专利名称：依再现信息中记录轨迹给出相位补偿的光学信息存储装置的制作方法
技术领域：
本发明一般涉及一种光学信息存储装置，更具体地说，涉及用来在形成于记录介质上的纹间表面与沟纹两者上面记录光学信号并从该记录介质再现被记录的光学信号的光学信息记录与再现装置。
光盘作为存储介质受到关注，成为多媒体近代快速发展的核心，它通常被容纳在一个为实际使用随着光盘盒提供的盒式壳体(cartridgecase)中。该光盘盒(cartridge)被装载至光盘驱动装置中，以便通过一光学拾取器(光学头)从/向该光盘执行数据(信息)的读出/写入。
力图实现减小尺寸的现代光盘驱动装置由一固定光学组件以及一可动光学组件组成，固定光学组件包括一激光二极管模件，一用于反射及透射激光束的偏振分束器，以及一用于从光盘接收反射光的光检测器；可动光学组件包括一滑座以及一带有物镜和装在该滑座上的光束提升反光镜的光学头。该滑座可借助于音圈马达沿着一对导轨在该光盘的径向移动。
从固定光学组件的激光二极管模件发射的写入功率激光束首先由准直透镜准直，其次由偏振分束器传送，然后被光学头的光束提升反光镜反射，最后由物镜聚焦在光盘上，由此将数据写到光盘上。另一方面，通过将读出功率的激光束照射到光盘上来完成数据的读出。来自光盘的反射光首先由物镜准直，然后被偏振分束器反射，最后由光检测器进行检测，由此将所检测的光信号转换成电信号。
在光盘的基板上许多沟纹按同心状或螺旋状形成，以引导待照射到基板上的激光束。在任何相邻的一个个沟纹之间限定的平坦部分称为纹间表面。在现有技术的一般光盘中，不是纹间表面就是沟纹被作为其上记录有信息的记录轨迹来使用。然而，要考虑的现代重要技术课题是通过使用纹间表面与沟纹这两者作为记录轨迹来提高记录密度，因而要减小轨迹的间距。在这方面，为实现此课题的各种方法已被提出。
在作为光盘驱动装置一个类型的磁-光盘驱动装置中，通过使读出功率的激光束照射在磁-光盘上及用现有技术中公知的方法对从该磁-光盘反射的反射光的P偏振光分量与S偏振光分量进行差动检测，再记录在磁-光盘上的磁-光信号。按照这种方式，磁-光信号必须通过对反射光的P偏振光分量及S偏振光分量进行差动检测实现最佳再现。然而，各单个磁-光盘驱动装置的光学元件有不同特性，这在每个磁-光盘驱动装置中在反射光的P偏振光分量与S偏振光分量之间造成相位差。此外，记录介质之间类型的差别也会造成类似的相位差。
图1为表示在64 MB(兆比特)磁-光盘及1.3GB(千兆比特)磁-光盘中相位差与载噪比(CNR)之间关系的曲线。如从图1中明显看出的那样，在每个640MB磁-光盘与1.3GB磁-光盘中存在有一给出CNR最大值的相位差。同时图1的曲线进一步表示，在记录密度更高的1.3GB磁-光盘中CNR对相位差更不敏感，但1.3GB磁-光盘有一个问题，磁-光(MO)信号大幅度地起伏。
图2为表示在640MB磁-光盘及1.3GB磁-光盘中相位差与MO起伏/MO幅度之间关系的图形。MO起伏意味着在盘回转一次中MO信号的包络线的波动起伏。这样的MO起伏示于图3中。MO起伏在以一定限幅电平削减MO信号当中引起抖动的恶化。从图2明显看出，在1.3GB磁-光盘中MO起伏随相位差的改变陡峭地发生变化。因此，相位差必须调整以取得最佳的再现信号质量。
此外，在用于在记录介质的纹间表面与沟纹两个方面记录信息的磁-光盘驱动装置中，每个轨迹的宽度小于在该记录介质上构成的光斑的直径，致使被该光斑所覆盖的轨迹极大地受到来自相邻轨迹交叉干扰的影响。于是，这种纹间表面/沟纹记录方法有这样的问题，从任何相邻的沟纹或纹间表面反射的不希望的光成分增加，引起连带的相位差以及再现光偏振状态的总变化。结果，信息不能从该磁-光记录介质上良好地再现。
图4为表示在执行纹间表面再现与沟纹再现当中相位差与CNR之间关系的图形。从图4中清楚地看出，在纹间表面读出与沟纹读出的每一种情况下CNR随相位差的改变而发生变化，在每种情况下存在有一个给出最大CNR的最佳相位差。因此，需要对在纹间表面读出与沟纹读出的每一种情况下再现光的偏振光分量进行相位补偿，由此取得P偏振光分量与S偏振光分量之间的最佳相位差。例如，日本专利公开Nos9-282730、9-282733和10-134444公开了用于对在纹间表面再现与沟纹再现之间再现光的偏振光分量之间的相位差进行切换(switch)的技术。但是，每项技术都要利用复杂的光学系统。
因此，本发明的目的在于提供一种光学信息存储装置。它能使用相对简单且廉价的光学系统通过对纹间表面读出与沟纹读出提供不同的相位补偿量而良好地再现信息。
根据本发明的一个方面，提供一光学信息存储装置，用于将入射光束照射在具有由作为轨迹的纹间表面与沟纹组成的记录表面的记录介质上，以及检测从所述记录介质发射的反射光束得到的再现信号，其包括一设置在所述反射光束光路中的相位平板，致使其可在一第一与第二位置之间倾斜，且在该第一位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述纹间表面的信号所需的第一相位补偿量，在该第二位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述沟纹的信号所需的第二相位补偿量；以及用于使所述相位平板倾斜的驱动装置。
优选地是，该光学信息存储装置进一步包括有控制装置，当所述纹间表面被选作所述轨迹时用于向所述驱动装置提供第一控制信号以便将所述相位平板倾斜至所述第一位置，以及当所述沟纹被选作所述轨迹时用于向所述驱动装置提供第二控制信号以便将所述相位平板倾斜至所述第二位置。
相位平板固定在支座上。该支座可通过该驱动装置作枢轴旋转运动。该驱动装置的例子包括由磁线圈、双向直流马达以及音圈马达。设置有第一限位器与第二限位器，以便分别地使相位平板停止在第一位置与第二位置。最好是，该第一限位器与第二限位器为可调节的。
在采用双向直流马达作驱动装置的情况下，在该第一位置与第二位置之间的第三位置可通过一磁体与一霍尔元件的组合进行检测。在采用音圈马达作驱动装置的情况下，该相位平板可以停止在第一位置与第二位置之间的任意位置上，以致可容易地实现所希望的相位差。因而，即使在该装置的组装当中未能进行调节的情况下，在该装置组装之后也可实现任意的相位差。
根据本发明的另一方面，提供一种光学信息存储装置，其包括一具有基座的外壳；一可旋转地容纳在所述外壳中并具有由作为轨迹的纹间表面与沟纹组成的记录表面的光学记录介质；一安装在所述基座上的光源；一具有用于将从所述光源发出的入射光束聚焦在所述光学记录介质的所述记录表面上的物镜的光学头；一安装在所述基座上的、用于检测从所述光学记录介质反射的反射光束得到的再现信号的光检测器；一设置在所述反射光束的光路上的相位平板，以使其能在第一位置与第二位置之间倾斜，且在该第一位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述纹间表面的信号所需的第一相位补偿量，在该第二位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述沟纹的信号所需的第二相位补偿量；以及用于使所述相位平板倾斜的驱动装置。
从参照表示本发明一些优选实施例的各个附图对以下描述及所附权利要求的学习中，本发明的上述和其它目的、特征及优点以及实现它们的方法，会变得更加清楚，且对发明本身会很好地理解。
图1为表示在640MB磁-光盘及1.3GB磁-光盘中相位差与CNR之间关系的曲线；图2为表示在640MB磁-光盘与1.3GB磁-光盘中相位差与MO起伏/MO幅度之间关系的曲线；图3为对MO起伏的举例说明；图4为表示在进行纹间表面轨迹读出与沟纹轨迹读出中相位差与CNR之间关系的曲线；图5为根据本发明包括有相位补偿单元的磁-光盘驱动装置的顶部透视图；图6为该磁-光盘驱动装置的底部透视图；图7为表示一磁-光盘盒少量插入磁-光盘驱动装置中时状态的平面视图；图8为该磁-光盘驱动装置中光学系统的平面视图9为图8的右侧视图；图10为图8的正面视图；图11为本发明中相位补偿原理的举例说明；图12为表示相位平板倾斜角与相位差之间关系的一个例子的曲线；图13为表示相位平板倾斜角与相位差之间关系的另一个例子的曲线；图14为根据本发明第一优选实施方案的相位补偿单元的立面视图；图15为展示于图14中的相位补偿单元的右侧视图；图16为图14所示相位补偿单元的透视图；图17为图14所示相位补偿单元的分解透视图；图18为类似于图14的视图，表示出对第一优选实施方案的改进；图19为根据本发明第二优选实施方案的相位补偿单元的立面视图；图20为图19所示相位补偿单元的右侧视图；图21为图19所示相位补偿单元的透视图；图22为图19所示相位补偿单元的分解透视图；图23为与图19相类似的视图，表示出对第二优选实施方案的改进；图24为根据本发明第三优选实施方案的相位补偿单元的立面视图；图25为图24所示相位补偿单元的右侧视图；图26为图24所示相位补偿单元的透视图；图27为图24所示相位补偿单元的分解透视图；图28为与图24相类似的视图，表示出对第三优选实施方案的改进，以及图29为图28所示相位补偿单元的右侧视图。
参照图5，图中示出根据本发明包括有相位补偿机构的磁-光盘驱动装置10从顶侧观察的透视图。图6为从底侧观察的磁-光盘驱动装置10的透视图。该磁-光盘驱动装置10接纳一带有盒式壳体的磁-光盘盒14以及一可旋转地容纳在该盒式壳体中的磁-光盘，并从/向该磁-光盘盒14的磁-光盘上进行信息的读出/写入。
如后文中将详细描述的那样，磁-光盘驱动装置10包括一用于磁-光盘盒14的装载/排放机构；一用于旋转该磁-光盘的主轴马达；一偏置磁场产生机构；一定位器；一光学头及一固定光学单元。磁-光盘驱动装置10还具有用于接纳磁-光盘盒14的插入口12。
图7为表示当磁-光盘盒14少量地从插入口12插入磁-光盘驱动装置10中的状态的平面视图。附图标记22代表磁-光盘驱动装置10的驱动器基座。用于夹持已插入磁-光盘驱动装置10中的磁-光盘盒14的盒夹持器24，安装在驱动装置基座22上。盒夹持器24由导向沟槽26构成。该导向沟槽26由第一部分与第二部分组成，第一部分从插入口12(图5)的一端沿侧向朝向盒夹持器24内部斜向伸展，第二部分从第一部分的里端朝盒夹持器24的后端沿与磁-光盘驱动装置10的纵向平行方向伸展。第一滑块28及第二滑块30与导向沟槽26可滑动地啮合。第二滑块30通过一弹簧(未示出)连接至第一滑块28，以致当第一滑块28沿导向沟槽26向盒夹持器24的内部运动时，第二滑块30沿着导向沟槽26通过这一弹簧向盒夹持器24的后端运动。
当磁-光盘盒14从插入口12向磁-光盘驱动装置10中插入时，第一滑块28与安装至磁-光盘盒14的闸门(shuuter)18上的闸门开启臂20的端部20a产生抵触。在磁-光盘盒14进一步向磁-光盘驱动装置10中插入的过程中，第一滑块28沿导向沟槽26向盒夹持器24的内部运动以推动闸门开启臂20，由此打开闸门18。
另外安装在驱动装置基座22上的是一对磁路24，一对导轨36，一具有半导体激光器和光检测器的固定光学单元38，和一主轴马达40。附图标记42代表一用于装载带有一物镜的光学头44的滑座。滑座42在与一对磁路34分别相对应的对立位置上装备有一对线圈46。磁路34与线圈46构成音圈马达(VCM)。当电流穿过线圈46时，滑座42受一对导轨36的导引以致在磁-光盘16的径向产生运动。附图标记48代表安装在盒夹持器24上的偏置磁场产生机构，以便覆盖光学头44的运动范围。
参照图8，这里示出了磁-光盘驱动装置10中光学系统的平面视图。图9为图8的右侧视图，而图10为图8的正面视图。从半导体激光器50发出的激光束被准直透镜52准直成平行光束，且该平行光束进入偏振分束器54。偏振分束器54具有如下方式设定的透射特性和反射特性。例如，假定TP与TS分别表示P偏振光分量与S偏振光分量的透射率，而RP与RS分别表示P偏振光分量与S偏振光分量的反射率，该透射特性与反射特性的设定要满足这样的比例，TP∶RP＝80∶20以及TS∶RS＝2∶98。
被偏振分束器54根据其透射特性而透射的激光束受到光学头44中光束提升反光镜56的反射，然后被光学头44中物镜58聚焦在磁-光盘16上。在向磁-光盘16写入信息时，具有固定方向的偏置磁场通过相对于磁-光盘16与物镜58相对设置的偏置磁场产生机构48(见图7)加至磁-光盘16上的激光照射位置。因此，通过在其上聚焦的激光束而在磁-光盘16上形成记录标记。
