电子装置及其测试方法与流程

本发明是关于电子装置，特别是关于一次性可编程(one-time programmable，otp)存储器的编程方法和系统。

背景技术：

1、电子装置可以包括用于储存各种装置参数的一次性可编程(otp)存储器，储存在otp存储器中的参数可以包括例如装置的生命周期(life-cycle，lc)状态。由于otp存储器的编程是不可逆的，因此编程程序应该要是高度可靠的。

技术实现思路

1、这里所描述本发明的实施例提供了一种用于测试电子装置的方法。该方法包括由测试系统向电子装置提供一或多个信号以用于执行测试程序，该测试程序涉及对电子装置中的一次性可编程(otp)存储器进行编程。通过执行一系列的一或多个迭代来验证一或多个信号与电子装置的连接是否稳定，每次迭代包括(i)从otp存储器中的一组暂存地址中，确定可用于编程的一地址，(ii)将测试值写入该地址，然后(iii)从该地址读取测试值。如果所读取的测试值与所写入的测试值不同，则启动一或多个信号连接的重新调谐。只有在通过该系列的迭代验证为连接稳定时，才根据测试程序对电子装置的otp存储器进行编程。

2、在一些实施例中，该测试方法更包括在发现所有暂存地址已被编程但连接不稳定时，输出一故障指示。在实施例中，一或多个信号包括至少对电子装置的一部分进行计时的时脉信号。或者或更甚者，一或多个信号包括至少对电子装置的一部分供电的电源供应信号。

3、在公开的实施例中，对otp存储器进行编程包括根据测试程序更新电子装置的生命周期(lc)状态。在范例实施例中，确定可用于编程的地址的操作包括扫描otp存储器的暂存地址以寻找保有(hoding)全零值(all-zeros value)的地址。在替代实施例中，确定可用于编程的地址的操作包括将otp存储器的状态维持(maintaining)在与otp存储器不同的存储器中。

4、根据本文所述的实施例，另外提供了一种用于测试电子装置的方法。此方法包括，在包含一次性可编程(otp)存储器的电子装置中，从测试系统接收之一或多个信号，用于执行涉及otp存储器编程的测试程序。通过(i)从otp存储器中的一组暂存地址中确定可用于编程的一地址，来验证一或多个信号与电子装置的连接是否稳定，(ii)将测试值写入该地址，(iii)从该地址读取测试值，以及(iv)验证所读取的测试值是否等于所写入的测试值。如果该连接被验证为稳定，则根据测试程序对电子装置的otp存储器进行编程。如果确定该连接不稳定，则输出一故障指示。

5、根据本文所述的实施例，还提供了一种包括一次性可编程(otp)存储器和控制硬件的电子装置。控制硬件被配置为从测试系统接收一或多个信号用于执行一测试程序，该测试程序涉及otp存储器的编程，并且通过以下方式验证一或多个信号与电子装置的连接是否稳定：从otp存储器中的一组暂存地址中决定可用于编程的一地址，(ii)将测试值写入该地址，(iii)从该地址读取测试值，以及(iv)验证是否所读取的测试值等于所写入的测试值。控制硬件被配置为如果连接被验证为稳定则根据测试程序对otp存储器编程，并且如果确定连接不稳定则输出一故障指示。

6、通过结合以下附图对本发明实施例的详细描述，将可以更全面地理解本发明。

技术特征：

1.一种电子装置的测试方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的电子装置的测试方法，其特征在于，更包括：当该组暂存地址中的所有暂存地址已被编程但该连接为不稳定时，输出一失败指示。

3.如权利要求1所述的电子装置的测试方法，其特征在于，该一或多个信号包括至少对该电子装置的一部分进行计时的一时脉信号。

4.如权利要求1所述的电子装置的测试方法，其特征在于，该一或多个信号包括至少对该电子装置的一部分进行供电的一电源供应信号。

5.如权利要求1所述的电子装置的测试方法，其特征在于，对该otp存储器进行编程的操作包括根据该测试程序来更新该电子装置的生命周期lc状态。

6.如权利要求1所述的电子装置的测试方法，其特征在于，确定可用于编程的该地址的操作包括扫描该otp存储器的该组暂存地址以寻找保有全零值的一地址。

7.如权利要求1所述的电子装置的测试方法，其特征在于，确定可用于编程的该地址的操作包括将该otp存储器的状态维持在与该otp存储器不同的存储器中。

8.一种电子装置的测试方法，其特征在于，该测试方法包括：

9.如权利要求8所述的电子装置的测试方法，其特征在于，更包括当所有该组暂存地址的全部暂存地址已被编程但该连接不稳定时，输出一严重故障指示。

10.如权利要求8所述的电子装置的测试方法，其特征在于，该一或多个信号包括至少对该电子装置的一部分进行计时的一时脉信号。

11.如权利要求8所述的电子装置的测试方法，其特征在于，该一或多个信号包括至少对该电子装置的一部分进行供电的一电源供应信号。

12.如权利要求8所述的电子装置的测试方法，其特征在于，对该otp存储器进行编程的操作包括根据该测试程序来更新该电子装置的生命周期lc状态。

13.如权利要求8所述的电子装置的测试方法，其特征在于，确定可用于编程的该地址的操作包括扫描该otp存储器的该组暂存地址以寻找保有全零值的一地址。

14.一种电子装置，其特征在于，包括：

15.如权利要求14所述的电子装置，其特征在于，该控制硬件也用于当所有该组暂存地址已被编程但连接不稳定时，输出一严重故障指示。

16.如权利要求14所述的电子装置，其特征在于，该一或多个信号包括至少对该电子装置的一部分进行计时的一时脉信号。

17.如权利要求14所述的电子装置，其特征在于，该一或多个信号包括至少对该电子装置的一部分进行供电的一电源供应信号。

18.如权利要求14所述的电子装置，其特征在于，对该otp存储器进行编程时，该控制硬件被配置以根据该测试程序来更新该电子装置的生命周期lc状态。

19.如权利要求14所述的电子装置，其特征在于，该控制硬件被配置以通过扫描该otp存储器的该组暂存地址，寻找保有全零值的一地址来决定可用于编程的地址。

技术总结
本发明提供了一种电子装置及其测试方法，包括向电子装置提供一或多个信号以执行测试程序的方法，该测试程序涉及对电子装置中的一次性可编程OTP存储器进行编程。通过执行一系列的一或多个迭代程序来验证一或多个信号到电子装置的连接是否稳定，每次迭代包括(i)从OTP存储器中的一组暂存地址中进行，确定可用于编程的地址，(ii)将测试值写入该地址，然后(iii)从该地址读取测试值。如果读取的测试值与写入的测试值不同，则启动一或多个信号连接的重新调谐。只有在通过一系列的迭代程序验证连接稳定时，才会根据测试程序对OTP存储器进行编程。

技术研发人员：日弗·赫诗曼,达纳·阿古尔,艾伦·毕思曼
受保护的技术使用者：新唐科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/12/17