基于UFS存储设备的多状态性能测试方法和装置与流程

本发明涉及存储测试，特别是涉及一种基于ufs存储设备的多状态性能测试提升方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术：

1、ufs，全称是通用闪存存储universal flash storage，而ufs3.1采用hs-g4规范，单通道带宽可达11.6gbps，性能为ufs2.1的两倍。ufs3.1标准在传输速度上更快，功耗更低，软件响应更快，程序运行更流畅，而省电效果更佳。

2、当前，ufs3.1比较流行的测试方法是基于一些已有的性能测试app，如androidbench等进行系统层级的性能测试，该种测试方法因系统进程优先级较高，soc会优先处理系统相关指令，导致性能测试结果较实际结果偏低。此外，一般性能测试程序只会在ufs3.1设备当前状态下测试其性能，无法自主制造空卡，满卡，脏卡状态，且缺乏设备满卡、脏卡情况下的性能数据。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种基于ufs存储设备的多状态性能测试提升方法、装置、计算机设备和存储介质。

2、一种基于ufs存储设备的多状态性能测试提升方法，所述方法包括：

3、分别编写ufs3.1存储设备在空卡、满卡以及脏卡三个状态下各模块的性能测试用例；

4、在mtk6893开发板上对性能测试环境进行配置；

5、待测试环境配置完成后，在mtk6893开发板上运行已编写好的测试用例进行随机读写性能以及顺序读写性能测试；

6、待所有测试项目完成后输出测试结果，并生成图形化统计分析报告。

7、在其中一个实施例中，所述在mtk6893开发板上对性能测试环境进行配置的步骤包括：

8、配置lu0为全卡容量，配置储存模式为slc模式或tlc模式，配置读写状态模式为缓存打开或缓存关闭。

9、在其中一个实施例中，所述在mtk6893开发板上对性能测试环境进行配置的步骤还包括：

10、配置ufs3.1存储设备的初始状态，初始状态为空卡则不做任何操作，初始状态为满卡则进行两次顺序写全卡操作，初始状态为脏卡则进行一次顺序写全卡一次随机写全卡操作。

11、在其中一个实施例中，所述在mtk6893开发板上运行已编写好的测试用例进行随机读写性能以及顺序读写性能测试的步骤包括：

12、执行测试范围为1gb的顺序写测试，起始地址为0，chunksize为1～48，64，96，128，256block；

13、执行测试范围为1gb的顺序读测试，起始地址为0，chunksize为1～48，64，96，128，256block；

14、执行测试范围为1gb的随机写测试，起始地址为0，chunksize为1～48，64，96，128，256block；

15、执行测试范围为1gb的随机读测试，起始地址为0，chunksize为1～48，64，96，128，256block。

16、一种基于ufs存储设备的多状态性能测试提升装置，所述装置包括：

17、编写模块，所述编写模块用于分别编写ufs3.1存储设备在空卡、满卡以及脏卡三个状态下各模块的性能测试用例；

18、配置模块，所述配置模块用于在mtk6893开发板上对性能测试环境进行配置；

19、测试模块，所述测试模块用于待测试环境配置完成后，在mtk6893开发板上运行已编写好的测试用例进行随机读写性能以及顺序读写性能测试；

20、结果输出模块，所述结果输出模块用于待所有测试项目完成后输出测试结果，并生成图形化统计分析报告。

21、在其中一个实施例中，所述配置模块还用于：

22、配置lu0为全卡容量，配置储存模式为slc模式或tlc模式，配置读写状态模式为缓存打开或缓存关闭。

23、在其中一个实施例中，所述配置模块还用于：

24、配置ufs3.1存储设备的初始状态，初始状态为空卡则不做任何操作，初始状态为满卡则进行两次顺序写全卡操作，初始状态为脏卡则进行一次顺序写全卡一次随机写全卡操作。

25、在其中一个实施例中，所述测试模块还用于：

26、执行测试范围为1gb的顺序写测试，起始地址为0，chunksize为1～48，64，96，128，256block；

27、执行测试范围为1gb的顺序读测试，起始地址为0，chunksize为1～48，64，96，128，256block；

28、执行测试范围为1gb的随机写测试，起始地址为0，chunksize为1～48，64，96，128，256block；

29、执行测试范围为1gb的随机读测试，起始地址为0，chunksize为1～48，64，96，128，256block。

30、一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。

31、一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。

32、上述基于ufs存储设备的多状态性能测试提升方法、装置、计算机设备和存储介质，通过分别编写ufs3.1存储设备在空卡、满卡以及脏卡三个状态下各模块的性能测试用例；在mtk6893开发板上对性能测试环境进行配置；待测试环境配置完成后，在mtk6893开发板上运行已编写好的测试用例进行随机读写性能以及顺序读写性能测试；待所有测试项目完成后输出测试结果，并生成图形化统计分析报告。本发明可以充分收集ufs3.1设备在不同状态下的性能结果，弥补了空卡状态以外的性能测试方法，同时在mtk6893平台上可以保证纯净的性能测试结果。

技术特征：

1.一种基于ufs存储设备的多状态性能测试提升方法，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的基于ufs存储设备的多状态性能测试提升方法，其特征在于，所述在mtk6893开发板上对性能测试环境进行配置的步骤包括：

3.根据权利要求2所述的基于ufs存储设备的多状态性能测试提升方法，其特征在于，所述在mtk6893开发板上对性能测试环境进行配置的步骤还包括：

4.根据权利要求3所述的基于ufs存储设备的多状态性能测试提升方法，其特征在于，所述在mtk6893开发板上运行已编写好的测试用例进行随机读写性能以及顺序读写性能测试的步骤包括：

5.一种基于ufs存储设备的多状态性能测试提升装置，其特征在于，所述装置包括：

6.根据权利要求5所述的基于ufs存储设备的多状态性能测试提升装置，其特征在于，所述配置模块还用于：

7.根据权利要求6所述的基于ufs存储设备的多状态性能测试提升装置，其特征在于，所述配置模块还用于：

8.根据权利要求7所述的基于ufs存储设备的多状态性能测试提升装置，其特征在于，所述测试模块还用于：

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。

技术总结
本申请涉及一种基于UFS存储设备的多状态性能测试提升方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：分别编写UFS3.1存储设备在空卡、满卡以及脏卡三个状态下各模块的性能测试用例；在MTK6893开发板上对性能测试环境进行配置；待测试环境配置完成后，在MTK6893开发板上运行已编写好的测试用例进行随机读写性能以及顺序读写性能测试；待所有测试项目完成后输出测试结果，并生成图形化统计分析报告。本发明可以充分收集UFS3.1设备在不同状态下的性能结果，弥补了空卡状态以外的性能测试方法，同时在MTK6893平台上可以保证纯净的性能测试结果。

技术研发人员：周佳胤,张业,魏桂芳
受保护的技术使用者：东莞忆联信息系统有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16