在对记录在磁-光盘16上的信息进行再现时，具有比记录用激光束的功率低的功率的激光束照射在磁-光盘16上，从磁-光盘16上记录标记反射的反射光的偏振面的取向受到检测。来自磁-光盘16的反射光由物镜58准直。然后被光束提升反光镜56反射，接下来根据其反射特性被偏振分束器54反射。来自偏振分束器54的光束穿过用来安装相位补偿单元的相位补偿单元安置空间60(在后文描述)，这正是本发明的特征。其后，光束被第一分束器62分成两条激光束。
被第一分束器62反射的激光束穿过屋拉斯顿棱镜64，然后被聚光透镜66聚焦在检测磁-光信号(MO信号)的两段光检测器68上。另一方面，被第一分束器62透过的激光束穿过聚光透镜70，然后被第二分束器72分成两条激光束。这两激光束之一进入四段光检测器76用以检测聚焦误差，而另一激光束进入两段光检测器78用以检测跟踪误差。在该优选实施方案中，聚焦误差用用刀口法进行测量，而跟踪误差用推挽法进行测量。附图标记74表示刀口。
在该优选实施方案中，后文要描述的相位补偿单元被插在相位补偿单元安置空间60中以完成对磁-光盘16上反射的激光束进行相位补偿。在市场上可获得的3.5英寸磁-光盘驱动装置的情况下，考虑到用于容纳印刷电路板的电路空间80，具有边长约13mm的立方体空间可用作相位补偿单元安置空间60。
图11举例说明本发明中相位补偿的原理。当激光束射向作为半波片的相位平板82时，相位差Δ在该激光束的z轴分量(S偏振光分量)与X轴分量(P偏振光分量)之间产生。该相位差Δ为相位平板82的厚度d及Z轴与X轴方向相位平板82的折射率nz与nx的函数，并可表示如下Δ＝2π(nz-nx)d/λ通过使相位平板82倾斜，在相位平板82中沿着激光束光路厚度d发生变化，结果是相位差Δ改变。该原理应用于后文描述的所有的优选实施方案。
图12为表示相位平板倾斜角θ与相位差Δ之间关系的一个例子通过计算获得的曲线。在采用石英作为相位平板的情况下，通过从0°到+25°改变相位平板倾斜角可获得从0°到+180°的相位差变化范围。在后文要描述的每个优选实施方案中，相位平板的倾斜角假设在0°与+32°之间变化。在采用铌酸锂(LiNbO3)作为相位平板的情况下，通过从0°到+10°改变相位平板倾斜角可获得从0°到-180°的相位差变化范围。图13为表示相位平板倾斜角与相位差之间关系的另一个例子的曲线。在这一例子中相位平板由石英构成。通过使用这一相位平板，通过从0°至+30°改变相位平板倾斜角可获得从-20°至+180°的相位差变化范围。
参见图14，此处示出根据本发明第一优选实施方案的相位补偿单元84A的立面视图。图15为相位补偿单元84A的右侧视图；图16为相位补偿单元84A的透视图；以及图17为相位补偿单元84A的分解透视图。相位补偿单元84A安置在示于图8中的相位补偿单元安置空间60中。主要参照图17，由单轴石英晶体构成的相位平板86与由树脂构成的支座88的孔88a相配合，并通过粘接固定在支座88上。轴94与支座88的通孔88b呈压紧配合，支座88以枢轴旋转方式通过轴94安装在由铁构成的框架90上。两个C形环96以其相对的两端与轴94啮合以防止轴94相对于框架90的轴向运动。
附图标记98一般代表用来使相位平板86倾斜的传动装置。传动装置98由包含有磁路的电磁线圈98a、与电磁线圈98a运转上连接的T形插杆98b以及安装在T形插杆98b上用于在其投影方向正常偏置插杆98b的螺旋弹簧98c组成。插杆98b与切入支座88的U形凹槽88c在其前端滑动地啮合。框架90有一允许盘16上反射的激光束通过的孔92，以及一对螺纹孔90a和90b。一对可调节螺栓100和102分别与框架90上的螺纹孔90a和90b螺纹啮合。螺栓100与102分别在电磁线圈98a的不工作状态与工作状态起限位器的作用。
在电磁线圈98a的不工作状态，靠螺旋弹簧98c的偏置力使插杆98b伸长(从电磁线圈98a伸出)，支座88的上端部与螺栓100相抵触。在此状态下，相位平板86基本上垂直于被反射激光束的光路。当一直流电压(+5V)加至电磁线圈98a上时，插杆98b克服螺旋弹簧98c的偏置力而缩回(被拉入电磁线圈98a)，致使支座88如图14所看到的围绕轴94的轴线作顺时针转动，直到支座88的下端部与螺栓102相抵触。
