本发明涉及半导体,具体涉及一种窄波长增透正装apd芯片及其制备方法。
背景技术:
1、搭载激光雷达日益成为自动驾驶主流技术发展方向,激光雷达主要分为激光发射模块、扫描系统、接收模块及信息处理系统四个部分,发射及接收模块成本占比高达60%。激光发射模块选用的激光波长有两种选择,一个是1000nm以内的,典型值是905nm,可以用硅做接收器,成本低且产品成熟。还有一种是1000nm到2000nm之间的,典型值是1550nm,这个波段硅无法探测,需要用ge或者ingaas探测器。ingaas光电探测器主要分为3种,分别为ingaas金属-半导体-金属光电探测器(msm-pd)、ingaas pin光电探测器(pin-pd)和ingaas雪崩光电探测器(apd-pd)。apd光电探测器在探测率上可以比pin光电探测器高一个数量级,所以目前主流激光雷达主要以雪崩光电探测器为主。
2、随着激光雷达的飞速发展,对探测器也有了更高的要求,要求其具有更高的响应速度、灵敏度和效率。为了实现apd光电探测器对这1550nm波长的强吸收并过滤掉其他波长的光;现阶段主要是通过在芯片封装的过程中实现,即在to封装的过程中,采用在to的帽子上增加一个窄带滤波片以达到这两种典型波长的增透,该方式集成度低,应用于激光雷达成品体积大,使得激光雷达无法更加小型化以及紧凑化。
技术实现思路
1、为解决上述问题,本发明提供一种窄波长增透正装apd芯片及其制备方法。
2、本发明采用的技术方案是:
3、一种窄波长增透正装apd芯片,包括inp衬底,所述inp衬底的正面设有外延功能层,外延功能层上设有p型电极,p型电极的外侧设有滤光片,滤光片覆盖apd芯片的光敏面;inp衬底的背面设有n型电极。
4、进一步地,所述滤光片为圆形或方形,在入射角为±5°的条件下,波长为1535±4nm或者1550±4nm的激光透过率均不小于92%。
5、进一步地,所述滤光片的基材为石英玻璃,其表面蒸镀有光学介质膜,镀膜层的厚度为10~50um,石英玻璃的厚度为0.5mm~5mm。
6、进一步地,所述外延功能层包括依次设置的缓冲层、倍增层、n型电荷层、吸收层、p型层及绝缘介质层;p型电极与p型层连接。
7、进一步地,p型电极的金属材料为au、ti、cr、ag、al、cu、auge和pt中的一种或者几种组合;n型电极的金属材料为au、ge、cr、ni、auge和pt中的一种或者几种组合。
8、进一步地,所述绝缘介质层的材料为sinx和/或sio2。
9、进一步地,所述缓冲层及倍增层的材料均为n型inp。
10、进一步地,所述吸收层的材料为非故意掺杂n型ingaas。
11、进一步地,所述inp衬底的厚度在80~300um之间。
12、上述任意一种窄波长增透正装apd芯片的制备方法,包括以下步骤:
13、步骤1:提供inp衬底;在inp衬底的正面依次向上生长缓冲层、倍增层、n型电荷层、吸收层、p型层及绝缘介质层;
14、步骤2:在绝缘介质层上通过刻蚀的方法向下刻蚀露出p型层;
15、步骤3:在绝缘介质层的表面蒸镀p型电极,并使p型电极与p型层形成欧姆连接;
16、步骤4:对inp衬底背面通过研磨的方式减薄,减薄到所需要的厚度后蒸镀n型电极;
17、步骤5:通过匀胶光刻与显影的方式,在晶圆的表面形成光刻图形;
18、步骤6:采用固化胶将滤光片粘贴在apd芯片的光敏面,固化;
19、步骤7:采用切割的方式将apd芯片分割成带有滤光片的单颗芯片。
20、本发明的有益效果:本发明通过采用在inp衬底的背面设置n型电极,在inp衬底的正面设置p型电极和滤光片,实现对波长为1535nm±4或者1550±4nm激光的强吸收,在后续to封装的过程中,不需要在to的帽子上增加一个窄带滤波片以达到特定波长增透,可以直接将芯片贴在pcb版上,然后通过光学组件即可实现激光雷达组件接收的功能;即本发明可实现在芯片级形成对特定窄波长的增透,进而使得在激光雷达制造过程中,可以节省空间,提高系统集成化程度,达到激光雷达制备更加小型化以及紧凑化的效果。
1.一种窄波长增透正装apd芯片,包括inp衬底(1),其特征在于,所述inp衬底(1)的正面设有外延功能层,外延功能层上设有p型电极(7),p型电极(7)的外侧设有滤光片(10),滤光片(10)覆盖apd芯片的光敏面;inp衬底(1)的背面设有n型电极(8)。
2.根据权利要求1所述的一种窄波长增透正装apd芯片,其特征在于,所述滤光片(10)为圆形或方形,在入射角为±5°的条件下,波长为1535±4nm或者1550±4nm的激光透过率均不小于92%。
3.根据权利要求2所述的一种窄波长增透正装apd芯片,其特征在于,所述滤光片(10)的基材为石英玻璃,其表面蒸镀有光学介质膜,镀膜层的厚度为10~50um,石英玻璃的厚度为0.5mm~5mm。
4.根据权利要求1所述的一种窄波长增透正装apd芯片,其特征在于,所述外延功能层包括依次设置的缓冲层(2)、倍增层(3)、n型电荷层(4)、吸收层(5)、p型层(6)及绝缘介质层(9);p型电极(7)与p型层(6)连接。
5.根据权利要求4所述的一种窄波长增透正装apd芯片,其特征在于,p型电极(7)的金属材料为au、ti、cr、ag、al、cu、auge和pt中的一种或者几种组合;n型电极(8)的金属材料为au、ge、cr、ni、auge和pt中的一种或者几种组合。
6.根据权利要求4所述的一种窄波长增透正装apd芯片,其特征在于,所述绝缘介质层(9)的材料为sinx和/或sio2。
7.根据权利要求4所述的一种窄波长增透正装apd芯片,其特征在于,所述缓冲层(2)及倍增层(3)的材料均为n型inp。
8.根据权利要求4所述的一种窄波长增透正装apd芯片,其特征在于,所述吸收层(5)的材料为非故意掺杂n型ingaas。
9.根据权利要求1所述的一种窄波长增透正装apd芯片,其特征在于,所述inp衬底(1)的厚度在80~300um之间。
10.权利要求1~9任意一项所述的一种窄波长增透正装apd芯片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤: