专利名称：修复含有异物的液晶显示器的方法
技术领域：
本发明涉及一种修复液晶显示器(Liquid Crystal Display；LCD)的方法，特别涉及液晶显示器的像素区域中含有异物造成亮点缺陷(bright defect)时的修复方法。
背景技术：
LCD是以液晶分子为素材，通过电场的变化来控制液晶分子的排列，造成光线的遮蔽或通透，形成亮点或暗点，而在屏幕上构成图像及显现色彩。LCD在不通电时呈白色明亮状态，通电后可显示颜色与图案。LCD分成两种被动矩阵式LCD(passive matrix LCD)和主动矩阵式LCD(active matrixLCD)。在被动矩阵式LCD方面，每一像素的显示由每一列终点的晶体管与每一行起点的晶体管的电流大小决定其所显示的颜色，优点是便宜、体积小，缺点是扫瞄速度慢及视角很小。在主动矩阵式LCD方面，每一像素可以单独开关，且扫瞄速度较快。
主动矩阵式LCD的液晶面板是以百万个以上晶体管组件所组成，且靠许多液晶显示单元排列成一块平面，而一个显示单元又由三个次显示单元<R.G.B>组成。
在制造主动矩阵式LCD的过程中，可能会因为工艺误差而发生点缺陷。点缺陷有两种，一种是亮点缺陷，一种是暗点缺陷(dark defect)。若一片面板中包含的点缺陷数目在允许的范围内，可允许出货。举例来说，就A级产品而言，亮点与暗点缺陷的总和不得超过五点。然而，由于人类眼睛对亮点的敏感较高，对暗点的敏感度较低。因此，亮点缺陷通常都会再修补成暗点，使其不明显。
造成亮点缺陷的原因，例如当有异物存在于薄膜晶体管(TFT)基板以及彩色滤光片之间。请参照图1，标号10为信号线(signal line；SL)，20为栅极线(gate line；GL)，30为像素电极，40为异物，60为薄膜晶体管(TFT)电极。当有异物40位于像素电极30区域中时，将导致像素区域无法具有足够的电荷。为了更详细绘示上述异物的位置，请参照图2，其中标号40为异物，32为彩色滤光片侧，34为铟锡氧化物(ITO)电极，55为薄膜晶体管(TFT)，而45为数据线，异物40的存在将使得信号从TFT 55侧流失到彩色滤光片32侧，因而形成亮点。
一般解决上述液晶显示器因异物存在而导致亮点缺陷的方法是直接对液晶显示器的薄膜晶体管或其它修补线路进行电性修复，因而将薄膜电极与信号线或扫瞄线直接或间接短路，此时，来自信号线或扫瞄线的电压将经由异物而流失到另一侧，也就是从TFT侧到彩色滤光片，将造成垂直、水平线或十字线型的线缺陷的情形，并无法改善上述异物产生亮点的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种修复液晶显示器内异物的方法，其利用激光将涵盖住异物的电极区域与其它未涵盖上述异物的电极区域隔离，因此在像素区域内使薄膜晶体管、信号线与扫瞄线直接或间接电性短路时，可避免信号经由TFT基板侧的薄膜电极透过异物而流失到彩色滤光片侧(公共电压侧)形成电性短路造成线缺陷，接着再以一般电性修复方法对液晶显示器进行修复即可。
为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种修复含有异物的液晶显示器的方法，其包括提供一液晶显示器，该液晶显示器具有多个像素区，每一像素区至少具有一像素电极和一薄膜晶体管，该薄膜晶体管用以控制该像素电极，且该异物位于像素区中；用激光沿着该异物的轮廓对像素区进行切割，用以破坏位于切割路径上的电极，而隔离涵盖异物的电极区域和其它未涵盖异物的电极区域；以及对该液晶显示器进行电性修复。
本发明还提供了一种修复含异物的液晶显示器方法，该方法包括提供一液晶显示器，该液晶显示器具有多个像素区，每一像素区至少具有一像素电极和一薄膜晶体管，该薄膜晶体管用以控制该像素电极，且该异物位于像素区中靠近或重迭于信号线；用激光沿着该异物的轮廓避开该信号线对像素区进行切割，用以破坏位于切割路径上的电极，而隔离涵盖异物的电极区域和其它未涵盖异物的电极区域；以及对该液晶显示器进行电性修复。
本发明还提供了一种修复含异物的液晶显示器方法，该方法包括提供一液晶显示器，该液晶显示器具有多个像素区，每一像素区至少具有一像素电极和一薄膜晶体管，该薄膜晶体管用以控制该像素电极，且该异物位于像素区中靠近或重迭于扫瞄线；用激光沿着该异物的轮廓避开扫瞄线对像素区进行切割，用以破坏位于切割路径上的电极，而隔离涵盖异物的电极区域和其它未涵盖异物的电极区域；以及对该液晶显示器进行电性修复。