这就是说，由于插杆98b与支座88的凹槽88c呈滑动啮合，故通过接通与断开加到电磁线圈98a上的电压固定在支座88上的相位平板86，沿图14中双向箭头104所表示的相反方向产生倾斜，由此而获得与相位平板86的倾斜角相对应的、被反射激光束的P偏振光分量与S偏振光分量之间的相位差。如上所述，螺栓100与102可调节地安装在框架90上，并分别在电磁线圈98a的不工作与工作状态对支座88起限位器的作用。通过调节螺栓100与102的进给量，相位平板86的倾斜角可在插杆86b的行程之内随意地改变。
依靠用螺栓100与102来调节相位平板86的倾斜角以便在再现记录于纹间表面轨迹与沟纹轨迹中的信息当中提供最佳相位差，通过对电磁线圈98a的激磁与去磁，提供用于纹间表面轨迹读出与沟纹轨迹读出反射光束的最佳相位补偿量是可能的。例如，支座88抵触螺栓100的位置使用于纹间表面轨迹的读出，而支座88抵触螺栓102的位置使用于沟纹轨迹的读出。
如图14所示，控制电路99比如MPU与电磁磁线圈98a相连接。控制电路99，比如，或者根据磁-光盘16上的地址，或者根据跟踪误差信号的极性决定承受再现的轨迹是纹间表面还是沟纹，并将表示纹间表面或沟纹的控制信号加到电磁线圈98a上。因此，相位平板86可根据承受再现的轨迹无论是纹间表面还是沟纹产生倾斜，并可对被反射的光束提供用于每种轨迹再现的最佳相位补偿量。
螺栓100与102作为限位器还可使用于在组装每一台单个磁-光盘驱动装置中的细调，以便在每一台磁-光盘驱动装置中为纹间表面轨迹再现与沟纹轨迹再现提供最佳相位补偿量。此外，在对于纹间表面轨迹再现与沟纹再现最佳相位补偿量彼此相等的情况下，相位平板86倾斜时电磁线圈98a的工作状态可用作对于纹间表面轨迹读出与沟纹轨迹读出的相位点，而相位平板86不倾斜时电磁线圈98a的非工作状态可用作零相位差点。在此情况下，本发明还可应用于传统的记录盘而不要求相位补偿，由此而实现更高的向下兼容器。
参见图18，这里示出了根据本发明第一优选实施方案的相位补偿单元的一种改进84A′。在此改进中，相位平板86安装于支座88′中以致相对于支座88′预先呈现倾斜。在电磁线圈98a的非工作状态，依靠螺旋弹簧98c的偏置力，如图18中所见，支座88′从其垂直位置逆时针倾斜，且支座88′的上端部抵触作为限位器的螺栓100′。在此状态，相位平板86基本上垂直于被反射光束的光路。
当电磁线圈98a被激励时，如图18中所见，支座88′顺时针旋转，支座88′的下端部抵触作为另一限位器的螺栓102′。通过接通与断开加至电磁线圈98a的电压，相位平板86沿由双向箭头106所表示的相反方向倾斜，由此获得符合于相位平板86倾斜角的相位差。根据此项改进，相位平板86相对于支座88′预先呈现倾斜，致使支座88′从其垂直位置作顺时针与逆时针旋转的角度可做到彼此相等。
参见图19，这里示出了根据本发明第二优选实施方案的相位补偿单元84B的立面视图。图20为相位补偿单元84B的右侧视图；图21为相位补偿单元84B的透视图；以及图22为相位补偿单元84B的分解透视图。相位补偿单元84B可安置于图8所示的相位补偿单元安置空间60中。主要参见图22，相位平板86与由树脂构成的支座108的孔108a相配合并通过粘接固定在支座108上。支座108具有通孔108a。双向直流马达110的轴112与支座108的通孔108b呈压紧配合，由此使支座108固定地安装在马达110的轴112上。通过向直流马达110施加不同极性的电压，支座108能围绕轴112的轴线沿图19中双向箭头122所表明的相反方向转动，借此而获得与相位平板86的倾斜角相符合的相位差。
一对限位器114与116与轴112相配合，并通过粘接或类似方法以如此方式固定在直流马达110的一端表面上，使得给出的角度限定在限位器114与116之间。通过改变施加到直流马达110上电压的极性，支座108可做到与限位器114和116相抵触，借此而向被反射光束给出用于纹间表面轨迹再现与沟纹轨迹再现的最佳相位补偿量。类似于第一优选实施方案，限位器114与116可在对直流马达110固定的位置内调节，由此而实现用个别磁-光盘驱动装置取得所希望的最佳相位补偿量。
