用于存储器装置中的高级互连件的三通孔链的制作方法

本公开的实施例大体涉及存储器子系统，且更具体来说，涉及一种用于存储器子系统的存储器装置中的高级互连件实施方案的三通孔链。

背景技术：

1、存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置及易失性存储器装置。一般来说，主机系统可利用存储器子系统在存储器装置处存储数据及从所述存储器装置检索数据。

技术实现思路

1、在一个方面中，本申请提供一种存储器装置，其包括：第一部分，其包括包含多个存储器单元的存储器阵列及用于执行测试操作的第一通孔链段；第二部分，其包括处理电路系统及用于执行所述测试操作的第二通孔链段；及互连件，其耦合所述第一部分与所述第二部分，所述互连件包括第三通孔链段，其中能够独立地选择所述第一通孔链段、第二通孔链段及第三通孔链段。

2、在另一方面中，本申请提供一种方法，其包括：在存储器装置的第一部分处选择所述存储器装置的一或多个通孔链段中的第一通孔链段用于测试操作，其中所述一或多个通孔链段包括在所述存储器装置的第二部分处的第二通孔链段及在所述存储器装置的第三部分处的第三通孔链段；响应于选择所述第一通孔链段而测试所述存储器装置的所述第一部分；及响应于测试所述存储器装置的所述第一部分而确定与所述存储器装置的所述第一部分相关联的一或多个错误。

3、在又一方面中，本申请提供一种存储器装置，其包括：存储器阵列，其包括存储器单元；及控制逻辑，其耦合到所述存储器阵列，所述控制逻辑用于：在所述存储器装置的第一部分处选择所述存储器装置的一或多个通孔链段中的第一通孔链段用于测试操作，其中所述一或多个通孔链段包括在所述存储器装置的第二部分处的第二通孔链段及在所述存储器装置的第三部分处的第三通孔链段；响应于选择所述第一通孔链段而测试所述存储器装置的所述第一部分；及响应于测试所述存储器装置的所述第一部分而确定与所述存储器装置的所述第一部分相关联的一或多个错误。

技术特征：

1.一种存储器装置，其包括：

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述第一通孔链段、所述第二通孔链段及所述第三通孔链段各自包括多个部分，其中所述多个部分中的一部分对应于所述存储器装置的一侧。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，其进一步包括：

4.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述第一通孔链段包括第一端子及第二端子，所述存储器装置进一步包括：

5.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述第一通孔链段包括第一端子及第二端子，并且其中：

6.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述第一通孔链段包括第一端子及第二端子，并且其中：

7.根据权利要求1所述的存储器装置，其进一步包括：

8.一种方法，其包括：

9.根据权利要求8所述的方法，其中测试所述存储器装置的所述第一部分进一步包括：

10.根据权利要求9所述的方法，其进一步包括：

11.根据权利要求9所述的方法，其进一步包括：

12.根据权利要求8所述的方法，其中测试所述存储器装置的所述第一部分进一步包括：

13.根据权利要求12所述的方法，其进一步包括：

14.根据权利要求8所述的方法，其中测试所述存储器装置的所述第一部分进一步包括：

15.根据权利要求8所述的方法，其中所述第一通孔链段包括多个部分，每一部分对应于所述存储器装置的侧、段或拐角中的至少一者，所述方法进一步包括：

16.根据权利要求8所述的方法，其进一步包括：

17.一种存储器装置，其包括：

18.根据权利要求17所述的存储器装置，其中为了测试所述第一部分，所述控制逻辑用于：

19.根据权利要求18所述的存储器装置，其中所述控制逻辑用于：

20.根据权利要求18所述的存储器装置，其中所述控制逻辑用于：

技术总结
本申请涉及用于存储器装置中的高级互连件的三通孔链。存储器装置能够包含第一部分，所述第一部分具有包括多个存储器单元的存储器阵列及用于执行测试操作的第一通孔链段。所述存储器装置能够包含第二部分，所述第二部分包括处理电路系统及用于执行测试操作的第二通孔链段。所述存储器装置还能够包含互连件，所述互连件耦合所述第一部分与所述第二部分，所述互连件包括第三通孔链段，其中能够独立地选择所述第一通孔链段、第二通孔链段及第三通孔链段。

技术研发人员：I·T·万贝克,J·E·戴维斯,J·D·托迈科,F·罗里,C·切拉福利,K·W·马尔
受保护的技术使用者：美光科技公司
技术研发日：
技术公布日：2025/1/9