方法，包括：根据第一数据写入参数向所述存储设备的第一存储单元写入第一数据，所述第一数据写入参数包括第一数据的大小、类型、位置以及执行测试步骤的次数；对写入第一数据后的所述存储设备执行下电操作；读取下电后存储设备的第一存储单元中的第二数据；获取所述第一数据与所述第二数据之间的差异数据作为丢失数据。本发明解决现有方法无法自动化获取写xlc block时丢失最大数据量的问题。

29、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

技术特征：

1.一种存储设备数据丢失测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

2.根据权利要求1所述的存储设备数据丢失测试方法，其特征在于，对所述存储设备执行多次测试步骤，得到多个差异数据，多个差异数据中的最大数据作为丢失数据。

3.根据权利要求1或2所述的存储设备数据丢失测试方法，其特征在于，在向所述存储设备的第一存储单元写入第一数据的步骤前，所述方法还包括：

4.根据权利要求3所述的存储设备数据丢失测试方法，其特征在于，所述第三数据的数据量大于所述第二存储单元的存储容量。

5.根据权利要求4所述的存储设备数据丢失测试方法，其特征在于，在进行第一次测试步骤时，所述第一数据的写入起始地址为零；在执行第二次测试步骤时，所述第二数据的写入起始地址从所述第一数据的写入结束地址开始，所述第一数据的写入起始地址从所述第二数据的写入结束地址开始。

6.根据权利要求5所述的存储设备数据丢失测试方法，其特征在于，所述第三数据的数据量cold_data_capcity表示为：

7.根据权利要求6所述的存储设备数据丢失测试方法，其特征在于，所述第一数据的数据量hot_data_capcity表示为：

8.一种存储设备数据丢失测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：

9.一种计算机设备，其特征在于，包括：

10.一个或多个机器可读介质，其特征在于，

技术总结
本发明涉及存储设备测试技术领域，公开了一种存储设备数据丢失测试方法，包括：根据第一数据写入参数向所述存储设备的第一存储单元写入第一数据，所述第一数据写入参数包括第一数据的大小、类型、位置以及执行测试步骤的次数；对写入第一数据后的所述存储设备执行下电操作；读取下电后存储设备的第一存储单元中的第二数据；获取所述第一数据与所述第二数据之间的差异数据作为丢失数据。本发明解决现有方法无法自动化获取写XLC block时丢失最大数据量的问题。

技术研发人员：潘慧敏,赵啟鹏
受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15