在图19中，被反射光束沿箭头124所表明的方向传播，而相位补偿单元84B可安装在示于图8中的相位补偿单元安置空间60中，致使相位平板86在支座108抵触限位器116的状态下基本上垂直于沿方向124的光路。类似于第一优选实施方案，控制电路99比如MPU，如图20中所示，与直流马达110相连接。控制电路99，例如，或者根据磁-光盘16上的地址，或者根据跟踪误差信号的极性确定承受再现的轨迹是纹间表面还是沟纹，并向直流马达110提供表明纹间表面或沟纹的控制信号。因此，相位平板86可根据承受再现的轨迹产生倾斜，无论该轨迹是纹间表面还是沟纹，且对于每一种轨迹再现都可对被反射光束给出最佳相位补偿量。
此外，磁体118安装在支座108中，而霍尔元件120安装在直流马达110上，以便使其面向磁体118。通过在支座108的转动期间检测磁体118与霍尔元件120的相对位置，在用于纹间表面轨迹读出与沟纹轨迹读出的两个相位点之外可选择另一个相位点。通过使用与磁体118、限位器114和作为零相位差点的限位器116相对应的这三个相位点之一，与第一优选实施方案相类似，较高的向下兼容性可得以实现。
参见图23，此处示出根据第二优选实施方案的相位补偿单元的一种改进84B′。在该改进方案中，相位平板86安装在支座108′中，以致相对于支座108′预先呈现倾斜，且支座108′从其垂直位置的顺时针与逆时针转角做成彼此相等。当支座108′抵触限位器116时，相位平板86基本上垂直于图23中箭头124所表示的被反射光束的光路。通过在正向与反向启动直流马达110，相位平板86可在由图23中双向箭头126所表明的相反方向内转动，由此而改变相位平板86的倾斜角。
参见图24，此处示出根据本发明第三优选实施方案的相位补偿单元84c的立面视图。图25为该相位补偿单元84c的右侧视图；图26为该相位补偿单元84c的透视图；以及图27为相位补偿单元84c的分解透视图。相位补偿单元84c可安装在示于图8中的相位补偿单元安置空间60之间。主要参照图27，相位平板86与由树脂构成的支座128的孔128a相配合，并通过粘接固定在支座128上。如图24所示，相位平板86相对于支座128预先呈现倾斜。
支座128有一通孔128b，以及一线圈130埋置在支座128下部通孔128b的下方。轴132与支座128的通孔128b呈压紧配合，且支座128以枢轴旋转方式通过轴132安装到每个都由铁或类似材料构成的一对磁体框架134与136上。两个C形环138以其相对的两端与轴132啮合以防止轴132相对于磁体框架134与136作轴向运动。一永磁体140连接到框架134上以使其面向线圈130。起支架作用的框架134和136与永磁体140构成磁路。该磁路与线圈130构成音圈马达(VCM)。通过使电流通过线圈130，支座128可围绕轴132的轴线沿图24的双向箭头152所表明的相反方向转动，借此使相位平板86产生倾斜。
用来抵触支座128的一对限位器142与144可旋转地支撑在框架134与136的上部，以便在其中间伸展。C形环146与每个限位器142及144以其相对的两端相连接以防止限位器142与144相对于框架134与136作轴向运动。限位器142与144具有如此相同的结构，以致每个限位器142与144由树脂杆150及以彼此相互偏心方式压装在树脂杆150中的轴148组成。槽口148a在轴148的一端上构成。通过将平口起子放入轴148的槽口148a中并转动限位器141与144，相位平板86的倾斜角可适宜地进行调整，由此而获得类似于第一优选实施方案中用于纹间表面轨迹读出与沟纹轨迹读出的最佳相位补偿量。当支座128抵触限位器144时，相位平板86基本上垂直于图24中箭头154所示被反射光束的光路。
如图25中所示，控制电路99比如MPU与线圈130相连接。控制电路99，例如，或者根据磁-光盘16上的地址，或者根据跟踪误差信号的极性确定承受再现的轨迹是纹间表面还是沟纹，并向线圈130提供指明纹间表面或沟纹的控制信号。因此，相位平板86可根据承受再现的轨迹进行倾斜，而无论该轨迹是纹间表面还是沟纹，对于每种轨迹再现可对被反射光束给出最佳相位补偿量。
