一种高方阻安全金属化薄膜的制作方法

文档序号:7034460阅读:676来源:国知局
一种高方阻安全金属化薄膜的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种高方阻安全金属化薄膜,所述金属化薄膜包括:基膜、加厚区、渐变方阻区、留边,在基膜一侧镀上一层厚的锌镀层,形成加厚区,在加厚区同侧的基膜上预留不镀金属层,形成留边,在加厚区到留边之间的区域逐渐从厚到薄的镀上一层金属铝,形成渐变方阻区。本实用新型所述高方阻安全金属化薄膜,该高方阻安全膜与电容器的电流密度分布相适应,兼顾了电容器的电流与电压的需求,提高电容器的自愈能力,增加电容的安全可靠性。
【专利说明】一种高方阻安全金属化薄膜
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种金属化薄膜,尤其是一种高方阻安全金属化薄膜,属于电子元器件【技术领域】。
【背景技术】
[0002]目前市场上普遍使用的金属化薄膜均采用的是单纯的高方阻膜,或单纯的安全膜。而单纯的高方阻膜在厚镀层这一区域的自愈不是很理想,容易发生次自愈,发热比较严重。而单纯的安全膜,其卷制的产品体积偏大,且电容器的储能密度不够。
实用新型内容
[0003]本实用新型正是针对现有技术存在的不足,提供一种高方阻安全金属化薄膜。
[0004]为解决上述问题,本实用新型所采取的技术方案如下:
[0005]一种高方阻安全金属化薄膜,所述金属化薄膜包括:基膜、加厚区、渐变方阻区、留边,在基膜一侧镀上一层厚的锌镀层,形成加厚区,在加厚区同侧的基膜上预留不镀金属层,形成留边,在加厚区到留边之间的区域逐渐从厚到薄的镀上一层金属铝,形成渐变方阻区。
[0006]作为上述技术方案的改进,从金属化薄膜中间到加厚区之间区域,在渐变方阻区内部均匀分布金属保险丝。
[0007]本实用新型与现有技术相比较,本实用新型的实施效果如下:
[0008]本实用新型所述高方阻安全金属化薄膜,该高方阻安全膜与电容器的电流密度分布相适应,兼顾了电容器的电流与电压的需求,提高电容器的自愈能力,增加电容的安全可靠性。
【专利附图】

【附图说明】
[0009]图1为本实用新型所述高方阻安全金属化薄膜结构示意图;
[0010]图2为图1中A-A剖视图。
【具体实施方式】
[0011]下面将结合具体的实施例来说明本实用新型的内容。
[0012]如图1所示,为本实用新型所述高方阻安全金属化薄膜结构示意图,图2为图1中A-A剖视图。本实用新型所述金属化薄膜包括:基膜1、加厚区3、渐变方阻区2、留边4、金属保险丝5。在基膜I 一侧镀上一层金属锌,使基膜I的边缘形成一层比较厚的锌镀层,形成加厚区3。加厚区3大大降低了薄膜电容器的喷金层和芯子的接触电阻,能承受比较大的电流。控制加厚区3蒸镀金属锌的厚度,使其呈现出来的方块电阻在(4.5±1) Ω/□内。
[0013]在加厚区3同侧的基膜I上预留一定宽度不镀金属层,形成留边4。在加厚区3到留边4之间的区域逐渐从厚到薄的镀上一层金属铝,形成渐变方阻区2。渐变方阻区2使其方块电阻出现从小到大的变化。有规律地控制铝金属的镀层厚度,使渐变方阻区2的方块电阻的阻值呈现阶梯递增现象。
[0014]从金属化薄膜中间到加厚区3之间区域,在渐变方阻区2内部还均匀分布金属保险丝5,金属保险丝5构成矩形方块。由于加厚区3到薄膜中间这一部分区域的镀层偏厚,发生薄膜自愈所需要的能量增加,发生次自愈的可能性增大,在这部分镀层中分布金属保险丝5,使电容器在刚开始发生自愈时,即能使保险丝熔断,减少次自愈的发生,增加电容的安全可靠性。本实用新型的蒸镀方式与电容器的电流密度分布相适应,提高电容器的耐压强度。
【权利要求】
1.一种高方阻安全金属化薄膜,其特征是,所述金属化薄膜包括:基膜(I)、加厚区(3)、渐变方阻区(2)、留边(4),在基膜(I) 一侧镀上一层厚的锌镀层,形成加厚区(3),在加厚区(3)同侧的基膜(I)上预留不镀金属层,形成留边(4),在加厚区(3)到留边(4)之间的区域逐渐从厚到薄的镀上一层金属铝,形成渐变方阻区(2)。
2.如权利要求1所述的一种高方阻安全金属化薄膜,其特征是,从金属化薄膜中间到加厚区(3)之间区域,在渐变方阻区(2)内部均匀分布金属保险丝(5)。
【文档编号】H01G4/015GK203706877SQ201320857293
【公开日】2014年7月9日 申请日期:2013年12月24日 优先权日:2013年12月24日
【发明者】徐湘华, 周峰 申请人:安徽赛福电子有限公司
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