专利名称：中高压铝电解电容器新型老化工艺的制作方法
技术领域：
本发明涉及电解电容的制备领域，具体涉及ー种中高压铝电解电容器新型老化エ艺。
背景技术：
在以往的中、高压铝电解电容器老化エ艺中使用的老化方式是恒流和恒压相结合的办法，其中常温老化是恒流升压，高温老化是恒压降流，全程采用直流电压老化。这样的老化方式能够修复正极氧化膜存在疵点，剔出生产过程中的不良品，该产品用于低频线路、低纹波电流的电子产品中不会出现问题。但对于存在有高频反馈、高纹波电流的电子线路，电解电容器的设计与普通电解存在差异，主要表现为负极箔进行低压化成，故电解采用一般老化エ艺，难免会出现负极击穿、漏电加大现象，产品的寿命大为缩短。为改进上述缺点，提高产品的可靠性和使用寿命，可采用直流加交流的老化方式，以达到对正极氧化膜和负极氧化膜同时进行修补的效果，很好地保证了电解的使用寿命。
发明内容
本发明的目的在于ー种中高压铝电解电容器新型老化エ艺，采用直流加交流的老化方式，以达到对正极氧化膜和负极氧化膜同时进行修补的效果，延长产品的使用寿命。为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是ー种中高压铝电解电容器新型老化工艺，老化采用交流加直流的老化方式，先对负极施加10±0. 5 V交流电压进行预老化，老化时间iTllmin，然后对电容器正负极两端施加直流脉冲电流进行直流脉冲老化，由12级电源分段处理，其中广8级为常温老化、9 12级为高温恒压老化，直流脉冲老化时间共计180±5min。所述第8级老化电压值设定为电容器额定电压的I. 15^1. 2倍。当电容器额定电压在250V以下时，第8级老化电压值设定为电容器额定电压的I. 2倍，当电容器额定电压在250V以上时，第8级老化电压值设定为电容器额定电压的I. 15倍。所述扩12级高温恒压老化的老化温度为105±2°C，老化电压设定值与第8级老化电压值相同。通过这种方式能同时修补正、负极氧化膜，修复在铝箔裁切、铝箔刺铆、芯包卷绕等产品的毛刺，剔除废品，老化时间也大为缩短，老化效果得到改善。本发明与传统老化エ艺相比，具有如下优势本发明采用交流加直流的老化方式，达到对正极氧化膜和负极氧化膜同时进行修补的效果。先对负极进行预老化，修补负极氧化膜，修复负极箔存在的疵点，达到降低产品漏电流的目的。采用本发明的老化工艺能够避免节能灯(緑色照明)上线老练时容易出现整灯爆坏问题；同时使产品的漏电降低，电解使用时整灯的温升速度变慢，容量下跌减少，电解适应纹波的能力相应加大，产品的可靠性得到提高。以200V1(^F(10*16)为例，新、老两种エ艺产品老化后各取20只，进行产品高温105°C贮存试验，测试Imin漏电流(μ Α)(注贮存后需充电30min)，放置16h后测试，测试 结果见表1，从表I中数据对比可见新エ艺漏电比老エ艺漏电流下降259Γ30%。各取10只产品进行整灯75°C点灯2000h试验跟踪温升、容量变化，测试结果见表2，从表2中数据对比可见，新エ艺容量下降慢，温升变化小，有利于延长整灯的使用寿命。以400V3. 3(10*16)为例，比较新、老两种老化エ艺得到的产品性能，实验參数对比见表3。表I :漏电流对比测试结果
权利要求
1.ー种中高压铝电解电容器新型老化エ艺，其特征在于老化采用交流加直流的老化方式，先对负极施加10±0. 5 V交流电压进行预老化，老化时间iTllmin ;然后对电容器正负极两端施加直流脉冲电流进行直流脉冲老化，由12级电源分段处理，其中广8级为常温老化、9 12级为高温恒压老化,直流脉冲老化时间共计180±5 mirio
2.根据权利要求I所述的中高压铝电解电容器新型老化エ艺，其特征在于所述第8级老化电压值设定为电容器额定电压的I. 15^1. 2倍。
3.根据权利要求2所述的中高压铝电解电容器新型老化エ艺，其特征在于当电容器额定电压在250V以下时，第8级老化电压值设定为电容器额定电压的I. 2倍，当电容器额定电压在250V以上时，第8级老化电压值设定为电容器额定电压的I. 15倍。
4.根据权利要求I所述的中高压铝电解电容器新型老化エ艺，其特征在于所述扩12级高温恒压老化的老化温度为105±2°C、老化电压设定值与第8级老化电压值相同。
全文摘要
一种中高压铝电解电容器新型老化工艺，老化采用交流加直流的老化方式，先对负极施加10±0.5V交流电压进行预老化，老化时间9~11min，然后对电容器正负极两端施加直流脉冲电流进行直流脉冲老化，由12级电源分段处理，其中1~8级为常温老化、9~12级为高温恒压老化，直流脉冲老化时间共计180±5min。第8级老化电压值设定为电容器额定电压的1.15~1.2倍，第9~12级高温恒压老化的老化温度为105±2℃，老化电压设定值与第8级老化电压值相同。本发明采用直流加交流的老化方式，达到对正极氧化膜和负极氧化膜同时进行修补的效果，避免了节能灯上线老练时容易出现整灯爆坏问题；产品的漏电降低，在高频状态下整灯发热减少，电解适应高纹波的能力会加大，产品的可靠性提高。
文档编号H01G9/00GK102646514SQ20121009470
公开日2012年8月22日 申请日期2012年3月31日 优先权日2012年3月31日
发明者司鹏飞, 范志炎, 蔡士军, 金志平 申请人:南通一品机械电子有限公司