类似于第一优选实施例，用于纹间表面轨迹再现与沟纹轨迹再现的两个相位点可通过支座128对限位器142与144的抵触进行设定。另外，通过控制流过线圈130的电流，相位平板86可停止在希望的倾斜角上，从而实现所希望的相位差。因此，在将相位补偿单元84c装入磁-光盘驱动装置中之后，可实现任意的相位差而在组装相位补偿单元84c的同时不需要调整。
图28为根据第三优选实施方案的相位补偿单元的一种改进84c′的立面视图，图29为图28的右侧视图。在此改进中，相位平板86安装在由树脂构成的支座128′中，以使其相对于支座128′不产生倾斜。用于抵触支座128′的一对限位器156和158可旋转地支撑在框架134与136的下部，以便在其中间伸展。相位补偿单元84c′可安装在示于图8中的相位补偿单元安置空间60内，以致当支座128′抵触限位器156时，相位平板86基本上垂直于图28中的箭头160所表示的被反射光束的光路。通过使电流流过线圈130，相位平板86可在由图28中双向箭头162所表示的相反方向内倾斜。
在上述第一至第三中的每一个优选实施例中，提供有一具有相位平板、通断机构和调节机构的相位补偿单元。因此，本发明不仅可应用于3.5英寸磁-光盘驱动装置，并且还可应用于其它任何纹间表面/沟槽记录/再现装置，如像5英寸磁-光盘驱动装置和数字视频盘驱动装置(DVD)。
根据如上所述的本发明内容，可依靠相对简单和便宜的光学系统，对纹间表面轨迹读出与沟纹轨迹读出提供最佳相位补偿量，由此来改进再现信号的质量。
本发明不限于上述优选实施方案的细节。本发明的范围由所附权利要求限定，并且一切变化与改进均属于权利要求的等同范围因而被本发明所包括。
权利要求
1.一种用于将入射光束照射在具有由作为轨迹的纹间表面与沟纹组成的记录表面的记录介质上，并对从所述记录介质反射的反射光束得到的再现信号进行检测的光学信息存储装置，其包括一设置在所述反射光束光路中的相位平板，致使其可在一第一位置与一第二位置之间倾斜，且在该第一位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述纹间表面的信号所需的第一相位补偿量，以及在该第二位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述沟纹的信号所需的第二相位补偿量；以及一用于使所述相位平板倾斜的驱动器。
2.根据权利要求1的光学信息存储装置，进一步包括有控制装置，当所述纹间表面被选作所述轨迹时用于向所述驱动装置提供第一控制信号以便将所述相位平板倾斜至所述第一位置，以及当所述沟纹被选作所述轨迹时用于向所述驱动装置提供第二控制信号以便将所述相位平板倾斜至所述第二位置。
3.根据权利要求2的光学信息存储装置，进一步包括一其上安装有上述驱动器的固定框架；以及一以枢轴旋转方式安装在所述固定框架上的支座，所述相位平板被固定在所述支座上；所述驱动器包括一具有一端与所述支座啮合的插杆；一安装在所述固定框架上用于拉动所述插杆的电磁线圈，以及一安装在所述插杆上用于沿其伸出方向偏置所述插杆的螺旋弹簧。
4.根据权利要求3的光学信息存储装置，进一步包括可调节地安装在所述固定框架上的第一限位器，用于使所述相位平板停止在所述第一位置上；以及可调节地安装在所述固定框架上的第二限位器，用于使所述相位平板停止在所述第二位置上。
5.根据权利要求4的光学信息存储装置，其中所述第一限位器被进行调节，以便获得所述第一相位补偿量，以及所述第二限位器被进行调节，以便获得所述第二相位补偿量。
6.根据权利要求2的光学信息存储装置，进一步包括一支座，所述相位平板被固定在该支座上；所述驱动器包括一具有输出轴的马达，所述支座被固定在所述马达的所述输出轴上。
7.根据权利要求6的光学信息存储装置，进一步包括一安装于所述支座与所述马达二者之一上的磁体，以及一安装于所述支座与所述马达二者中的另一上的霍尔元件；其中当所述霍尔元件检测所述磁体时，所述控制装置向所述驱动器提供第三控制信号，以便使所述相位平板停止在所述第一位置与第二位置之间的第三位置上。
