一种基于ATE的FLASHPROM的测试装置的制作方法

本技术涉及芯片测试，具体涉及一种基于ate的flash prom的测试装置。

背景技术：

1、flash prom(programmable read-only memory)是一种非易失性存储器，具有可编程性和只读性的特点。随着计算机和电子设备的迅速发展，传统的rom(只读存储器)无法满足用户需求，flash prom飞速发展，适配fpga使用。随着flash prom复杂程度越来越高，对其可靠性试验和筛选要求也越来越高，prom的测试需求变得尤为迫切。

2、针对目前flash prom产品应用范围扩大，提高flash prom使用时的可靠性问题，基于ate设计，对flash prom进行自动配置检测技术。能够降低测试环境的开发时间和成本，满足测试并比高测试速度和精度。

技术实现思路

1、本实用新型提供一种基于ate的flash prom的测试装置，通过改进的测试基板简化了sm32pfs48的测试过程，降低测试环境的开发和成本满足测试并比高测试速度和精度。

2、为了达到上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种基于ate的flash prom的测试装置，其包括：测试基板，所述测试基板设有芯片连接座，所述芯片连接座适配有测试芯片，所述测试基板两侧分别固定设有与所述芯片连接座电性连接的j2连接器和j3连接器；所述j2连接器与所述芯片连接座之间电性连接有光耦和fpga芯片；所述芯片连接座电性连接有电阻和电容；所述测试基板通过所述j2连接器和所述j3连接器与ate测试机连接，并且所述j2连接器设有电能设置引脚，所述电能设置引脚包括a1、a2、a3。

3、优选的，还包括u2连接器，所述u2连接器设置在所述测试基板上，并位于所述j2连接器与所述芯片连接座之间，所述u2连接器与j2连接器与所述芯片连接座电性连接，所述fpga芯片安装在所述u2连接器上。

4、优选的，还包括第一插座，所述第一插座与所述j2连接器及所述芯片连接座电性连接，所述光耦安装在所述第一插座上。

5、优选的，还包括第二插座和第三插座，所述第二插座及所述第三插座与所述芯片连接座电性连接，所述电阻和所述电容分别安装在对应的所述第二插座及所述第三插座上。

6、本实用新型有益效果在于：该测试装置通过改进的测试基板简化了sm32pfs48的测试过程，降低测试环境的开发和成本满足测试并比高测试速度和精度。

技术特征：

1.一种基于ate的flash prom的测试装置，其特征在于,包括：

2.根据权利要求1所述的一种基于ate的flash prom的测试装置，其特征在于：还包括u2连接器(10)，所述u2连接器(10)设置在所述测试基板(1)上，并位于所述j2连接器(3)与所述芯片连接座(2)之间，所述u2连接器(10)与j2连接器(3)与所述芯片连接座(2)电性连接，所述fpga芯片(6)安装在所述u2连接器(10)上。

3.根据权利要求1所述的一种基于ate的flash prom的测试装置，其特征在于：还包括第一插座，所述第一插座与所述j2连接器(3)及所述芯片连接座(2)电性连接，所述光耦(5)安装在所述第一插座上。

4.根据权利要求1所述的一种基于ate的flash prom的测试装置，其特征在于：还包括第二插座和第三插座，所述第二插座及所述第三插座与所述芯片连接座(2)电性连接，所述电阻(7)和所述电容(8)分别安装在对应的所述第二插座及所述第三插座上。

技术总结
本技术涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于ATE的FLASH PROM的测试装置，其包括：测试基板，所述测试基板设有芯片连接座，所述芯片连接座适配有测试芯片，所述测试基板两侧分别固定设有与所述芯片连接座电性连接的J2连接器和J3连接器；所述J2连接器与所述芯片连接座之间电性连接有光耦和FPGA芯片；所述芯片连接座电性连接有电阻和电容；所述测试基板通过所述J2连接器和所述J3连接器与ATE测试机连接，并且所述J2连接器设有电能设置引脚，所述电能设置引脚包括A1、A2、A3。本技术通过改进的测试基板简化了SM32PFS48的测试过程，降低测试环境的开发和成本满足测试并比高测试速度和精度。

技术研发人员：闫欣,夏启飞,杨国牛,张惠娟,刘镕玮,池添乐
受保护的技术使用者：西安西谷微电子有限责任公司
技术研发日：20230907
技术公布日：2024/3/24