本发明涉及半导体器件技术领域,尤其涉及一种新型ingaas红外焦平面探测器的制备工艺。
背景技术:
ingaaspin平面型短波红外焦平面探测器响应波段在0.9-1.7um,在非制冷情况下有较高的探测率,低功耗和成本,并且具有低暗电流和良好的抗辐射特性,以及在航空安全,生物医学,伪装识别,红外夜视等领域的应用,受到了人们的广泛关注。目前探测器的工艺中,红外光照射到探测器上,两个像素之间的光大部分被ingaas吸收层吸收,但剩余部分透射出ingaas吸收层,照射到读出电路上,没有被ingaas吸收层吸收,就会导致光的吸收率降低。
技术实现要素:
为解决现有技术的缺点和不足,提供一种新型ingaas红外焦平面探测器的制备工艺,使得没被吸收的光经过反射镜后,又被ingaas吸收层二次吸收,提高器件的光吸收率,进而提高量子效率。
为实现本发明目的而提供的一种新型ingaas红外焦平面探测器的制备工艺,包括有以下步骤:
第一步:利用mocvd在inp衬底上依次生长n型inp金属接触层、吸收层in0.53ga0.47as、冒层n型inp、牺牲层ingaas,形成外延结构;
第二步:用湿法去除牺牲层ingaas,然后在冒层n型inp上沉积第一层氮化硅,形成钝化层,为第一道光刻做准备;
第三步:进行第一道光刻开孔,干法刻蚀第一层氮化硅,进行锌扩散,形成p型掺杂;
第四步:沉积第二层氮化硅,做第二道光刻开孔,干法刻蚀氮化硅,形成欧姆孔,为蒸镀p型金属做准备;
第五步:做第三道光刻开孔,蒸镀p型金属并剥离,为形成p型欧姆接触做准备;
第六步:做第四道光刻,干法刻蚀第一层和第二层的氮化硅,湿法刻蚀冒层n型inp,为刻蚀吸收层in0.53ga0.47as做准备;
第七步:做第五道光刻,湿法刻蚀吸收层in0.53ga0.47as,蒸镀n型金属并剥离,为形成n型欧姆接触做准备;
第八步:进行p型金属和n型金属退火,使p型金属和n型金属形成欧姆接触;
第九步:做第六道光刻开孔,蒸镀ti/au并剥离,形成ti/au反射层;
第十步:沉积第四层氮化硅,做第七道光刻,干法刻蚀掉盖在p型金属和n型金属上的第四层氮化硅,为蒸镀铟柱做准备;
第十一步:减薄、抛光inp衬底,并在抛光后的inp衬底上沉积增透膜,增加光的透射率;
第十二步:做第八道光刻,蒸镀铟柱并剥离,形成二极管阵列,为倒装焊互联做准备;
第十三步:二极管阵列与读出电路进行倒装互联,形成ingaas红外焦平面探测器芯片。
本发明的有益效果是:
与现有技术相比,本发明提供的一种新型ingaas红外焦平面探测器的制备工艺,通过增加ti/au反射层,使得没被吸收的光经过反射层后,又被ingaas吸收层二次吸收,提高器件的光吸收率,进而提高量子效率。
附图说明
以下结合附图对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明,其中:
图1为本发明的外延结构的结构截面图;
图2为本发明的第一层氮化硅沉积后示意图;
图3为本发明的第一层氮化硅刻蚀后示意图;
图4为本发明的p型金属蒸镀后示意图;
图5为本发明的第二层氮化硅沉积后示意图;
图6为本发明的第二层氮化硅刻蚀后示意图;
图7为本发明的第六道光刻后示意图;
图8为本发明的ti/au反射层蒸镀后示意图;
图9为本发明的ti/au反射层剥离后示意图;
图10为本发明的第四层氮化硅刻蚀后示意图;
图11为本发明的增透膜沉积后示意图;
图12为本发明的铟柱蒸镀后示意图;
图13为本发明的倒装互联后的示意图。
具体实施方式
如图1-图13所示,本发明提供的一种新型ingaas红外焦平面探测器的制备工艺,包括有以下步骤:
第一步:利用mocvd在inp衬底上依次生长n型inp金属接触层、吸收层in0.53ga0.47as、冒层n型inp、牺牲层ingaas,形成外延结构;
第二步:用湿法去除牺牲层ingaas,然后在冒层n型inp上沉积第一层氮化硅,形成钝化层,为第一道光刻做准备;
第三步:进行第一道光刻开孔,干法刻蚀第一层氮化硅,进行锌扩散,形成p型掺杂;
第四步:沉积第二层氮化硅,做第二道光刻开孔,干法刻蚀氮化硅,形成欧姆孔,为蒸镀p型金属做准备;
第五步:做第三道光刻开孔,蒸镀p型金属并剥离,为形成p型欧姆接触做准备;
第六步:做第四道光刻,干法刻蚀第一层和第二层的氮化硅,湿法刻蚀冒层n型inp,为刻蚀吸收层in0.53ga0.47as做准备;
第七步:做第五道光刻,湿法刻蚀吸收层in0.53ga0.47as,蒸镀n型金属并剥离,为形成n型欧姆接触做准备;
第八步:进行p型金属和n型金属退火,使p型金属和n型金属形成欧姆接触;
第九步:做第六道光刻开孔,蒸镀ti/au并剥离,形成ti/au反射层;
第十步:沉积第四层氮化硅,做第七道光刻,干法刻蚀掉盖在p型金属和n型金属上的第四层氮化硅,为蒸镀铟柱做准备;
第十一步:减薄、抛光inp衬底,并在抛光后的inp衬底上沉积增透膜,增加光的透射率;
第十二步:做第八道光刻,蒸镀铟柱并剥离,形成二极管阵列,为倒装焊互联做准备;
第十三步:二极管阵列与读出电路进行倒装互联,形成ingaas红外焦平面探测器芯片。
本发明可以使得没被吸收的光经过反射镜后,又被ingaas吸收层二次吸收,提高器件的光吸收率,进而提高量子效率。
以上实施例不局限于该实施例自身的技术方案,实施例之间可以相互结合成新的实施例。以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而并非对其进行限制,凡未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换,其均应涵盖在本发明技术方案的范围内。
1.一种新型ingaas红外焦平面探测器的制备工艺,其特征在于:包括有以下步骤:
第一步:利用mocvd在inp衬底上依次生长n型inp金属接触层、吸收层in0.53ga0.47as、冒层n型inp、牺牲层ingaas,形成外延结构;
第二步:用湿法去除牺牲层ingaas,然后在冒层n型inp上沉积第一层氮化硅,形成钝化层,为第一道光刻做准备;
第三步:进行第一道光刻开孔,干法刻蚀第一层氮化硅,进行锌扩散,形成p型掺杂;
第四步:沉积第二层氮化硅,做第二道光刻开孔,干法刻蚀氮化硅,形成欧姆孔,为蒸镀p型金属做准备;
第五步:做第三道光刻开孔,蒸镀p型金属并剥离,为形成p型欧姆接触做准备;
第六步:做第四道光刻,干法刻蚀第一层和第二层的氮化硅,湿法刻蚀冒层n型inp,为刻蚀吸收层in0.53ga0.47as做准备;
第七步:做第五道光刻,湿法刻蚀吸收层in0.53ga0.47as,蒸镀n型金属并剥离,为形成n型欧姆接触做准备;
第八步:进行p型金属和n型金属退火,使p型金属和n型金属形成欧姆接触;
第九步:做第六道光刻开孔,蒸镀ti/au并剥离,形成ti/au反射层;
第十步:沉积第四层氮化硅,做第七道光刻,干法刻蚀掉盖在p型金属和n型金属上的第四层氮化硅,为蒸镀铟柱做准备;
第十一步:减薄、抛光inp衬底,并在抛光后的inp衬底上沉积增透膜,增加光的透射率;
第十二步:做第八道光刻,蒸镀铟柱并剥离,形成二极管阵列,为倒装焊互联做准备;
第十三步:二极管阵列与读出电路进行倒装互联,形成ingaas红外焦平面探测器芯片。