在上述方法中，适用于本发明的激光并不限定为特定种类，可举例如UV、YAG等。由于上述使用激光照射液晶显示器内含有异物的区域，主要是用以将覆盖异物的电极区域与其它未覆盖异物的电极区域进行隔离，以截断信号从TFT侧流失到彩色滤光片造成亮点或线缺陷的可能性，因此激光的种类，可视机台以及应用的情况做选择。此外，上述使用激光的步骤可仅针对薄膜晶体管侧进行，或在彩色滤光片侧进行，亦可两者同时进行，皆可达到修复液晶显示器的效果。
图1是一般液晶显示器中含有异物的正视图。
图2是显示液晶显示器中含有异物的剖面图。
图3是根据本发明实施例1修复液晶显示器中含异物方法的正视图。
图4是根据本发明实施例1修复液晶显示器中含异物方法的剖面图。
图5是根据本发明实施例2修复液晶显示器内含异物的方法的上视图。
图6是根据本发明实施例3修复液晶显示器内含异物的方法的上视图。
其中10～信号线；20～扫瞄线；30～像素电极；60～薄膜晶体管；32～彩色滤光片侧；34a～ITO电极；40～异物；50～激光光；55～薄膜晶体管；45～数据线；50b～激光扫瞄图形。
具体实施例方式
为了让本发明的上述目的、特征和优点更明显易懂，下文特举出较佳实施例，并配合所附图示，作详细说明如下。
由于异物在液晶显示器中位置有所不同，因此以下实施例1～3将分别针对异物在像素区域中间、靠近信号线侧以及靠近扫瞄线侧的情况作说明。
实施例1请参阅图3，其绘示液晶显示器中含有异物之像素区示意图。
首先，提供一液晶显示器，该液晶显示器由许多信号线10、10和扫瞄线20、20，以及由每相邻两信号线和相邻两扫瞄线所构成的被定义为像素区的一区域所构成。每一像素区至少具有一像素电极30和一薄膜晶体管60，该薄膜晶体管60用以控制该像素电极30，且该像素区中有一异物40。上述像素电极是由透光导电膜，例如形成有铟锡氧化物(indium tin oxide；ITO)的薄膜所构成，该透光导电膜的厚度较佳为140nm。
然后，对像素电极进行激光照射，在上述像素电极30沿着该异物40的轮廓进行切割扫瞄，形成如标号50a所示的图形。为了更清楚绘示上述进行激光步骤的位置图，请参照图4所示之液晶显示器中含有异物的剖面图。在图4中，激光光50沿着异物40的周围对涵盖该异物40的ITO电极34a进行切割以破坏位于切割路径上的电极，从而分开上述涵盖异物与未涵盖异物的电极区域。在本实施例中，如图4所示，对彩色滤光片侧32与TFT侧之基板同时进行激光照射，但是仅对彩色滤光片侧或TFT侧之基板进行激光亦可达到相同效果。也就是说，位于异物两侧的彩色滤光片侧或者TFT侧被激光照射而将涵盖异物的区域隔离之后，即可达到在使像素区域内之薄膜晶体管与信号线或扫瞄线直接或间接电性短路时，避免信号经由TFT基板侧的薄膜电极透过异物而流失到彩色滤光片侧(公共电压侧)形成电性短路造成线缺陷。此时上述激光光50a隔离像素区内涵盖异物的区域34a以及其它未涵盖异物的区域34，因而可接着对TFT侧以现有的方式进行电性修复，而不会导致现有技术中线缺陷的问题。
实施例2除了异物40的位置如图5所示靠近信号线外，其余条件均与实施例1相同。
由于上述异物的位置靠近信号线10，因此以激光进行扫瞄时必须避开信号线，仅针对涵盖住异物的ITO电极区域进行扫瞄，上述激光扫瞄图形如标号50b所示。接着再以一般的公知方法对TFT侧进行电性修复，因而修复液晶显示器中含有异物的亮点缺陷。
实施例3除了异物40的位置如图6所示靠近扫瞄线外，其余条件均与实施例1相同。
由于上述异物的位置靠近扫瞄线20，因此以激光进行扫瞄时必须避开扫瞄线，仅针对像素电极中涵盖住异物的ITO电极区域进行扫瞄，上述激光扫瞄图形如标号50c所示。接着再以一般的公知方法对TFT侧进行电性修复，因而修复液晶显示器中含有异物的亮点缺陷。
根据本发明修复液晶显示器中含有异物的方法，可改进现有技术中直接对液晶显示器进行电性修复而导致直接或间接电性短路产生线缺陷，因而修复液晶显示器中存有异物而导致亮度的问题。
虽然本发明已通过较佳实施例进行了描述，然其并非用以限定本发明。任何本领域的技术人员，在不脱离本发明之精神和范围内，能够进行改动，因此本发明的保护范围当视后附权利要求所界定的范围为准。
权利要求
1.一种修复含异物的液晶显示器的方法，该方法包括提供一液晶显示器，该液晶显示器具有多个像素区，每一像素区至少具有一像素电极和一薄膜晶体管，该薄膜晶体管用以控制该像素电极，且该异物位于像素区中；用激光沿着该异物的轮廓对像素区进行切割，用以破坏位于切割路径上的电极，而隔离涵盖异物的电极区域和其它未涵盖异物的电极区域；以及对该液晶显示器进行电性修复。
2.如权利要求1所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该异物指造成液晶显示器亮点缺陷的异物。
3.如权利要求1所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，使用激光的步骤是在液晶显示器的薄膜晶体管侧或彩色滤光片侧，或两侧同时进行。
4.如权利要求1所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该电性修复是从该液晶显示器的薄膜晶体管侧进行。
5.如权利要求1所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该像素电极为铟锡氧化物。
6.一种修复含异物的液晶显示器方法，该方法包括提供一液晶显示器，该液晶显示器具有多个像素区，每一像素区至少具有一像素电极和一薄膜晶体管，该薄膜晶体管用以控制该像素电极，且该异物位于像素区中靠近或重迭于信号线；用激光沿着该异物的轮廓避开该信号线对像素区进行切割，用以破坏位于切割路径上的电极，而隔离涵盖异物的电极区域和其它未涵盖异物的电极区域；以及对该液晶显示器进行电性修复。
7.如权利要求6所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该异物是指造成液晶显示器亮点缺陷的异物。
8.如权利要求6所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，使用激光的步骤是在液晶显示器的薄膜晶体管侧或彩色滤光片侧，或两侧同时进行。
9.如权利要求6所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该电性修复是从该液晶显示器的薄膜晶体管侧进行。
10.如权利要求6所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该像素电极为铟锡氧化物。
11.一种修复含异物的液晶显示器方法，该方法包括提供一液晶显示器，该液晶显示器具有多个像素区，每一像素区至少具有一像素电极和一薄膜晶体管，该薄膜晶体管用以控制该像素电极，且该异物位于像素区中靠近或重迭于扫瞄线；用激光沿着该异物的轮廓避开扫瞄线对像素区进行切割，用以破坏位于切割路径上的电极，而隔离涵盖异物的电极区域和其它未涵盖异物的电极区域；以及对该液晶显示器进行电性修复。
12.如权利要求11所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该异物是指造成液晶显示器亮点缺陷的异物。
13.如权利要求11所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，使用激光的步骤是在液晶显示器的薄膜晶体管侧或彩色滤光片侧，或两侧同时进行。
14.如权利要求11所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该电性修复是从该液晶显示器的薄膜晶体管侧进行。
15.如权利要求11所述的修复含有异物的液晶显示器的方法，其中，该像素电极为铟锡氧化物。
全文摘要
一种修复内含异物的液晶显示器的方法，其包括提供一液晶显示器，该液晶显示器具有多个像素区，每一像素区至少具有一像素电极和一薄膜晶体管，该薄膜晶体管用以控制该像素电极，且该异物位于像素区中；用激光沿着该异物的轮廓对像素区进行切割，用以破坏位于切割路径上的电极，而隔离涵盖异物的区域和其它未涵盖异物的区域；以及对该液晶显示器进行电性修复。因此在像素区域内使薄膜晶体管、信号线与扫瞄线直接或间接电性短路时，可避免信号经由TFT基板侧的薄膜电极透过异物而流失到彩色滤光片侧形成电性短路而造成线缺陷。
文档编号H01L21/3205GK1567076SQ0314906
公开日2005年1月19日 申请日期2003年6月20日 优先权日2003年6月20日
发明者陈信宏 申请人:友达光电股份有限公司