8.根据权利要求7的光学信息存储装置，其中所述相位平板在所述第一至第三位置中的一个位置上向所述被反射光束提供零相位补偿量。
9.根据权利要求6的光学信息存储装置，进一步包括一固定于所述马达上的第一限位器，用于将所述相位平板停止在所述第一位置上，以及一固定于所述马达上的第二限位器，用于将所述相位平板停止在所述第二位置上。
10.根据权利要求2的光学信息存储装置，进一步包括一由磁性材料构成的固定框架，以及一以枢轴旋转方式安装到所述固定框架上的支座，所述相位平板被固定在所述支座上；所述驱动器包括一音圈马达，该音圈马达具有安装于所述固定框架上的永磁体和安装于所述支座中的线圈。
11.根据权利要求10的光学信息存储装置，进一步包括一可调节地安装在所述固定框架上的第一限位器，用于将所述相位平板停止在所述第一位置上，以及一可调节地安装在所述固定框架上的第二限位器，用于将所述相位平板停止在所述第二位置上。
12.一种用于将入射光束照射在具有由作为轨迹的纹间表面与沟纹组成的记录表面的记录介质上，并对从所述记录介质反射的反射光束得到的再现信号进行检测的光学信息存储装置，其包括一具有基体的支座；一安装在所述基体上的光源；一具有一物镜的光学头，用于将从所述光源发出的入射光束聚焦在所述光学记录介质的所述记录表面上；一安装在所述基体上的光检测器，用于对从所述光学记录介质反射的反射光束得到的再现信号进行检测；一设置在所述反射光束的光路中的相位平板，致使其在一第一位置与一第二位置之间倾斜，且在该第一位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述纹间表面的信号所需的第一相位补偿量，以及在该第二位置上所述相位平板向所述反射光束提供为检测来自所述沟纹的信号所需的第二相位补偿量；以及一用于使所述相位平板倾斜的驱动器。
13.根据权利要求12的光学信息存储装置，进一步包括有控制装置，当所述纹间表面被选作所述轨迹时用于向所述驱动器提供第一控制信号以便将所述相位平板倾斜至所述第一位置，以及当所述沟纹被选作所述轨迹时用于向所述驱动器提供第二控制信号以便将所述相位平板倾斜至所述第二位置。
14.根据权利要求13的光学信息存储装置，进一步包括一其上安装有上述驱动装置的固定框架；以及一以枢轴旋转方式安装在所述固定框架上的支座，所述相位平板被固定在所述支座上；所述驱动器包括有一具有一端与所述支座啮合的插杆；一安装在所述固定框架上用于拉动所述插杆的电磁线圈，以及一安装在所述插杆上用于沿其伸出方向偏置所述插杆的螺旋弹簧。
15.根据权利要求13的光学信息存储装置，进一步包括一支座，所述相位平板被固定在该支座上；所述驱动器包括一具有输出轴的马达，所述支座被固定在所述马达的所述输出轴上。
16.根据权利要求15的光学信息存储装置，进一步包括一安装有所述支座与所述马达二者之一上的磁体，以及一安装在所述支座与所述马达二者中的另一上的霍尔元件；其中当所述霍尔元件检测所述磁体时，所述控制装置向所述驱动器提供第三控制信号以便将所述相位平板停止在所述第一位置与第二位置之间的第三位置上。
17.根据权利要求13的光学信息存储装置，进一步包括一由磁性材料构成的固定框架，以及一以枢轴旋转方式安装到所述固定框架上的支座，所述相位平板被固定在所述支座上；所述驱动器包括一音圈马达，该音圈马达具有安装在所述固定框架上的永磁体和安装在所述支座中的线圈。
全文摘要
一用于将入射光束射在具有由作为轨迹的纹间表面与沟纹组成的记录表面的记录介质上并对从其反射的光束得到的再现信号进行检测的光学信息存储装置。它包括设置在反射光束光路中的相位平板,可在第一与第二位置之间倾斜,且在第一位置该相位平板向反射光束提供为检测来自纹间表面信号所需的第一相位补偿量,及在第二位置该相位平板向反射光束提供为检测来自沟纹信号所需的第二相位补偿量;以及用于倾斜该相位平板的驱动机构。
文档编号G11B11/105GK1268741SQ9912353
公开日2000年10月4日 申请日期1999年11月10日 优先权日1999年3月25日
发明者西本英树 申请人:富士通株式会社