本技术涉及倾转样品杆,尤其是双轴倾转样品杆。
背景技术:
1、材料的宏观性能取决于材料的微观结构,透射电子显微镜(tem)是表征材料微观结构的重要设备,作为tem的重要组件之一,样品杆起到承载样品,并对样品施加多物理场如力、热、电、光等的作用,目前,材料科学研究的深入对透射电子显微镜及其原位(in-situ)技术提出了更高的要求,如何对材料施加外场作用的同时,实现tem原位双倾观测,成为研究的热点。
2、根据倾转的方式,目前商业化的tem样品杆可分为单轴倾转和双轴倾转两种,传统的单轴倾转和双轴倾转稳定性较差,导致对样板进行观察时样品放置不稳定。因此,针对上述问题提出双轴倾转样品杆。
技术实现思路
1、在本实施例中提供了双轴倾转样品杆,用于解决现有技术中传统的单轴倾转和双轴倾转稳定性较差,导致对样板进行观察时样品放置不稳定的问题。
2、根据本实用新型的一个方面,提供了双轴倾转样品杆,包括稳定机构和倾转机构,所述稳定机构包括底板,所述底板与直线步进电机固定连接,且底板与稳定架固定连接;
3、所述倾转机构包括样品杆杆身前端、双轴倾转检测台和一号连接轴,所述样品杆杆身前端与驱动杆固定连接,且样品杆杆身前端与固定板固定连接,所述双轴倾转检测台与样品杆杆身前端转动连接,所述一号连接轴与固定板固定连接,且一号连接轴与一号连接杆转动连接,所述一号连接轴与一号连接杆固定连接,所述一号连接杆与微型电液推杆固定连接,所述微型电液推杆与二号连接杆固定连接,所述二号连接杆与二号连接轴转动连接,所述二号连接轴与双轴倾转检测台固定连接。
4、进一步地,所述底板表面设置有两个稳定架,两个所述稳定架对称分布在样品杆杆身底部。
5、进一步地,所述直线步进电机与样品杆杆身固定连接,所述样品杆杆身与驱动杆滑动连接,所述直线步进电机与驱动杆固定连接。
6、进一步地,所述稳定架与减震橡胶垫固定连接,所述样品杆杆身与减震橡胶垫紧密包裹。
7、进一步地,所述固定板表面设置有两个一号连接轴,两个所述一号连接轴对称分布在固定板表面。
8、进一步地,所述双轴倾转检测台表面设置有两个二号连接轴,两个所述二号连接轴对称分布在双轴倾转检测台表面。
9、通过本实用新型上述实施例,通过稳定机构便于提高整体的稳定性,通过倾转机构提高整体调节时的稳定性。
1.双轴倾转样品杆,其特征在于:包括稳定机构和倾转机构,所述稳定机构包括底板(1),所述底板(1)与直线步进电机(2)固定连接,且底板(1)与稳定架(5)固定连接;
2.根据权利要求1所述的双轴倾转样品杆,其特征在于:所述底板(1)表面设置有两个稳定架(5),两个所述稳定架(5)对称分布在样品杆杆身(3)底部。
3.根据权利要求1所述的双轴倾转样品杆,其特征在于:所述直线步进电机(2)与样品杆杆身(3)固定连接,所述样品杆杆身(3)与驱动杆(4)滑动连接,所述直线步进电机(2)与驱动杆(4)固定连接。
4.根据权利要求3所述的双轴倾转样品杆,其特征在于:所述稳定架(5)与减震橡胶垫(6)固定连接,所述样品杆杆身(3)与减震橡胶垫(6)紧密包裹。
5.根据权利要求1所述的双轴倾转样品杆,其特征在于:所述固定板(9)表面设置有两个一号连接轴(10),两个所述一号连接轴(10)对称分布在固定板(9)表面。
6.根据权利要求1所述的双轴倾转样品杆,其特征在于:所述双轴倾转检测台(8)表面设置有两个二号连接轴(14),两个所述二号连接轴(14)对称分布在双轴倾转检测台(8)表面。