一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法、装置及电子设备与流程

本发明涉及集成电路设计领域，更具体的说是，涉及一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法、装置及电子设备。

背景技术：

1、芯片在设计过程中为了达到目标参数的高精度要求，往往采用电熔丝烧写的方法去消除在生产制造过程中固有的系统误差。通过烧断芯片内不同熔丝组合可以消除生产制造过程中的系统误差及随机误差，从而使每颗芯片的目标参数趋于一致。

2、相对传统的方式，往往采用是历遍的方式搜索，从小到大全历遍搜索，找到芯片离中心理想值v_ideal最小的偏差值，进而进行芯片熔丝fuse烧写，但是这个过程相对比较花费时间，比如芯片5根电熔丝，2的5次方一共是32种组合，历遍的这32种组合是比较花费测试时间的，进而增加测试的成本。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法、装置及电子设备。

2、本发明要解决的是现有的寻找电熔丝理想烧写值的过程中存在的成本高、耗时长的问题。

3、与现有技术相比，本发明技术方案及其有益效果如下：

4、在本公开的第一方面，提供了一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，包括：设定中心理想值v_ideal，获得第一次测量档位l_meas1及所述第一次测量档位的测量值v_meas1；计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1；根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1；根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2；计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2；判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积是否小于0，且判断所述第一档位偏差值l_diff1是否等于1；若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，且所述第一档位偏差值l_diff1等于1，则判断所述第一偏差值v_diff1的绝对值与所述第二偏差值v_diff2的绝对值的大小；若所述第一偏差值v_diff1的绝对值小于所述第二偏差值v_diff2的绝对值，则设置中心档位l_ideal为第一次测量档位l_meas1；若所述第一偏差值v_diff1的绝对值大于所述第二偏差值v_diff2的绝对值，则设置中心档位l_ideal为所述第二次测量档位l_meas2；将所述中心档位l_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位。

5、在本公开的第二方面，提供了一种快速寻找电熔丝理想烧写值的装置，包括：计算模块，被配置为计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1；所述计算模块还被配置为根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1；所述计算模块还被配置为根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2；所述计算模块还被配置为计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2；判断模块，被配置为判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积是否小于0，且判断所述第一档位偏差值l_diff1是否等于1；所述判断模块还被配置为若所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的乘积小于0，且所述第一档位偏差值l_diff1等于1，则所述判断模块判断所述第一偏差值v_diff1与所述第二偏差值v_diff2的大小；执行模块，被配置为若所述第一偏差值v_diff1大于所述第二偏差值v_diff2，则设置中心档位l_ideal为第一次测量档位l_meas1；若所述第一偏差值v_diff1小于所述第二偏差值v_diff2，则设置中心档位l_ideal为所述第二次测量档位l_meas2；所述执行模块还被配置为将所述中心档位l_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位。

6、在本公开的第三方面，一种电子设备，包括：存储器和处理器；其中所述存储器用于存储一条或多条计算机指令，其中所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行以实现根据本公开的第一方面所述的方法。

7、本发明的有益效果为：

8、本发明的方法根据每次测量值不断的更新步进值和起始测量档位值，实时修正芯片电熔丝档位偏差，若实际测量值大于v_ideal，则自适应减小测量档位，若实际测量值小于v_ideal，则增加测量档位；

9、本发明提出了一种快速自适应的电熔丝档位逼近定位方法，使得在测试过程中快速找到离中心理想值最近的档位值而减少测试的时间，实现较高的片内目标参数精度，同时维持很高的烧写效率，进而减少测试时间，节约成本。

技术特征：

1.一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，获取第二次测量档位的测量值v_meas2，还包括：

4.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述计算所述第一次测量档位的测量值v_meas1与所述中心理想值v_ideal的第一偏差值v_diff1，包括：

5.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1，包括：

6.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述根据所述第一次测量档位l_meas1和所述第一档位偏差值l_diff1计算第二次测量档位l_meas2，包括：

7.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述计算所述第二次测量档位的测量值v_meas2与所述中心理想值v_ideal的第二偏差值v_diff2，包括:

8.根据权利要求1所述的一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，其特征在于，所述根据所述第一偏差值v_diff1和步进值v_offset计算第一档位偏差值l_diff1，其中，设定所述步进值v_offset大于0。

9.一种快速寻找电熔丝理想烧写值的装置，其特征在于，包括：

10.一种电子设备，其特征在于，包括：

技术总结
本发明提供了一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法、装置及电子设备。一种快速寻找电熔丝理想烧写值的方法，包括：设定中心理想值V_ideal，获得第一次测量档位L_meas1及第一次测量档位的测量值V_meas1；计算第一次测量档位的测量值V_meas1与中心理想值V_ideal的第一偏差值V_diff1；根据第一偏差值V_diff1和步进值V_offset计算第一档位偏差值L_diff1；根据第一次测量档位L_meas1和第一档位偏差值L_diff1计算第二次测量档位L_meas2，获取第二次测量档位的测量值V_meas2；计算第二次测量档位的测量值V_meas2与中心理想值V_ideal的第二偏差值V_diff2；判断第一偏差值V_diff1与所述第二偏差值V_diff2的乘积是否小于0，且判断第一档位偏差值L_diff1是否等于1；将中心档位L_ideal更新至统计表中，设置次数最多的档位作为下一次测量的起始档位。

技术研发人员：谭弟,沈彬,高舰艇
受保护的技术使用者：无锡靖芯科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15