本发明属于连接器,尤其涉及一种接地的大浮动射频同轴连接器。
背景技术:
1、芯片测试设备对芯片进行测试,保证芯片可正常使用。
2、本公司申请的现有技术申请号为2022103464426的一种多触点高精度的pogopin定位结构,使圆盘(pcb板)和探针座互配,探针座上安装低频线缆组件和高频线缆组件,高频和低频线缆组件的一端有弹簧针类连接器,弹簧针弹性针的针头和圆盘pcb板上的pad接触,圆盘的另一面放置各类芯片,实现测试芯片的功能。
3、为了集成化、小型化,单个基座上会集成很多高频同轴连接器,实际测试过程中,会发生较为明显的回波损耗、插入损耗、差分串扰、tdr阻抗等问题,这会对芯片测试产生不利影响。
技术实现思路
1、本发明针对现有技术的问题,提出技术方案如下:
2、一种接地的大浮动射频同轴连接器,包括:
3、基座;
4、射频同轴连接器、pogopin接地针,所述射频同轴连接器、pogopin接地针固定成组设置于基座内;
5、连接条,连接于一组或多组射频同轴连接器和pogopin接地针。
6、进一步的,所述连接条连接一组射频同轴连接器和pogopin接地针,所述射频同轴连接器用于传输1.5ghz以内的射频信号或3.0gbps以内的高速信号或1a以内的电流。
7、进一步的,所述连接条连接两组以上射频同轴连接器和pogopin接地针,所述射频同轴连接器用于传输5.0ghz以内的射频信号或10.0gbps以内的高速信号。
8、进一步的,所述连接条包括成组设置的接地模块,每个接地模块包括弧状部一和弧状部二,所述弧状部一和弧状部二均为劣弧,所述弧状部一与射频同轴连接器的外导体配合接触,所述弧状部二与pogopin接地针配合接触,所述连接条的两端沿所在弧延伸形成优弧状的包围体。
9、进一步的,所述射频同轴连接器的外导体侧壁上具有环形槽,所述环形槽配合嵌入连接条的弧状部一。
10、本发明的有益效果为:本发明主体结构采用射频同轴连接器+pogopin接地针结构,射频同轴连接器外导体与pogopin接地针连接类型有:1+1、2+2、4+4、9+9等,连接器可实现射频信号、差分信号、控制信号及电流的集成传输。
1.一种接地的大浮动射频同轴连接器,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种接地的大浮动射频同轴连接器,其特征在于,所述连接条连接一组射频同轴连接器和pogopin接地针,所述射频同轴连接器用于传输1.5ghz以内的射频信号或3.0gbps以内的高速信号或1a以内的电流。
3.根据权利要求1所述的一种接地的大浮动射频同轴连接器,其特征在于,所述连接条连接两组以上射频同轴连接器和pogopin接地针,所述射频同轴连接器用于传输5.0ghz以内的射频信号或10.0gbps以内的高速信号。
4.根据权利要求1所述的一种接地的大浮动射频同轴连接器,其特征在于,所述连接条包括成组设置的接地模块,每个接地模块包括弧状部一和弧状部二,所述弧状部一和弧状部二均为劣弧,所述弧状部一与射频同轴连接器的外导体配合接触,所述弧状部二与pogopin接地针配合接触,所述连接条的两端沿所在弧延伸形成优弧状的包围体。
5.根据权利要求4所述的一种接地的大浮动射频同轴连接器,其特征在于,所述射频同轴连接器的外导体侧壁上具有环形槽,所述环形槽配合嵌入连接条的弧状部一。